CN219870226U - 一种光纤宏弯损耗测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种光纤宏弯损耗测试装置，包括底座；第一光纤盘，其转动设置在所述底座上，所述第一光纤盘盘绕有待测光纤；芯轴，其转动设置在所述底座上，所述第一光纤盘的直径大于所述芯轴的直径；所述芯轴设有计数器，所述计数器记录芯轴的旋转次数；所述待测光纤的端部伸出且所述待测光纤的主体有间隔地盘绕在所述芯轴上；检测仪，所述检测仪依次连接所述第一光纤盘的待测光纤的所述端部以及盘绕在所述芯轴上的所述待测光纤的所述端部；通过检测仪分别对第一光纤盘与芯轴的待测光纤进行宏弯损耗测试，再取其差值的测试方式实现对芯轴上的待测光纤的宏弯损耗测试，装置操作简单灵活，精准度高，有效提高工作效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及光纤宏弯损耗测试技术领域，尤其是指一种光纤宏弯损耗测试装置。
背景技术
光纤由于抗干扰能力强、质量轻、体积小、耐腐蚀、电绝缘性好、安全可靠等优点在光纤通信和光纤传感领域内发展迅速。在实际使用过程中，光纤很容易发生弯曲导致产生宏弯损耗，这是造成光在光纤中传播时所产生的总衰减的最主要原因之一。
宏弯损耗是由光纤实际应用中经必要的盘绕、曲折等引起的宏观弯曲而导致的光功率的损耗，光束在光纤的直或平的部分与光纤的轴线成临界传播角；但是同一光束射到光纤弯曲部分的边界处所形成的传播角大于临界值。其结果就是在弯曲的光纤中不能满足全内反射条件，这也就意味着光束的一部分会从光纤的纤芯中逃离出去，所以，到达目的地的光功率比从光源发出的进入光纤时的光功率小，由此可见，宏弯损耗对长距离的光信号传输非常不利，因此对光纤的宏弯损耗进行测试，了解光纤的宏弯损耗性能，对光纤通信具有重要意义。
发明内容
为此，本实用新型所要解决的技术问题在于克服现有技术中宏弯损耗测试结果不精准的问题，进而提供一种光纤宏弯损耗测试装置，有效提高了宏弯损耗的测试精度，装置结构简单，操作性强。
为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种光纤宏弯损耗测试装置，包括
底座。
第一光纤盘，其转动设置在所述底座上，所述第一光纤盘盘绕有待测光纤。
芯轴，其转动设置在所述底座上，所述第一光纤盘的直径大于所述芯轴的直径；所述芯轴设有计数器，所述计数器记录芯轴的旋转次数；所述待测光纤的端部伸出且所述待测光纤的主体有间隔地盘绕在所述芯轴上。
检测仪，所述检测仪依次连接所述第一光纤盘的待测光纤的所述端部以及盘绕在所述芯轴上的所述待测光纤的所述端部。
在本实用新型的一个实施例中，所述芯轴设有螺旋轨道，所述待测光纤盘绕设置在所述螺旋轨道内。
在本实用新型的一个实施例中，还包括连接纤，所述检测仪通过所述连接纤连接所述端部，所述连接纤的两端分别连接所述检测仪与所述端部。
在本实用新型的一个实施例中，还包括光纤连接器，所述光纤连接器分别连接所述端部与所述连接纤。
在本实用新型的一个实施例中，还包括第二光纤盘，所述连接纤的主体盘绕在所述第二光纤盘上。
在本实用新型的一个实施例中，所述芯轴设有摇臂，所述摇臂围绕所述的芯轴的轴心旋转。
在本实用新型的一个实施例中，还包括多个固定贴，所述固定贴用于固定盘绕在所述芯轴上的所述待测光纤。
在本实用新型的一个实施例中，所述第一光纤盘与所述芯轴正对设置。
在本实用新型的一个实施例中，所述底座设有多个支架，所述第一光纤盘与所述芯轴承托在所述支架上。
在本实用新型的一个实施例中，还包括多个限位盘，多个所述限位盘分别设置在所述第一光纤盘的两端和所述第二光纤盘的两端。
本实用新型的上述技术方案相比现有技术具有以下优点：
本实用新型所述的一种光纤宏弯损耗测试装置，包括底座；第一光纤盘，其转动设置在所述底座上，所述第一光纤盘盘绕有待测光纤；芯轴，其转动设置在所述底座上，所述第一光纤盘的直径大于所述芯轴的直径；所述芯轴设有计数器，所述计数器记录芯轴的旋转次数；所述待测光纤的端部伸出且所述待测光纤的主体有间隔地盘绕在所述芯轴上；检测仪，所述检测仪依次连接所述第一光纤盘的待测光纤的所述端部以及盘绕在所述芯轴上的所述待测光纤的所述端部；将待测光纤盘绕在芯轴上模拟光纤实际工作环境的弯折情况；检测仪先对第一光纤盘的待测光纤进行测试，排除光纤盘绕在第一光纤盘上所带来的的误差，再对芯轴的待测光纤进行宏弯损耗测试，取两者差值实现对芯轴上的待测光纤的宏弯损耗测试，排除其他因素的干扰，提升了测试精度，装置操作简单灵活，提高了工作效率。
附图说明
为了使本实用新型的内容更容易被清楚的理解，下面根据本实用新型的具体实施例并结合附图，对本实用新型作进一步详细的说明，其中
图1为本实用新型优选实施例中测试宏弯损耗装置的结构示意图。
图2为图1所示的测试宏弯损耗装置的第一光纤盘与检测仪的结构示意图。
图3为图1所示的测试宏弯损耗装置的摇臂的结构示意图。
图4为图1所示的测试宏弯损耗装置的芯轴的结构示意图。
说明书附图标记说明：1、底座；2、支架；3、摇臂；4、固定环；5、芯轴；6、待测光纤；7、计数器；8、底座；9、支架；10、待测光纤；11、限位盘；12、第一光纤盘；13、螺栓13；14、固定贴；15、检测仪15；16、连接纤；17、光纤连接器；18、螺纹轨道。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本实用新型并能予以实施，但所举实施例不作为对本实用新型的限定。
实施例
在本实用新型的一个实施例中，参照图1所示，本实用新型的一种光纤宏弯损耗测试装置，包括底座1，底座1分成方形的第一底座和第二底座，底座1中间设有操作空间，以便人员进行安装、测试等操作。
在本实用新型的一个实施例中，参照图1所示，第一光纤盘12，其转动设置在所述第一底座上且设置为圆柱形，第一光纤盘12盘绕有足够长的待测光纤；第一光纤盘12的直径相对于光纤使用过程中发生的弯折的直径大，以至可以认为盘绕在第一光纤盘12上的待测光纤6的状态接近平直状态，此时，对第一光纤盘12上的待测光纤6的宏弯损耗的测试值为平直状态的宏弯损耗值。
在本实用新型的一个实施例中，参照图1所示，芯轴5，其转动设置在第二底座1上且设置为圆柱形；第一光纤盘12转动，所述待测光纤6的端部伸出，待测光纤6的伸出的部分主体盘绕在所述芯轴5上，一般情况下，在芯轴的直径为60mm的情况下，待测光纤6需盘绕100圈；待测光纤6的自由端部留有一定长度，以备测试；芯轴5的直径有15mm、20mm、30mm、60mm，应对不同分测试条件；所述芯轴5设有计数器7，计数器7可以对的芯轴5的旋转次数进行统计然后显示，通过计数器7可以统计出待测光纤6在芯轴5上的盘绕圈数；盘绕在芯轴5上的待测光纤6可以模拟光纤在正常使用的情况下发生弯曲、弯折的的状态。
在本实用新型的一个实施例中，参照图1所示，检测仪15，检测仪15为光时域反射仪，光时域反射仪是测试光纤衰减、损耗的试验设备；所述检测仪15与盘绕在所述芯轴5上的所述待测光纤6的端部连接，光时域反射仪可直接测试光纤的宏弯损耗值并直接显示出来。
在本实用新型的一个实施例中，参照图1和4所示，所述芯轴5的表面设有至少100圈的螺旋轨道18，所述待测光纤6盘绕设置在所述螺旋轨道18内，一圈光纤对应一圈螺纹轨道18，盘绕在芯轴5上的光纤的直径相等，且不重叠；当芯轴5转动时，待测光纤6可以自动沿着螺纹盘绕进入螺旋轨道18内，确保待测光纤6与芯轴5连接紧凑，也有效提高盘绕光纤的工作效率。
在本实用新型的一个实施例中，参照图1所示，还包括连接纤16,所述连接纤16的两端分别连接所述检测仪15与所述端部；连接纤16也是一段长度在1km～2km之间的光纤，连接纤16的作用是避开光纤的衰减盲区和事件盲区，通过待测光纤6的光源进入检测仪15之前先经过连接纤16，排除衰减盲区和事件盲区因素的干扰，提高测试精准度。
在本实用新型的一个实施例中，参照图1所示，光纤连接器17，所述光纤连接器17设置在所述端部与所述连接纤16的连接处，其目的是连接连接纤16与待测光纤6的端部，减少光源经过接口时功率减小以至对测试结果产生影响；光纤连接器可以是冷接光纤连接器；也可以是热熔连接方式的设备，使用光纤熔接机对连接纤16和被光纤的端部进行热熔并加以热缩管进行固定。
在本实用新型的一个实施例中，参照图1所示，还包括用于收集、装纳连接纤16的第二光纤盘，第二光纤盘的直径远大于芯轴5的直径，连接纤16盘绕在第二光纤盘上的状态的宏弯损耗接近连接纤16平直状态下的宏弯损耗，即连接纤16盘绕在第二光纤盘上的宏弯损耗对测试结果不影响。
在本实用新型的一个实施例中，参照图1和3所示，所述芯轴5设有摇臂3，其由锁紧螺栓13、固定环4、铁棒焊接而成；所述摇臂3围绕所述的芯轴5的轴心旋转，摇臂3可较精准的控制对芯轴5的转动角度，进而精准控制待测光纤6在芯轴5上的盘绕圈数；摇臂3设置为金属结构，金属结构强度高，结构稳定。
在本实用新型的一个实施例中，参照图1所示，还包括多个固定贴14，所述固定贴14用于固定盘绕在所述芯轴5上的所述待测光纤6的两侧，确保待测光纤6贴紧芯轴5，进一步提高测试精准度；固定贴14为透明胶，使用简便灵活，成本低。
在本实用新型的一个实施例中，参照图1所示，所述第一光纤盘12与所述芯轴5正对设置，以便第一光纤盘12的待测光纤6传递到芯轴5上的，且所述第一光纤盘12的直径大于所述芯轴5的直径，盘绕在第一光纤盘12上的光纤的状态接近光纤平直的状态，即盘绕在第一光纤盘12的待测光纤6的宏弯损耗接近光纤正常状态下的宏弯损耗。
在本实用新型的一个实施例中，参照图1所示，所述底座1设有多个支撑架，多个支撑架正对设置，支撑架顶部设置为“凹”字型结构，所述第一光纤盘12与所述芯轴5的两端均承托在所述支架2的为“凹”字型结构上，第一光纤盘12与芯轴5在“凹”字型结构上转动。
在本实用新型的一个实施例中，参照图1所示，还包括多个限位盘11，多个所述限位盘11分别设置在所述第一光纤盘12和所述第二光纤盘两端，限位盘11的作用是限位光纤的盘绕位置，避免光纤脱落第一光纤盘12和所述第二光纤盘。
本实用新型所述一种光纤宏弯损耗测试装置的工作原理是：
通过测试数据汇总计算待测光纤6在直的状态下的宏弯损耗和被测光纤在弯曲状态下的宏弯损耗的差值；待测光纤6盘绕在芯轴5上模拟光纤实际工作环境的弯折情况；光时域反射仪通过连接纤16直接与第一光纤盘12上的待测光纤6的端部连接，测试结果得到光纤在直的状态下的宏弯损耗；再将第一光纤盘12上的待测光纤6伸出到芯轴5上，转动摇臂3带动芯轴5转动使得待测光纤6在芯轴5的螺纹轨道18盘绕100圈，并用固定贴14贴紧待测光纤6与芯轴5连接处，光时域反射仪通过连接纤16直接与芯轴5上的待测光纤6的端部直接连接，测试结果得到光纤在弯曲状态下的宏弯损耗，通过设置连接纤，排除衰减盲区与事件盲区的的干扰，有效提高了宏弯损耗的测试精准度，本实用新型结构简单，操作方便。
显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引申出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型创造的保护范围之中。
Claims (10)
1.一种光纤宏弯损耗测试装置，其特征在于，包括，
底座；
第一光纤盘，其转动设置在所述底座上，所述第一光纤盘盘绕有待测光纤；
芯轴，其转动设置在所述底座上，所述第一光纤盘的直径大于所述芯轴的直径；所述芯轴设有计数器，所述计数器记录芯轴的旋转次数；所述待测光纤的端部伸出且所述待测光纤的主体有间隔地盘绕在所述芯轴上；
检测仪，所述检测仪依次连接所述第一光纤盘的待测光纤的所述端部以及盘绕在所述芯轴上的所述待测光纤的所述端部。
2.根据权利要求1所述的一种光纤宏弯损耗测试装置，其特征在于，所述芯轴设有螺旋轨道，所述待测光纤盘绕设置在所述螺旋轨道内。
3.根据权利要求1所述的一种光纤宏弯损耗测试装置，其特征在于，还包括连接纤，所述检测仪通过所述连接纤连接所述端部，所述连接纤的两端分别连接所述检测仪与所述端部。
4.根据权利要求3所述的一种光纤宏弯损耗测试装置，其特征在于，还包括光纤连接器，所述光纤连接器分别连接所述端部与所述连接纤。
5.根据权利要求3所述的一种光纤宏弯损耗测试装置，其特征在于，还包括第二光纤盘，所述连接纤的主体盘绕在所述第二光纤盘上。
6.根据权利要求1所述的一种光纤宏弯损耗测试装置，其特征在于，所述芯轴设有摇臂，所述摇臂围绕所述的芯轴的轴心旋转。
7.根据权利要求1所述的一种光纤宏弯损耗测试装置，其特征在于，还包括多个固定贴，所述固定贴用于固定盘绕在所述芯轴上的所述待测光纤。
8.根据权利要求1所述的一种光纤宏弯损耗测试装置，其特征在于，所述第一光纤盘与所述芯轴正对设置。
9.根据权利要求1所述的一种光纤宏弯损耗测试装置，其特征在于，所述底座设有多个支架，所述第一光纤盘与所述芯轴承托在所述支架上。
10.根据权利要求5所述的一种光纤宏弯损耗测试装置，其特征在于，还包括多个限位盘，多个所述限位盘分别设置在所述第一光纤盘的两端和所述第二光纤盘的两端。
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