CN217543832U - 一种eeprom数据存储测试电路及装置 - Google Patents

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Abstract

本申请涉及数据测试领域,并公开了一种EEPROM数据存储测试电路及装置,该电路包括:控制器、上位机、USB模块、转换开关;所述转换开关与待测试的带电可擦可编程只读存储器EEPROM连接;所述控制器与所述转换开关连接,所述控制器用于在通过所述转换开关与所述EEPROM通信连接时,将测试数据通过所述转换开关存储到所述EEPROM;所述USB模块分别与所述上位机和所述转换开关连接,所述上位机用于通过所述USB模块和所述转换开关与所述EEPROM通信连接时,获取所述EEPROM中的所述测试数据,并显示所述测试数据。本申请提高了数据存储测试的测试效率。

Description

一种EEPROM数据存储测试电路及装置
技术领域
本实用新型涉及数据测试领域,尤其涉及一种EEPROM数据存储测试电路及装置。
背景技术
随着存储器技术的高速发展,存储器在各种控制器上的使用也越来越多,同时也对于存储器的数据存储测试越来越重视,现如今搭载着EEPROM(带电可擦可编程只读存储器)的控制器在进行数据存储的测试时,是通过上位机从EEPROM上读取数据。具有诊断功能的控制器,是通过上位机发送诊断指令读取EEPROM存储的数据。传统对不具有诊断功能的控制器的数据存储测试方法是通过修改代码,使其能自行发出存储的数据,进而通过上位机进行读取。这种数据存储测试方法存在很大的缺陷,会因为人为修改代码而引发其他问题和耗费测试成本的问题。这种需要修改代码使其能自行发出存储的数据的数据存储测试方法不仅测试准确率不高,而且数据存储测试的测试效率也比较较低。
实用新型内容
本实用新型的主要目的在于提出一种EEPROM数据存储测试电路及装置,旨在解决如何提高数据存储测试的测试效率的技术问题。
为实现上述目的,本实用新型提供一种EEPROM数据存储测试电路,所述EEPROM数据存储测试电路包括控制器、上位机、USB模块、转换开关;
所述转换开关与待测试的带电可擦可编程只读存储器EEPROM连接;
所述控制器与所述转换开关连接,所述控制器用于在通过所述转换开关与所述EEPROM通信连接时,将测试数据通过所述转换开关存储到所述EEPROM;
所述USB模块分别与所述上位机和所述转换开关连接,所述上位机用于通过所述USB模块和所述转换开关与所述EEPROM通信连接时,获取所述EEPROM中的所述测试数据,并显示所述测试数据。
可选地,所述转换开关包括第一接线端,第二接线端以及第三接线端;所述第一接线端与所述控制器连接,所述第二接线端与所述EEPROM连接,所述第三接线端与所述USB模块连接。
可选地,所述第二接线端与所述第一接线端通信连接,与所述第三接线端断开连接。
可选地,所述第二接线端与所述第三接线端通信连接,与所述第一接线端断开连接。
可选地,所述USB模块为USB212C。
可选地,所述上位机包括建立有通信连接的USB接口和显示模块,通过所述USB接口和所述USB模块连接;
所述显示模块用于在所述上位机通过所述USB接口、所述USB模块和所述转换开关获取到所述EEPROM中的所述测试数据时,显示所述测试数据。
可选地,所述EEPROM数据存储测试电路还包括USB总线,所述USB总线分别与所述上位机和所述USB模块连接。
可选地,所述EEPROM数据存储测试电路还包括串行I2C总线,所述串行I2C总线分别与所述转换开关和所述USB模块连接。
可选地,所述EEPROM包括芯片I2C端口、接地端口和电源端口;所述芯片I2C端口与所述转换开关连接,所述接地端口与地线连接,所述电源端口与外部电源连接。
此外,本申请还提供了一种EEPROM数据存储测试装置,所述EEPROM数据存储测试装置包括上述所述EEPROM数据存储测试电路。
本申请通过通过转换开关将USB模块和控制器与待测试的EEPROM连接,当进行数据测试时,先通过所述转换开关将所述控制器与待测试的所述EEPROM连接,同时和USB模块断开,也即是说将第二接线端与所述第一接线端连接,与所述第三接线端断开连接,以便所述控制器将测试数据通过所述转换开关传输到待测试的所述EEPROM中。当需要对数据进行测试时,就会将所述转换开关转换为所述USB模块与待测试的所述EEPROM连接,同时和控制器断开,也即是说将第二接线端与所述第三接线端连接,与所述第二接线端断开连,所述USB模块会自动获取所述EEPROM中的所述测试数据,并通过USB总线将数据传输到上位机的USB接口,将所述测试数据传回上位机,所述上位机直接通过显示模块将获取的所述测试数据进行显示,用户根据所述上位机上的所述测试数据得到测试结果,从而避免了用户需要修改控制器程序才能获取所述EEPROM中的测试数据的现象,提高了据存储测试的测试效率。
附图说明
图1为EEPROM数据存储测试电路示意图;
图2为转换开关内部模块示意图;
图3为USB模块与上位机和转换开关连接示意图;
图4为上位机的模块示意图;
图5为EEPROM芯片端口模块示意图。
附图标号说明:
标号 名称 标号 名称
10 控制器 20 转换开关
30 EEPROM 40 USB模块
50 上位机 21 第一接线端
22 第二接线端 23 第三接线端
41 串行I2C总线 42 USB总线
52 显示模块 51 USB接口
31 接地端口 32 电源端口
33 芯片I2C端口 34 外部电源
本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
需要说明,本申请实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。
在本申请中,除非另有明确的规定和限定,术语“连接”、“固定”等应做广义理解,例如,“固定”可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系,除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
另外,在本申请中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本申请要求的保护范围之内。
本实用新型提供一种EEPROM数据存储测试电路,参照图1的EEPROM数据存储测试电路示意图,EEPROM数据存储测试电路控制器10、上位机50、USB模块40、转换开关20;
所述转换开关20与待测试的带电可擦可编程只读存储器EEPROM 30连接;
所述控制器10与所述转换开关20连接,所述控制器10用于在所述转换开关20与所述EEPROM 30通信连接时,将测试数据通过所述转换开关20存储到所述EEPROM 30;
所述USB模块40分别与所述上位机50和所述转换开关20连接,所述上位机50用于通过所述USB模块40和所述转换开关20与所述EEPROM 30通信连接时,获取所述EEPROM 30中的所述测试数据,并显示所述测试数据。
EEPROM数据存储测试电路包括EEPROM 30是带电可擦除可编程只读存储器。数据存储器经过由ROM(Read Only Memory,只读存储器)到PROM(Programmable ROM,可编程ROM)再到EPROM(Erasable Programmable ROM,可擦除可编程ROM)最后EEPROM的使用,不断完善存储器的可擦除可编程功能。本申请主要是介绍了对EEPROM数据存储测试的一种测试方式,在对搭载着EEPROM 30的控制器10进行数据存储的测试时,是通过上位机50从EEPROM30上读取数据。具有诊断功能的控制器10,是通过上位机50发送诊断指令读取EEPROM 30存储的数据。而当项目分阶段开发,控制器10处于不具备诊断功能的阶段时,无法通过诊断指令读取EEPROM 30的数据,这时为了测试EEPROM 30数据存储功能,只能通过修改代码,使其能自行发出存储的数据,进而通过上位机50进行读取。当使用修改代码的测试方法对EEPROM数据存储测试时就会产生以下问题:当不具备诊断功能的控制器10在进行数据存储的测试时,需要修改代码使其能自行发出存储的数据,这破坏了原本的代码。其次对于测试,需要修改原本的代码,不便于测试,给测试带来困扰。最后修改了原本的代码,可能会导致其它问题。所以根据以上问题就提出了本实用新型的技术方案。解决了在项目开发测试阶段不具备诊断功能的控制器EEPROM数据存储测试的难点以及避免了现有测试技术造成的其他技术问题。
EEPROM数据存储测试电路包括控制器10是指按照预定顺序改变主电路或控制电路的接线和改变电路中电阻值来控制电动机的启动、调速、制动和反向的主令装置。在本申请中主要是为EEPROM数据存储测试电路提供待测试的测试数据并发送到EEPROM 30中储存,以为对EEPROM 30的测试提供测试依据。
EEPROM数据存储测试电路包括转换开关20是一种多档式、控制多回路的主令电器。在本申请中主要是通过开关的转换来控制线路的导通,例如转换开关接入到三个独立电路中,三个独立电路A,B,C需要提供电源才能正常工作,在没有接入电源时处于待机状态,可以对转换开关进行控制使独立电路接入电源,进而根据用户需求控制独立电路正常工作,提供转换开关20保证对EEPROM数据存储测试时可以选择对应电路,保证了测试的测试效率。
EEPROM数据存储测试电路包括USB模块40是指一个USB2I2C模块,其中USB2I2C是一个USB总线转I2C总线(I2C/IIC/TWI/SMBUS)的接口芯片,通过USB2I2C芯片可以非常方便地实现PC机USB总线和下位机端I2C接口(即IIC或TWI总线:SCL线、SDA线)之间的通信。在本申请中是通过USB2I2C直接对EEPROM 30芯片中的测试数据进行读取,也就是说在项目分阶段开发过程中,控制器10处于不具备诊断功能的阶段时,无法通过诊断指令读取EEPROM 30的数据,这时为了测试EEPROM 30数据存储功能,只能通过修改代码,使其能自行发出存储的数据,进而通过上位机50进行读取。可以被替代为通过USB2I2C芯片与上位机和待测试的EEPROM 30连接,直接利用USB2I2C的功能读取待测试的EEPROM 30中的测试数据传输到上位机50,已完成处于项目分阶段开发过程中的EEPROM 30的数据存储测试,主要是不需要修改代码就可以直接提取待测试的EEPROM 30中的测试数据。
EEPROM数据存储测试电路包括上位机50是指可以直接发出操控命令的计算机,上位机发出的命令首先给下位机,下位机再根据此命令解释成相应时序信号直接控制相应设备。在概念上,控制者和提供服务者是上位机,被控制者和被服务者是下位机,也可以理解为主机和从机的关系,但上位机和下位机是可以转换的。在本申请中上位机主要是对EEPROM的测试数据进行查看,通过上位机对测试数据查看得到对应的测试结果,已完成对已测试的EEPROM检查数据存储是否正常。
本申请通过了解传统的EEPROM测试方法对未具备诊断功能的控制器中的EEPROM测试的不足,需要通过上位机改变其内部的代码,不仅会造成其他技术问题,还会导致整个测试过程的测试效率降低,提出了本申请的一种EEPROM数据存储测试电路。EDR(汽车事件数据记录系统)控制器与待测试的EEPROM芯片通过一个转换开关连接,USB2I2C模块与EEPRPM芯片通过该转换开关连接,通过转换开关控制EEPROM可选择与EDR控制器或USB2I2C模块连接。在进行EDR的测试工作时,也就是说在需要对不具备诊断功能的控制器内部EEPROM进行测试时,首先转换开关控制EEPROM与EDR控制器相连,控制器会将已经得到的数据发送到需要测试的EEPROM模块进行存储,完成测试数据储存之后,转换开关会断开与EDR控制器的连接,通过转换开关来与USB模块连接,其中USB模块中的USB2I2C的功能是可以自动读取EEPROM芯片的测试数据,并将读取到的测试数据传输到与其相连接的上位机,最后通过上位机可查看读取到的测试数据。根据上位机的显示数据判断EEPROM数据存储功能是否正常。本专利设计完全考虑EEPROM数据存储测试的测试效率这一特点,同时考虑了测试准确性,可操作性及人工成本充分考虑在内,集成了以上设计。
本实施例通过通过转换开关将USB模块和控制器与待测试的EEPROM连接,当进行数据测试时,先通过所述转换开关将所述控制器与待测试的所述EEPROM连接,同时和USB模块断开,也即是说将第二接线端与所述第一接线端连接,与所述第三接线端断开连接,以便所述控制器将测试数据通过所述转换开关传输到待测试的所述EEPROM中。当需要对数据进行测试时,就会将所述转换开关转换为所述USB模块与待测试的所述EEPROM连接,同时和控制器断开,也即是说将第二接线端与所述第三接线端连接,与所述第二接线端断开连,所述USB模块会自动获取所述EEPROM中的所述测试数据,并通过USB总线将数据传输到上位机的USB接口,将所述测试数据传回上位机,所述上位机直接通过显示模块将获取的所述测试数据进行显示,用户根据所述上位机上的所述测试数据得到测试结果,从而避免了用户需要修改控制器程序才能获取所述EEPROM中的测试数据的现象,提高了据存储测试的测试效率。
进一步地,在本申请EEPROM数据存储测试电路又一实施例中,为提高EEPROM数据存储测试的测试效率,参照图2,图2为转换开关内部模块示意图,转换开关20包括:
第一接线端21,第二接线端22以及第三接线端23;所述第一接线端与所述控制器连接,所述第二接线端与所述EEPROM连接,所述第三接线端与所述USB模块连接。
所述第二接线端与所述第一接线端通信连接,与所述第三接线端断开连接。
所述第二接线端与所述第三接线端通信连接,与所述第一接线端断开连接。
根据本申请的实现目的可知,转换开关20中第二接线端22相当于开关中的一个固定点,而第一接线端21以及第三接线端23就是相当于开关中的选择点,可根据用户需求对两者进行选择。其中转换开关20的接线端可以根据实际需求进行选择,当选择电路为a个时,就可以选择含有a+1个接线端的转换开关。根据本申请的解决的技术问题可知,本申请对应的电路只有控制器电路和上位机电路两个,也就是说本申请只需要选择含有3个及3个以上接线端的转换开关就可以完成本申请的技术方案。并根据本申请使用的转换开关可知,本申请的转换开关原理是,该转换开关中只包含一个固定接线端,其余的接线端都是选择接线端,也就是说本申请只需要将固定接线端接入对应的电路,其他选择接线端就可以随意接入,选择接线端的个数需要大于等于需要接入的选择电路的个数。例如当转换开关20中第而接线端22接入电源时,对应的第一接线端21接入家用电器风扇的电路以及第三接线端23接入家用电器冰箱的电路时,这时就可以根据用户的选择将电流连接到对应电路。当需要开启风扇时就会将转换开关20中第二接线端22和第一接线端21连接,就会将电源接入到家用电器风扇的电路并使该电路进行工作;反之当需要开启冰箱时就会将转换开关20中第二接线端22和第三接线端23连接,就会将电源接入到家用电器冰箱的电路并使该电路进行工作。也就是说转换开关20在本申请中实际起到的作用是选择性的控制电路导通的作用。其中第二接线端22与所述EEPROM 30连接是指转换开关20的固定连接点,也就是说EEPROM 30的连接要求是连接转换开个20的固定连接点,其中固定连接点可以是第一接线端21,也可以是第二接线端22以及第三接线端23,在此不对三个接线端进行限定,只需要保证EEPROM 30对应的接线端是转换开关20中的固定接线点,也就是说转换开关20实际只需要选择EEPROM 30与那个电路建立连接,就是电路的一端已经确定,只需要选择另一端即可。
其次,转换开关20的第三接线端23与USB模块40连接,第二接线端22与控制器10连接,也就是说本申请使用的转换开关20的其中一个选择接线端连接的是USB模块40另一个选择接线端连接的是控制器10。
当在EEPROM数据存储测试过程中,需要向EEPROM 30中存储的测试数据时,就会将第一接线端21与所述第二接线端22连接,也就是说现在形成的电路是控制器10和EEPROM30的电路。对于控制器10连接转换开关20中的接线端可以是第一接线端21,也可以是第三接线端23,在此不作限定,只需要注意的是控制器10必须连接的是转换开关20中的选择接线端即可,后续根据控制器10的需求选择性调节转换开关20。控制器10就会将数据存储到EEPROM 30之中,也就是说当转换开关20导通控制器10和EEPROM 30的电路时,就是对控制器10的数据进行正常存储的过程,而转换开关20导通USB模块40和EEPROM 30的电路时,就是上位机对EEPROM 30之中的测试数据进行提取的过程。参照图5,图5为EEPROM芯片端口模块示意图,其中EEPROM 30端口包括芯片I2C端口33、接地端口31和电源端口32;所述芯片I2C端口33与所述转换开关20连接,所述接地端口31与地线连接,所述电源端口32与外部电源34连接。也即是说EEPROM 30通过接地端口31与地线连接,电源端口32与特定电源连接进而可以保证自身可以正常工作,其中特定电源是指可以保证EEPROM 30正常工作的电源,同时将芯片I2C端口33与转换开关20来保证测试数据的正常输入与输出。
当在EEPROM数据存储测试过程中,需要对EEPROM 30中存储的测试数据进行测试时,就会将第三接线端23与所述第二接线端22连接,也就是说现在形成的电路是USB模块40和EEPROM 30的电路。对于USB模块40连接转换开关20中的接线端可以是第二接线端22,也可以是第三接线端23,在此不作限定,只需要注意的是USB模块40必须连接的是转换开关20中的选择接线端即可,后续根据USB模块40的需求选择性调节转换开关20。其中所述USB模块40在连接所述EEPROM 30时,提取所述EEPROM 30中的所述测试数据,根据USB模块40中包含USB2I2C就会在连接EEPROM 30之后,自动对EEPROM 30之中的测试数据进行获取,并在获取之后对测试数据进行显示。
对于测试数据上位机50对应的测试电路,参照图3,图3为USB模块与上位机和转换开关连接示意图,该电路对应的连接方式是所述EEPROM数据存储测试电路还包括串行I2C总线41,所述串行I2C总线41分别与所述转换开关20、所述USB模块40连接。所述EEPROM数据存储测试电路还包括USB总线42,所述USB总线42分别与所述上位机50、所述USB模块40连接。故上位机50、USB模块40以及转换开关20之间就是一条可以正常通信的回路。当在第三接线端23与所述第二接线端22连接,也就是说现在形成的电路是USB模块40和EEPROM 30的电路时,就可以正常对EEPROM 30中的测试数据进行获取。
当测试数据传输到上位机50时,参照图4,图4为上位机的模块示意图,所述上位机50建立有通信连接的USB接口51和显示模块52,通过所述USB接口和所述USB模块连接;所述显示模块52用于在所述上位机50通过所述USB接口51、所述USB模块40和所述转换开关20获取到所述EEPROM 30中的所述测试数据时,显示所述测试数据。当USB模块40和待测试的EEPROM 30连接之后,USB模块40中的USB2I2C就会通过串行I2C总线41自动提取EEPROM 30之中的测试数据,以避免了传统测试中需要上位机修改代码之后EEPROM 30之中的测试数据才会发送到上位机的情况。当USB模块40提取到EEPROM 30之中的测试数据之后,就会根据USB模块40和上位机50之间的电路USB总线42将提取到的测试数据传回到上位机50。上位机50在通过USB接口51接收到测试数据之后,就会通过显示模块52对测试数据进行显示,用户就可以直观的对测试数据进行观察,进而确定测试数据是否正常。当测试数据正常时,就会得到该测试的EEPROM 30存储功能正常,反之就会得到该测试的EEPROM 30存储功能不正常。通过对转换开关20的使用,保证了当第三接线端23与第二接线端22连接时可以直接通过USB模块40中的USB2I2C对EEPROM 30中的测试数据进行提取,之后直接通过USB模块40传输到上位机50上进行显示,以便测试者对其测试的测试数据进行判断,进而对测试的EEPROM 30进行判断。本申请不仅避免了传统EEPROM数据存储测试中需要上位机修改对应的代码之后才会获取EEPROM中的测试数据的现象进而保证了EEPROM内部代码的准确性,而且还提高了测试的测试效率。
例如根据转换开关20的连接关系可以知道,在本实施例中转换开关20中第二接线端22接入待测试的EEPROM 30中的芯片I2C端口33,其中第二接线端22是转换开关20中的固定接线端,转换开关20中的其他接线端是指选择接线端,对于固定接线端与选择接线端的定义是指开关已经固定接线的一端,选择接线端是指开关另外一端进行选择接线,当开关的另一端接线到那个电路就会将该电路与固定端的电路导通。根据本申请的技术方案可知转换开关20中的第三接线端23通过串行I2C总线41接入的是USB模块40以及第二接线端22接入的是控制器10,这时就可以根据用户实际对EEPROM 30的测试需要选择将EEPROM 30连接到对应电路。在对EEPROM 30进行测试时,需要在EEPROM 30中存储控制器10的需要存储的数据,再将EEPROM 30在对数据取出来以用来检查EEPROM 30的数据存储功能是否正常。所以当对待测试的EEPROM 30进行测试时,需要先存入数据,后取出数据并检查数据是否正常就完成了EEPROM数据存储测试,故首先会将转换开关20中第一接线端21和第而接线端22连接,也即是说将控制器10和EEPROM 30中芯片I2C端口33的连接,保证控制器10中的数据可以正常存入EEPROM 30之中,并将该数据作为测试数据。在存入测试数据之后,就会改变转换开关20的连接方式,将转换开关20中第三接线端23和第二接线端22连接,也即是说将USB模块40和EEPROM 30连接,其中USB模块40含有USB2I2C,USB2I2C的功能就是可以在不需要修改代码的情况下对EEPROM 30中的数据进行提取。当EEPROM 30连接到USB模块40之后,就会直接对EEPROM 30中的测试数据通过芯片I2C端口33到转换开关20中的第二接线端22再到转换开关20中的第三接线端23最后通过串行I2C总线41提取到USB模块40,USB模块40就会将提取到的测试数据通过USB总线42发送到上位机50的USB接口51,USB接口51接收到测试数据之后就会通过上位机50的显示模块52进行显示,最终测试者通过上位机50的显示模块52显示的测试数据判断对应的EEPROM 30的存储功能是否正常,就完成了对EEPROM 30的测试。
在本实施例中,通过说明一种EEPROM数据存储测试电路,将存储数据和提取数据的步骤通过转换开关分开,并使用USB模块在接入到待测试的EEPROM时,就会对其中的测试数据进行自动获取,从而避免了对未安装诊断功能的EEPROM测试时,需要修改代码才会对其中的数据进行获取的现象,进一步可以避免因为修改代码而造成的其他问题,既保证了内部代码的完整性,又可以保证提升整个测试过程的测试效率。
此外,本申请还提供了一种一种EEPROM数据存储测试装置,其特征在于,所述EEPROM数据存储测试装置包括所述EEPROM数据存储测试电路。
以上所述仅为本申请的优选实施例,并非因此限制本申请的专利范围,凡是在本申请的发明构思下,利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种EEPROM数据存储测试电路,其特征在于,所述EEPROM数据存储测试电路包括控制器、上位机、USB模块、转换开关;
所述转换开关与待测试的带电可擦可编程只读存储器EEPROM连接;
所述控制器与所述转换开关连接,所述控制器用于在通过所述转换开关与所述EEPROM通信连接时,将测试数据通过所述转换开关存储到所述EEPROM;
所述USB模块分别与所述上位机和所述转换开关连接,所述上位机用于通过所述USB模块和所述转换开关与所述EEPROM通信连接时,获取所述EEPROM中的所述测试数据,并显示所述测试数据。
2.如权利要求1所述EEPROM数据存储测试电路,其特征在于,所述转换开关包括第一接线端,第二接线端以及第三接线端;所述第一接线端与所述控制器连接,所述第二接线端与所述EEPROM连接,所述第三接线端与所述USB模块连接。
3.如权利要求2所述EEPROM数据存储测试电路,其特征在于,所述第二接线端与所述第一接线端通信连接,与所述第三接线端断开连接。
4.如权利要求2所述EEPROM数据存储测试电路,其特征在于,所述第二接线端与所述第三接线端通信连接,与所述第一接线端断开连接。
5.如权利要求1所述EEPROM数据存储测试电路,其特征在于,所述USB模块为USB212C。
6.如权利要求1所述EEPROM数据存储测试电路,其特征在于,所述上位机包括建立有通信连接的USB接口和显示模块,通过所述USB接口和所述USB模块连接;
所述显示模块用于在所述上位机通过所述USB接口、所述USB模块和所述转换开关获取到所述EEPROM中的所述测试数据时,显示所述测试数据。
7.如权利要求6所述EEPROM数据存储测试电路,其特征在于,所述EEPROM数据存储测试电路还包括USB总线,所述USB总线分别与所述上位机中的USB接口和所述USB模块连接。
8.如权利要求6所述EEPROM数据存储测试电路,其特征在于,所述EEPROM数据存储测试电路还包括串行I2C总线,所述串行I2C总线分别与所述转换开关和所述USB模块连接。
9.如权利要求1所述EEPROM数据存储测试电路,其特征在于,所述EEPROM包括芯片I2C端口、接地端口和电源端口;所述芯片I2C端口与所述转换开关连接,所述接地端口与地线连接,所述电源端口与外部电源连接。
10.一种EEPROM数据存储测试装置,其特征在于,所述EEPROM数据存储测试装置包括权利要求1-9所述EEPROM数据存储测试电路。
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