CN216284212U - 一种光纤宏弯测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种光纤宏弯测试装置,包括第一轮组、第二轮组、左侧夹持机构和右侧夹持机构,第一轮组与第二轮组呈竖直方向设置,第一轮组和第二轮组分别用于缠绕安装光纤,且第一轮组和第二轮组上均设置有至少两种不同直径轮子,左侧夹持机构和右侧夹持机构分别设置于第一轮组两侧,左侧夹持机构和右侧夹持机构用于固定光纤端部。被测光纤一端固定在左侧加持机构上,另一端从第一轮组最内端开始缠绕,由里向外、由上至下依次缠绕每个轮子,从第二轮组结束,被测光纤另一端固定在右侧加持机构上,测出打圈状态下光纤的衰减;将光纤的缠绕部分水平放置,测出光纤水平放置状态下的衰减,获得第一轮组和第二轮组宏弯后的宏弯损耗。
Description
技术领域
本实用新型涉及光纤测试设备技术领域,特别涉及一种光纤宏弯测试装置。
背景技术
随着网络时代大发展,互联网在人们生活中扮演着越来越重要的角色,互联网的应用则直接和网线关系密切,且随着科技的发展,网线则为现在的光纤为主。
由于在应用过程中现场环境的影响,光纤必然会发生弯曲,以绕过不能通过的墙体或建筑,而光纤在弯曲时则会产生宏弯损耗,导致光纤性能下降,严重时影响用户互联网的正常使用,因此,光纤在出厂之前都需要进行宏弯测试,来保证光纤的标志、质量要求。
目前,按照光纤的宏弯测试要求,需要将光纤绕成不同直径的圈进行宏弯测试,现在的方法是测试人员将光纤直接绕到不同直径的金属棒上进行测试,目前的测试方法,由于是人工将光纤进行环绕,测试人员手动将光纤直接绕到不同直径的金属棒上进行测试,故测试效率低,且不同人员的绕制的松紧程度不同,导致测试误差较大。
因此,如何解决人工手动环绕光纤导致光纤宏弯测试误差大的问题,是本领域技术人员亟待解决的技术问题。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种光纤宏弯测试装置,通过自动化装置对光纤进行重力方法绕圈,解决人工手动环绕光纤导致光纤宏弯测试误差大的问题。
为解决上述技术问题,本实用新型提供一种光纤宏弯测试装置,包括第一轮组、第二轮组、左侧夹持机构和右侧夹持机构,所述第一轮组与所述第二轮组呈竖直方向设置,所述第一轮组和所述第二轮组分别用于缠绕安装光纤,且所述第一轮组和所述第二轮组上均设置有至少两种不同直径轮子,所述左侧夹持机构和所述右侧夹持机构分别设置于所述第一轮组两侧,所述左侧夹持机构和所述右侧夹持机构用于固定所述光纤端部。
优选地,所述第一轮组包括第一大号轮、第一中号轮和第一小号轮,所述第一中号轮位于所述第一大号轮外端部,所述第一小号轮位于所述第一中号轮外端部。
优选地,所述第二轮组包括第二大号轮、第二中号轮和第二小号轮,所述第二中号轮位于所述第二大号轮外端部,所述第二小号轮位于所述第二中号轮外端部,且所述第二大号轮与所述第一大号轮呈竖直分布,所述第二中号轮与所述第一中号轮呈竖直分布,所述第二小号轮与所述第一小号轮呈竖直分布。
优选地,所述第一大号轮和所述第二大号轮的数量为8~16个。
优选地,所述第一大号轮和所述第二大号轮的直径为30mm。
优选地,所述第一中号轮和所述第二中号轮的数量为1个。
优选地,所述第一中号轮和所述第二中号轮的直径为20mm。
优选地,所述第一小号轮和所述第二小号轮的数量为1个。
优选地,所述第一小号轮和所述第二小号轮的直径为15mm。
本实用新型所提供的光纤宏弯测试装置,包括第一轮组、第二轮组、左侧夹持机构和右侧夹持机构,第一轮组与第二轮组呈竖直方向设置,第一轮组和第二轮组分别用于缠绕安装光纤,且第一轮组和第二轮组上均设置有至少两种不同直径轮子,左侧夹持机构和右侧夹持机构分别设置于第一轮组两侧,左侧夹持机构和右侧夹持机构用于固定光纤端部。被测光纤的一端固定在左侧加持机构上,另一端从第一轮组的最内端开始缠绕,由里向外、由上至下依次缠绕每个轮子,最后从第二轮组结束,然后,被测光纤的另一端固定在右侧加持机构上,由此方法测出打圈状态下光纤的衰减M1;然后,将光纤的缠绕部分水平放置,测出光纤水平放置状态下的衰减N1,将M1-N1就是光纤在第一轮组和第二轮组宏弯后的宏弯损耗。使用重力方法进行绕圈,光纤在每次测试时受力相同,能够保持测试数据的一致性,便于进行自动化测试,提高测试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本实用新型所提供的一种具体实施方式的整体结构示意图;
图2为图1所示的第一轮组和第二轮组的侧视图。
其中,图1-图2中:
第一轮组—1,第一大号轮—11,第一中号轮—12,第一小号轮—13,第二轮组—2,第二大号轮—21,第二中号轮—22,第二小号轮—23,左侧夹持机构—3,右侧夹持机构—4,光纤—5。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参考图1和图2,图1为本实用新型所提供的一种具体实施方式的整体结构示意图;图2为图1所示的第一轮组和第二轮组的侧视图。
在本实用新型所提供的一种具体实施方式中,主要包括第一轮组1、第二轮组2、左侧夹持机构3和右侧夹持机构4,第一轮组1与第二轮组2呈竖直方向设置,第一轮组1和第二轮组2分别用于缠绕安装光纤5,且第一轮组1和第二轮组2上均设置有至少两种不同直径轮子,左侧夹持机构3和右侧夹持机构4分别设置于第一轮组1两侧,左侧夹持机构3和右侧夹持机构4用于固定光纤5端部。
其中,第一轮组1和第二轮组2用于对光纤5进行宏弯缠绕,左侧夹持机构3和右侧夹持机构4用于固定光纤5。
具体的,在实际的应用过程当中,被测光纤5的一端固定在左侧加持机构3上,另一端从第一轮组1的最内端开始缠绕,由里向外、由上至下依次缠绕每个轮子,最后从第二轮组2结束,然后,被测光纤5的另一端固定在右侧加持机构4上,由此方法测出打圈状态下光纤5的衰减M1;然后,将光纤5的缠绕部分水平放置,测出光纤5水平放置状态下的衰减N1,将M1-N1就是光纤5在第一轮组1和第二轮组2宏弯后的宏弯损耗。
在上述实施例的基础之上,作为一种优选,第一轮组1包括第一大号轮11、第一中号轮12和第一小号轮13,第一中号轮12位于第一大号轮11外端部,第一小号轮13位于第一中号轮12外端部;第二轮组2包括第二大号轮21、第二中号轮22和第二小号轮23,第二中号轮22位于第二大号轮21外端部,第二小号轮23位于第二中号轮22外端部,且第二大号轮21与第一大号轮11呈竖直分布,第二中号轮22与第一中号轮12呈竖直分布,第二小号轮23与第一小号轮13呈竖直分布。需要说明的是,第一大号轮11、第一中号轮12和第一小号轮13的直径不同,第二大号轮21、第二中号轮22和第二小号轮23直径不同,第一大号轮11和第二大号轮21直径相同,第一中号轮12和第二中号轮22直径相同,第一小号轮13和第二小号轮2直径相同,大号轮、中号轮、小号轮分别测试光纤5不同宏弯状态下的损耗情况,大号轮测试方法:被测光纤5一端固定在左侧加持机构3上,另一端从第一轮组1最里面的第一大号轮11开始缠绕,从第二轮组2结束,由里向外、由上至下依次绕过第一轮组1和第二轮组2的每个轮子,把被测光纤5另一端固定在右侧夹持机构4上,由此方法测出打圈状态下光纤5的1550nm、1625nm衰减M1;将被测光纤5的缠绕部分水平放置,测出此状态下光纤5的1550nm、1625nm衰减N1,M1-N1便是该光纤在第一轮组1和第二轮组2大号轮圈项目下的宏弯损耗;同样地,利用上述方法可以测量光纤5在第一轮组1和第二轮组2中号轮圈以及小号轮圈项目下的宏弯损耗。
在上述实施例的基础之上,作为一种优选,第一大号轮11和第二大号轮21的数量为8~16个;第一大号轮11和第二大号轮21的直径为30mm。需要说明的是,第一大号轮11和第二大号轮21的数量相同,具体个数可以根据光纤5宏弯测试需求来确定,光纤5宏弯测试要求较高时,可以适当增加第一大号轮11和第二大号轮21的数量,例如15个,当光纤5宏弯测试要求较低时,可以适当减少第一大号轮11和第二大号轮21的数量,例如9个,以实际要求为准,在此不做限定;另外,第一大号轮11和第二大号轮21的直径也可以进行相应调整,在此不做赘述。
在上述实施例的基础之上,作为一种优选,第一中号轮12和第二中号轮22的数量为1个;第一中号轮12和第二中号轮22的直径为20mm。需要说明的是,第一中号轮12和第二中号轮22的数量相同且为1个,但是第一中号轮12和第二中号轮22的直径可进行相应调整。
在上述实施例的基础之上,作为一种优选,第一小号轮13和第二小号轮23的数量为1个;第一小号轮13和第二小号轮23的直径为15mm。第一小号轮13和第二小号轮23的直径为20mm。需要说明的是,第一小号轮13和第二小号轮23的数量相同且为1个,但是第一小号轮13和第二小号轮23的直径可进行相应调整。
综上所述,本实施例所提供的光纤宏弯测试装置主要包括第一轮组、第二轮组、左侧夹持机构和右侧夹持机构,第一轮组与第二轮组呈竖直方向设置,第一轮组和第二轮组分别用于缠绕安装光纤,且第一轮组和第二轮组上均设置有至少两种不同直径轮子,左侧夹持机构和右侧夹持机构分别设置于第一轮组两侧,左侧夹持机构和右侧夹持机构用于固定光纤端部。被测光纤的一端固定在左侧加持机构上,另一端从第一轮组的最内端开始缠绕,由里向外、由上至下依次缠绕每个轮子,最后从第二轮组结束,然后,被测光纤的另一端固定在右侧加持机构上,由此方法测出打圈状态下光纤的衰减M1;然后,将光纤的缠绕部分水平放置,测出光纤水平放置状态下的衰减N1,将M1-N1就是光纤在第一轮组和第二轮组宏弯后的宏弯损耗。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (9)
1.一种光纤宏弯测试装置,其特征在于,包括第一轮组(1)、第二轮组(2)、左侧夹持机构(3)和右侧夹持机构(4),所述第一轮组(1)与所述第二轮组(2)呈竖直方向设置,所述第一轮组(1)和所述第二轮组(2)分别用于缠绕安装光纤(5),且所述第一轮组(1)和所述第二轮组(2)上均设置有至少两种不同直径轮子,所述左侧夹持机构(3)和所述右侧夹持机构(4)分别设置于所述第一轮组(1)两侧,所述左侧夹持机构(3)和所述右侧夹持机构(4)用于固定所述光纤(5)端部。
2.根据权利要求1所述的光纤宏弯测试装置,其特征在于,所述第一轮组(1)包括第一大号轮(11)、第一中号轮(12)和第一小号轮(13),所述第一中号轮(12)位于所述第一大号轮(11)外端部,所述第一小号轮(13)位于所述第一中号轮(12)外端部。
3.根据权利要求2所述的光纤宏弯测试装置,其特征在于,所述第二轮组(2)包括第二大号轮(21)、第二中号轮(22)和第二小号轮(23),所述第二中号轮(22)位于所述第二大号轮(21)外端部,所述第二小号轮(23)位于所述第二中号轮(22)外端部,且所述第二大号轮(21)与所述第一大号轮(11)呈竖直分布,所述第二中号轮(22)与所述第一中号轮(12)呈竖直分布,所述第二小号轮(23)与所述第一小号轮(13)呈竖直分布。
4.根据权利要求3所述的光纤宏弯测试装置,其特征在于,所述第一大号轮(11)和所述第二大号轮(21)的数量为8~16个。
5.根据权利要求4所述的光纤宏弯测试装置,其特征在于,所述第一大号轮(11)和所述第二大号轮(21)的直径为30mm。
6.根据权利要求3所述的光纤宏弯测试装置,其特征在于,所述第一中号轮(12)和所述第二中号轮(22)的数量为1个。
7.根据权利要求6所述的光纤宏弯测试装置,其特征在于,所述第一中号轮(12)和所述第二中号轮(22)的直径为20mm。
8.根据权利要求3所述的光纤宏弯测试装置,其特征在于,所述第一小号轮(13)和所述第二小号轮(23)的数量为1个。
9.根据权利要求8所述的光纤宏弯测试装置,其特征在于,所述第一小号轮(13)和所述第二小号轮(23)的直径为15mm。
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