CN217689278U - 一种集成电路板的测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种集成电路板的测试治具,其结构包括:测试载台,处于测试载台上方的下压板,测试载台上表面设有若干测试探针,还包括处于测试载台上方的承托机构;承托机构包括两根固定于测试载台上表面的导杆,和滑动连接于导杆之间的电路板托架,电路板托架内从左往右依次设有两个供电路板放置的第一容置槽,本实用新型可以同时放置两块电路板,在第一块电路板测试完成并对第二块电路板测试过程中,操作人员可以将上一块测试完成的电路板取下,并重新放置待测的电路板到第一容置槽内,当第二块电路板测试完成后,移动电路板托架即可继续测试,以此类推,从而缩短测试探针在不同电路板之间切换测试的时间,有效提高测试效率。
Description
技术领域
本实用新型是一种集成电路板的测试治具,属于电路板测试设备领域。
背景技术
音响设备的集成电路板在生产过程中,难免因外在因素而造成短路、断路及漏电等电性上的瑕疵,若未能及时将不良板筛检出来,而任其流入制程中,势必会造成更多的成本浪费,进而在装机前需要对集成电路板进行通电测试,但目前技术考虑不够完善,具有以下缺点:现有的测试治具在使用时,载台上一次只能放置一块电路板,需要先将测试完成的电路板取下,再将待测电路板放置在载台上,电路板测试过程中操作人员只能等待,测试效率较低。
实用新型内容
针对现有技术存在的不足,本实用新型目的是提供一种集成电路板的测试治具,已解决现有的测试治具在使用时,载台上一次只能放置一块电路板,需要先将测试完成的电路板取下,再将待测电路板放置在载台上,电路板测试过程中操作人员只能等待,测试效率较低的问题。
为了实现上述目的,本实用新型是通过如下的技术方案来实现:一种集成电路板的测试治具,其结构包括:测试载台,处于测试载台上方的下压板,所述测试载台上表面设有若干测试探针,还包括处于测试载台上方的承托机构;所述承托机构包括两根固定于测试载台上表面的导杆,和滑动连接于导杆之间的电路板托架,所述电路板托架内从左往右依次设有两个供电路板放置的第一容置槽;两根导杆分别处于测试探针前后两侧。
作为优选的,所述电路板托架前后两端分别设有第一滑动块,所述导杆朝向第一滑动块的一侧设有与第一滑动块配合的第一牵引凹槽。
作为优选的,所述电路板托架左右两侧具有贯穿连接的缺口。
作为优选的,所述电路板托架顶部还设有两个放置电路板的升降基座,两个升降基座分别设置于两个第一容置槽内,所述升降基座的前后两端分别设有第二滑动块;所述第一容置槽内设有供第二滑动块上下滑动的第二牵引凹槽,所述第二牵引凹槽内设有推动第二滑动块上移的第一弹簧。
作为优选的,所述升降基座中间设有支撑电路板的限位台阶。
作为优选的,所述导杆朝向电路板托架的一侧还设有固定孔,所述固定孔活动连接有限位凸块;所述电路板托架前后两侧设有与限位凸块配合的定位槽,所述固定孔内还设有推动限位凸块朝向定位槽移动的第二弹簧。
有益效果
本实用新型一种集成电路板的测试治具,具有以下效果:
本实用新型可以同时放置两块电路板,在第一块电路板测试完成并对第二块电路板测试过程中,操作人员可以将上一块测试完成的电路板取下,并重新放置待测的电路板到第一容置槽内,当第二块电路板测试完成后,移动电路板托架即可继续测试,以此类推,从而缩短测试探针在不同电路板之间切换测试的时间,有效提高测试效率。
附图说明
通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述,本实用新型的其它特征、目的和优点将会变得更明显:
图1为本实用新型一种集成电路板的测试治具的结构示意图;
图2为本实用新型承托机构的结构示意图;
图3为本实用新型电路板托架局部剖面及升降基座的结构示意图;
图4为本实用新型导杆局部剖面的结构示意图。
图中:测试载台-1、下压板-2、测试探针-3、承托机构-4、导杆-41、电路板托架-42、第一容置槽-43、第一滑动块-421、第一牵引凹槽-411、缺口-422、升降基座-44、第二滑动块-441、第二牵引凹槽-431、第一弹簧-432、限位台阶-442、固定孔-412、限位凸块-413、定位槽-423、第二弹簧-414。
具体实施方式
为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体实施方式,进一步阐述本实用新型。
请参阅图1-图4,本实用新型提供一种集成电路板的测试治具技术方案:其结构包括:测试载台1,处于测试载台1上方的下压板2,所述测试载台1上表面设有若干测试探针3,还包括处于测试载台1上方的承托机构4;所述承托机构4包括两根固定于测试载台1上表面的导杆41,和滑动连接于导杆41之间的电路板托架42,所述电路板托架42内从左往右依次设有两个供电路板放置的第一容置槽43;两根导杆41分别处于测试探针3前后两侧,从而在测试时,可以同时将两块音响设备的电路板分别放置在两个第一容置槽43内,然后推动电路板托架42在导杆41内左右移动,促使其中一块电路板与测试探针3对齐,接着对该电路板进行通电测试,第一块电路板测试完成后,推动电路板托架42促使另一块电路板与测试探针3对齐并通电测试,在第二块电路板测试过程中,操作人员可以将上一块测试完成的电路板取下,并重新放置待测的电路板到第一容置槽43内,当第二块电路板测试完成后,移动电路板托架42即可继续测试,以此类推,从而缩短测试探针3在不同电路板之间切换测试的时间,有效提高测试效率。
所述电路板托架42前后两端分别设有第一滑动块421,所述导杆41朝向第一滑动块421的一侧设有与第一滑动块421配合的第一牵引凹槽411,进而在推动电路板托架42时,第一滑动块421沿着第一牵引凹槽411左右滑动,从而提升电路板托架42在导杆41上滑动的稳定性。
所述电路板托架42左右两侧具有贯穿连接的缺口422,且缺口高度大于测试探针3露出测试载台1上表面的高度,继而避免电路板托架42沿着导杆41左右滑动时与测试探针3发生碰撞,对测试探针3起到保护作用。
所述电路板托架42顶部还设有两个放置电路板的升降基座44,两个升降基座44分别设置于两个第一容置槽43内,所述升降基座44的前后两端分别设有第二滑动块441;所述第一容置槽43内设有供第二滑动块441上下滑动的第二牵引凹槽431,所述第二牵引凹槽431内设有推动第二滑动块441上移的第一弹簧432,从而在测试时,先将电路板放置在升降基座44中间,当下压板2向下移动时,下压板2底部的压杆首先与电路板上表面接触,并推动电路板下移,此时电路板推动升降基座44同步下移,同时第二滑动块441挤压第一弹簧432并沿着第二牵引凹槽431向下移动,促使电路板底部与测试探针3接触,当测试完成后,下压板2上移并与电路板脱离,从而第一弹簧432推动第二滑动块441沿着第二牵引凹槽431上移,升降基座44随着第二滑动块441上移,且电路板与测试探针3分离,因此未进行测试时,升降基座44悬浮于第一容置槽43内,从而防止电路板托架42移动时,电路板底部与测试探针3发生碰撞,保证设备安全工作。
所述升降基座44中间设有支撑电路板的限位台阶442,通过限位台阶442对电路板起到支撑固定的作用。
所述导杆41朝向电路板托架42的一侧还设有固定孔412,所述固定孔412活动连接有限位凸块413;所述电路板托架42前后两侧设有与限位凸块413配合的定位槽423,所述固定孔412内还设有推动限位凸块413朝向定位槽423移动的第二弹簧414,进而电路板托架42沿着导杆41左右滑动过程中,当定位槽423与固定孔412对齐时,第二弹簧414推动限位凸块413沿着固定孔412向外弹出并与定位槽423扣合,对电路板托架42起到限位作用,进而防止下压板2下移时,电路板托架42左右移动导致电路板发生位移,造成电路板或者测试探针3损坏;同时可以对电路板托架42起到定位作用,从而在切换不同电路板测试时电路板托架42滑动到位,保证电路板与测试探针3完全对齐。
在进行使用时,同时将两块电路板放置在在升降基座44中间,推动电路板托架42在导杆41内左右移动,促使其中一块电路板与测试探针3对齐,同时定位槽423与固定孔412对齐,第二弹簧414推动限位凸块413沿着固定孔412向外弹出并与定位槽423扣合,进而控制下压板2向下移动,下压板2底部的压杆首先与电路板上表面接触,并推动电路板下移,此时电路板推动升降基座44同步下移,同时第二滑动块441挤压第一弹簧432并沿着第二牵引凹槽431向下移动,促使电路板底部与测试探针3接触,接着对该电路板进行通电测试,第一块电路板测试完成后,控制下压板2复位,从而第一弹簧432推动第二滑动块441沿着第二牵引凹槽431上移,升降基座44随着第二滑动块441上移,且电路板与测试探针3分离,然后推动电路板托架42促使另一块电路板与测试探针3对齐并通电测试,在第二块电路板测试过程中,操作人员可以将上一块测试完成的电路板取下,并重新放置待测的电路板到第一容置槽43内,当第二块电路板测试完成后,移动电路板托架42即可继续测试,以此类推,从而缩短测试探针3在不同电路板之间切换测试的时间,有效提高测试效率。
以上仅描述了本实用新型的基本原理和优选实施方式,本领域人员可以根据上述描述作出许多变化和改进,这些变化和改进应该属于本实用新型的保护范围。
此外,应当理解,虽然本说明书按照实施方式加以描述,但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案,说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见,本领域技术人员应当将说明书作为一个整体,各实施例中的技术方案也可以经适当组合,形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
Claims (6)
1.一种集成电路板的测试治具,其结构包括:测试载台(1),处于测试载台(1)上方的下压板(2),所述测试载台(1)上表面设有若干测试探针(3),其特征在于:还包括处于测试载台(1)上方的承托机构(4);所述承托机构(4)包括两根固定于测试载台(1)上表面的导杆(41),和滑动连接于导杆(41)之间的电路板托架(42),所述电路板托架(42)内从左往右依次设有两个供电路板放置的第一容置槽(43);两根导杆(41)分别处于测试探针(3)前后两侧。
2.如权利要求1所述的一种集成电路板的测试治具,其特征在于:所述电路板托架(42)前后两端分别设有第一滑动块(421),所述导杆(41)朝向第一滑动块(421)的一侧设有与第一滑动块(421)配合的第一牵引凹槽(411)。
3.如权利要求1所述的一种集成电路板的测试治具,其特征在于:所述电路板托架(42)左右两侧具有贯穿连接的缺口(422)。
4.如权利要求1所述的一种集成电路板的测试治具,其特征在于:所述电路板托架(42)顶部还设有两个放置电路板的升降基座(44),两个升降基座(44)分别设置于两个第一容置槽(43)内,所述升降基座(44)的前后两端分别设有第二滑动块(441);所述第一容置槽(43)内设有供第二滑动块(441)上下滑动的第二牵引凹槽(431),所述第二牵引凹槽(431)内设有推动第二滑动块(441)上移的第一弹簧(432)。
5.如权利要求4所述的一种集成电路板的测试治具,其特征在于:所述升降基座(44)中间设有支撑电路板的限位台阶(442)。
6.如权利要求1所述的一种集成电路板的测试治具,其特征在于:所述导杆(41)朝向电路板托架(42)的一侧还设有固定孔(412),所述固定孔(412)活动连接有限位凸块(413);所述电路板托架(42)前后两侧设有与限位凸块(413)配合的定位槽(423),所述固定孔(412)内还设有推动限位凸块(413)朝向定位槽(423)移动的第二弹簧(414)。
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