CN216669792U - 一种智能仓储系统x射线计数和内部缺陷检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及物料检测技术领域，特别涉及一种智能仓储系统X射线计数和内部缺陷检测装置，包括第一直线模组、X射线发射机构、同步带模组、第二直线模组和X射线接收机构，X射线发射机构滑动安装于第一直线模组上，X射线接收机构滑动安装于第二直线模组上，同步带模组驱动托盘，托盘位于X射线发射机构下方且位于X射线接收机构的上方。本实用新型通过同步带模组驱动托盘带动料盘进出X射线发射机构与X射线接收机构之间以对物料进行点料与检测；通过第一直线模组驱动X射线发射机构上下滑动以对物料成像倍率进行放大缩小，通过第二直线模组用于驱动X射线接收机构上下滑动以对料盘内物料成像接收倍率进行放大缩小，实现内部缺陷检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及物料检测技术领域，特别涉及一种智能仓储系统X射线计数和内部缺陷检测装置。
背景技术
随着工业的高速发展，形形色色的电子产品广泛应用于人们的生活当中。电子产品大多使用电路板控制，而电路板则是由PCB(Printed Circuit Board印刷电路板及安装在PCB板上的各种电容、电阻等电子元器件组成。其安装技术主要采用高速SMT(SurfacMounted Technology)表面贴装技术，在此安装技术中，电容、电阻等电子元器件使用率非常高，因此SMT生产企业对电子元器件等物料的更新统计要求更加精确，对产品的内部缺陷检测也有很大的需求。
常规的对物料(PCB板)进行点料的方式是将料盘中的物料带拉出，经过电子计数器来统计料盘中物料数量，由于一盘电子料数量高达20000个，需要较长时间才能完成、耗时耗力；此外，市面上还出现了采用X射线计数的技术，其是将料盘透视成像，提取物料轮廓，分析出物料数量，点料时长不超过15秒，同时，为了进一步提升点料效率，通常是在一个托盘放上摆放多盘物料，通过一次透视成像，可以同时分别统计出每一盘的物料的数量。
但是现有的点料机无法对电子元器件、电子组件、LED元件等内部缺陷进行检测。
实用新型内容
本实用新型解决了相关技术中点料机无法对电子元器件、电子组件、LED元件等内部缺陷进行检测的问题，提出一种智能仓储系统X射线计数和内部缺陷检测装置，通过同步带模组驱动托盘带动料盘进出X射线发射机构与X射线接收机构之间以对料盘内物料进行点料与检测；通过第一直线模组驱动X射线发射机构上下滑动以对料盘内物料成像倍率进行放大缩小，通过第二直线模组用于驱动X射线接收机构上下滑动以对料盘内物料成像接收倍率进行放大缩小，从而对内部缺陷进行检测。
为了解决上述技术问题，本实用新型是通过以下技术方案实现的：一种智能仓储系统X射线计数和内部缺陷检测装置，包括第一直线模组、X射线发射机构、同步带模组、第二直线模组和X射线接收机构，所述X射线发射机构滑动安装于第一直线模组上，所述X射线接收机构滑动安装于第二直线模组上，所述同步带模组驱动托盘，所述托盘位于X射线发射机构的下方且位于X射线接收机构的上方。
作为优选方案，所述托盘顶部设置有若干放料位，各所述放料位上均放置有料盘。
作为优选方案，还包括扫码枪和打标机，所述扫码枪和打标机均安装于机架上。
作为优选方案，还包括指纹采集器和辐射测试仪，所述指纹采集器和辐射测试仪均布置于机架的桌面上。
作为优选方案，所述第一直线模组和第二直线模组均安装于机架上且位于同一条竖直线上。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型通过同步带模组驱动托盘带动料盘进出X射线发射机构与X射线接收机构之间以对料盘内物料进行点料与检测；通过第一直线模组驱动X射线发射机构上下滑动以对料盘内物料成像倍率进行放大缩小，通过第二直线模组用于驱动X射线接收机构上下滑动以对料盘内物料成像接收倍率进行放大缩小，从而对内部缺陷进行检测。
附图说明
图1是本实用新型的整体结构示意图；
图2是本实用新型去除机架后的结构示意图。
图中：
1、第一直线模组，2、X射线发射机构，3、同步带模组，4、托盘，5、扫码枪，6、打标机，7、指纹采集器，8、辐射测试仪，9、第二直线模组，10、X射线接收机构，11、机架。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本实用新型及其应用或使用的任何限制。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本实用新型的范围。同时，应当明白，为了便于描述，附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为授权说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有示例中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它示例可以具有不同的值。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
在本实用新型的描述中，需要理解的是，方位词如“前、后、上、下、左、右”、“横向、竖向、垂直、水平”和“顶、底”等所指示的方位或位置关系通常是基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，在未作相反说明的情况下，这些方位词并不指示和暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位或者以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型保护范围的限制；方位词“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内外。
为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“在……之上”、“在……上方”、“在……上表面”、“上面的”等，用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是，空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的器件被倒置，则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而，示例性术语“在……上方”可以包括“在……上方”和“在……下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位)，并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。
此外，需要说明的是，使用“第一”、“第二”等词语来限定零部件，仅仅是为了便于对相应零部件进行区别，如没有另行声明，上述词语并没有特殊含义，因此不能理解为对本实用新型保护范围的限制。
如图1至2所示，一种智能仓储系统X射线计数和内部缺陷检测装置，包括第一直线模组1、X射线发射机构2、同步带模组3、第二直线模组9和X射线接收机构10，X射线发射机构2滑动安装于第一直线模组1上，则第一直线模组1驱动X射线发射机构2上下滑动以对物料成像倍率进行放大缩小；X射线接收机构10滑动安装于第二直线模组9上，第二直线模组9驱动X射线接收机构10上下滑动以对物料成像接收倍率进行放大缩小，从而对物料内部缺陷进行检测；同步带模组3驱动托盘4，托盘4位于X射线发射机构2的下方且位于X射线接收机构10的上方，则同步带模组3驱动托盘4带动料盘进出X射线发射机构2与X射线接收机构10之间以对托盘4内物料进行点料与检测。
在一个实施例中，托盘4顶部设置有若干放料位，待检测物料(如电子元器件、电子组件、LED元件等)放置于料盘内，然后将料盘连同内部的待检测物料一起放置于各放料位上。
在一个实施例中，还包括扫码枪5和打标机6，扫码枪5和打标机6均安装于机架11上，扫码枪5用于物料的扫码，打标机6用于给物料打标。
在一个实施例中，还包括指纹采集器7和辐射测试仪8，指纹采集器7和辐射测试仪8均布置于机架11的桌面上。
在一个实施例中，第一直线模组1和第二直线模组9均安装于机架11上且位于同一条竖直线上。
以上为本实用新型较佳的实施方式，本实用新型所属领域的技术人员还能够对上述实施方式进行变更和修改，因此，本实用新型并不局限于上述的具体实施方式，凡是本领域技术人员在本实用新型的基础上所作的任何显而易见的改进、替换或变型均属于本实用新型的保护范围。
Claims (5)
1.一种智能仓储系统X射线计数和内部缺陷检测装置，其特征在于：包括第一直线模组(1)、X射线发射机构(2)、同步带模组(3)、第二直线模组(9)和X射线接收机构(10)，所述X射线发射机构(2)滑动安装于第一直线模组(1)上，所述X射线接收机构(10)滑动安装于第二直线模组(9)上，所述同步带模组(3)驱动托盘(4)，所述托盘(4)位于X射线发射机构(2)的下方且位于X射线接收机构(10)的上方。
2.根据权利要求1所述的智能仓储系统X射线计数和内部缺陷检测装置，其特征在于：所述托盘(4)顶部设置有若干放料位，各所述放料位上均放置有料盘。
3.根据权利要求1所述的智能仓储系统X射线计数和内部缺陷检测装置，其特征在于：还包括扫码枪(5)和打标机(6)，所述扫码枪(5)和打标机(6)均安装于机架(11)上。
4.根据权利要求1所述的智能仓储系统X射线计数和内部缺陷检测装置，其特征在于：还包括指纹采集器(7)和辐射测试仪(8)，所述指纹采集器(7)和辐射测试仪(8)均布置于机架(11)的桌面上。
5.根据权利要求1所述的智能仓储系统X射线计数和内部缺陷检测装置，其特征在于：所述第一直线模组(1)和第二直线模组(9)均安装于机架(11)上且位于同一条竖直线上。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202123001627.3U CN216669792U (zh) | 2021-12-02 | 2021-12-02 | 一种智能仓储系统x射线计数和内部缺陷检测装置 |
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| CN202123001627.3U CN216669792U (zh) | 2021-12-02 | 2021-12-02 | 一种智能仓储系统x射线计数和内部缺陷检测装置 |
Publications (1)
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ID=81787100
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Country Status (1)
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| CN (1) | CN216669792U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117288785A (zh) * | 2023-09-25 | 2023-12-26 | 无锡日联科技股份有限公司 | 一种在线型x射线自动计数设备及计数方法 |
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2021
- 2021-12-02 CN CN202123001627.3U patent/CN216669792U/zh active Active
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