CN217133383U - 一种衰减可调的测试校准检定装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及核辐射计量校准技术领域，具体涉及一种衰减可调的测试校准检定装置。该装置包括沿辐射方向并排放置的n个可上下移动的移动滑块，n≥2，所述辐射方向为辐射源射向测试点的方向，所述移动滑块包括可让辐射源射线束仅穿过空气或“空气等效”的第一部件和让辐射源射线束穿过“非空气等效”的第二部件，当辐射源射线束依次穿过n个移动滑块的第一部件时，为无衰减状态；当辐射源射线束依次穿过n个移动滑块的第二部件时，为全衰减状态；当辐射源射线束依次穿过n个移动滑块的第一部件和第二部件的组合排列时，为部分衰减状态。由此使得传统的射线准直器具备了衰减功能，进一步减少了辐射源射线束的散射，保证了辐射场的均匀性和准确性。

Description

一种衰减可调的测试校准检定装置

技术领域

本实用新型涉及核辐射计量校准技术领域，具体涉及一种衰减可调的测试校准检定装置。

背景技术

参考辐射场的建立是核辐射计量技术的关键，参考辐射场的优劣情况直接影响了辐射计量的准确与否，为了保证辐射场的均匀性和准确性，CN201410679413.7提出了一种用于参考γ辐射场的γ射线准直器，该准直器仅为固定设置，缺少根据需要的辐照计量进行调节的功能。

实用新型内容

针对现有射线准直器缺少可调的衰减功能的问题，现提出一种衰减可调的测试校准检定装置，包括沿辐射方向并排放置的n个可上下移动的移动滑块，n≥2，所述辐射方向为辐射源射向测试点的方向，所述移动滑块包括可让辐射源射线束仅穿过空气或“空气等效”的第一部件和让辐射源射线束穿过“非空气等效”的第二部件，所述第一部件和第二部件上下分布，当辐射源射线束依次穿过n个移动滑块的第一部件时，为无衰减状态；当辐射源射线束依次穿过n个移动滑块的第二部件时，为全衰减状态；当辐射源射线束依次穿过n个移动滑块的第一部件和第二部件的组合排列时，为部分衰减状态。

优选的，所述第一部件为沿辐射方向的通孔，所述通孔为限光孔。

优选的，所述限光孔为限光圆柱孔或限光圆锥孔。

优选的，所述限光孔的内表面等间隔设有直径相同的环形槽，所述环形槽为俘获槽。

优选的，所述俘获槽的截面为矩形或三角形。

优选的，所述限光孔位于俘获槽间的段的直径沿辐射方向逐级递增。

优选的，所述第二部件是由能够衰减辐射源射线束剂量的材质制成的衰减片或过滤片，所述衰减片吸收辐射源射线束的剂量大于所述过滤片吸收辐射源射线束的剂量。

优选的，包括末级准直模块，所述末级准直模块位于靠近测试点的移动滑块与测试点之间，所述末级准直模块用于对经过移动滑块的辐射源射线束进行准直操作。

优选的，包括屏蔽层，所述屏蔽层位于末级准直模块和移动滑块外，所述屏蔽层用于将末级准直模块和移动滑块包覆在内。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：

本实用新型中，通过设置多个包括相当于“中空段”的第一部件和相当于“实体段”的第二部件的可上下移动的移动滑块结构，通过调整移动滑块的相对位置，可以将测试校准检定装置调整为不同的状态，使得辐射源发出的辐射源射线束依次可以通过全部第一部件、全部第二部件、以及第一部件和第二部件的组合，相应的，使得辐射源发出的辐射源射线束在经过测试校准装置时获得不同的状态，即为无衰减状态，全衰减状态，部分衰减状态，由于经过辐射源发出的辐射源射线束在经过添加的衰减片后一定程度上增加了散射，而根据相关技术要求，参考辐射场的散射影响应不超过5％，因此在第二部件中增加了俘获槽，不仅如此，在辐射源射线束经过所有移动滑块后又安排其进入末级准直模块，并在滑块和末级准直模块外设置将其包裹的屏蔽层，进一步减少了辐射源射线束的散射，解决了增加衰减过后散射也加强的问题，从而保证了辐射场的均匀性和准确性，与此同时还使得传统的射线准直器具备了可调的衰减功能。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型实施例的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本实用新型实施例的限定。

图1为本实用新型第一实施例的衰减可调的测试校准检定装置的示意图；

图2为本实用新型第一实施例的移动滑块的示意图；

图3为本实用新型第一实施例的无衰减状态、全衰减状态、部分衰减状态的示意图；

图中：1-移动滑块，11-第一部件，12-第二部件，111-限光孔，1111-俘获槽，2-末级准直模块，3-屏蔽层。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分施例，而不是全部的实施例。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖向”、“纵向”、“侧向”、“水平”、“内”、“外”、“前”、“后”、“顶”、“底”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“开有”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

实施例1

一种衰减可调的测试校准检定装置，包括沿辐射方向并排放置的n个可上下移动的移动滑块1，n≥2，所述辐射方向为辐射源射向测试点的方向，所述辐射源发出的辐射源射线束称为辐射源射线束，所述移动滑块1包括可让辐射源射线束仅穿过空气或“空气等效”的第一部件11和让辐射源射线束穿过“非空气等效”的第二部件12，所述第一部件11和第二部件12上下分布，当辐射源射线束依次穿过n个移动滑块1的第一部件11时，为无衰减状态；当辐射源射线束依次穿过n个移动滑块1的第二部件12时，为全衰减状态；当辐射源射线束依次穿过n个移动滑块1的第一部件11和第二部件12的组合排列时，为部分衰减状态。

需要理解的是，该移动滑块上具有相当于中空段的第一部件，可以使得辐射源射线束通过第一部件时直接穿过空气或是与空气等效的材料，通过第一部件的辐射源射线束无衰减，该移动滑块上还具有相当于实体段的第二部件，使得辐射源射线束通过第二部件时相当于穿过非空气等效的材料，使得通过第二部件的辐射源射线束有衰减，通过设置多个移动滑块的组合结构，可以将多个移动滑块至一种位置A，使得辐射源射线束依次通过各个移动滑块的第一部件，此时整个辐射源射线束无衰减，还可以将多个移动滑块移动在另一种位置B，使得辐射源射线束依次通过各个滑块的第二部件，由于辐射源射线束每通过一个移动滑块的第二部件均会经历一次衰减，因此此时整个辐射源射线束全衰减，另外，多个移动滑块相对移动还可以在一种位置C，使得辐射源射线束依次通过的是部分移动滑块的第一部件以及部分移动滑块的第二部件，由于通过第一部件的辐射源射线束不会衰减，而通过第二部件的辐射源射线束会衰减，此时辐射源射线束部分衰减。

具体的，所述第一部件11为沿辐射方向的通孔，所述通孔为限光孔111。

具体的，所述限光孔111为限光圆柱孔或限光圆锥孔。

具体的，所述限光孔111的内表面等间隔设有直径相同的环形槽，所述环形槽为俘获槽1111。

具体的，所述俘获槽1111的截面为矩形或三角形。

具体的，所述限光孔111位于俘获槽1111间的段的直径沿辐射方向逐级递增。

具体的，所述第二部件12是由能够衰减辐射源射线束剂量的材质制成的衰减片或过滤片，所述衰减片吸收辐射源射线束的剂量大于所述过滤片吸收辐射源射线束的剂量。

需要理解的是，第二部件12为“衰减片”时，辐射源射线束通过第二部件12前后，与通过空气时被吸收的剂量相比较，剂量率发生明显变化，“衰减片”通常使用高原子序数材料构成，可以是：铅、钨、镍、钨镍合金等；第二部件12为“过滤片”时，辐射源射线束过第二部件12前后，与通过空气相比较，射线的能谱发生变化，“过滤片”通常使用低原子序数材料构成，可以是：铝、铜、有机玻璃等，这些均不是“空气等效”材料，即为“非空气等效”材料，在射线中心束使用“非空气等效”材料，辐射源射线束有可能会增加散射，这些非“非空气等效”材料均可称为“散射片”，均是能衰减辐射源射线束剂量的材质。

具体的，包括末级准直模块2，所述末级准直模块位于靠近测试点的移动滑块1与测试点之间，所述末级准直模块2用于对经过移动滑块1的辐射源射线束进行准直操作。

具体的，包括屏蔽层3，所述屏蔽层3位于末级准直模块2和移动滑块1外，所述屏蔽层3用于将末级准直模块2和移动滑块1包覆在内。

如图1所示，在一种具体的实施例中，设置有3个移动滑块1，如图2所示，每个移动滑块1上部为第一部件11，第一部件11为沿辐射方向的通孔，称为限光孔111，该限光孔111为圆柱通孔，在限光孔111内表面的部分段上设有环型槽，该环型槽称为俘获槽1111，该俘获槽1111的截面为矩形，此处俘获槽1111的截面也可以是三角形。每个移动滑块1下部为第二部件12，第二部件12为能衰减辐射源射线束剂量的材质制成，可以是铅、钨、镍、钨镍合金，或是铝、铜、有机玻璃等，由于这些材料会增加散射，这些材料制成的第二部件12后续都称为“散射片”，辐射源射线束从左向右射入，将从左向右设为辐射方向，在沿辐射方向数的第三个移动滑块1右方设有末级准直模块2，在末级准直模块2和移动滑块1外整体外设有将二者包裹的屏蔽层3。

当辐射源射线束从辐射点发出，首先依次经过3个移动滑块1，如图3所示，当辐射源射线束依次通过的是各个移动滑块1的限光孔111，辐射源射线束发生散射的粒子被俘获槽1111捕获，减小发散角增大带来的附加影响，此时为无衰减状态，当辐射源射线束依次通过的是各个移动滑块1的第二部件12，辐射源射线束经过每一个第二部件2“衰减片”都会经过一次衰减，此时为全衰减状态，当辐射源射线束依次通过的是移动滑块1的限光孔111和第二部件12“衰减片”的组合时，经过限光孔111的辐射源射线束不发生衰减，而经过第二部件12“衰减片”的辐射源射线束就会发生衰减，此时为部分衰减状态。通过三种状态的调节可以使得传统的射线准直器具备了可以调节的衰减功能，随后经过末级准直模块2，辐射源射线束通过末级准直模块2出来后到达监测点。增加的末级准直模块2用于对辐射源射线束进一步准直，同时在3个移动滑块1与末级准直模块2组合体结构外增加屏蔽层3，以进一步减少由移动滑块1内的“散射片”结构与末级准直模块2组合体的散射。进一步减少了辐射源射线束的散射，保证了辐射场的均匀性和准确性。

可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本实用新型的原理而采用的示例性实施方式，然而本实用新型并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本实用新型的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本实用新型的保护范围。

Claims (9)

1.一种衰减可调的测试校准检定装置，其特征在于，包括沿辐射方向并排放置的n个可上下移动的移动滑块(1)，n≥2，所述辐射方向为辐射源射向测试点的方向，所述移动滑块(1)包括可让辐射源射线束仅穿过空气或“空气等效”的第一部件(11)和让辐射源射线束穿过“非空气等效”的第二部件(12)，所述第一部件(11)和第二部件(12)上下分布，当辐射源射线束依次穿过n个移动滑块(1)的第一部件(11)时，为无衰减状态；当辐射源射线束依次穿过n个移动滑块(1)的第二部件(12)时，为全衰减状态；当辐射源射线束依次穿过n个移动滑块(1)的第一部件(11)和第二部件(12)的组合排列时，为部分衰减状态。

2.根据权利要求1所述的衰减可调的测试校准检定装置，其特征在于，所述第一部件(11)为沿辐射方向的通孔，所述通孔为限光孔(111)。

3.根据权利要求2所述的衰减可调的测试校准检定装置，其特征在于，所述限光孔(111)为限光圆柱孔或限光圆锥孔。

4.根据权利要求2所述的衰减可调的测试校准检定装置，其特征在于，所述限光孔(111)的内表面等间隔设有直径相同的环形槽，所述环形槽为俘获槽(1111)。

5.根据权利要求4所述的衰减可调的测试校准检定装置，其特征在于，所述俘获槽(1111)的截面为矩形或三角形。

6.根据权利要求4所述的衰减可调的测试校准检定装置，其特征在于，所述限光孔(111)位于俘获槽(1111)间的段的直径沿辐射方向逐级递增。

7.根据权利要求1～6任一项所述的衰减可调的测试校准检定装置，其特征在于，所述第二部件(12)是由能够衰减辐射源射线束剂量的材质制成的衰减片或过滤片，所述衰减片吸收辐射源射线束的剂量大于所述过滤片吸收辐射源射线束的剂量。

8.根据权利要求7所述的衰减可调的测试校准检定装置，其特征在于，包括末级准直模块(2)，所述末级准直模块位于靠近测试点的移动滑块(1)与测试点之间，所述末级准直模块(2)用于对经过移动滑块(1)的辐射源射线束进行准直操作。

9.根据权利要求8所述的衰减可调的测试校准检定装置，其特征在于，包括屏蔽层(3)，所述屏蔽层(3)位于末级准直模块(2)和移动滑块(1)外，所述屏蔽层(3)用于将末级准直模块(2)和移动滑块(1)包覆在内。

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