CN217305424U - 一种芯片模拟按压测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种芯片模拟按压测试治具，包括测试台，所述测试台上转动连接有第一转轴，且第一转轴的上端固定连接有导料座，所述测试台上设置有与第一转轴相配合的驱动机构，所述导料座上开设有多个呈环形分布的放置槽。本实用新型涉及芯片测试技术领域，通过设置的驱动机构，可以将各个芯片导送至吸尘罩下方，吸尘罩在吸尘器的配合下，可以对各个芯片上附着的颗粒杂质进行有效清除，避免了人工清理的繁琐和劳力损耗，另外驱动机构可以将各个清理完成的芯片导送至测试压块下方进行按压测试，使得清理工序和按压工序得到衔接，避免了人工导送的繁琐，且有效的提高了工作效率。
Description
技术领域
本实用新型属于芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片模拟按压测试治具。
背景技术
触控芯片是指端面触摸芯片可与摩擦衬片和摩擦材料层做成一体的金属片或非金属片，泛指所有的电子元器件，是在硅板上集合多种电子元器件实现某种特定功能的电路模块。
触控芯片在生产的过程中，需要通过测试冶具对触控芯片进行模拟按压测试，传统的测试冶具功能较为单一，不能对芯片上可能附着的颗粒杂质进行有效处理，因此常需要人工对芯片上可能附着的颗粒杂质进行清理，以避免按压过程中颗粒杂质硌伤芯片，但是人工清理较为繁琐且耗费人力。
为此，我们提出一种芯片模拟按压测试治具解决上述问题。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决上述的问题，而提出的一种芯片模拟按压测试治具。
为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
一种芯片模拟按压测试治具，包括测试台，所述测试台上转动连接有第一转轴，且第一转轴的上端固定连接有导料座，所述测试台上设置有与第一转轴相配合的驱动机构，所述导料座上开设有多个呈环形分布的放置槽，所述放置槽的两侧内壁均固定连接有两个电磁伸缩机构，且两个电磁伸缩机构的输出端共同固定连接有夹块，所述测试台上固定连接有支撑架，且支撑架上安装有第一气缸、吸尘器和第二气缸，所述第一气缸的输出端固定连接有两个与放置槽相对应的测试压块，所述吸尘器的吸尘端连通有与放置槽相对应的吸尘罩，且第二气缸的输出端与吸尘罩固定连接。
优选地，所述驱动机构由两个同步轮和步进电机组成，所述测试台上开设有驱动腔，且驱动腔中转动连接有第二转轴，所述第一转轴的下端延伸至驱动腔中设置并与其中一个同步轮固定套接，且另一个同步轮与第二转轴固定套接，两个所述同步轮之间通过同步带传动连接，且第二转轴与步进电机传动连接。
优选地，所述电磁伸缩机构由滑座、电磁块、永磁块、复位弹簧和抵杆组成，所述滑座固定设置于放置槽的内壁上，且电磁块嵌设于滑座中设置，所述电磁块通过多个复位弹簧与永磁块固定连接，所述永磁块与滑座滑动连接，且抵杆与永磁块固定连接，所述抵杆远离永磁块的一端与对应的夹块固定连接。
优选地，所述导料座的下侧固定连接有多个支撑块，且测试台上开设有与各个支撑块相配合的环形滑槽。
优选地，所述第一气缸的输出端固定连接有压板，且测试压块与压板螺纹连接。
优选地，所述吸尘器的吸尘端通过波纹管与吸尘罩连通。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：
1、通过设置的驱动机构，可以将各个芯片导送至吸尘罩下方，吸尘罩在吸尘器的配合下，可以对各个芯片上附着的颗粒杂质进行有效清除，避免了人工清理的繁琐和劳力损耗，另外驱动机构可以将各个清理完成的芯片导送至测试压块下方进行按压测试，使得清理工序和按压工序得到衔接，避免了人工导送的繁琐，且有效的提高了工作效率。
2、通过设置的电磁伸缩机构可以控制夹块进行伸缩，便于对放置的芯片进行固定或解锁，通过设置的第二气缸和波纹管的配合，可以控制吸尘罩与放置槽间的间距，使得吸尘罩可以更好的吸取芯片上附着的颗粒杂质，通过设置的支撑块和环形滑槽的配合，可以给予导料座以支撑，且不会影响导料座的转动。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种芯片模拟按压测试治具的正视透视结构示意图；
图2为本实用新型提出的一种芯片模拟按压测试治具的放置槽的正视透视结构示意图；
图3为本实用新型提出的一种芯片模拟按压测试治具的电磁伸缩机构的正视透视结构示意图。
图中：1测试台、2第一转轴、3导料座、4驱动机构、41同步轮、42步进电机、5放置槽、6电磁伸缩机构、61滑座、62电磁块、63永磁块、64复位弹簧、65抵杆、7夹块、8支撑架、9第一气缸、10吸尘器、11第二气缸、12测试压块、13吸尘罩、14驱动腔、15第二转轴、16支撑块、17环形滑槽、18压板、19波纹管、20同步带、21芯片本体。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
参照图1-3，一种芯片模拟按压测试治具，包括测试台1，测试台1上转动连接有第一转轴2，且第一转轴2的上端固定连接有导料座3，导料座3的下侧固定连接有多个支撑块16，且测试台1上开设有与各个支撑块16相配合的环形滑槽17，支撑块16和环形滑槽17的配合，可以给予导料座3以支撑，同时，不会影响导料座3的转动。
测试台1上设置有与第一转轴2相配合的驱动机构4，驱动机构4由两个同步轮41和步进电机42组成，步进电机42的型号为YSD258，测试台1上开设有驱动腔14，且驱动腔14中转动连接有第二转轴15，第一转轴2的下端延伸至驱动腔14中设置并与其中一个同步轮41固定套接，且另一个同步轮41与第二转轴15固定套接，两个同步轮41之间通过同步带20传动连接，且第二转轴15与步进电机42传动连接，通过设置的两个同步轮41的传动配合，使得步进电机42可以设置于测试台1的上方驱动第一转轴2转动，便于后期对步进电机42进行检修。
导料座3上开设有多个呈环形分布的放置槽5，放置槽5的两侧内壁均固定连接有两个电磁伸缩机构6，且两个电磁伸缩机构6的输出端共同固定连接有夹块7，电磁伸缩机构6由滑座61、电磁块62、永磁块63、复位弹簧64和抵杆65组成，滑座61固定设置于放置槽5的内壁上，且电磁块62嵌设于滑座61中设置，电磁块62通过多个复位弹簧64与永磁块63固定连接，永磁块63与滑座61滑动连接，且抵杆65与永磁块63固定连接，抵杆65远离永磁块63的一端与对应的夹块7固定连接，通过设置的电磁块62，可以利用电磁块62的通断电磁性变化，配合永磁块63和复位弹簧64控制夹块7对芯片本体21进行夹持或分离。
测试台1上固定连接有支撑架8，且支撑架8上安装有第一气缸9、吸尘器10和第二气缸11，第一气缸9的输出端固定连接有两个与放置槽5相对应的测试压块12，第一气缸9的型号为SC80-300，吸尘器10的型号为JH-80，第二气缸11的型号为SC60-200，第一气缸9的输出端固定连接有压板18，且测试压块12与压板18螺纹连接，测试压块12的螺纹连接设置，便于后期对测试压块12进行拆卸更换，吸尘器10的吸尘端连通有与放置槽5相对应的吸尘罩13，且第二气缸11的输出端与吸尘罩13固定连接，吸尘器10的吸尘端通过波纹管19与吸尘罩13连通，波纹管19的设置，可以使得吸尘罩13的升降不会受到阻碍。
现对本实用新型的操作原理做如下描述：
使用本冶具时，将需要测试的各个芯片本体21放置于对应的放置槽5中，随后启动各个电磁块62，电磁块62通电生磁会排斥永磁块63，进而使得抵杆65可以带动夹块7对芯片本体21进行夹持稳固，随后，通过第二气缸11控制吸尘罩13下移靠近其中一个芯片本体21，然后，启动吸尘器10，吸尘器10会通过吸尘罩13吸取芯片本体21上附着的颗粒杂质，清理完成后，启动步进电机42，步进电机42会带动第二转轴15转动，在两个同步轮41的传动下，第一转轴2会带动导料座3转动，导料座3会带动其上的芯片本体21转动，待下一芯片本体21转动至吸尘罩13下方时，关闭步进电机42，吸尘罩13会对其进行清理工作，如此往复操作，待各个芯片本体21均清理完成后，通过第一气缸9控制两个测试压块12对其中一个芯片本体21进行按压测试，待测试完成后，控制测试压块12回位，接着启动步进电机42，同理，导料座3会带动下一待测芯片本体21转动至测试压块12下方进行按压测试。
以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种芯片模拟按压测试治具，包括测试台(1)，其特征在于，所述测试台(1)上转动连接有第一转轴(2)，且第一转轴(2)的上端固定连接有导料座(3)，所述测试台(1)上设置有与第一转轴(2)相配合的驱动机构(4)，所述导料座(3)上开设有多个呈环形分布的放置槽(5)，所述放置槽(5)的两侧内壁均固定连接有两个电磁伸缩机构(6)，且两个电磁伸缩机构(6)的输出端共同固定连接有夹块(7)，所述测试台(1)上固定连接有支撑架(8)，且支撑架(8)上安装有第一气缸(9)、吸尘器(10)和第二气缸(11)，所述第一气缸(9)的输出端固定连接有两个与放置槽(5)相对应的测试压块(12)，所述吸尘器(10)的吸尘端连通有与放置槽(5)相对应的吸尘罩(13)，且第二气缸(11)的输出端与吸尘罩(13)固定连接。
2.根据权利要求1所述的一种芯片模拟按压测试治具，其特征在于，所述驱动机构(4)由两个同步轮(41)和步进电机(42)组成，所述测试台(1)上开设有驱动腔(14)，且驱动腔(14)中转动连接有第二转轴(15)，所述第一转轴(2)的下端延伸至驱动腔(14)中设置并与其中一个同步轮(41)固定套接，且另一个同步轮(41)与第二转轴(15)固定套接，两个所述同步轮(41)之间通过同步带(20)传动连接，且第二转轴(15)与步进电机(42)传动连接。
3.根据权利要求1所述的一种芯片模拟按压测试治具，其特征在于，所述电磁伸缩机构(6)由滑座(61)、电磁块(62)、永磁块(63)、复位弹簧(64)和抵杆(65)组成，所述滑座(61)固定设置于放置槽(5)的内壁上，且电磁块(62)嵌设于滑座(61)中设置，所述电磁块(62)通过多个复位弹簧(64)与永磁块(63)固定连接，所述永磁块(63)与滑座(61)滑动连接，且抵杆(65)与永磁块(63)固定连接，所述抵杆(65)远离永磁块(63)的一端与对应的夹块(7)固定连接。
4.根据权利要求1所述的一种芯片模拟按压测试治具，其特征在于，所述导料座(3)的下侧固定连接有多个支撑块(16)，且测试台(1)上开设有与各个支撑块(16)相配合的环形滑槽(17)。
5.根据权利要求1所述的一种芯片模拟按压测试治具，其特征在于，所述第一气缸(9)的输出端固定连接有压板(18)，且测试压块(12)与压板(18)螺纹连接。
6.根据权利要求1所述的一种芯片模拟按压测试治具，其特征在于，所述吸尘器(10)的吸尘端通过波纹管(19)与吸尘罩(13)连通。
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| CN202220299524.5U CN217305424U (zh) | 2022-02-15 | 2022-02-15 | 一种芯片模拟按压测试治具 |
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| CN217305424U true CN217305424U (zh) | 2022-08-26 |
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ID=82928300
Family Applications (1)
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| CN (1) | CN217305424U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116047277A (zh) * | 2023-03-31 | 2023-05-02 | 盐城市昊芯科技有限公司 | 一种电源芯片质量检测设备 |
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2022
- 2022-02-15 CN CN202220299524.5U patent/CN217305424U/zh active Active
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