CN217156577U - 一种芯片的测试夹具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及芯片测试技术领域，公开一种芯片的测试夹具。所述芯片的测试夹具包括测试台、夹持组件和吸附组件，测试台被配置为放置待测芯片，夹持组件包括夹块和升降块，升降块可升降地设置于测试台内，沿升降块的外边缘间隔设置有多个夹块，各夹块均活动连接于升降块上，各夹块均可转动地设置于测试台内，所有的夹块能够夹持待测芯片，吸附组件包括吸嘴，吸嘴安装于测试台内，吸嘴能够吸附待测芯片。升降块下降，带动夹块逆时针转动，使得夹块夹紧待测芯片。夹持组件和吸附组件的设置，通过夹持和吸附的双重定位方式，将待测芯片定位于测试台上，提高连接的稳定性，也提高测试的效率。

Description

一种芯片的测试夹具

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片的测试夹具。

背景技术

芯片在封装后出厂前，需进行可靠性测试。在芯片的测试过程中，常需将待测芯片定位于检测台上。但是，现有的待测芯片多采用单一方式定位，容易出现定位不稳定或者定位过力的问题，影响测试的效率。

因此，亟需提供一种芯片的测试夹具，以解决上述问题。

实用新型内容

基于以上所述，本实用新型的目的在于提供一种芯片的测试夹具，以解决因现有的芯片定位方式而导致的定位不稳定或定位过力的问题。

为达上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种芯片的测试夹具，包括：

测试台，其被配置为放置待测芯片；

夹持组件，其包括夹块和升降块，所述升降块可升降地设置于所述测试台内，沿所述升降块的外边缘间隔设置有多个所述夹块，各所述夹块均活动连接于所述升降块上，各所述夹块均可转动地设置于所述测试台内，所有的所述夹块能够夹持所述待测芯片；

吸附组件，其包括吸嘴，所述吸嘴安装于所述测试台内，所述吸嘴能够吸附所述待测芯片。

进一步地，所述夹块包括夹持部，所述夹持部能够夹持所述待测芯片。

进一步地，所述夹块还包括活动部，所述活动部活动连接于所述升降块上。

进一步地，所述夹块还包括转动部，所述转动部分别与所述夹持部和所述活动部连接，所述转动部可转动地设置于所述测试台内。

进一步地，所述升降块上沿其外边缘间隔开设有多个活动槽，所述活动部活动连接于所述活动槽内，且所述活动部和所述活动槽一一对应设置。

进一步地，所述活动部包括活动头，所述活动头活动连接于所述活动槽内。

进一步地，所述升降块上还开设有多个防脱槽，所述防脱槽与所述活动槽一一对应连通，所述防脱槽的尺寸小于所述活动头的尺寸。

进一步地，所述活动部还包括活动杆，所述活动杆分别与所述活动头和所述转动部连接，所述活动杆穿过所述防脱槽。

进一步地，所述夹持组件还包括气缸，所述气缸安装于所述测试台内，所述气缸的伸缩端沿竖直方向延伸，且与所述升降块连接。

进一步地，所述夹持组件还包括多个转轴，所述转轴与所述夹块一一对应设置，各所述转轴均安装于所述测试台内，所述夹块可转动地设置于相对应的所述转轴上。

本实用新型的有益效果为：

本实用新型提供的芯片的测试夹具包括测试台、夹持组件和吸附组件，测试台被配置为放置待测芯片，夹持组件包括夹块和升降块，升降块可升降地设置于测试台内，沿升降块的外边缘间隔设置有多个夹块，各夹块均活动连接于升降块上，各夹块均可转动地设置于测试台内，所有的夹块能够夹持待测芯片，吸附组件包括吸嘴，吸嘴安装于测试台内，吸嘴能够吸附待测芯片。升降块下降，带动夹块逆时针转动，使得夹块夹紧待测芯片。夹持组件和吸附组件的设置，通过夹持和吸附的双重定位方式，将待测芯片定位于测试台上，提高连接的稳定性，也提高测试的效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施方式的技术方案，下面将对实施方式描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：

图1是本实用新型具体实施方式提供的芯片的测试夹具的俯视图；

图2是本实用新型具体实施方式提供的芯片的测试夹具的剖视图；

图3是图2中A处的局部放大图。

图中：

1-测试台；2-待测芯片；3-夹持组件；4-吸附组件；

11-测试槽；12-夹持腔；13-吸附腔；14-升降腔；31-夹块；32-升降块；33-气缸；34-转轴；41-吸嘴；

311-夹持部；312-活动部；313-转动部；321-活动槽；322-防脱槽；

3121-活动杆；3122-活动头。

具体实施方式

下面结合附图和实施方式对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施方式仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。

在本实用新型的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，可以是机械连接，也可以是电连接，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型的描述中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一特征和第二特征直接接触，也可以包括第一特征和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。

如图1-图3所示，本实施方式提供一种芯片的测试夹具，该芯片的测试夹具包括测试台1、夹持组件3和吸附组件4，测试台1被配置为放置待测芯片2，夹持组件3包括夹块31和升降块32，升降块32可升降地设置于测试台1内，沿升降块32的外边缘间隔设置有多个夹块31，各夹块31均活动连接于升降块32上，各夹块31均可转动地设置于测试台1内，所有的夹块31能够夹持待测芯片2，吸附组件4包括吸嘴41，吸嘴41安装于测试台1内，吸嘴41能够吸附待测芯片2。升降块32下降，带动夹块31逆时针转动，使得夹块31夹紧待测芯片2。夹持组件3和吸附组件4的设置，通过夹持和吸附的双重定位方式，将待测芯片2定位于测试台1上，提高连接的稳定性，也提高测试的效率。

如图1所示，测试台1上开设有测试槽11，待测芯片2放置于测试槽11内。

如图2所示，夹块31包括夹持部311，夹持部311能够夹持待测芯片2。

进一步地，夹块31还包括活动部312，活动部312活动连接于升降块32上。

进一步地，夹块31还包括转动部313，转动部313分别与夹持部311和活动部312连接，转动部313可转动地设置于测试台1内。

进一步地，测试台1上还开设有夹持腔12，夹持腔12与测试槽11连通，夹块31可转动地设置于夹持腔12内。

进一步地，夹持组件3还包括多个转轴34，转轴34与夹块31一一对应设置，各转轴34均安装于测试台1内，夹块31可转动地设置于相对应的转轴34上。

进一步地，夹持组件3还包括气缸33，气缸33安装于测试台1内，气缸33的伸缩端沿竖直方向延伸，且与升降块32连接。

进一步地，测试台1上还开设有升降腔14，升降腔14与夹持腔12连通，气缸33和升降块32均设置于升降腔14内。

进一步地，测试台1上还开设有吸附腔13，吸嘴41的数量为多个，多个吸嘴41间隔设置于吸附腔13内，以均衡对待测芯片2的吸力，防止待测芯片2发生卷曲。

进一步地，吸附组件4还包括抽气泵，抽气泵与各吸嘴41连接，以保证吸嘴41的正常工作。

如图3所示，升降块32上沿其外边缘间隔开设有多个活动槽321，活动部312活动连接于活动槽321内，且活动部312和活动槽321一一对应设置。

进一步地，活动部312包括活动头3122，活动头3122活动连接于活动槽321内。具体地，活动头3122具有一定的弧度，便于活动头3122在活动槽321内活动。

进一步地，升降块32上还开设有多个防脱槽322，防脱槽322与活动槽321一一对应连通，防脱槽322的尺寸小于活动头3122的尺寸。这样的设置，使得活动头3122在活动槽321内活动，且不会脱离活动槽321，从而保证夹块31的转动，以便夹块31夹紧待测芯片2。

进一步地，活动部312还包括活动杆3121，活动杆3121分别与活动头3122和转动部313连接，活动杆3121穿过防脱槽322。

本实施方式中，夹块31的数量为四个，四个夹块31分设于待测芯片2的四个边的中心处。相应地，升降块32上开设有与夹块31相对应的四个活动槽321和防脱槽322，以更稳定地夹紧待测芯片2。

注意，上述仅为本实用新型的较佳实施方式及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施方式，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施方式对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施方式，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施方式，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种芯片的测试夹具，其特征在于，包括：

测试台(1)，其被配置为放置待测芯片(2)；

夹持组件(3)，其包括夹块(31)和升降块(32)，所述升降块(32)可升降地设置于所述测试台(1)内，沿所述升降块(32)的外边缘间隔设置有多个所述夹块(31)，各所述夹块(31)均活动连接于所述升降块(32)上，各所述夹块(31)均可转动地设置于所述测试台(1)内，所有的所述夹块(31)能够夹持所述待测芯片(2)；

吸附组件(4)，其包括吸嘴(41)，所述吸嘴(41)安装于所述测试台(1)内，所述吸嘴(41)能够吸附所述待测芯片(2)。

2.根据权利要求1所述的芯片的测试夹具，其特征在于，所述夹块(31)包括夹持部(311)，所述夹持部(311)能够夹持所述待测芯片(2)。

3.根据权利要求2所述的芯片的测试夹具，其特征在于，所述夹块(31)还包括活动部(312)，所述活动部(312)活动连接于所述升降块(32)上。

4.根据权利要求3所述的芯片的测试夹具，其特征在于，所述夹块(31)还包括转动部(313)，所述转动部(313)分别与所述夹持部(311)和所述活动部(312)连接，所述转动部(313)可转动地设置于所述测试台(1)内。

5.根据权利要求4所述的芯片的测试夹具，其特征在于，所述升降块(32)上沿其外边缘间隔开设有多个活动槽(321)，所述活动部(312)活动连接于所述活动槽(321)内，且所述活动部(312)和所述活动槽(321)一一对应设置。

6.根据权利要求5所述的芯片的测试夹具，其特征在于，所述活动部(312)包括活动头(3122)，所述活动头(3122)活动连接于所述活动槽(321)内。

7.根据权利要求6所述的芯片的测试夹具，其特征在于，所述升降块(32) 上还开设有多个防脱槽(322)，所述防脱槽(322)与所述活动槽(321)一一对应连通，所述防脱槽(322)的尺寸小于所述活动头(3122)的尺寸。

8.根据权利要求7所述的芯片的测试夹具，其特征在于，所述活动部(312)还包括活动杆(3121)，所述活动杆(3121)分别与所述活动头(3122)和所述转动部(313)连接，所述活动杆(3121)穿过所述防脱槽(322)。

9.根据权利要求1所述的芯片的测试夹具，其特征在于，所述夹持组件(3)还包括气缸(33)，所述气缸(33)安装于所述测试台(1)内，所述气缸(33)的伸缩端沿竖直方向延伸，且与所述升降块(32)连接。

10.根据权利要求1所述的芯片的测试夹具，其特征在于，所述夹持组件(3)还包括多个转轴(34)，所述转轴(34)与所述夹块(31)一一对应设置，各所述转轴(34)均安装于所述测试台(1)内，所述夹块(31)可转动地设置于相对应的所述转轴(34)上。

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