CN217717993U - 一种多用途型激光微电测试检测机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种多用途型激光微电测试检测机构，包括底座主体和滑动测试机构；其中，底座主体包括，底板和负极测试头组件；滑动测试机构包括，导轨滑块组件和正极探针测试头；导轨滑块组件固定连接在底板上；负极测试头组件固定安装在底板上，正极探针测试头固定安装在滑动测试机构上；底板上设置有待测产品安装部，用于放置待测产品，待测产品位于负极测试头组件和正极探针测试头之间。本实用新型通过机构连接待测产品的正负极进行半成品过程中电性能检测，以替代产品正负极直接连接外置电源，避免了虚接打火产生的瞬时大电流导致激光芯片被击穿。

Description

一种多用途型激光微电测试检测机构

技术领域

本实用新型属于半导体激光行业领域，具体涉及一种多用途型激光微电测试检测机构。

背景技术

半导体激光器具备体积小、价格低、效率高、寿命长等优点，广泛应用于材料加工、医疗美容、国防军事、工业泵浦及科学研究等领域。

半导体激光产品的生产过程中，需要在没有连接电路及引线的情况下，对半成品进行过程中的电性能检测，测试合格后才能进行下一工序，目的是提前发现产品问题，保证产品质量，节省加工成本，提升生产效率。

然而现有技术中的激光测试均为手动测试，使用外置电源直接搭接至产品正负极，容易导致电源虚接，瞬间形成大电流从而使芯片发生击穿，影响了产品的性能。

实用新型内容

为了解决现有技术中存在的上述问题，本实用新型提供了一种多用途型激光微电测试检测机构。本实用新型要解决的技术问题通过以下技术方案实现：

本实用新型提供了一种多用途型激光微电测试检测机构，包括，底座主体和滑动测试机构。

其中，所述底座主体包括，底板和负极测试头组件；所述滑动测试机构包括，导轨滑块组件和正极探针测试头。

所述导轨滑块组件固定连接在所述底板上。所述负极测试头组件固定安装在所述底板上，所述正极探针测试头固定安装在所述滑动测试机构上。

所述底板上设置有待测产品安装部，用于放置待测产品，所述待测产品位于所述负极测试头组件和所述正极探针测试头之间。

在本实用新型的一个实施例中，所述底板上表面的两端面位于不同水平面，形成一台阶，较高的一端台面上开设有凹槽，作为待测产品安装部。

在本实用新型的一个实施例中，所述负极测试头组件包括，负极测试头和固定块。

其中，所述固定块置于所述底板较高的一端台面上的凹槽内并与所述底板固定连接；所述负极测试头水平贯穿所述固定块。

在本实用新型的一个实施例中，所述导轨滑块组件包括导轨和滑块。

其中，所述导轨置于所述底板较低的一端台面上，并与所述底板固定连接；所述滑块与所述导轨滑动连接。

在本实用新型的一个实施例中，所述滑动测试机构还包括，塑胶连接块、限位螺丝、操作杆和限位螺丝固定片。

其中，所述塑胶连接块置于所述滑块上表面，并与所述滑块固定连接；所述正极探针测试头水平贯穿所述塑胶连接块。

所述操作杆位于所述塑胶连接块上表面，并与所述塑胶连接块固定连接；所述限位螺丝固定片一端与所述塑胶连接块连接，另一端位于所述滑块一侧；所述限位螺丝固定片位于所述滑块一侧的端面上贯穿设置有所述限位螺丝，所述限位螺丝用于对所述滑块限位。

在本实用新型的一个实施例中，所述负极测试头的头部为球形头。

在本实用新型的一个实施例中，所述正极探针测试头为镀金弹性探针，内置有弹簧。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：

1.通过本实用新型的多用途型激光微电测试检测机构连接待测产品的正负极进行半成品过程中电性能检测，以替代产品正负极直接连接外置电源，避免了虚接打火产生的瞬时大电流导致激光芯片被击穿。

2.本实用新型的多用途型激光微电测试检测机构，整体结构可拆卸，通用性高，实用性强，可以适用于多种产品的测试。

3.本实用新型的多用途型激光微电测试检测机构，实现了电路隔离，使用绝缘材料使电路与产品主体为绝缘状态，增加了机构使用的安全可靠性。

上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本实用新型的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的一种多用途型激光微电测试检测机构的三维结构示意图；

图2是本实用新型实施例提供的一种多用途型激光微电测试检测机构的底座主体结构示意图；

图3是本实用新型实施例提供的一种多用途型激光微电测试检测机构的滑动测试机构结构示意图。

图标：100-底座主体；101-底板；102-负极测试头；103-固定块；104-待测产品；200-滑动测试机构；201-导轨滑块组件；201-1导轨；201-2滑块；202-塑胶连接块；203-正极探针测试头；204-限位螺丝；205-操作杆；206-限位螺丝固定片。

具体实施方式

为了进一步阐述本实用新型为达成预定实用新型目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及具体实施方式，对依据本实用新型提出的一种多用途型激光微电测试检测机构进行详细说明。

有关本实用新型的前述及其他技术内容、特点及功效，在以下配合附图的具体实施方式详细说明中即可清楚地呈现。通过具体实施方式的说明，可对本实用新型为达成预定目的所采取的技术手段及功效进行更加深入且具体地了解，然而所附附图仅是提供参考与说明之用，并非用来对本实用新型的技术方案加以限制。

实施例一

请参见图1，图1是本实用新型实施例提供的一种多用途型激光微电测试检测机构的三维结构示意图。

如图所示，本实施例的多用途型激光微电测试检测机构包括底座主体100和滑动测试机构200。其中，底座主体100包括，底板101和负极测试头组件。

在具体实施例中，负极测试头组件包括负极测试头102和固定块103；滑动测试机构200包括导轨滑块组件201和正极探针测试头203。

具体地，导轨滑块组件201固定连接在底板101上；负极测试头组件固定安装在底板101上，正极探针测试头203固定安装在滑动测试机构200上，待测产品104位于负极测试头组件和正极探针测试头203之间。

图2是本实用新型实施例提供的一种多用途型激光微电测试检测机构的底座主体结构示意图。

如图所示，在具体实施例中，底板101上表面的两端面位于不同水平面，形成一台阶，较高的一端台面上开设有凹槽，作为待测产品安装部，用于放置待测产品104。

在具体实施例中，固定块103置于底板101较高的一端台面上的凹槽内并与底板101固定连接；负极测试头102水平贯穿固定块103。

具体地，底板101和固定块103均采用塑胶材质，在满足轻量化的同时实现了主体与电路绝缘。

值得注意的是，负极测试头102的头部为球形头，可以更稳定接触待测产品104的负极，避免虚接，其尾部用于连接外置电源负极。

进一步地，负极测试头102采用紫铜镀金，在满足导电性的同时兼顾防氧化性能。

图3是本实用新型实施例提供的一种多用途型激光微电测试检测机构的滑动测试机构结构示意图。

如图所示，在具体实施例中，导轨滑块组件201包括导轨201-1和滑块201-2。

其中，导轨201-1置于底板101较低的一端台面上，并与底板101固定连接；滑块201-2与导轨201-1滑动连接。

在具体实施例中，滑动测试机构200还包括塑胶连接块202、限位螺丝204、操作杆205和限位螺丝固定片206。

其中，塑胶连接块202置于滑块201-2上表面，并与滑块201-2固定连接。

值得注意的是，塑胶连接块202和限位螺丝固定片206均为塑胶材质，实现了主体与电路绝缘。

具体地，正极探针测试头203水平贯穿塑胶连接块202，头部用于连接待测产品104，尾部用于连接外置电源正极。

进一步地，正极探针测试头203为镀金弹性探针，材质为紫铜镀金，内置有弹簧。

优选地，正极探针测试头203的头部是平头。

在具体实施例中，操作杆205位于塑胶连接块202上表面，并与塑胶连接块202固定连接；限位螺丝固定片206一端与塑胶连接块202连接，另一端位于滑块201-2一侧；限位螺丝固定片206位于滑块201-2一侧的端面上贯穿设置有限位螺丝204，限位螺丝204用于对滑块201-2限位。

在本实施例的多用途型激光微电测试检测机构具体测试使用过程中，首先，将待测产品104放置在底板101上表面的待测产品安装部上，调整位置至其负极接触负极测试头102头部球形头。

然后，轻轻推动操作杆205，沿导轨201-1推动至待测产品104正极接触正极探针测试头203的头部；旋转限位螺丝204，调整其长度，当限位螺丝204头部刚好顶到底板101高端台面侧壁时，操作者感受到正极探针测试头203内弹簧的弹性力，测试头与待测产品104正极接触稳定，又不至于因弹性力过大导致弹簧过压将产品顶起；在导轨201-1尾端安装一螺丝对滑块201-2限位，防止其滑出导轨201-1。

最后，负极测试头102和正极探针测试头203的尾部分别连接外置电源负极和正极，进行通电检测，待测试完成记录数据后，断开外置电源，用手轻推操作杆205至复位。

通过本实施例的多用途型激光微电测试检测机构连接待测产品的正负极进行半成品过程中电性能检测，以替代产品正负极直接连接外置电源，避免了虚接打火产生的瞬时大电流导致激光芯片被击穿。

本实施例的多用途型激光微电测试检测机构，整体结构可拆卸，通用性高，实用性强，可以适用于多种产品的测试。而且该测试检测机构实现了电路隔离，使用绝缘材料使电路与产品主体为绝缘状态，增加了机构使用的安全可靠性。

应当说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的物品或者设备中还存在另外的相同要素。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。

Claims (7)

1.一种多用途型激光微电测试检测机构，其特征在于，包括，底座主体(100)和滑动测试机构(200)；

其中，所述底座主体(100)包括，底板(101)和负极测试头组件；

所述滑动测试机构(200)包括，导轨滑块组件(201)和正极探针测试头(203)；

所述导轨滑块组件(201)固定连接在所述底板(101)上；

所述负极测试头组件固定安装在所述底板(101)上，所述正极探针测试头(203)固定安装在所述滑动测试机构(200)上；

所述底板(101)上设置有待测产品安装部，用于放置待测产品(104)，所述待测产品(104)位于所述负极测试头组件和所述正极探针测试头(203)之间。

2.根据权利要求1所述的多用途型激光微电测试检测机构，其特征在于，所述底板(101)上表面的两端面位于不同水平面，形成一台阶，较高的一端台面上开设有凹槽，作为待测产品安装部。

3.根据权利要求1所述的多用途型激光微电测试检测机构，其特征在于，所述负极测试头组件包括，负极测试头(102)和固定块(103)；

其中，所述固定块(103)置于所述底板(101)较高的一端台面上的凹槽内并与所述底板(101)固定连接；

所述负极测试头(102)水平贯穿所述固定块(103)。

4.根据权利要求1所述的多用途型激光微电测试检测机构，其特征在于，所述导轨滑块组件(201)包括导轨(201-1)和滑块(201-2)；

其中，所述导轨(201-1)置于所述底板(101)较低的一端台面上，并与所述底板(101)固定连接；

所述滑块(201-2)与所述导轨(201-1)滑动连接。

5.根据权利要求4所述的多用途型激光微电测试检测机构，其特征在于，所述滑动测试机构(200)还包括，塑胶连接块(202)、限位螺丝(204)、操作杆(205)和限位螺丝固定片(206)；

其中，所述塑胶连接块(202)置于所述滑块(201-2)上表面，并与所述滑块(201-2)固定连接；

所述正极探针测试头(203)水平贯穿所述塑胶连接块(202)；

所述操作杆(205)位于所述塑胶连接块(202)上表面，并与所述塑胶连接块(202)固定连接；

所述限位螺丝固定片(206)一端与所述塑胶连接块(202)连接，另一端位于所述滑块(201-2)一侧；

所述限位螺丝固定片(206)位于所述滑块(201-2)一侧的端面上贯穿设置有所述限位螺丝(204)，所述限位螺丝(204)用于对所述滑块(201-2)限位。

6.根据权利要求1所述的多用途型激光微电测试检测机构，其特征在于，所述负极测试头(102)的头部为球形头。

7.根据权利要求1所述的多用途型激光微电测试检测机构，其特征在于，所述正极探针测试头(203)为镀金弹性探针，内置有弹簧。

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