CN217466989U - 一种辅助测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于电子产品测试技术领域，公开了一种辅助测量装置，包括固定座和多个测试件，固定座用于承载待测产品，多个测试件沿水平方向间隔排布，水平方向垂直于固定座的高度方向，每个测试件包括调节架和探针组件，调节架通过磁吸方式与固定座可拆卸连接，探针组件可调节地设置于调节架上，用于与待测产品相抵触。本实用新型的辅助测量装置通过固定座和多个测试件配合，以在水平方向和固定座的高度方向上灵活调整测试件的位置，能够实现多方位、多角度、多测量点同时测量，满足不同的测试需求，且省时省力。

Description

一种辅助测量装置

技术领域

本实用新型涉及电子产品测试技术领域，尤其涉及一种辅助测量装置。

背景技术

在电子产品生产过程中，对于工作正常的电子产品，为确认产品是否达到质量要求，需要对电子产品的电信号进行量测，观测波形是否正常；对于工作异常的电子产品，也需要对产品的电信号进行量测，以找出故障原因。现有技术中，有些是通过将金属连接线焊接到电子产品主板上的信号点位所对应的电子元件上，以获取电子产品的电信号，但该种方式费时费力且容易损伤电子产品。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种辅助测量装置，能满足不同的测试需求，且便于调节、省时省力。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种辅助测量装置，包括：

固定座，用于承载待测产品；

多个测试件，多个所述测试件沿水平方向间隔排布，所述水平方向垂直于所述固定座的高度方向，每个所述测试件包括调节架和探针组件，所述调节架通过磁吸方式与所述固定座可拆卸连接，所述探针组件可调节地设置于所述调节架上，用于与所述待测产品相抵触。

作为优选，还包括多个磁吸块，多个所述磁吸块分别磁吸固定于所述固定座上，多个所述磁吸块与所述固定座配合以在所述水平方向上限位所述待测产品，所述磁吸块具有相互垂直且连接的两个侧面，每个所述侧面上设有磁体，所述磁吸块的两个所述侧面能够分别磁吸于所述固定座和所述待测产品上。

作为优选，所述固定座上呈夹角设置有第一限位条和第二限位条，所述第一限位条和所述第二限位条相连接以在所述固定座上形成一个用于放置所述待测产品和所述磁吸块的直角区域，所述磁吸块的一个所述侧面能够磁吸于所述第一限位条或所述第二限位条。

作为优选，所述调节架包括底支架和上支架，所述底支架与所述固定座通过磁吸方式可拆卸连接，所述上支架转动设置于所述底支架上，所述探针组件可调节地设置于所述上支架上。

作为优选，所述调节架还包括转动设置于所述底支架上的第一转轴和套设于所述第一转轴上的第一套环，所述上支架连接于所述第一套环。

作为优选，所述底支架包括底座、立柱以及设置于所述立柱上的第一支座，所述底座与所述固定座通过磁吸方式可拆卸连接，所述立柱设置于所述底座上，所述第一转轴转动设置于所述第一支座上。

作为优选，所述调节架还包括转动设置于所述上支架上的第二转轴和套设于所述第二转轴上的第二套环，所述探针组件连接于所述第二套环。

作为优选，所述上支架包括支柱和设置于所述支柱上的第二支座，所述支柱转动连接于所述底支架，所述第二转轴转动设置于所述第二支座上。

作为优选，所述探针组件包括壳体、探针和金属芯，所述壳体转动设置于所述调节架上，所述探针可拆卸安装于所述壳体上，用于与所述待测产品相抵触，所述金属芯设置于所述壳体内并与所述探针相抵触。

作为优选，所述壳体为管状结构，所述金属芯穿设于所述壳体中，所述壳体的一端设置有与所述金属芯连接的金属环，所述壳体的另一端可拆卸套设有固定帽，所述探针可拆卸安装于所述固定帽上。

本实用新型的有益效果：

本实用新型的辅助测量装置，通过固定座承载待测产品，通过磁吸固定于固定座上的多个磁吸块与固定座配合以沿水平方向限位待测产品，确保待测产品在测试过程中被固定在固定座上；通过多个测试件以对待测产品上的多个测量点同时测量，同时利用调节架将探针组件磁吸于固定座上，即将调节架与固定座通过可拆卸的方式连接以适应不同测试需求下的探针灵活布置，再配合探针组件可调节地设置在调节架上，以在水平方向和固定座的高度方向上灵活地调整测试件的位置，满足不同的测试需求。本实用新型的辅助测量装置具有高自由度，在固定座、多个磁吸块和多个测试件的配合下，能快速地实现多方位、多角度以及多测量点同时测量，省时省力。

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的辅助测量装置的结构示意图一；

图2是本实用新型实施例提供的辅助测量装置的结构示意图二；

图3是本实用新型实施例提供的辅助测量装置的结构示意图三；

图4是本实用新型实施例提供的辅助测量装置的磁吸块的结构示意图；

图5是本实用新型实施例提供的辅助测量装置的测试件的结构示意图一；

图6是本实用新型实施例提供的辅助测量装置的测试件的结构示意图二；

图7是本实用新型实施例提供的测试件的调节架与探针组件的结构示意图。

图中：

100-待测产品；

1-固定座；110-直角区域；11-第一限位条；12-第二限位条；

2-磁吸块；21-侧面；22-磁体；

3-测试件；

31-调节架；311-底支架；3111-底座；3112-立柱；3113-第一支座；312-上支架；3121-支柱；3122-第二支座；313-第一转轴；3131-第一套环；3132-第一把手；314-第二转轴；3141-第二套环；3142-第二把手；3143-连接头；

32-探针组件；321-壳体；3211-连接环；322-探针；323-固定帽；324-金属环。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的零部件或具有相同或类似功能的零部件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，可以是机械连接，也可以是电连接，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型的描述中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一特征和第二特征直接接触，也可以包括第一特征和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。

如图1至图3所示，本实用新型实施例提供了一种辅助测量装置，包括固定座1、多个磁吸块2和多个测试件3，固定座1用于承载待测产品100，且固定座1的材料为铁磁性材料，多个磁吸块2通过磁吸方式与固定座1可拆卸连接，且多个磁吸块2与固定座1配合以在水平方向上限位待测产品100，水平方向垂直于固定座1的高度方向；多个测试件3沿水平方向间隔排布，每个测试件3包括调节架31和探针组件32，调节架31通过磁吸方式与固定座1可拆卸连接，探针组件32可调节地设置于调节架31上，用于与待测产品100相抵触。

本实施例的辅助测量装置，通过固定座1承载待测产品100，通过磁吸固定于固定座1上的多个磁吸块2与固定座1配合以沿水平方向限位待测产品100，确保待测产品100在测试过程中被固定在固定座1上；通过多个测试件3以对待测产品100上的多个测量点同时测量，同时利用调节架31将探针组件32灵活设置在固定座1上，即将调节架31与固定座1通过可拆卸的方式连接以适应不同测试需求下的探针灵活布置，再配合探针组件32可调节地设置在调节架31上，以在水平方向和固定座1的高度方向上灵活调整测试件3的位置，满足不同的测试需求。本实施例的辅助测量装置具有高自由度，在固定座1、多个磁吸块2和多个测试件3的配合下，能快速地实现多方位、多角度以及多测量点同时测量，省时省力。

可选地，参见图1至图3，本实施例中的磁吸块2设置有两个，两个磁吸块2分别与固定座1配合以在第一方向和第二方向上限位待测产品100，第一方向、第二方向和固定座1的高度方向两两垂直，第一方向如图1所示箭头ab所示的方向，第二方向如图1所示箭头cd所示的方向，固定座1的高度方向如图1所示箭头ef所示的方向。在测试前，通过两个磁吸块2分别与固定座1磁吸配合，即一个磁吸块2与固定座1配合能够在第一方向上限位待测产品100，另一个磁吸块2与固定座1配合能够在第二方向上限位待测产品100，以实现多个磁吸块2与固定座1配合在水平方向上限位待测产品100。

可选地，参见图3和图4，磁吸块2具有相互垂直且连接的两个侧面21，每个侧面21上设有磁体22，磁吸块2的两个侧面21能够分别磁吸于固定座1和待测产品100上，确保待测产品100在测试过程中被牢牢固定在固定座1上，避免待测产品100发生偏移。

可选地，参见图1至图4，固定座1上呈夹角设置有第一限位条11和第二限位条12，即第一限位条11沿第一方向延伸，第二限位条12沿第二方向延伸，第一限位条11与第二限位条12相连接以在固定座1上形成一个用于放置待测产品100和磁吸块2的直角区域110，磁吸块2的一个侧面21能够磁吸于第一限位条11或第二限位条12。本实施例中，通过一个磁吸块2与第一限位条11配合以在第二方向上限位待测产品100，该磁吸块2的两个侧面21分别磁吸第一限位条11和待测产品100；通过另外一个磁吸块2与第二限位条12配合以在第一方向上限位待测产品100，该磁吸块2的两个侧面21分别磁吸第二限位条12和待测产品100。上述通过设置于固定座1上的第一限位条11和第二限位条12分别与两个磁吸块2相配合以实现在第一方向和第二方向限位待测产品100；同时在磁吸块2上相互垂直设置的两个侧面21的配合下，能够更加精准地固定待测产品100。

可选地，第一限位条11朝向直角区域110的表面为沿第一方向延伸的平面，第二限位条12朝向直角区域110的表面为沿第二方向延伸的平面，磁吸块2的两个侧面21为平面，确保两个磁吸块2分别一一对应与第一限位条11和第二限位条12磁吸固定牢固。

可选地，磁吸块2为直角三棱柱，具有相互垂直且连接的两个侧面21。

可选地，参见图3和图5，调节架31包括底支架311和上支架312，底支架311与固定座1的第一限位条11或第二限位条12通过磁吸方式可拆卸连接，上支架312转动设置于底支架311上，探针组件32可调节地设置于上支架312上。多个测试件3可依据产品测试需求选择布置在第一限位条11和第二限位条12上。上述通过底支架311与固定座1磁吸固定以便沿水平方向灵活移动测试件3的位置；再配合上支架312转动设置于底支架311上，能够进一步多角度地灵活调节探针组件32的位置，以使辅助测量装置适用于多方位和多角度作业。

可选地，参见图5至图7，调节架31还包括转动设置于底支架311上的第一转轴313和套设于第一转轴313上的第一套环3131，上支架312连接于第一套环3131。通过第一转轴313相对底支架311转动，以通过第一套环3131带动上支架312转动调节，进而调节探针组件32的角度和方位。

可选地，参见图5至图7，底支架311包括底座3111、立柱3112和第一支座3113，底座3111与固定座1通过磁吸方式可拆卸连接，立柱3112的一端连接于底座3111，第一支座3113设置有两个，两个第一支座3113沿垂直于立柱3112的方向间隔设置于立柱3112的另一端。第一转轴313转动设置于两个第一支座3113上，第一套环3131位于两个第一支座3113之间。通过底座3111、立柱3112、第一支座3113与第一转轴313和第一套环3131相配合，保证底支架311与固定座1之间磁吸牢固，提升测试件3的整体稳定性，避免探针组件32在测试时晃动。

可选地，参见图5至图7，第一转轴313垂直于立柱3112，第一转轴313的两端分别伸出两个第一支座3113，且第一转轴313的一端设置有第一把手3132，以便转动调节上支架312。本实施例中的第一转轴313能够相对立柱3112的轴线方向左右转动60度。

可选地，参见图5至图7，调节架31还包括转动设置于上支架312上的第二转轴314和套设于第二转轴314上的第二套环3141，第二套环3141的外周面上设置有连接头3143，探针组件32连接于第二套环3141上的连接头3143。通过第二转轴314相对上支架312转动，以通过第二套环3141带动探针组件32转动，在上支架312相对底支架311能够转动调节的基础上，进一步多角度和多方位地调节探针组件32的位置。

可选地，参见图5至图7，上支架312包括支柱3121和第二支座3122，支柱3121的一端连接于第一套环3131，第二支座3122设置有两个，两个第二支座3122沿垂直于支柱3121的方向间隔设置于支柱3121的另一端。第二转轴314转动设置于两个第二支座3122上，第二套环3141位于两个第二支座3122之间。通过支柱3121、第二支座3122与第二转轴314、第二套环3141以及第一套环3131相配合，保证底支架311和探针组件32之间通过上支架312转动连接稳定，提升测试件3的整体稳定性，避免探针组件32在测试作业时晃动。

可选地，第二转轴314垂直于支柱3121，第二转轴314的两端分别伸出两个第二支座3122，且第二转轴314的一端设置有第二把手3142，以便转动调节探针组件32。

可选地，在其他实施例中，探针组件32与上支架312球铰接连接，以便更多角度地调节探针322。

可选地，参见图5至图7，探针组件32包括壳体321、探针322和金属芯，壳体321转动设置于上支架312上，即壳体321连接于连接头3143，探针322可拆卸安装于壳体321上，用于与待测产品100相抵触，金属芯设于壳体321内并与探针322相抵触。测试作业时，金属芯与外界的万用表或示波器电连接，以使探针322在待测产品100上获取的电信号进过金属芯传输至万用表或示波器；通过调整调节架31和壳体321能够调节探针322的测量角度，确保测试质量。通过将探针322可拆卸安装于壳体321上，以便更换探针322。

可选地，参见图5至图7，壳体321为管状结构，金属芯穿设于壳体321，壳体321的一端设置有与金属芯连接的金属环324，壳体321的另一端可拆卸套设有固定帽323，探针322的一端可拆卸安装于固定帽323上并能够与金属芯相抵触，探针322的另一端用于与待测产品100相抵触。通过设置金属环324，以便将外界的万用表或示波器与金属环324连接，即可实现与金属芯电连接；通过设置固定帽323，以方便从壳体321上拆装探针322。

可选地，参见图6和图7，壳体321的一端设置有连接环3211，壳体321内的金属芯连通于连接环3211，连接环3211的外周面设有螺纹，固定帽323螺接于连接环3211。当固定帽323螺接于连接环3211时，探针322与壳体321内的金属芯相抵触。

可选地，探针322为弹簧探针，避免用力过猛损伤待测产品100，也可以通过探针322的针头伸缩观察探针322与待测产品100是否接触，避免悬空。

显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为了清楚说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种辅助测量装置，其特征在于，包括：

固定座(1)，用于承载待测产品(100)；

多个测试件(3)，多个所述测试件(3)沿水平方向间隔排布，所述水平方向垂直于所述固定座(1)的高度方向，每个所述测试件(3)包括调节架(31)和探针组件(32)，所述调节架(31)通过磁吸方式与所述固定座(1)可拆卸连接，所述探针组件(32)可调节地设置于所述调节架(31)上，用于与所述待测产品(100)相抵触。

2.根据权利要求1所述的辅助测量装置，其特征在于，还包括多个磁吸块(2)，多个所述磁吸块(2)分别磁吸固定于所述固定座(1)上，多个所述磁吸块(2)与所述固定座(1)配合以在所述水平方向上限位所述待测产品(100)，所述磁吸块(2)具有相互垂直且连接的两个侧面(21)，每个所述侧面(21)上设有磁体(22)，所述磁吸块(2)的两个所述侧面(21)能够分别磁吸于所述固定座(1)和所述待测产品(100)上。

3.根据权利要求2所述的辅助测量装置，其特征在于，所述固定座(1)上呈夹角设置有第一限位条(11)和第二限位条(12)，所述第一限位条(11)和所述第二限位条(12)相连接以在所述固定座(1)上形成一个用于放置所述待测产品(100)和所述磁吸块(2)的直角区域(110)，所述磁吸块(2)的一个所述侧面(21)能够磁吸于所述第一限位条(11)或所述第二限位条(12)。

4.根据权利要求1所述的辅助测量装置，其特征在于，所述调节架(31)包括底支架(311)和上支架(312)，所述底支架(311)与所述固定座(1)通过磁吸方式可拆卸连接，所述上支架(312)转动设置于所述底支架(311)上，所述探针组件(32)可调节地设置于所述上支架(312)上。

5.根据权利要求4所述的辅助测量装置，其特征在于，所述调节架(31)还包括转动设置于所述底支架(311)上的第一转轴(313)和套设于所述第一转轴(313)上的第一套环(3131)，所述上支架(312)连接于所述第一套环(3131)。

6.根据权利要求5所述的辅助测量装置，其特征在于，所述底支架(311)包括底座(3111)、立柱(3112)以及设置于所述立柱(3112)上的第一支座(3113)，所述底座(3111)与所述固定座(1)通过磁吸方式可拆卸连接，所述立柱(3112)设置于所述底座(3111)上，所述第一转轴(313)转动设置于所述第一支座(3113)上。

7.根据权利要求4所述的辅助测量装置，其特征在于，所述调节架(31)还包括转动设置于所述上支架(312)上的第二转轴(314)和套设于所述第二转轴(314)上的第二套环(3141)，所述探针组件(32)连接于所述第二套环(3141)。

8.根据权利要求7所述的辅助测量装置，其特征在于，所述上支架(312)包括支柱(3121)和设置于所述支柱(3121)上的第二支座(3122)，所述支柱(3121)转动连接于所述底支架(311)，所述第二转轴(314)转动设置于所述第二支座(3122)上。

9.根据权利要求1所述的辅助测量装置，其特征在于，所述探针组件(32)包括壳体(321)、探针(322)和金属芯，所述壳体(321)转动设置于所述调节架(31)上，所述探针(322)可拆卸安装于所述壳体(321)上，用于与所述待测产品(100)相抵触，所述金属芯设置于所述壳体(321)内并与所述探针(322)相抵触。

10.根据权利要求9所述的辅助测量装置，其特征在于，所述壳体(321)为管状结构，所述金属芯穿设于所述壳体(321)中，所述壳体(321)的一端设置有与所述金属芯连接的金属环(324)，所述壳体(321)的另一端可拆卸套设有固定帽(323)，所述探针(322)可拆卸安装于所述固定帽(323)上。

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