CN217277982U - 一种用于衍射探测设备的密封测试样品台 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于衍射探测设备的密封测试样品台，具体涉及衍射测量仪器技术领域，包括底座、顶盖和卡箍，底座具有凸台，凸台上用于放置测试样品，顶盖具有容置腔，卡箍用于箍紧顶盖与底座并使顶盖压紧于底座上且顶盖与底座之间形成一密封的容置空间，且此时凸台能够伸入至容置腔内。本实用新型能密封转移并对样品进行衍射测试，密封性好，结构简单，方便拆卸组装。

Description

一种用于衍射探测设备的密封测试样品台

技术领域

本实用新型涉及衍射测量仪器技术领域，具体涉及一种用于衍射探测设备的密封测试样品台。

背景技术

当一束电磁波照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。其中X射线晶体衍射现象的发现，使得X射线衍射长久以来被作为一种研究物质微细结构的有效工具。X射线衍射测量被广泛应用于科学研究、检验检测以及企业对产品的质量控制等方面，通过X射线衍射的测量结果可以精确测定物质的晶体结构、织构及应力。

由于一些测试样品对水和氧气比较敏感，对其进行X射线衍射测试需要在惰性气体保护下进行。在X射线衍射测试中，要求样品平面与样品台平面的高度尽量保持一致，否则会导致样品衍射峰的整体偏移，对物相分析造成干扰，现有技术中有采用惰性气体保护粉末样品的测试样品台，样品台设置有凹槽，将粉末样品放置在凹槽内并压平，使平整的样品平面与样品台平面处在同一水平面，以达到较为精准的测试结果。而凹槽并不适用于厚度较薄的薄膜样品，薄膜样品放入凹槽中并不能与样品台平面保持在同一水平面，而且凹槽会挡住角度较小的入射和反射的X射线，使测试范围变小，测试结果不准确。而且该惰性气体保护粉末样品的测试样品台采用的是下盖旋紧的密封方式，这种方式在需要戴着厚橡胶手套的手套箱内不能良好的进行密封，操作很不方便，因此该样品台不适用于薄膜样品。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种用于衍射探测设备的密封测试样品台，以解决上述现有技术存在的问题，能密封转移并衍射测试样品，密封性好，结构简单，方便拆卸组装。

为实现上述目的，本实用新型提供了如下方案：

本实用新型提供一种用于衍射探测设备的密封测试样品台，包括底座、顶盖和卡箍，所述底座具有凸台，所述凸台上用于放置测试样品，所述顶盖具有容置腔，所述卡箍用于箍紧所述顶盖与所述底座并使顶盖压紧于所述底座上且所述顶盖与所述底座之间形成一密封的容置空间，且此时所述凸台能够伸入至所述容置腔内。

优选的，还包括密封胶圈，所述密封胶圈位于所述顶盖与所述底座之间，通过所述卡箍夹紧所述密封胶圈使所述容置空间密封。

优选的，所述底座用于朝向所述顶盖的端面上设置有底凹槽，所述底凹槽环绕在所述凸台外，所述顶盖用于朝向所述底座的端面上设置有盖凹槽，所述底凹槽与所述盖凹槽的大小形状相同；所述卡箍箍紧所述顶盖与所述底座时，所述密封胶圈一端抵接于所述底凹槽，所述密封胶圈另一端抵接所述盖凹槽。

优选的，所述顶盖包括底板和拱形凸盖，所述底板与所述拱形凸盖固定连接，所述底板具有通孔，所述凸台能够穿过所述通孔并伸入至所述拱形凸盖内，所述盖凹槽环绕在所述通孔外。

优选的，所述底凹槽的轴线与所述凸台轴线重合，所述盖凹槽的轴线与所述通孔轴线重合。

优选的，所述通孔与所述拱形凸盖内侧壁相切。

优选的，所述拱形凸盖具有弧形顶，所述弧形顶具有两个窗口，两个所述窗口关于所述弧形顶中心线对称分布，两个所述窗口外侧固定覆盖有窗口膜，所述窗口膜能够透过电磁波。

优选的，所述窗口膜能够透过X射线。

优选的，所述窗口膜通过胶水黏贴于所述窗口外侧。

优选的，所述底座另一端具有固定凹槽，所述固定凹槽与所述底凹槽的轴线重合，所述固定凹槽能够使所述底座固定在衍射仪的样品架上，所述底座和所述顶盖材料为铝材或聚四氟乙烯。

本实用新型相对于现有技术取得了以下技术效果：

本实用新型提供的一种用于衍射探测设备的密封测试样品台，样品台的底座、顶盖和卡箍在装有惰性气体的手套箱内方便拆卸和组装，顶盖与底座连接能够使底座的凸台放置在顶盖的容置腔内，凸台更适合厚度较薄的薄膜样品进行衍射测试，通过卡箍套入顶盖与底座的连接处并使顶盖与底座形成封闭空间，穿戴塑胶手套对样品台进行密封时，卡箍箍紧密封比现有技术中顶盖与底座旋紧接合的操作更加方便，卡箍的紧箍性更强，密封效果更好，且所需的顶盖与底座的结构更加简单，在惰性气体保护的封闭空间内，保证对水和空气敏感的薄膜样品在运输和测试过程中不接触空气，不会受到水和氧气的影响，得到测试样品结构的精确信息。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型一种用于衍射探测设备的密封测试样品台的结构示意图；

图2为本实用新型一种用于衍射探测设备的密封测试样品台的侧视图；

图3为本实用新型一种用于衍射探测设备的密封测试样品台的俯视图；

图4为本实用新型一种用于衍射探测设备的密封测试样品台的顶盖结构示意图；

图5为本实用新型一种用于衍射探测设备的密封测试样品台的顶盖的正视图；

图6为本实用新型一种用于衍射探测设备的密封测试样品台的顶盖的左视图；

图7为本实用新型一种用于衍射探测设备的密封测试样品台的顶盖的俯视图；

图8为本实用新型一种用于衍射探测设备的密封测试样品台的底座结构示意图；

图9为本实用新型一种用于衍射探测设备的密封测试样品台的底座的正视图；

图10为本实用新型一种用于衍射探测设备的密封测试样品台的底座的左视图；

图11为本实用新型一种用于衍射探测设备的密封测试样品台的底座的仰视图；

图12为本实用新型一种用于衍射探测设备的密封测试样品台的卡箍的结构示意图；

图13为本实用新型一种用于衍射探测设备的密封测试样品台的密封胶圈结构示意图。

图中：1-顶盖；11-盖凹槽；12-拱形凸盖；13-底板；14-弧形顶；15-通孔；16-窗口；17-窗口膜；18-容置腔；2-底座；21-底凹槽；22-凸台；23-固定凹槽；3-卡箍；4-密封胶圈。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型的目的是提供一种用于衍射探测设备的密封测试样品台，以解决上述现有技术存在的问题，能密封转移并衍射测试样品，密封性好，结构简单，方便拆卸组装。

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。

实施例1

如图1-3所示，本实施例提供一种用于衍射探测设备的密封测试样品台，包括底座2、顶盖1和卡箍3，底座2具有凸台22，凸台22上用于放置测试样品，凸台更适合放置固定厚度较薄的薄膜样品，顶盖1具有容置腔18，卡箍3用于箍紧顶盖1与底座2并使顶盖1压紧于底座2上且顶盖1与底座2之间形成一密封的容置空间，且此时凸台22能够伸入至容置腔18内。在对水和氧气比较敏感的测试样品进行测试时，首先将分离的底座2、顶盖1、卡箍3和测试样品放入惰性气体的手套箱中，先在手套箱过渡仓内抽充气多次后，再送入手套箱操作仓内，将测试样品固定放置于底座2的凸台22上，顶盖1能够与底座2连接使凸台22上的测试样品位于容置腔18内，顶盖1与底座2的连接位置内部具有密封胶圈4，将卡箍3套入顶盖1与底座2的连接处并箍紧密封胶圈4，使密封胶圈4变形达到密封容置空间的目标，防止外界空气进入，容置空间内充满惰性气体，再将密封好的测试样品台移出手套箱，保证样品在运输和测试过程中不会接触空气。如图12所示，在人穿戴塑胶手套进行密封操作时，卡箍3箍紧密封比现有技术中顶盖1与底座2通过旋紧的方式密封接合更加方便，紧箍性更强，密封效果更好，且顶盖1和底座2的结构更加简单。

在本实施例中，较为优选的，如图8-11所示，底座2用于朝向顶盖的端面上设置有底凹槽21，底凹槽21环绕在凸台22外，顶盖1用于朝向底座的端面上设置有盖凹槽11，底凹槽21与盖凹槽11的大小形状相同；卡箍3箍紧顶盖1与底座2时，密封胶圈4一端抵接于底凹槽21，密封胶圈4另一端抵接于盖凹槽11，如图13所示，密封胶圈4的形状与底凹槽21和盖凹槽11相同，能达到更好的密封效果。

在本实施例中，较为优选的，如图4-7所示，顶盖1包括底板13和拱形凸盖12，底板13与拱形凸盖12固定连接，底板13具有通孔15，凸台22能够穿过通孔15并伸入至拱形凸盖12内，盖凹槽11环绕在通孔15外。

在本实施例中，较为优选的，底凹槽21的轴线与凸台22轴线重合，盖凹槽11的轴线与通孔15轴线重合，当底座2与顶盖1连接时，用于放置测试样品的凸台22位于整个装置的中心位置，保证入射光线能精准的照射到测试样品上。

在本实施例中，较为优选的，通孔15与拱形凸盖12内侧壁相切，便于凸台22能顺利伸入至拱形凸盖12内。

在本实施例中，较为优选的，拱形凸盖12具有弧形顶14，弧形顶14具有两个窗口16，两个窗口16沿弧形顶14中心线对称分布，两个窗口16外侧固定连接窗口膜17，窗口膜17覆盖在窗口16上，弧形顶14与普通平面顶相比能够开设更大面积的有效透光窗口，使入射的X射线更加均匀，窗口膜17能够透过电磁波又可以阻挡空气中的水和氧气进入样品台内部，电磁波包括无线电波、红外线、紫外线和X射线等，对测试样品进行X射线衍射时，入射的X射线通过一侧窗口照射到薄膜样品表面，产生的衍射信号通过对称的另一侧的窗口射出，样品的衍射特征被衍射仪探测器收集、记录，通过解析衍射信息可获得相关结构信息。

在本实施例中，较为优选的，窗口膜17通过胶水黏贴于窗口16外侧。

在本实施例中，较为优选的，底座2用于固定的端面上具有固定凹槽23，固定凹槽23与底凹槽21的轴线重合，固定凹槽23能够使底座2固定在衍射仪的样品架上，对其进行相关测试，底座2和顶盖1材料为铝材或聚四氟乙烯。

本实用新型中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处。综上所述，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。

Claims (10)

1.一种用于衍射探测设备的密封测试样品台，其特征在于：包括底座、顶盖和卡箍，所述底座具有凸台，所述凸台上用于放置测试样品，所述顶盖具有容置腔，所述卡箍用于箍紧所述顶盖与所述底座并使顶盖压紧于所述底座上且所述顶盖与所述底座之间形成一密封的容置空间，且此时所述凸台能够伸入至所述容置腔内。

2.根据权利要求1所述的用于衍射探测设备的密封测试样品台，其特征在于：还包括密封胶圈，所述密封胶圈位于所述顶盖与所述底座之间，通过所述卡箍夹紧所述密封胶圈使所述容置空间密封。

3.根据权利要求2所述的用于衍射探测设备的密封测试样品台，其特征在于：所述底座用于朝向所述顶盖的端面上设置有底凹槽，所述底凹槽环绕在所述凸台外，所述顶盖用于朝向所述底座的端面上设置有盖凹槽，所述底凹槽与所述盖凹槽的大小形状相同；所述卡箍箍紧所述顶盖与所述底座时，所述密封胶圈一端抵接于所述底凹槽，所述密封胶圈另一端抵接所述盖凹槽。

4.根据权利要求3所述的用于衍射探测设备的密封测试样品台，其特征在于：所述顶盖包括底板和拱形凸盖，所述底板与所述拱形凸盖固定连接，所述底板具有通孔，所述凸台能够穿过所述通孔并伸入至所述拱形凸盖内，所述盖凹槽环绕在所述通孔外。

5.根据权利要求4所述的用于衍射探测设备的密封测试样品台，其特征在于：所述底凹槽的轴线与所述凸台轴线重合，所述盖凹槽的轴线与所述通孔轴线重合。

6.根据权利要求4所述的用于衍射探测设备的密封测试样品台，其特征在于：所述通孔与所述拱形凸盖内侧壁相切。

7.根据权利要求4所述的用于衍射探测设备的密封测试样品台，其特征在于：所述拱形凸盖具有弧形顶，所述弧形顶具有两个窗口，两个所述窗口关于所述弧形顶中心线对称分布，两个所述窗口外侧固定覆盖有窗口膜，所述窗口膜能够透过电磁波。

8.根据权利要求7所述的用于衍射探测设备的密封测试样品台，其特征在于：所述窗口膜能够透过X射线。

9.根据权利要求7所述的用于衍射探测设备的密封测试样品台，其特征在于：所述窗口膜通过胶水黏贴于所述窗口外侧。

10.根据权利要求3所述的用于衍射探测设备的密封测试样品台，其特征在于：所述底座另一端具有固定凹槽，所述固定凹槽与所述底凹槽的轴线重合，所述固定凹槽能够使所述底座固定在衍射仪的样品架上，所述底座和所述顶盖材料为铝材或聚四氟乙烯。

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