CN216847951U - 应变片研磨调阻系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种自动化程度高、保证检测精度和高良品率且能有效降低成本的应变片研磨调阻系统。本实用新型系统包括电阻测试仪和含有XYZ轴移动台的机台（2），它还包括至少一个应变片置物台（3）和磨测一体总成（5），磨测一体总成包括总成基板（6）、研磨模组和测试模组；在XYZ轴移动台的作用下，磨测一体总成移动到达应变片置物台上对待测调阻应变片（4）进行研磨和实时测量阻值，测得的阻值实时反馈到电阻测试仪和位于机台内的控制台上，根据测试阻值，判断该待测应变片是否需要研磨调阻，需要，则进行研磨调阻，否则，则为合格品或NG品。本实用新型可应用于智能装备领域。

Description

应变片研磨调阻系统

技术领域

本实用新型涉及智能装备领域，尤其涉及一种应变片研磨调阻系统。

背景技术

应变片是由敏感栅等构成用于测量应变的元件，使用时将其牢固地粘贴在构件的测点上，构件受力后由于测点发生应变，敏感栅也随之变形而使其电阻发生变化，再由专用仪器测得其电阻变化大小，并转换为测点的应变值。金属电阻应变片品种繁多，形式多样，常见的有丝式电阻应变片和箔式电阻应变片。箔式电阻应变片是一种基于应变--电阻效应制成的，用金属箔作为敏感栅的，能把被测试件的应变量转换成电阻变化量的敏感元件。箔式应变片具有散热条件好、允许电流大、横向效应小、疲劳寿命长、生产过程简单、适于批量生产等优点，已经取代丝式应变片而得到了广泛的应用。

电阻应变片在制作过程中，需要保证本身的电阻阻值范围，以确保后续使用过程中的测量精度。现有技术中，一般是通过人工对每片应变片进行检测，其检测过程大多是利用测试笔和阻值仪器通过手工测试，得到应变片本身的阻值范围。对于测得的阻值落在允许的阻值范围的，则该应变片为合格品；当测得的阻值低于允许的阻值范围时，则判定该应变片为不合格品；当测得的阻值超过允许的阻值范围时，需要对应变片进行研磨，直到检测到应变片的阻值落在允许的阻值范围内。但由于是手工研磨，不能实时测得应变片的阻值，很多时候需要时刻关注研磨情况，经过多次研磨和检测才能达到要求，甚至会出现研磨过度而致使应变片报废的情况出现。而手工研磨的过程也对工作人员的技术熟练程度要求极高，这大大地增加了工作人员的劳动强度，对于企业而言，也极大地提高了生产成本。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种自动化程度高、保证检测精度和高良品率且能有效降低成本的应变片研磨调阻系统。

本实用新型所述应变片研磨调阻系统所采用的技术方案是：本实用新型所述应变片研磨调阻系统包括电阻测试仪和含有XYZ轴移动台的机台，它还包括

至少一个应变片置物台，所述应变片置物台设置在所述机台上，待测调阻应变片定位于所述应变片置物台上；

和磨测一体总成，所述磨测一体总成设置在所述XYZ轴移动台上；

所述磨测一体总成包括

总成基板，

研磨模组，所述研磨模组设置在所述总成基板上，由研磨电机、研磨带和从动研磨轮相互配合组成，

和测试模组，所述测试模组由两根测试探针接通电源及所述电阻测试仪组成；

在所述XYZ轴移动台的作用下，所述磨测一体总成移动到达所述应变片置物台上对待测调阻应变片进行研磨和实时测量阻值，测得的阻值实时反馈到电阻测试仪和位于所述机台内的控制台上。

上述方案可见，本实用新型的XYZ轴移动台配合带动磨测一体总成移动到待测应变片的上方，所述测试探针下降并按触待测应变片的测试点，判断该待测应变片是否需要研磨调阻；当需要研磨调阻时，研磨电机带动研磨带打磨待测应变片，当应变片的阻值接近设定的标准阻值时,降低研磨速度,直到达到标准值后,停止调阻；当检测到待测应变片的阻值与设定的标准阻值一致时，判定该待测应变片为合格品，无需研磨调阻；当检测到待测应变片的阻值低于设定的标准阻值时，判定该待测应变片为NG品；所以，本实用新型极大地提高了自动化程度，减少了人工的投入，大大地降低了成本，且通过测试模组实时检测待测应变片的阻值，保证了检测精度，也避免了过度研磨，提高了良品率。

进一步地，所述磨测一体总成上还设置有NG标记模块，所述NG标记模块包括为标记笔，当所述测试模组检测到待测调阻应变片为NG品时，所述标记笔移动到该NG品上进行标记。由此可见，通过标记笔对NG品的标记，能够让工作人员快速地在待测调阻应变片板中找到NG品，为后续的工作提供了极大的便捷。

再进一步地，在所述应变片置物台上还设置有自动陶瓷真空吸附平台，待测调阻应变片定位于所述自动陶瓷真空吸附平台上。由此可见，由于自动陶瓷真空吸附平台具有极好的吸附性能，经过检测，待测调阻应变片板在研磨调阻过程中始终紧紧地贴紧吸附于自动陶瓷真空吸附平台上，此时待测调阻应变片板不会发生凸起或褶皱，进而保证了研磨的精度和可靠性，提高了良品率，也相对地减缓了研磨带的磨损程度，提高了研磨带的使用寿命。

又进一步地，所述测试探针为具有伸缩功能的测试针。由此可见，将测试探针设置为具有伸缩功能的测试针，避免了探针对测试点的硬撞击而造成测试点破损，同时也使得测试针在下降行程中具有缓冲功能，降低了设备损坏的几率。

此外，所述磨测一体总成上还设置有吸尘口，所述吸尘口设置于所述研磨模组外围，所述吸尘口的另一端与外围的吸尘器相连通。由此可见，将吸尘口设置于研磨模组外围，能够将研磨时产生的扬尘快速吸收走，避免了扬尘对调阻的影响，保证了调阻的精度和可靠性。

进一步地，所述应变片置物台通过旋转台设置于所述机台上，所述旋转台通过固定于所述机台上的步进电机带动做转动运动。由此可见，通过旋转台的引入，能够使得整个磨测一体总成能够进行来回地研磨调阻作业，从而保证了作业效率，也避免了二次移动待测应变片而造成作业精度降低的情况出现。

再进一步地，所述XYZ轴移动台包括横向设置于所述机台上的X轴轨道、滑动配合在所述X轴轨道上的Z轴轨道和与所述X轴轨道成垂直角度且水平设置的Y轴轨道，所述磨测一体总成滑动配合在所述Z轴轨道上，所述应变片置物台滑动配合在所述Y轴轨道上。由此可见，将Y轴轨道设置机台上，而X轴轨道和Z轴轨道设置在机台上方，其一保证了研磨调阻工作的顺利进行，其二，这种改变了X、Y、Z一体成型的结构，能够降低整个移动台的重量，相对地提高了作业精度。

另外，所述应变片置物台的数量设置为二个，所述Y轴轨道的数量设置为两条，两个所述应变片置物台分别滑动配合在两条所述Y轴轨道上。由此可见，应变片置物台的数量和Y轴轨道的数量均设置为二，当一个应变片置物台在进行研磨调阻作业时，另一个应变片置物台则进行下料和上料，从而大大地提高了效率。

附图说明

图1是所述应变片研磨调阻系统的第一视角的简易结构图；

图2是所述应变片研磨调阻系统的第二视角的简易结构图；

图3是所述磨测一体总成的第一视角的简易结构图；

图4是所述磨测一体总成的第二视角的简易结构图；

图5是所述磨测一体总成的第三视角的简易结构图；

图6是图5中A部分的放大结构示意图；

图7是所述测试探针的简易结构示意图；

图8是所述测试探针的简易结构示意图。

具体实施方式

本实用新型的实施例具体如下。

如图1至图8所示，本实用新型所述应变片研磨调阻系统包括电阻测试仪和含有XYZ轴移动台的机台2，它还包括

至少一个应变片置物台3，所述应变片置物台3设置在所述机台2上，待测调阻应变片4定位于所述应变片置物台3上；

和磨测一体总成5，所述磨测一体总成5设置在所述XYZ轴移动台上；

所述磨测一体总成5包括

总成基板6，

研磨模组，所述研磨模组设置在所述总成基板6上，由研磨电机7、研磨带8和从动研磨轮9相互配合组成，

和测试模组，所述测试模组由两根测试探针10接通电源及所述电阻测试仪组成；

在所述XYZ轴移动台的作用下，所述磨测一体总成5移动到达所述应变片置物台3上对待测调阻应变片4进行研磨和实时测量阻值，测得的阻值实时反馈到电阻测试仪和位于所述机台2内的控制台上。

所述磨测一体总（5上还设置有NG标记模块，所述NG标记模块包括为标记笔11，当所述测试模组检测到待测调阻应变片4为NG品时，所述标记笔11移动到该NG品上进行标记。

在所述应变片置物台3上还设置有自动陶瓷真空吸附平台12，待测调阻应变片4定位于所述自动陶瓷真空吸附平台12上。

所述测试探针10为具有伸缩功能的测试针。如图6和图7所示，在测试探针的内部，设置为接触测试针段18、伸缩弹簧19和探针套针段20，伸缩弹簧19一端固定连接接触测试针段18的内端，伸缩弹簧19的另一端位于探针套针段20内部，通过伸缩弹簧19实现接触测试针段18的伸缩功能。

所述磨测一体总成5上还设置有吸尘口13，所述吸尘口13设置于所述研磨模组外围，所述吸尘口13的另一端与外围的吸尘器相连通。

所述应变片置物台3通过旋转台14设置于所述机台2上，所述旋转台14通过固定于所述机台2上的步进电机带动做转动运动。

所述XYZ轴移动台包括横向设置于所述机台2上的X轴轨道15、滑动配合在所述X轴轨道15上的Z轴轨道16和与所述X轴轨道15成垂直角度且水平设置的Y轴轨道17，所述磨测一体总成5滑动配合在所述Z轴轨道16上，所述应变片置物台3滑动配合在所述Y轴轨道17上。

所述应变片置物台3的数量设置为二个，所述Y轴轨道17的数量设置为两条，两个所述应变片置物台3分别滑动配合在两条所述Y轴轨道17上。

上述应变片研磨调阻系统的研磨调阻方法包括以下步骤：

a、将含有多片待测调阻应变片4的带胶带的待测调阻应变片板十字中心线对齐贴紧定位在所述应变片置物台3上,按下启动按钮，所述应变片置物台3移动到加工工位等待研磨调阻加工；

b、XYZ轴移动台配合带动所述磨测一体总成5移动到待测应变片4的上方，所述测试探针10下降并按触待测应变片的测试点，判断该待测应变片是否需要研磨调阻，如是，则进入步骤c，如否，则进入步骤d；

c、所述研磨电机7带动研磨带8打磨待测应变片，当应变片的阻值接近设定的标准阻值时,降低研磨速度,直到达到标准值后,停止调阻；

d、当检测到待测应变片的阻值与设定的标准阻值一致时，判定该待测应变片为合格品，无需研磨调阻；当检测到待测应变片的阻值低于设定的标准阻值时，判定该待测应变片为NG品；

e、所述磨测一体总成5自动运行到下一个待测应变片的位置,重复步骤b～d，直至待测调阻应变片板整板的待测调阻应变片完成研磨调阻，所述应变片置物台3退出研磨调阻工位。

对于两排待测应变片的测试点交叉设置的待测调阻应变片板，在完成一排待测应变片研磨调阻后，所述应变片置物台3旋转180度, 所述研磨模组对另一排的待测应变片进行研磨调阻。

最后需要强调的是，以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种变化和更改，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种应变片研磨调阻系统，包括电阻测试仪和含有XYZ轴移动台的机台（2），其特征在于：它还包括

至少一个应变片置物台（3），所述应变片置物台（3）设置在所述机台（2）上，待测调阻应变片（4）定位于所述应变片置物台（3）上；

和磨测一体总成（5），所述磨测一体总成（5）设置在所述XYZ轴移动台上；

所述磨测一体总成（5）包括

总成基板（6），

研磨模组，所述研磨模组设置在所述总成基板（6）上，由研磨电机（7）、研磨带（8）和从动研磨轮（9）相互配合组成，

和测试模组，所述测试模组由两根测试探针（10）接通电源及所述电阻测试仪组成；

在所述XYZ轴移动台的作用下，所述磨测一体总成（5）移动到达所述应变片置物台（3）上对待测调阻应变片（4）进行研磨和实时测量阻值，测得的阻值实时反馈到电阻测试仪和位于所述机台（2）内的控制台上。

2.根据权利要求1所述的应变片研磨调阻系统，其特征在于：所述磨测一体总成（5）上还设置有NG标记模块，所述NG标记模块包括为标记笔（11），当所述测试模组检测到待测调阻应变片（4）为NG品时，所述标记笔（11）移动到该NG品上进行标记。

3.根据权利要求1所述的应变片研磨调阻系统，其特征在于：在所述应变片置物台（3）上还设置有自动陶瓷真空吸附平台（12），待测调阻应变片（4）定位于所述自动陶瓷真空吸附平台（12）上。

4.根据权利要求1所述的应变片研磨调阻系统，其特征在于：所述测试探针（10）为具有伸缩功能的测试针。

5.根据权利要求1所述的应变片研磨调阻系统，其特征在于：所述磨测一体总成（5）上还设置有吸尘口（13），所述吸尘口（13）设置于所述研磨模组外围，所述吸尘口（13）的另一端与外围的吸尘器相连通。

6.根据权利要求1所述的应变片研磨调阻系统，其特征在于：所述应变片置物台（3）通过旋转台（14）设置于所述机台（2）上，所述旋转台（14）通过固定于所述机台（2）上的步进电机带动做转动运动。

7.根据权利要求1所述的应变片研磨调阻系统，其特征在于：所述XYZ轴移动台包括横向设置于所述机台（2）上的X轴轨道（15）、滑动配合在所述X轴轨道（15）上的Z轴轨道（16）和与所述X轴轨道（15）成垂直角度且水平设置的Y轴轨道（17），所述磨测一体总成（5）滑动配合在所述Z轴轨道（16）上，所述应变片置物台（3）滑动配合在所述Y轴轨道（17）上。

8.根据权利要求7所述的应变片研磨调阻系统，其特征在于：所述应变片置物台（3）的数量设置为二个，所述Y轴轨道（17）的数量设置为两条，两个所述应变片置物台（3）分别滑动配合在两条所述Y轴轨道（17）上。

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