CN216898713U - 一种真空吸笔同轴度的校正治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种真空吸笔同轴度的校正治具，其用于校正真空吸笔的同轴度，所述校正治具包括治具本体，所述治具本体的上表面开设有检测孔，所述检测孔的半径比所述真空吸笔的半径大0.01mm，所述治具本体的两侧开均设有固定孔，所述治具本体通过所述固定孔的固定。当真空吸笔可以在检测孔内正常转动时，则说明真空吸笔的安装已经满足同轴度的要求。该治具简单易用，经过简单培训即可轻松掌握使用技能，且每次调整和测量所消耗的时间极少，减少了大量的培训成本和时间成本，使得产品的制造成本降低，提高了产品的竞争力。

Description

一种真空吸笔同轴度的校正治具

技术领域

本实用新型涉及一种摄像头镜片组装设备技术领域，更具体地说，涉及一种真空吸笔同轴度的校正治具。

背景技术

摄像头镜片的组装一般采用真空吸笔抽真空后固定镜片，然后将镜片移动到指定位置后真空吸笔破真空将镜片放置在指定位置，从而完成摄像头镜片的组装，真空吸笔在组装时需要保证真空吸笔的同轴度，传统的校正真空吸笔的同轴度的方法是采用千分表来测量后校正，如果测量有偏差则调松固定螺丝来校准真空吸笔，然后固定好真空吸笔后再通过千分表对真空吸笔进行第二次测量，如果还是不满足使用需求则再调松螺丝校准真空吸笔后进行第三次测量，直到满足误差范围内为止。但是使用千分表测量操作难度较高，机台工作人员需要经过较多的培训才能充分掌握使用千分表测量的技能，即使机台工作人员通过培训掌握了千分表测量的技能也不能很快的将真空吸笔的同轴度调整到设定的范围值内，每个通过千分表测量消耗的时间也较多，使得校正效率难以提高，还需要消耗大量的培训成本和时间成本，使得产品的制造成本上升，降低了产品的竞争力。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是如何采用更少的培训成本和更少的时间成本来调整真空吸笔的同轴度。当需要对真空吸笔进行校正时，先将治具本体安装在固定座上，然后将真空吸笔简单地调整好同轴度后再轻轻固定在吸笔座上，接着让真空吸笔的末端慢慢伸入检测孔内，如果在真空吸笔伸入检测孔内的过程中触碰到检测孔，则说明真空吸笔在安装时没有满足同轴度要求，对真空吸笔重新调整后再伸入检测孔内，直到真空吸笔可以正常伸入检测孔为止；当真空吸笔可以正常伸入检测孔后转动真空吸笔，如果在转动真空吸笔的过程中触碰到检测孔，则说明真空吸笔在安装时没有满足同轴度要求，对真空吸笔重新调整后再伸入检测孔内，直到真空吸笔可以在检测孔内正常转动为止。当真空吸笔可以在检测孔内正常转动时，则说明真空吸笔的安装已经满足同轴度的要求。该治具简单易用，经过简单培训即可轻松掌握使用技能，且每次调整和测量所消耗的时间极少，减少了大量的培训成本和时间成本，使得产品的制造成本降低，提高了产品的竞争力。

本实用新型所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现：

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种真空吸笔同轴度的校正治具，其用于校正真空吸笔的同轴度，所述校正治具包括治具本体，所述治具本体的上表面开设有检测孔，所述检测孔的半径比所述真空吸笔的半径大0.01mm，所述治具本体的两侧开均设有固定孔，所述治具本体通过所述固定孔的固定。

作为本实用新型提供的所述真空吸笔同轴度的校正治具的一种优选实施方式，所述检测孔的直径为4.02mm。

作为本实用新型提供的所述真空吸笔同轴度的校正治具的一种优选实施方式，所述检测孔的同轴度为0.005mm。

作为本实用新型提供的所述真空吸笔同轴度的校正治具的一种优选实施方式，所述检测孔的深度为30mm。

作为本实用新型提供的所述真空吸笔同轴度的校正治具的一种优选实施方式，所述治具本体的长宽高分别为50mm，35mm，40mm。

作为本实用新型提供的所述真空吸笔同轴度的校正治具的一种优选实施方式，两个所述固定孔的圆心所形成的平面的平面度为0.005mm。

作为本实用新型提供的所述真空吸笔同轴度的校正治具的一种优选实施方式，所述固定孔为跑道型通孔。

作为本实用新型提供的所述真空吸笔同轴度的校正治具的一种优选实施方式，所述跑道型通孔的一侧设有对位刻度。

作为本实用新型提供的所述真空吸笔同轴度的校正治具的一种优选实施方式，所述检测孔的两侧均设置有定位柱，两个所述定位柱与所述检测孔的圆心的距离相等。

作为本实用新型提供的所述真空吸笔同轴度的校正治具的一种优选实施方式，两个所述定位柱的顶部固定有缓冲垫。

本实用新型具有如下有益效果：

当需要对真空吸笔进行校正时，先将治具本体安装在固定座上，然后将真空吸笔简单地调整好同轴度后再轻轻固定在吸笔座上，接着让真空吸笔的末端慢慢伸入检测孔内，如果在真空吸笔伸入检测孔内的过程中触碰到检测孔，则说明真空吸笔在安装时没有满足同轴度要求，对真空吸笔重新调整后再伸入检测孔内，直到真空吸笔可以正常伸入检测孔为止；当真空吸笔可以正常伸入检测孔后转动真空吸笔，如果在转动真空吸笔的过程中触碰到检测孔，则说明真空吸笔在安装时没有满足同轴度要求，对真空吸笔重新调整后再伸入检测孔内，直到真空吸笔可以在检测孔内正常转动为止。当真空吸笔可以在检测孔内正常转动时，则说明真空吸笔的安装已经满足同轴度的要求。该治具简单易用，经过简单培训即可轻松掌握使用技能，且每次调整和测量所消耗的时间极少，减少了大量的培训成本和时间成本，使得产品的制造成本降低，提高了产品的竞争力。

附图说明

为了更清楚地说明本申请中的方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一个简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型提供的一种真空吸笔同轴度的校正治具校正前的结构示意图。

图2为本实用新型提供的一种真空吸笔同轴度的校正治具校正后的结构示意图。

图3为实施例2的结构示意图。

图4为实施例3的结构示意图。

图5为图4的俯视图。

图6为图4的改进结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本实用新型保护的范围。

本实用新型提供了一种真空吸笔同轴度的校正治具，其用于校正真空吸笔的同轴度，所述校正治具包括治具本体，所述治具本体的上表面开设有检测孔，所述检测孔的半径比所述真空吸笔的半径大0.01mm，所述治具本体的两侧开均设有固定孔，所述治具本体通过所述固定孔的以螺丝固定的方式固定在固定座上。

当需要对真空吸笔进行校正时，先将治具本体安装在固定座上，然后将真空吸笔简单地调整好同轴度后再轻轻固定在吸笔座上，接着让真空吸笔的末端慢慢伸入检测孔内，如果在真空吸笔伸入检测孔内的过程中触碰到检测孔，则说明真空吸笔在安装时没有满足同轴度要求，对真空吸笔重新调整后再伸入检测孔内，直到真空吸笔可以正常伸入检测孔为止；当真空吸笔可以正常伸入检测孔后转动真空吸笔，如果在转动真空吸笔的过程中触碰到检测孔，则说明真空吸笔在安装时没有满足同轴度要求，对真空吸笔重新调整后再伸入检测孔内，直到真空吸笔可以在检测孔内正常转动为止。当真空吸笔可以在检测孔内正常转动时，则说明真空吸笔的安装已经满足同轴度的要求。该治具简单易用，经过简单培训即可轻松掌握使用技能，且每次调整和测量所消耗的时间极少，减少了大量的培训成本和时间成本，使得产品的制造成本降低，提高了产品的竞争力。

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。下面结合附图和实施例对本实用新型进行详细的说明，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

实施例1

请参阅图1和图2，为本实用新型提供的一种真空吸笔同轴度的校正治具，其用于校正真空吸笔100的同轴度，所述校正治具包括治具本体1，所述治具本体1的上表面开设有检测孔2，所述检测孔2的半径比所述真空吸笔的半径大0.01mm，所述治具本体1的两侧开均设有固定孔3，所述治具本体1通过所述固定孔3的固定。机床上设有固定座4，当需要对真空吸笔100进行校正时，先将治具本体1安装在固定座4上，然后将真空吸笔100简单地调整好同轴度后再轻轻固定在吸笔座200上，接着让真空吸笔100的末端慢慢伸入检测孔2内，如果在真空吸笔100伸入检测孔2内的过程中触碰到检测孔2，则说明真空吸笔100在安装时没有满足同轴度要求，对真空吸笔100重新调整后再伸入检测孔2内，直到真空吸笔100可以正常伸入检测孔2为止；当真空吸笔100可以正常伸入检测孔2后转动真空吸笔100，如果在转动真空吸笔100的过程中触碰到检测孔2，则说明真空吸笔100在安装时没有满足同轴度要求，对真空吸笔100重新调整后再伸入检测孔2内，直到真空吸笔100可以在检测孔2内正常转动为止。当真空吸笔100可以在检测孔2内正常转动时，则说明真空吸笔100的安装已经满足同轴度的要求。该治具简单易用，经过简单培训即可轻松掌握使用技能，且每次调整和测量所消耗的时间极少，减少了大量的培训成本和时间成本，使得产品的制造成本降低，提高了产品的竞争力。

作为本实用新型提供的所述真空吸笔100同轴度的校正治具的一种优选实施方式，所述检测孔2的直径为4.02mm。常用的摄像头镜片的真空吸笔100的直径为4mm，两侧均留0.01mm的误差，本实施例采用的检测孔2的直径为4.02mm，在其他实施例中，也可以根据真空吸笔100的直径调整检测孔2的直径，以满足使用需求，其均应落入本实用新型的保护范围之内。

作为本实用新型提供的所述真空吸笔100同轴度的校正治具的一种优选实施方式，所述检测孔2的同轴度为0.005mm，工业制造中，实际制造的被测轴线与理论中的正确位置的基准轴线可能存在偏差，同轴度就是定位公差，理论正确位置即为基准轴线。由于被测轴线对基准轴线的不同点可能在空间各个方向上出现，故其公差带为一以基准轴线为轴线的圆柱体，公差值为该圆柱体的直径，以满足检测孔2的使用要求，保证真空吸笔100的同轴度。

作为本实用新型提供的所述真空吸笔100同轴度的校正治具的一种优选实施方式，所述检测孔2的深度为30mm。常用的摄像头镜片的真空吸笔100的尾部的长度为35mm，将真空吸笔100伸入一定长度再进行转动即可实现真空吸笔100的同轴度校正，当然，检测孔2的深度也可以大于真空吸笔100尾部的长度，这样直接把真空吸笔100完全没入检测孔2即可，但是这样的校正治具制作成本较高且真空吸笔100与检测孔2发生触碰时容易造成损伤。

作为本实用新型提供的所述真空吸笔100同轴度的校正治具的一种优选实施方式，所述治具本体1的长宽高分别为50mm，35mm，40mm。

作为本实用新型提供的所述真空吸笔100同轴度的校正治具的一种优选实施方式，两个所述固定孔3的圆心所形成的平面的平面度为0.005mm，以满足校正治具在安装时的平面度要求，进而保证校正治具中检测孔2的同轴度。

实施例2

请参阅图1至图3，作为实施例1的进一步优化方案，本实施例中，所述固定孔3为跑道型通孔，以使得治具本体1的固定位置可以得到一定的调节，特别是当校正治具发生磨损或制造有一定误差时，无需报废校正治具，直接对校正治具的治具本体1的位置进行调节，以减少不良率。

作为本实用新型提供的所述真空吸笔100同轴度的校正治具的一种优选实施方式，所述跑道型通孔的一侧设有对位刻度5，对位刻度5可帮助工作人员在安装治具本体1时进行调节，起到一定的参照作用，提高调节效率；且当治具本体1需要检修时也可以记录下治具本体1在对位刻度5下的位置，下次安装时直接对准刻度进行安装即可，以此提高安装效率。

实施例3

请参阅图1至图5，作为实施例1的进一步优化方案，本实施例中，所述检测孔2的两侧均设置有定位柱6，两个所述定位柱6与所述检测孔2的圆心的距离相等，两个所述定位柱6的位置和间距与吸笔座200的肩部位置对应，以使得安装校正治具时可以起到定位的作用，提高安装效率。

请参阅图6，作为本实用新型提供的所述真空吸笔100同轴度的校正治具的一种优选实施方式，两个所述定位柱6的顶部固定有缓冲垫7，以避免定位柱6与吸笔座200的肩部直接碰撞，避免损伤。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接或彼此可通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

显然，以上所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例，附图中给出了本申请的较佳实施例，但并不限制本申请的专利范围。本申请可以以许多不同的形式来实现，相反地，提供这些实施例的目的是使对本申请的公开内容的理解更加透彻全面。尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来而言，其依然可以对前述各具体实施方式所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等效替换。凡是利用本申请说明书及附图内容所做的等效结构，直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理在本申请专利保护范围之内。

Claims (10)

1.一种真空吸笔同轴度的校正治具，其特征在于，其用于校正真空吸笔的同轴度，所述校正治具包括治具本体，所述治具本体的上表面开设有检测孔，所述检测孔的半径比所述真空吸笔的半径大0.01mm，所述治具本体的两侧开均设有固定孔，所述治具本体通过所述固定孔的固定。

2.根据权利要求1所述的真空吸笔同轴度的校正治具，其特征在于，所述检测孔的直径为4.02mm。

3.根据权利要求1所述的真空吸笔同轴度的校正治具，其特征在于，所述检测孔的同轴度为0.005mm。

4.根据权利要求1所述的真空吸笔同轴度的校正治具，其特征在于，所述检测孔的深度为30mm。

5.根据权利要求1所述的真空吸笔同轴度的校正治具，其特征在于，所述治具本体的长宽高分别为50mm，35mm，40mm。

6.根据权利要求1所述的真空吸笔同轴度的校正治具，其特征在于，两个所述固定孔的圆心所形成的平面的平面度为0.005mm。

7.根据权利要求1所述的真空吸笔同轴度的校正治具，其特征在于，所述固定孔为跑道型通孔。

8.根据权利要求7所述的真空吸笔同轴度的校正治具，其特征在于，所述跑道型通孔的一侧设有对位刻度。

9.根据权利要求1所述的真空吸笔同轴度的校正治具，其特征在于，所述检测孔的两侧均设置有定位柱，两个所述定位柱与所述检测孔的圆心的距离相等。

10.根据权利要求9所述的真空吸笔同轴度的校正治具，其特征在于，两个所述定位柱的顶部固定有缓冲垫。

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