CN216696405U - 用于芯片制备的石英晶振快速检测治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了用于芯片制备的石英晶振快速检测治具，检测机构包括横板，横板的底部与底座的顶部固定连接，横板的外部设置有出料组件，横板的顶部开设有活动槽，横板的内部贯穿固定连接有检测座，横板的外表面固定连接有电子推杆，本实用新型涉及石英晶振技术领域。该用于芯片制备的石英晶振快速检测治具，通过设置检测机构，电动推杆工作，使得推板推动石英晶振运动，从而使得石英晶振的针脚与检测座上的连接孔相连接，并对弹簧伸缩杆进行压缩，从而当检测完成后通过弹簧伸缩杆的弹力，使得石英晶振脱离与检测座的连接，以方便进行下料，通过上述结构的组合解决了石英晶振由于体积较小导致检测较为不便的问题。

Description

用于芯片制备的石英晶振快速检测治具

技术领域

本实用新型涉及石英晶振技术领域，具体为用于芯片制备的石英晶振快速检测治具。

背景技术

石英晶振也叫石英晶体谐振器，是现代电子和通讯技术中必不可少的频率选择和控制用核心元件；在军事和民用产品中都用广泛的应用，如通信、导航、石英钟表、彩电、计算机及终端设备、各种板卡等。

石英晶振在使用前需要对其进行检测，从而判断其是否能正常进行使用，但是石英晶振的体积较小，导致对其检测较为不便，容易影响石英晶振的使用，因此需要针对上述问题进行解决。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型提供了用于芯片制备的石英晶振快速检测治具，解决了石英晶振由于体积较小导致检测较为不便的问题。

为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：用于芯片制备的石英晶振快速检测治具，包括底座，所述底座的顶部设置有检测机构。

所述检测机构包括横板，所述横板的底部与底座的顶部固定连接，所述横板的外部设置有出料组件，所述横板的顶部开设有活动槽，所述横板的内部贯穿固定连接有检测座，所述横板的外表面固定连接有电子推杆，所述电子推杆的输出端与横板的内部贯穿活动连接，所述电子推杆的输出端与活动槽的内表面滑动连接，所述电子推杆的输出端固定连接有推板，所述推板的外表面与活动槽的内表面滑动连接，所述横板内部的左右两侧均开设有与活动槽相连通的滑槽，所述滑槽的内表面滑动连接有滑板，所述滑板的外表面与活动槽的内表面滑动连接，所述滑板的外表面固定连接有弹簧伸缩杆，所述弹簧伸缩杆的一端与滑槽的内壁固定连接。

优选的，所述出料组件包括滑架和对称设置的出料槽，两个所述出料槽分别开设在横板的内部且呈贯穿状态，所述滑架通过支杆与横板固定连接，所述出料槽的外部设置有出料架。

优选的，所述出料槽的内表面滑动连接有挡板，所述挡板的外表面固定连接有连杆。

优选的，所述滑架的外表面固定连接有伺服电机，所述伺服电机的输出端与滑架的内壁转动连接。

优选的，所述伺服电机的输出端通过联轴器固定连接有丝杆，所述丝杆与滑架的内壁转动连接。

优选的，所述丝杆外表面的左右两侧均贯穿螺纹连接有滑块，两个所述滑块的外表面均与滑架的内壁滑动连接，两个所述滑块的底部均与连杆的顶部固定连接。

有益效果

本实用新型提供了用于芯片制备的石英晶振快速检测治具。与现有技术相比具备以下有益效果：

(1)、该用于芯片制备的石英晶振快速检测治具，通过设置检测机构，通过供料设备将石英晶振放于活动槽内部，且使得石英晶振的针脚朝向检测座，随之电动推杆工作，其输出端伸出推动推板在活动槽内部滑动，使得推板推动石英晶振运动，从而使得石英晶振的针脚与检测座上的连接孔相连接，使得石英晶振通过检测座与外部检测电路相连通进行检测，且石英晶振在活动槽内部运动时推动滑板运动，并对弹簧伸缩杆进行压缩，从而当检测完成后通过弹簧伸缩杆的弹力，使得石英晶振脱离与检测座的连接，以方便进行下料，通过上述结构的组合解决了石英晶振由于体积较小导致检测较为不便的问题。

(2)、该用于芯片制备的石英晶振快速检测治具，通过设置出料组件，当石英晶振检测完成后，电动推杆带动推板复位并脱离对弹簧伸缩杆的挤压，弹簧伸缩杆通过弹力和滑板推动石英晶振反向运动脱离与检测座的连接，并且处于两个挡板之间，伺服电机带动丝杆转动，使得两个滑块同步同向运动，并通过连杆带动两个隔板跟随运动，隔板一侧向活动槽内部滑动，从而将石英晶振通过另一侧的出料槽推入其相对应的出料架内部，从而进行出料，且通过两侧设置出料架，可对合格和不合格的石英晶振进行分别出料，通过上述结构的组合解决了石英晶振由于体积较小导致检测较为不便的问题。

附图说明

图1为本实用新型的外部结构立体图；

图2为本实用新型横板的内部结构拆分图；

图3为本实用新型丝杆的外部结构立体图。

图中：1-底座、2-检测机构、21-横板、22-出料组件、221-滑架、222-出料槽、223-支杆、224-出料架、225-挡板、226-连杆、227-伺服电机、228-丝杆、229-滑块、23-活动槽、24-检测座、25-电子推杆、26-推板、27-滑槽、28-滑板、29-弹簧伸缩杆。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-3，本实用新型提供一种技术方案：用于芯片制备的石英晶振快速检测治具，包括底座1，底座1的顶部设置有检测机构2；检测机构2包括横板21，横板21的底部与底座1的顶部固定连接，横板21的外部设置有出料组件22，横板21的顶部开设有活动槽23，活动槽23的内部尺寸与石英晶振的外部尺寸相适配，横板21的内部贯穿固定连接有检测座24，检测座24与外部检测电路电性连接，且一侧开始与石英晶振针脚尺寸相适配的连接孔(图中未显示)，横板21的外表面固定连接有电子推杆25，电子推杆25与外部控制电路电性连接，电子推杆25的输出端与横板21的内部贯穿活动连接，电子推杆25的输出端与活动槽23的内表面滑动连接，电子推杆25的输出端固定连接有推板26，推板26的外表面与活动槽23的内表面滑动连接，横板21内部的左右两侧均开设有与活动槽23相连通的滑槽27，滑槽27的内表面滑动连接有滑板28，石英晶振的针脚处于两侧滑板28之间，滑板28的外表面与活动槽23的内表面滑动连接，滑板28的外表面固定连接有弹簧伸缩杆29，弹簧伸缩杆29有弹簧和伸缩杆组成，弹簧伸缩杆29的一端与滑槽27的内壁固定连接，出料组件22包括滑架221和对称设置的出料槽222，出料槽222的内部尺寸大于石英晶振的外部尺寸，两个出料槽222分别开设在横板21的内部且呈贯穿状态，滑架221通过支杆223与横板21固定连接，出料槽222的外部设置有出料架224，出料架224的内部尺寸大于石英晶振的外部尺寸，且底部设置有收集装置(图中未显示)，出料槽222的内表面滑动连接有挡板225，挡板225的尺寸与储料槽222的尺寸相适配，两侧挡板225相互靠近的外表面与活动槽23内壁齐平，且通过活动可推动石英晶振出料，挡板225的外表面固定连接有连杆226，滑架221的外表面固定连接有伺服电机227，伺服电机227与外部控制电路电性连接，伺服电机227的输出端与滑架221的内壁转动连接，伺服电机227的输出端通过联轴器固定连接有丝杆228，丝杆228与滑架221的内壁转动连接，丝杆228外表面的左右两侧均贯穿螺纹连接有滑块229，两个滑块229的外表面均与滑架221的内壁滑动连接，两个滑块229的底部均与连杆226的顶部固定连接。

同时本说明书中未作详细描述的内容均属于本领域技术人员公知的现有技术。

工作时，供料设备将石英晶振放于活动槽23内部，且使得石英晶振的针脚朝向检测座24，随之电动推杆25工作，其输出端伸出推动推板26在活动槽23内部滑动，使得推板26推动石英晶振运动，从而使得石英晶振的针脚与检测座24上的连接孔相连接，使得石英晶振通过检测座24与外部检测电路相连通进行检测，且石英晶振在活动槽23内部运动时推动滑板28运动，并对弹簧伸缩杆29进行压缩，当石英晶振检测完成后，电动推杆25带动推板26复位并脱离对弹簧伸缩杆29的挤压，弹簧伸缩杆29通过弹力和滑板28推动石英晶振反向运动脱离与检测座24的连接，并且处于两个挡板225之间，伺服电机227带动丝杆228转动，使得两个滑块229同步同向运动，并通过连杆226带动两个隔板225跟随运动，隔板225一侧向活动槽23内部滑动，从而将石英晶振通过另一侧的出料槽22推入其相对应的出料架224内部，从而进行出料，且通过两侧设置出料架224，可对合格和不合格的石英晶振进行分别出料，通过上述操作从而可以快速完成石英晶振的检测，且可进行连续检测。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.用于芯片制备的石英晶振快速检测治具，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的顶部设置有检测机构(2)；

所述检测机构(2)包括横板(21)，所述横板(21)的底部与底座(1)的顶部固定连接，所述横板(21)的外部设置有出料组件(22)，所述横板(21)的顶部开设有活动槽(23)，所述横板(21)的内部贯穿固定连接有检测座(24)，所述横板(21)的外表面固定连接有电子推杆(25)，所述电子推杆(25)的输出端与横板(21)的内部贯穿活动连接，所述电子推杆(25)的输出端与活动槽(23)的内表面滑动连接，所述电子推杆(25)的输出端固定连接有推板(26)，所述推板(26)的外表面与活动槽(23)的内表面滑动连接，所述横板(21)内部的左右两侧均开设有与活动槽(23)相连通的滑槽(27)，所述滑槽(27)的内表面滑动连接有滑板(28)，所述滑板(28)的外表面与活动槽(23)的内表面滑动连接，所述滑板(28)的外表面固定连接有弹簧伸缩杆(29)，所述弹簧伸缩杆(29)的一端与滑槽(27)的内壁固定连接。

2.根据权利要求1所述的用于芯片制备的石英晶振快速检测治具，其特征在于：所述出料组件(22)包括滑架(221)和对称设置的出料槽(222)，两个所述出料槽(222)分别开设在横板(21)的内部且呈贯穿状态，所述滑架(221)通过支杆(223)与横板(21)固定连接，所述出料槽(222)的外部设置有出料架(224)。

3.根据权利要求2所述的用于芯片制备的石英晶振快速检测治具，其特征在于：所述出料槽(222)的内表面滑动连接有挡板(225)，所述挡板(225)的外表面固定连接有连杆(226)。

4.根据权利要求3所述的用于芯片制备的石英晶振快速检测治具，其特征在于：所述滑架(221)的外表面固定连接有伺服电机(227)，所述伺服电机(227)的输出端与滑架(221)的内壁转动连接。

5.根据权利要求4所述的用于芯片制备的石英晶振快速检测治具，其特征在于：所述伺服电机(227)的输出端通过联轴器固定连接有丝杆(228)，所述丝杆(228)与滑架(221)的内壁转动连接。

6.根据权利要求5所述的用于芯片制备的石英晶振快速检测治具，其特征在于：所述丝杆(228)外表面的左右两侧均贯穿螺纹连接有滑块(229)，两个所述滑块(229)的外表面均与滑架(221)的内壁滑动连接，两个所述滑块(229)的底部均与连杆(226)的顶部固定连接。

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