CN217034045U - 一种半导体芯片引脚检测辅助装置 - Google Patents

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郭飞
陈宗廷
朱放中
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Shenzhen Jiuzhang Semiconductor Co ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种半导体芯片引脚检测辅助装置包括安装架,所述安装架一侧内壁开设滑槽,所述滑槽内均滑动连接滑块,两个所述滑块一端均固定连接横杆,两个所述横杆一端均固定连接安装管,两个所述安装管内壁均滑动连接竖轴,两个所述竖轴一端均固定连接安装垫,两个所述安装垫侧壁均固定设置同一个半导体芯片主体所述安装架下端内壁转动连接螺纹杆,两个所述横杆侧壁均开内螺纹,两个所述内螺纹与螺纹杆匹配使用,所述螺纹杆贯穿安装架上端侧壁。本实用新型通过两个安装垫将半导体芯片主体进行加持,这样在进行检测时,从而避免了人体进行接触,避免了半导体芯片主体造成损伤,且提高了检测效率。

Description

一种半导体芯片引脚检测辅助装置
技术领域
本实用新型涉及半导体技术领域,尤其涉及一种半导体芯片引脚检测辅助装置。
背景技术
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料;半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用,如二极管就是采用半导体制作的器件;无论从科技或是经济发展的角度来看,半导体的重要性都是非常巨大的。大部分的电子产品,如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联;常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等,硅是各种半导体材料应用中最具有影响力的一种。
现有技术中,在对半导体芯片引脚进行检测时,如果直接使用手拿起半导体芯片引脚进行检测时,会通过人体的静电击穿半导体芯片内部器件,对半导体芯片造成不可挽回的损失,为此,我们提出一种半导体芯片引脚检测辅助装置来解决上述问题。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中现有技术中,在对半导体芯片引脚进行检测时,如果直接使用手拿起半导体芯片引脚进行检测时,会通过人体的静电击穿半导体芯片内部器件,对半导体芯片造成不可挽回的损失问题,而提出的一种半导体芯片引脚检测辅助装置。
为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:
一种半导体芯片引脚检测辅助装置,包括安装架,所述安装架一侧内壁开设滑槽,所述滑槽内均滑动连接滑块,两个所述滑块一端均固定连接横杆,两个所述横杆一端均固定连接安装管,两个所述安装管内壁均滑动连接竖轴,两个所述竖轴一端均固定连接安装垫,两个所述安装垫侧壁均固定设置同一个半导体芯片主体所述安装架下端内壁转动连接螺纹杆,两个所述横杆侧壁均开内螺纹,两个所述内螺纹与螺纹杆匹配使用,所述螺纹杆贯穿安装架上端侧壁,所述螺纹杆与安装架上端侧壁贯穿处转动连接,所述螺纹杆上端固定连接摇柄。
优选的,两个所述竖轴远离安装垫端均固定连接螺旋弹簧,两个所述螺旋弹簧一端与安装管一端内壁均固定连接。
优选的,两个所述竖轴侧壁均套设有柔性弹簧,两个所述柔性弹簧一端与安装管侧壁均固定连接。
优选的,两个所述安装垫材质为橡胶,两个所述安装垫侧壁设置绝缘层。
优选的,所述摇柄侧壁设置有防滑层,所述防滑层为斜条纹型。
优选的,所述安装架由合金冲压成型,所述安装架侧壁设置有绝缘层。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
1、本实用新型通过两个安装垫将半导体芯片主体进行加持,这样在进行检测时,从而避免了人体进行接触,避免了半导体芯片主体造成损伤,且提高了检测效率;
2、本实用新型利用螺纹杆带动两个横杆安装垫对中夹紧半导体芯片主体,通过两个滑块与滑槽配合下,这样就能夹紧半导体芯片主体,提高检测效率。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种半导体芯片引脚检测辅助装置的结构示意图;
图2为图1中A处的结构示意图。
图中:1安装架、2滑槽、3滑块、4横杆、5安装管、6竖轴、7安装垫、8半导体芯片主体、9螺纹杆、10摇柄、11螺旋弹簧、12柔性弹簧、13防滑层。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。
参照图1-2,一种半导体芯片引脚检测辅助装置,包括安装架1,安装架1一侧内壁开设滑槽2,滑槽2内均滑动连接滑块3,两个滑块3一端均固定连接横杆4,两个横杆4一端均固定连接安装管5,两个安装管5内壁均滑动连接竖轴6,两个竖轴6一端均固定连接安装垫7,两个安装垫7侧壁均固定设置同一个半导体芯片主体8安装架1下端内壁转动连接螺纹杆9,两个横杆4侧壁均开内螺纹,两个内螺纹与螺纹杆9匹配使用,螺纹杆9贯穿安装架1上端侧壁,螺纹杆9与安装架1上端侧壁贯穿处转动连接,螺纹杆9上端固定连接摇柄10。本实用新型通过两个安装垫7将半导体芯片主体8进行加持,这样在进行检测时,从而避免了人体进行接触,避免了半导体芯片主体8造成损伤,且提高了检测效率。
两个竖轴6远离安装垫7端均固定连接螺旋弹簧11,两个螺旋弹簧11一端与安装管5一端内壁均固定连接。在进行夹紧半导体芯片主体8时,通过两个螺旋弹簧11来降低安装垫7对中夹紧的缓冲力,保护了半导体芯片主体8。
两个竖轴6侧壁均套设有柔性弹簧12,两个柔性弹簧12一端与安装管5侧壁均固定连接。进一步提高了两个柔性弹簧12对安装垫7对中加急时,避免将半导体芯片主体8造成损伤。
两个安装垫7材质为橡胶,两个安装垫7侧壁设置绝缘层。避免安装垫7在对半导体芯片主体8进行夹紧时,因为安装垫7带电荷损伤半导体芯片主体8,提高检测效率。
摇柄10侧壁设置有防滑层13,防滑层13为斜条纹型。增加了手部与摇柄10进行接触时摩擦力,避免摇柄10与手部产生滑动。
安装架1由合金冲压成型,安装架1侧壁设置有绝缘层。提高了安装架1整体强度,提高了使用寿命。
本实用新型受用除静电的镊子将半导体芯片主体8放在两个安装垫7之间,旋转摇柄10,摇柄10侧壁设置有防滑层13,防滑层13为斜条纹型,增加了手部与摇柄10进行接触时摩擦力,避免摇柄10与手部产生滑动,摇柄10带动螺纹杆9进行旋转,螺纹杆9带动两个横杆4进行对中运动,通过两个滑块3与滑槽2配合下,保证了两个横杆4运动的稳定性,两个竖轴6远离安装垫7端均固定连接螺旋弹簧11,两个螺旋弹簧11一端与安装管5一端内壁均固定连接,在进行夹紧半导体芯片主体8时,通过两个螺旋弹簧11来降低安装垫7对中夹紧的缓冲力,保护了半导体芯片主体8,两个竖轴6侧壁均套设有柔性弹簧12,两个柔性弹簧12一端与安装管5侧壁均固定连接,进一步提高了两个柔性弹簧12对安装垫7对中加急时,避免将半导体芯片主体8造成损伤,通过两个安装垫7将半导体芯片主体8进行加持,这样在进行检测时,从而避免了人体进行接触,避免了半导体芯片主体8造成损伤,且提高了检测效率,利用螺纹杆9带动两个横杆4安装垫7对中夹紧半导体芯片主体8,通过两个滑块3与滑槽2配合下,这样就能夹紧半导体芯片主体8,提高检测效率。
以上所述,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种半导体芯片引脚检测辅助装置,包括安装架(1),其特征在于,所述安装架(1)一侧内壁开设滑槽(2),所述滑槽(2)内均滑动连接滑块(3),两个所述滑块(3)一端均固定连接横杆(4),两个所述横杆(4)一端均固定连接安装管(5),两个所述安装管(5)内壁均滑动连接竖轴(6),两个所述竖轴(6)一端均固定连接安装垫(7),两个所述安装垫(7)侧壁均固定设置同一个半导体芯片主体(8),所述安装架(1)下端内壁转动连接螺纹杆(9),两个所述横杆(4)侧壁均开内螺纹,两个所述内螺纹与螺纹杆(9)匹配使用,所述螺纹杆(9)贯穿安装架(1)上端侧壁,所述螺纹杆(9)与安装架(1)上端侧壁贯穿处转动连接,所述螺纹杆(9)上端固定连接摇柄(10)。
2.根据权利要求1所述的一种半导体芯片引脚检测辅助装置,其特征在于,两个所述竖轴(6)远离安装垫(7)端均固定连接螺旋弹簧(11),两个所述螺旋弹簧(11)一端与安装管(5)一端内壁均固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种半导体芯片引脚检测辅助装置,其特征在于,两个所述竖轴(6)侧壁均套设有柔性弹簧(12),两个所述柔性弹簧(12)一端与安装管(5)侧壁均固定连接。
4.根据权利要求1所述的一种半导体芯片引脚检测辅助装置,其特征在于,两个所述安装垫(7)材质为橡胶,两个所述安装垫(7)侧壁设置绝缘层。
5.根据权利要求1所述的一种半导体芯片引脚检测辅助装置,其特征在于,所述摇柄(10)侧壁设置有防滑层(13),所述防滑层(13)为斜条纹型。
6.根据权利要求1所述的一种半导体芯片引脚检测辅助装置,其特征在于,所述安装架(1)由合金冲压成型,所述安装架(1)侧壁设置有绝缘层。
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