CN217250740U - 一种芯片自动测试分选装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于芯片测试分选技术领域，尤其为一种芯片自动测试分选装置，包括输送单元组件和分选组件，输送单元组件包括相互滑动连接的放置板和滑动板，且放置板上固定连接有微型电动推杆，放置板的一侧通过接电座固定连接有金属触头，且金属触头电性连接在导电座上，分选组件包括固定嵌装导电座的固定架，且固定架的上端固定连接有视觉检测相机。本实用新型通过若干个输送单元组件之间的拼接组成一个完整的输送带，用于稳定的输送芯片进行分选操作，将芯片移动到视觉检测相机下方，进行芯片外观的检测，并在芯片不合格时，利用微型电动推杆移动滑动板，将芯片从放置板上的放置槽中分离出来，整个芯片分选过程速度快、效率高。

Description

一种芯片自动测试分选装置

技术领域

本实用新型涉及芯片测试分选技术领域，具体为一种芯片自动测试分选装置。

背景技术

芯片完成加工制造工序后，需要一一进行测试，以此来确保芯片的质量，使得芯片后续可以稳定的使用。在芯片测试分选过程中就需要对其芯片的外观等进行检测，在芯片外观检测过程中将其不合格的分选出来，避免出现次品。

目前在芯片分选过程中，需要将芯片逐个的放置到测试分选工位处进行处理，完成后在移动到合适的存放部位处，导致速度慢、效率低。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种芯片自动测试分选装置，解决了芯片分选速度慢、效率低的问题。

(二)技术方案

本实用新型为了实现上述目的具体采用以下技术方案：

一种芯片自动测试分选装置，包括输送单元组件和分选组件，所述输送单元组件包括相互滑动连接的放置板和滑动板，且放置板上固定连接有微型电动推杆，并且微型电动推杆的活动端固定连接在滑动板上，所述放置板的一侧通过接电座固定连接有金属触头，且金属触头电性连接在导电座上，所述分选组件包括固定嵌装导电座的固定架，且固定架的上端固定连接有视觉检测相机，并且视觉检测相机与控制器电性连接，控制器固定连接在固定架上。

进一步地，所述放置板上开设有放置槽，且放置槽的两侧壁均开设有配合滑动块的滑动槽，并且放置板上开设有配合滑动板滑动穿过的滑动孔，所述滑动孔两侧的放置板上开设有安装微型电动推杆的穿孔，且微型电动推杆通过固定座固定连接在放置板上，并且微型电动推杆的接线座与金属触头电性连接，所述放置板的一侧一体式设置有第一连接耳，且另一侧一体式设置有第二连接耳，并且放置板一侧的第一连接耳通过连接轴与另一个放置板一侧的第二连接耳转动连接。

进一步地，所述固定架上部的端头部位开设有配合视觉检测相机的凹槽，且视觉检测相机通过固定卡箍固定连接在固定架上，并且控制器与导电座电性连接。

(三)有益效果

与现有技术相比，本实用新型提供了一种芯片自动测试分选装置，具备以下有益效果：

本实用新型，通过若干个输送单元组件之间的拼接组成一个完整的输送带，用于稳定的输送芯片进行分选操作，将芯片移动到视觉检测相机下方，进行芯片外观的检测，并在芯片不合格时，利用微型电动推杆移动滑动板，将芯片从放置板上的放置槽中分离出来，整个芯片分选过程速度快、效率高。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型中输送单元组件的结构示意图；

图3为本实用新型中输送单元组件的爆炸图；

图4为本实用新型中滑动板滑动状态示意图；

图5为本实用新型中分选组件的结构示意图。

图中：1、输送单元组件；101、放置板；1011、第一连接耳；1012、第二连接耳；1013、连接轴；1014、放置槽；1015、滑动孔；1016、滑动槽；1017、穿孔；102、滑动板；1021、滑动块；103、微型电动推杆；1031、固定座；104、接电座；105、金属触头；2、分选组件；201、固定架；202、控制器；203、视觉检测相机；204、导电座；205、固定卡箍。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例

如图1、图2和图5所示，本实用新型一个实施例提出的：一种芯片自动测试分选装置，包括输送单元组件1和分选组件2，输送单元组件1包括相互滑动连接的放置板101和滑动板102，放置板101和滑动板102相互配合作为放置芯片的载体，用于稳定的输送芯片进行测试分选，将其中不符合的芯片分选出来，同时在芯片不合格时，直接在放置板101上移动滑动板102，从而将芯片从放置板101上脱离下来，实现芯片的分选操作，速度快效率高，且放置板101上固定连接有微型电动推杆103，并且微型电动推杆103的活动端固定连接在滑动板102上，方便利用微型电动推杆103驱动滑动板102在放置板101上滑动，从而便于将滑动板102上放置的芯片从而放置板101上分离下来，放置板101的一侧通过接电座104固定连接有金属触头105，便于将金属触头105稳定的连接在放置板101上，且金属触头105电性连接在导电座204上，利用金属触头105将微型电动推杆103与导电座204电性连接到一起，将微型电动推杆103与控制器202电性连接到一起，进而控制微型电动推杆103运行带动滑动板102滑动，分选组件2包括固定嵌装导电座204的固定架201，固定架201便于将控制器202和视觉检测相机203稳定的安装固定在使用部位处，实现后续稳定的运行使用，且固定架201的上端固定连接有视觉检测相机203，并且视觉检测相机203与控制器202电性连接，控制器202固定连接在固定架201上，视觉检测相机203为现有已知公开技术，因此不在过多赘述，方便对其滑动板102上放置的芯片进行外观等检测，并将其信息传输到控制器202中，与控制器202中的预先设定的信息对比，判断出芯片是否合格，在芯片不合格时，控制器202操控微型电动推杆103运行，利用微型电动推杆103带动滑动板102在放置板101上滑动，将该不合格的芯片从滑动板102上分离下来，即可实现芯片的分选操作。

如图2、图3和图4所示，在一些实施例中，放置板101上开设有放置槽1014，用于稳定的安放芯片，确保可以稳定的输送芯片，避免在输送过程中芯片掉落，且放置槽1014的两侧壁均开设有配合滑动块1021的滑动槽1016，便于通过滑动块1021使得滑动板102可以稳定的在放置板101上滑动，提升运行过程中的稳定性，并且放置板101上开设有配合滑动板102滑动穿过的滑动孔1015，便于将滑动板102从放置板101上开设的放置槽1014中移动出来，滑动孔1015两侧的放置板101上开设有安装微型电动推杆103的穿孔1017，便有将微型电动推杆103穿过延伸到滑动槽1016中，将其伸缩端稳定连接在滑动块1021上，实现对其稳定的驱动，且微型电动推杆103通过固定座1031固定连接在放置板101上，提升微型电动推杆103安装的稳定性，便于稳定的带动滑动板102滑动，并且微型电动推杆103的接线座与金属触头105电性连接，方便将其与控制器202电性连接在一起，进而实现对微型电动推杆103稳定的操控，放置板101的一侧一体式设置有第一连接耳1011，且另一侧一体式设置有第二连接耳1012，并且放置板101一侧的第一连接耳1011通过连接轴1013与另一个放置板101一侧的第二连接耳1012转动连接，设置的第一连接耳1011和第二连接耳1012相互配合设置，同时利用连接轴1013实现二者之间的转动连接，实现两个相邻放置板101之间的转动连接，利用若干个输送单元组件1之间的拼接组成一个完整的输送带，用于稳定的输送芯片进行分选操作。

如图1和图5所示，在一些实施例中固定架201上部的端头部位开设有配合视觉检测相机203的凹槽，且视觉检测相机203通过固定卡箍205固定连接在固定架201上，将其视觉检测相机203稳定的连接安装在固定架201上，确保视觉检测相机203可以稳定对芯片进行外观上的分选处理，并且控制器202与导电座204电性连接，导电座204便于配合金属触头105一同使用，实现控制器202与微型电动推杆103之间的电性连接。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种芯片自动测试分选装置，包括输送单元组件(1)和分选组件(2)，其特征在于：所述输送单元组件(1)包括相互滑动连接的放置板(101)和滑动板(102)，且放置板(101)上固定连接有微型电动推杆(103)，并且微型电动推杆(103)的活动端固定连接在滑动板(102)上，所述放置板(101)的一侧通过接电座(104)固定连接有金属触头(105)，且金属触头(105)电性连接在导电座(204)上，所述分选组件(2)包括固定嵌装导电座(204)的固定架(201)，且固定架(201)的上端固定连接有视觉检测相机(203)，并且视觉检测相机(203)与控制器(202)电性连接，控制器(202)固定连接在固定架(201)上。

2.根据权利要求1所述的一种芯片自动测试分选装置，其特征在于：所述放置板(101)上开设有放置槽(1014)，且放置槽(1014)的两侧壁均开设有配合滑动块(1021)的滑动槽(1016)，并且放置板(101)上开设有配合滑动板(102)滑动穿过的滑动孔(1015)。

3.根据权利要求2所述的一种芯片自动测试分选装置，其特征在于：所述滑动孔(1015)两侧的放置板(101)上开设有安装微型电动推杆(103)的穿孔(1017)，且微型电动推杆(103)通过固定座(1031)固定连接在放置板(101)上，并且微型电动推杆(103)的接线座与金属触头(105)电性连接。

4.根据权利要求2所述的一种芯片自动测试分选装置，其特征在于：所述放置板(101)的一侧一体式设置有第一连接耳(1011)，且另一侧一体式设置有第二连接耳(1012)，并且放置板(101)一侧的第一连接耳(1011)通过连接轴(1013)与另一个放置板(101)一侧的第二连接耳(1012)转动连接。

5.根据权利要求1所述的一种芯片自动测试分选装置，其特征在于：所述固定架(201)上部的端头部位开设有配合视觉检测相机(203)的凹槽，且视觉检测相机(203)通过固定卡箍(205)固定连接在固定架(201)上，并且控制器(202)与导电座(204)电性连接。

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