CN216870696U

CN216870696U - 一种基于开发的检测数据读取软件的电路搭台试验pcb

Info

Publication number: CN216870696U
Application number: CN202123402128.5U
Authority: CN
Inventors: 韩碧涛; 武晨; 马新洲
Original assignee: Beijing Jinghanyu Electronic Engineering Technology Co ltd Xi'an Branch
Current assignee: Beijing Jinghanyu Electronic Engineering Technology Co ltd Xi'an Branch
Priority date: 2021-12-30
Filing date: 2021-12-30
Publication date: 2022-07-01
Anticipated expiration: 2031-12-30

Abstract

本实用新型属于集成电路技术领域，公开了一种基于开发的检测数据读取软件的电路搭台试验PCB，塔台主控制检测试验电路分别与NI程控数据读取电路、继电器及开关阵列接口电路、数字万用表接口电路、电源接口电路、电子负载接口电路、信号发生器接口电路、数字示波器接口电路连接。本实用新型解决了部分新类型大功率芯片检测试验的问题，一种基于NI控制电源、数字万用表、电子负载、数字示波器等检测仪器集成于一体的集成电路搭台检测数据读取的电路搭台试验PCB板，应用于集成电路搭台检测时参数数值检测的数据读取并保存的检测工作。

Description

一种基于开发的检测数据读取软件的电路搭台试验PCB

技术领域

本实用新型属于集成电路技术领域，尤其涉及一种基于开发的检测数据读取软件的电路搭台试验PCB。

背景技术

目前，在电子筛选行业，由于国外的封锁和技术垄断，集成电路中由于器件的特殊性，国内进口器件以假乱真的翻新器件或者次品器件的现象大量存在，新研发的新类型国产化器件逐步在大量增加，并且一些特殊器件的检测方法和检测试验的硬件还存在一些差距，尤其是一些特殊要求的器件是否完全可以进行功能和参数的检测试验，在可靠性和性能上是否完全可以在设备上实现应用的性能和功能，因此需要对于装机的器件进行二筛的检测试验，一般是没有此器件的检测试验能力或者按照原有类似的器件详细规范进行部分简单的检测试验。

集成电路新类型大功率芯片研发层出不穷，新类型大功率芯片的部分参数对于现有的测试设备已经无法满足这些参数的检测试验的需求，检测试验需要各种仪器仪表的配合搭台使用才能满足新类型大功率芯片，因为新类型大功率芯片的电参数的特殊性的问题，检测器件的试验参数少或者现有测试设备无法进行直接测试，由于新类型大功率芯片电性能参数的特殊性，一般的检测试验的检测方法和测试设备无法进行电性能参数的检测试验，无法进行器件的大电压、大功耗、大电流参数的检测试验。现有的检测试验设备对于器件使用之前进行的电参数的试验，完成检测试验之后，对于客户使用方使用器件存在未知的隐患风险、存在不可靠性，对于使用方在研发和节点周期都存在很大影响，并且即使在搭台检测试验时存在连接回路时需要好几次步骤且顺序性是固定的，具有复杂的连线、绕线，需要人工记录试验收据等等，对于操作人员在检测试验时比较复杂，操作性、执行性、实用性不强。

通过上述分析，现有技术存在的问题及缺陷为：现有的检测试验设备对于器件使用之前进行的电参数的试验，完成检测试验之后，对于客户使用方使用器件存在未知的隐患风险、存在不可靠性，对于使用方在研发和节点周期都存在很大影响，并且即使在搭台检测试验时存在连接回路时需要好几次步骤且顺序性是固定的，具有复杂的连线、绕线，需要人工记录试验收据等等，对于操作人员在检测试验时比较复杂，操作性、执行性、实用性不强。

解决以上问题及缺陷的难度为：一般是没有新类型大功率芯片的检测试验能力，新类型大功率芯片的部分参数对于现有的测试设备已经无法满足这些参数的检测试验的需求，检测试验需要各种仪器仪表的配合搭台使用才能满足新类型大功率芯片，对于器件的大电压、大功耗、大电流的参数是没有检测试验的电路板和测试设备，现有测试设备和电路板的检测试验方法对于器件使用之前进行的的检测试验是完全达不到器件功能和性能参数应有的要求，难点就是大电压、大功耗、大电流的性能参数的检测及功能的检测，并且即使在搭台检测试验时存在连接回路时需要好几次步骤且顺序性是固定的，具有复杂的连线、绕线，需要人工记录试验收据等等，对于操作人员在检测试验时比较复杂，操作性、执行性、实用性不强。根据新类型大功率芯片的结构和原理，新类型大功率芯片在实际的应用环境中维持系统的稳定，并且是保持大电压、大功耗、大电流下系统的信号供电稳定性，在规定额定的信号系统下抗干扰和维持系统的供电稳定，这是器件的基本性能，需要专业的技术人员对器件大电压、大功耗、大电流性能的内部结构的进行分析，然后根据器件的分析结果进行电路板的设计并且需要设计专门的检测试验的软件程序。

解决以上问题及缺陷的意义为：如果没有进行器件大电压、大功耗、大电流的性能参数和功能的检测实验，只进行简单的检测试验是完全不能确认器件是否合格，会导致客户使用器件存在未知的系统供电稳定性的风险、不可靠性的隐患对系统造成不可估量的损失，甚至对客户设计的系统的功能无法实现，对于使用方在研发和节点周期都存在很大影响，并且即使在搭台检测试验时存在连接回路时需要好几次步骤且顺序性是固定的，具有复杂的连线、绕线，需要人工记录试验收据等等，对于操作人员在检测试验时比较复杂，操作性、执行性、实用性不强。

实用新型内容

为了解决现有技术存在的问题，本实用新型提供了一种基于开发的检测数据读取软件的电路搭台试验PCB。

本实用新型是这样实现的，一种基于开发的检测数据读取软件的电路搭台试验PCB，所述基于开发的检测数据读取软件的电路搭台试验PCB设置有塔台主控制检测试验电路；

塔台主控制检测试验电路分别与NI程控数据读取电路、继电器及开关阵列接口电路、数字万用表接口电路、电源接口电路、电子负载接口电路、信号发生器接口电路、数字示波器接口电路连接。

进一步，所述塔台主控制检测试验电路设置有DUT通用座，DUT通用座的通道PIN1～PIN9连接到开关SW1 SW-DIP9的CH1～CH9，DUT通用座的PIN10～PIN18连接到开关SW2SW-DIP9的CH10～CH18，开关SW1 SW-DIP9、SW2 SW-DIP9的另一边与6个单刀三置开关S1、S2、S3、S4、S5、S6的3端一边相应连接。

进一步，所述塔台主控制检测试验电路设置有控制EPM7032芯片，控制EPM7032芯片电源管脚PIN3、PIN15、PIN23、PIN35与供电电源+5V连接，并且耦合104电容到地，GND管脚PIN10、PIN22、PIN30、PIN42与地连接，IO管脚PIN4、PIN5、PIN6、PIN8、PIN9、PIN11、PIN12、PIN14、PIN16、PIN17、PIN18、PIN19、PIN20、PIN21、PIN24、PIN25、PIN26、PIN27、PIN28、PIN29、PIN31、PIN33、PIN34、PIN36一一对应与继电器JP1、JP2、JP3、JP4、JP5、JP6、JP7、JP8、JP9、JP10、JP18、JP19、JP20、JP21、JP22、JP23、JP24的PIN2管脚JP1、JP2、JP3、JP4、JP5、JP6、JP7、JP8、JP9、JP10、JP18、JP19、JP20、JP21、JP22、JP23、JP24对应相连接。

进一步，所述继电器及开关阵列接口电路设置有继电器配置控制接口电路和开关阵列接口电路；继电器配置控制接口电路中继电器JP1、JP2、JP3、JP4、JP5、JP6的PIN1管脚与搭台主控制检测试验电路的6个单刀三置开关S1、S2、S3、S4、S5、S6的单端一边相应连接，6个PIN2管脚JP1、JP2、JP3、JP4、JP5、JP6与搭台主控制检测试验电路的控制EPM7032芯片的IO管脚PIN4、PIN5、PIN6、PIN8、PIN9、PIN11对应相连接，6个PIN3管脚与GND连接，6个PIN4管脚与信号发生器和电子负载接口配置电路的3个S7、S8、S9单刀二置的2端一边TP9、TP10、TP11、TP12、TP13、TP14相连接。

进一步，所述继电器配置控制接口电路中继电器JP7、JP8、JP9、JP10、JP11、JP12的PIN1管脚与搭台主控制检测试验电路的6个单刀三置开关S1、S2、S3、S4、S5、S6的单端一边相应连接，6个PIN2管脚JP7、JP8、JP9、JP10、JP11、JP12与搭台主控制检测试验电路的控制EPM7032芯片的IO管脚PIN12、PIN14、PIN16、PIN17、PIN18、PIN19对应相连接，6个PIN3管脚与GND连接，6个PIN4管脚与信号发生器和电子负载接口配置电路的3个S10、S11、S12单刀二置的2端一边TP15、TP16、TP17、TP18、TP19、TP20相连接，继电器JP13、JP14、JP15、JP16、JP17、JP18的PIN1管脚与搭台主控制检测试验电路的6个单刀三置开关S1、S2、S3、S4、S5、S6的单端一边相应连接，6个PIN2管脚JP13、JP14、JP15、JP16、JP17、JP18与搭台主控制检测试验电路的控制EPM7032芯片的IO管脚PIN20、PIN21、PIN24、PIN25、PIN26、PIN27对应相连接，6个PIN3管脚与GND连接，6个PIN4管脚与数字万用表和数字示波器采集接口配置电路的3个S13、S14、S15单刀二置的2端一边TP21、TP22、TP23、TP24、TP25、TP26相连接。

进一步，所述继电器配置控制接口电路中继电器JP19、JP20、JP21、JP22、JP23、JP24的PIN1管脚与搭台主控制检测试验电路的6个单刀三置开关S1、S2、S3、S4、S5、S6的单端一边相应连接，6个PIN2管脚JP19、JP20、JP21、JP22、JP23、JP24与搭台主控制检测试验电路的控制EPM7032芯片的IO管脚PIN28、PIN29、PIN31、PIN33、PIN34、PIN36对应相连接，6个PIN3管脚与GND连接，6个PIN4管脚与数字万用表和数字示波器采集接口配置电路的3个S16、S17、S18单刀二置的2端一边TP27、TP28、TP29、TP30、TP31、TP32相连接。

进一步，所述开关阵列接口电路中DUT的PIN1～PIN18通过选择开关SW3 SW-DIP9和SW4 SW-DIP9的各个通道选择性CH1～CH18连接到电源VCC，DUT的PIN1～PIN18通过选择开关SW5 SW-DIP9和SW6 SW-DIP9的各个通道选择性CH1～CH18连接到电源VCC1，DUT的PIN1～PIN18通过选择开关SW7 SW-DIP9和SW8 SW-DIP9的各个通道选择性CH1～CH18连接到电源VCC2，DUT的PIN1～PIN18通过选择开关SW9 SW-DIP9和SW10SW-DIP9的各个通道选择性CH1～CH18连接到电源VCC3，DUT的PIN1～PIN18通过选择开关SW11 SW-DIP9和SW12 SW-DIP9的各个通道选择性CH1～CH18连接到地GND。

进一步，所述电源接口电路设置有供电电源的输入端口P1、P2、P3、P4四个接口。

进一步，所述电子负载接口电路和信号发生器接口电路中信号发生器和电子负载的P5、P6、P7、P8、P9、P10共6个射频接口，6各接口与信号发生器和电子负载通道通过射频线相连接，并且其6个接口与6个单刀二置S7、S8、S9、S10、S11、S12的单端相连。

进一步，所述数字万用表接口电路和数字示波器接口电路中数字万用表和数字示波器的P11、P12、P13、P14、P15、P16共6个射频接口，6各接口与数字示波器和数字万用表通道通过射频线相连接，其6个接口与6个单刀二置S13、S14、S15、S16、S17、S18的单端相连。

结合上述的所有技术方案，本实用新型所具备的优点及积极效果为：

本实用新型解决了部分新类型大功率芯片检测试验的问题，一种基于NI控制电源、数字万用表、电子负载、数字示波器等检测仪器集成于一体的集成电路搭台检测数据读取的电路搭台试验PCB板，应用于集成电路搭台检测时参数数值检测的数据读取并保存的检测工作。本实用新型解决了部分新类型大功率芯片的大电压、大功耗、大电流参数的检测试验问题，功能和参数覆盖率达到98％以上，设计合理，工作稳定，实用性强，执行性好，操作性更加方便和快捷，检测试验的数据软件自动保存，使用效果好，便于推广使用。

本实用新型设计比较新颖的是与NI程控数据读取电路配合的关于器件在大功率、大电流、大电压的通用检测试验板。

本实用新型按照设计的通用试验电路板对部分新类型大功率芯片进行了功能和性能参数的检测试验，解决了部分新类型大功率芯片的功能、大功率、大电流、大电压参数的检测试验能力；解决了大功率、大电流、大电压是没有检测试验的电路板和测试设备的缺陷；解决了现有测试设备和电路板的检测试验方法对于器件使用之前进行的功能和性能参数的试验是完全达不到的检测试验的问题。

本实用新型通过NI程控数据读取电路解决了手动记录数据的步骤，自动保存试验数据，让搭台的检测试验不在繁琐的更换搭线更改各参数试验的电路回路，使试验做到了试验操作更加简单、便捷、实用。整体设计合理，工作稳定，实用性强，执行性好，操作性更加方便和快捷，检测试验的数据软件自动保存，使用效果好，便于推广使用。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图做简单的介绍，显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型实施例提供的基于开发的检测数据读取软件的电路搭台试验PCB结构示意图；

图1中：1、NI程控数据读取电路；2、继电器及开关阵列接口电路；3、数字万用表接口电路；4、塔台主控制检测试验电路；5、电源接口电路；6、电子负载接口电路；7、信号发生器接口电路；8、数字示波器接口电路。

图2是本实用新型实施例提供的塔台主控制检测试验电路示意图；

图2中：图a、DUT通用座；图b、控制EPM7032芯片；图c、开关SW。

图3是本实用新型实施例提供的继电器配置控制接口电路示意图。

图4是本实用新型实施例提供的开关阵列接口电路示意图。

图5是本实用新型实施例提供的电源接口电路示意图。

图6是本实用新型实施例提供的电子负载接口电路和信号发生器接口电路示意图。

图7是本实用新型实施例提供的数字万用表接口电路和数字示波器接口电路示意图。

图8是本实用新型实施例提供的基于开发的检测数据读取软件的电路搭台试验PCB结构的原理图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

针对现有技术存在的问题，本实用新型提供了一种基于开发的检测数据读取软件的电路搭台试验PCB，下面结合附图对本实用新型作详细的描述。

如图1所示，本实用新型实施例提供的基于开发的检测数据读取软件的电路搭台试验PCB设置有塔台主控制检测试验电路4，塔台主控制检测试验电路4分别与NI程控数据读取电路1、继电器及开关阵列接口电路2、数字万用表接口电路3、电源接口电路5、电子负载接口电路6、信号发生器接口电路7、数字示波器接口电路8连接。

如图2所示，塔台主控制检测试验电路4设置有DUT通用座，DUT通用座的通道PIN1～PIN9连接到开关SW1 SW-DIP9的CH1～CH9，DUT通用座的PIN10～PIN18连接到开关SW2SW-DIP9的CH10～CH18，开关SW1 SW-DIP9、SW2 SW-DIP9的另一边与6个单刀三置开关S1、S2、S3、S4、S5、S6的3端一边相应连接。控制EPM7032芯片电源管脚PIN3、PIN15、PIN23、PIN35与供电电源+5V连接，并且耦合104电容到地，GND管脚PIN10、PIN22、PIN30、PIN42与地连接，IO管脚PIN4、PIN5、PIN6、PIN8、PIN9、PIN11、PIN12、PIN14、PIN16、PIN17、PIN18、PIN19、PIN20、PIN21、PIN24、PIN25、PIN26、PIN27、PIN28、PIN29、PIN31、PIN33、PIN34、PIN36一一对应与继电器JP1、JP2、JP3、JP4、JP5、JP6、JP7、JP8、JP9、JP10、JP18、JP19、JP20、JP21、JP22、JP23、JP24的PIN2管脚(JP1、JP2、JP3、JP4、JP5、JP6、JP7、JP8、JP9、JP10、JP18、JP19、JP20、JP21、JP22、JP23、JP24)对应相连接。芯片管脚与检测数据读取的电路搭台试验PCB板的电连接性接触，如此便于各控制电路通过这些通道控制试验芯片的工作条件，按照搭台控制电路需要的功能原理和要求，通过功能逻辑对继电器JP1～JP24电路和开关阵列电路进行控制，控制切换各接口电路配置，使各电源、信号发生器、电子负载、数字万用表、数字示波器通过接口与检测试验器件的管脚相连接，控制检测试验器件正常工作，按照试验功能和参数要求，控制其依次有序完成测量，并且反馈NI程控数据读取电路保存试验数据和结果。

如图3所示，继电器及开关阵列接口电路2设置有继电器配置控制接口电路和开关阵列接口电路，继电器配置控制接口电路中继电器JP1、JP2、JP3、JP4、JP5、JP6的PIN1管脚与搭台主控制检测试验电路的6个单刀三置开关S1、S2、S3、S4、S5、S6的单端一边相应连接，其6个PIN2管脚(JP1、JP2、JP3、JP4、JP5、JP6)与搭台主控制检测试验电路的控制EPM7032芯片的IO管脚PIN4、PIN5、PIN6、PIN8、PIN9、PIN11对应相连接，其6个PIN3管脚与GND连接，其6个PIN4管脚与信号发生器和电子负载接口配置电路的3个S7、S8、S9单刀二置的2端一边TP9、TP10、TP11、TP12、TP13、TP14相连接，继电器JP7、JP8、JP9、JP10、JP11、JP12的PIN1管脚与搭台主控制检测试验电路的6个单刀三置开关S1、S2、S3、S4、S5、S6的单端一边相应连接，其6个PIN2管脚(JP7、JP8、JP9、JP10、JP11、JP12)与搭台主控制检测试验电路的控制EPM7032芯片的IO管脚PIN12、PIN14、PIN16、PIN17、PIN18、PIN19对应相连接，其6个PIN3管脚与GND连接，其6个PIN4管脚与信号发生器和电子负载接口配置电路的3个S10、S11、S12单刀二置的2端一边TP15、TP16、TP17、TP18、TP19、TP20相连接，继电器JP13、JP14、JP15、JP16、JP17、JP18的PIN1管脚与搭台主控制检测试验电路的6个单刀三置开关S1、S2、S3、S4、S5、S6的单端一边相应连接，其6个PIN2管脚(JP13、JP14、JP15、JP16、JP17、JP18)与搭台主控制检测试验电路的控制EPM7032芯片的IO管脚PIN20、PIN21、PIN24、PIN25、PIN26、PIN27对应相连接，其6个PIN3管脚与GND连接，其6个PIN4管脚与数字万用表和数字示波器采集接口配置电路的3个S13、S14、S15单刀二置的2端一边TP21、TP22、TP23、TP24、TP25、TP26相连接，继电器JP19、JP20、JP21、JP22、JP23、JP24的PIN1管脚与搭台主控制检测试验电路的6个单刀三置开关S1、S2、S3、S4、S5、S6的单端一边相应连接，其6个PIN2管脚(JP19、JP20、JP21、JP22、JP23、JP24)与搭台主控制检测试验电路的控制EPM7032芯片的IO管脚PIN28、PIN29、PIN31、PIN33、PIN34、PIN36对应相连接，其6个PIN3管脚与GND连接，其6个PIN4管脚与数字万用表和数字示波器采集接口配置电路的3个S16、S17、S18单刀二置的2端一边TP27、TP28、TP29、TP30、TP31、TP32相连接。根据器件的功能结构和参数要求，继电器配置控制接口电路被控制，按照程控系统和控制电路给的信号设置，依次顺序相应与信号发生器和电子负载接口和数字万用表和数字示波器采集接口相连，与开关阵列接口电路相辅相成，通过此电路通道相连对检测试验器件的各通道供给各种不同信号向量、电压、电流负载等，使被检测试验器件处在不同的工作环境下进行试验，并且通过此电路通道相连对检测试验器件的输出信号或者数据进行采集。

如图4所示，开关阵列接口电路中DUT的PIN1～PIN18通过选择开关SW3SW-DIP9和SW4 SW-DIP9的各个通道选择性CH1～CH18连接到电源VCC，DUT的PIN1～PIN18通过选择开关SW5 SW-DIP9和SW6 SW-DIP9的各个通道选择性CH1～CH18连接到电源VCC1，DUT的PIN1～PIN18通过选择开关SW7 SW-DIP9和SW8 SW-DIP9的各个通道选择性CH1～CH18连接到电源VCC2，DUT的PIN1～PIN18通过选择开关SW9 SW-DIP9和SW10 SW-DIP9的各个通道选择性CH1～CH18连接到电源VCC3，DUT的PIN1～PIN18通过选择开关SW11 SW-DIP9和SW12 SW-DIP9的各个通道选择性CH1～CH18连接到地GND。根据器件的功能结构和参数要求，开关阵列接口电路与继电器配置控制接口电路相辅相成，控制开关阵列接口电路起到桥梁的作用，对检测试验器件的各通道供给各种不同的电平输入，使被检测试验器件处在不同的工作环境下进行试验，保证器件的工作条件的满足和稳定。

如图5所示，电源接口电路5中供电电源的输入端口P1、P2、P3、P4四个接口，为搭台控制检测试验电路板整个系统和检测试验器件进行供电和对试验器件各工作条件提供电平。

如图6所示，电子负载接口电路6和信号发生器接口电路7为信号发生器和电子负载的P5、P6、P7、P8、P9、P10共6个射频接口，6各接口与信号发生器和电子负载通道通过射频线相连接，并且其6个接口与6个单刀二置S7、S8、S9、S10、S11、S12的单端相连。按照被检测试验器件详细规范的参数要求，由NI程控数据读取电路1控制对被检测试验器件提供相应的各种不同信号向量、电压、电流负载等电应力，保证试验器件在正常的工作条件下，对器件进行各参数试验，并反馈数值进行钳位的判断。

如图7所示，数字万用表接口电路3和数字示波器接口电路8为数字万用表和数字示波器的P11、P12、P13、P14、P15、P16共6个射频接口，6各接口与数字示波器和数字万用表通道通过射频线相连接，其6个接口与6个单刀二置S13、S14、S15、S16、S17、S18的单端相连。按照被检测试验器件详细规范的参数要求，被检测试验器件在正常的工作条件下，由NI程控数据读取电路1控制对被检测试验器件输出信号向量、电压、电流等电参数进行测量，对试验器件进行各参数的输出结果进行数据自动保存。

本实用新型的工作原理为：NI程控数据读取电路1控制搭台主控制检测试验电路4，通过电源接口电路5给整个器件检测试验电路板供电；搭台主控制检测试验电路4使被检测试验器件正常启动，通过控制继电器及开关阵列接口电路2切换各个检测仪器仪表的接口电路进行检测试验工作；NI程控数据读取电路1控制主控电路控制继电器接口电路切换电源接口电路5给被检测试验器件按照相应条件提供电压条件；切换信号发生器接口电路7给被检测试验器件进行向量信号的导入，切换电子负载接口电路6给被检测试验器件按照相应条件提供负载；被检测试验器件正常工作在相应的试验条件下，切换数字万用表接口电路3和数字示波器接口电路8对被检测试验器件进行试验结果的参数数据和波形数据进行测量和采集，并且反馈NI程控数据读取电路1通过控制塔台主控制检测试验电路4把被检测试验器件试验输出的参数数据和波形数据进行自动记录和保存。

在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上；术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”、“前端”、“后端”、“头部”、“尾部”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims

1.一种基于开发的检测数据读取软件的电路搭台试验PCB，其特征在于，所述基于开发的检测数据读取软件的电路搭台试验PCB设置有：

塔台主控制检测试验电路；

2.如权利要求1所述基于开发的检测数据读取软件的电路搭台试验PCB，其特征在于，所述塔台主控制检测试验电路设置有DUT通用座，DUT通用座的通道PIN1～PIN9连接到开关SW1 SW-DIP9的CH1～CH9，DUT通用座的PIN10～PIN18连接到开关SW2 SW-DIP9的CH10～CH18，开关SW1 SW-DIP9、SW2 SW-DIP9的另一边与6个单刀三置开关S1、S2、S3、S4、S5、S6的3端一边相应连接。

3.如权利要求1所述基于开发的检测数据读取软件的电路搭台试验PCB，其特征在于，所述塔台主控制检测试验电路设置有控制EPM7032芯片，控制EPM7032芯片电源管脚PIN3、PIN15、PIN23、PIN35与供电电源+5V连接，并且耦合104电容到地，GND管脚PIN10、PIN22、PIN30、PIN42与地连接，IO管脚PIN4、PIN5、PIN6、PIN8、PIN9、PIN11、PIN12、PIN14、PIN16、PIN17、PIN18、PIN19、PIN20、PIN21、PIN24、PIN25、PIN26、PIN27、PIN28、PIN29、PIN31、PIN33、PIN34、PIN36一一对应与继电器JP1、JP2、JP3、JP4、JP5、JP6、JP7、JP8、JP9、JP10、JP18、JP19、JP20、JP21、JP22、JP23、JP24的PIN2管脚JP1、JP2、JP3、JP4、JP5、JP6、JP7、JP8、JP9、JP10、JP18、JP19、JP20、JP21、JP22、JP23、JP24对应相连接。

4.如权利要求1所述基于开发的检测数据读取软件的电路搭台试验PCB，其特征在于，所述继电器及开关阵列接口电路设置有继电器配置控制接口电路和开关阵列接口电路；继电器配置控制接口电路中继电器JP1、JP2、JP3、JP4、JP5、JP6的PIN1管脚与搭台主控制检测试验电路的6个单刀三置开关S1、S2、S3、S4、S5、S6的单端一边相应连接，6个PIN2管脚JP1、JP2、JP3、JP4、JP5、JP6与搭台主控制检测试验电路的控制EPM7032芯片的IO管脚PIN4、PIN5、PIN6、PIN8、PIN9、PIN11对应相连接，6个PIN3管脚与GND连接，6个PIN4管脚与信号发生器和电子负载接口配置电路的3个S7、S8、S9单刀二置的2端一边TP9、TP10、TP11、TP12、TP13、TP14相连接。

5.如权利要求4所述基于开发的检测数据读取软件的电路搭台试验PCB，其特征在于，所述继电器配置控制接口电路中继电器JP7、JP8、JP9、JP10、JP11、JP12的PIN1管脚与搭台主控制检测试验电路的6个单刀三置开关S1、S2、S3、S4、S5、S6的单端一边相应连接，6个PIN2管脚JP7、JP8、JP9、JP10、JP11、JP12与搭台主控制检测试验电路的控制EPM7032芯片的IO管脚PIN12、PIN14、PIN16、PIN17、PIN18、PIN19对应相连接，6个PIN3管脚与GND连接，6个PIN4管脚与信号发生器和电子负载接口配置电路的3个S10、S11、S12单刀二置的2端一边TP15、TP16、TP17、TP18、TP19、TP20相连接，继电器JP13、JP14、JP15、JP16、JP17、JP18的PIN1管脚与搭台主控制检测试验电路的6个单刀三置开关S1、S2、S3、S4、S5、S6的单端一边相应连接，6个PIN2管脚JP13、JP14、JP15、JP16、JP17、JP18与搭台主控制检测试验电路的控制EPM7032芯片的IO管脚PIN20、PIN21、PIN24、PIN25、PIN26、PIN27对应相连接，6个PIN3管脚与GND连接，6个PIN4管脚与数字万用表和数字示波器采集接口配置电路的3个S13、S14、S15单刀二置的2端一边TP21、TP22、TP23、TP24、TP25、TP26相连接。

6.如权利要求4所述基于开发的检测数据读取软件的电路搭台试验PCB，其特征在于，所述继电器配置控制接口电路中继电器JP19、JP20、JP21、JP22、JP23、JP24的PIN1管脚与搭台主控制检测试验电路的6个单刀三置开关S1、S2、S3、S4、S5、S6的单端一边相应连接，6个PIN2管脚JP19、JP20、JP21、JP22、JP23、JP24与搭台主控制检测试验电路的控制EPM7032芯片的IO管脚PIN28、PIN29、PIN31、PIN33、PIN34、PIN36对应相连接，6个PIN3管脚与GND连接，6个PIN4管脚与数字万用表和数字示波器采集接口配置电路的3个S16、S17、S18单刀二置的2端一边TP27、TP28、TP29、TP30、TP31、TP32相连接。

7.如权利要求4所述基于开发的检测数据读取软件的电路搭台试验PCB，其特征在于，所述开关阵列接口电路中DUT的PIN1～PIN18通过选择开关SW3 SW-DIP9和SW4 SW-DIP9的各个通道选择性CH1～CH18连接到电源VCC，DUT的PIN1～PIN18通过选择开关SW5 SW-DIP9和SW6 SW-DIP9的各个通道选择性CH1～CH18连接到电源VCC1，DUT的PIN1～PIN18通过选择开关SW7 SW-DIP9和SW8 SW-DIP9的各个通道选择性CH1～CH18连接到电源VCC2，DUT的PIN1～PIN18通过选择开关SW9 SW-DIP9和SW10 SW-DIP9的各个通道选择性CH1～CH18连接到电源VCC3，DUT的PIN1～PIN18通过选择开关SW11 SW-DIP9和SW12 SW-DIP9的各个通道选择性CH1～CH18连接到地GND。

8.如权利要求1所述基于开发的检测数据读取软件的电路搭台试验PCB，其特征在于，所述电源接口电路设置有供电电源的输入端口P1、P2、P3、P4四个接口。

9.如权利要求1所述基于开发的检测数据读取软件的电路搭台试验PCB，其特征在于，所述电子负载接口电路和信号发生器接口电路中信号发生器和电子负载的P5、P6、P7、P8、P9、P10共6个射频接口，6各接口与信号发生器和电子负载通道通过射频线相连接，并且其6个接口与6个单刀二置S7、S8、S9、S10、S11、S12的单端相连。

10.如权利要求1所述基于开发的检测数据读取软件的电路搭台试验PCB，其特征在于，所述数字万用表接口电路和数字示波器接口电路中数字万用表和数字示波器的P11、P12、P13、P14、P15、P16共6个射频接口，6各接口与数字示波器和数字万用表通道通过射频线相连接，其6个接口与6个单刀二置S13、S14、S15、S16、S17、S18的单端相连。