CN216055102U - 一种小型化腔体滤波器及其调试工装 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种小型化腔体滤波器及其调试工装,其中,腔体滤波器包括腔体及设置在腔体内部的谐振片,腔体的顶部和底部均盖设有调试盖板,所述调试盖板上具有若干调试点,每个调试点处均具有调试组件,调试工装通过激光器在调试组件上开设不同口径的通孔或改变调试组件上开孔区域的大小,来达到调振目的,并具体通过修改对应调试盖板位置上的开孔区域大小及位置,改变调试盖板到谐振片的距离,来改变其电容值,使腔体滤波器频率变化,直至达到需求的频率值,本实用新型的腔体滤波器将不再需要调式螺钉及螺母,可降低高度,而且由于调试盖板上不需放置调螺,板厚也可减薄。重量可减轻,降本增效更加显著。
Description
技术领域
本实用新型属于腔体滤波器技术领域,具体涉及一种小型化腔体滤波器及其调试工装。
背景技术
滤波器是一种典型的频率选择装置,它能够有效的抑制无用信号,使其不能通过滤波器,只有有用信号顺利通过滤波器,因此,滤波器性能的优劣直接影响到整个通信系统的质量,是现代微波、毫米波通信系统中至关重要的器件。
腔体滤波器是一种非常重要的滤波器,与其他性质的滤波器比较,结构牢固,性能稳定可靠,体积小,Q值适中,高端寄生通带较远而且散热性能好,可用于较大功率和频率。然而,腔体滤波器对机械公差非常敏感,因此在最终的装配过程中,如果不单独进行性能测试调整,就无法达到设计的电气指标。
如图1所示,为传统双路滤波器分解图,主要部件由腔体1、谐振器9、调试盖板3以及调谐螺杆8组成。目前,传统滤波器在调试时,通过调节滤波器各调试点处调试螺杆出入盖板的深度,然后通过网分反馈调试结果,软件判断需要调式的调式点和调式方向与程度,反复迭代完成调式。通常一路滤波器上有十只左右调试螺钉,通过人工或机械调式时间较长,占用大比例生产成本。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型的目的是提供一种不再需要调式螺杆及螺母且调试简单的小型化腔体滤波器及其调试工装。
为了达到上述目的,本实用新型所采用的技术方案是:一种小型化腔体滤波器,包括腔体及设置在腔体内部的谐振片,腔体的顶部和底部均盖设有调试盖板,所述调试盖板上具有若干调试点,每个调试点处均具有调试组件,通过在调试组件上开设不同口径的通孔或改变调试组件上开孔区域的大小可实现对滤波器性能的调节。
进一步的,所述调试组件为贯穿调试盖板设置的调试孔,通过改变调试孔开孔区域的大小来实现对滤波器的性能进行调节。
进一步的,所述调试盖板在调试孔的内缘一体设置有向腔体的内部倾斜设置的调试面,通过对调试面的自由端进行调整来达到改变调试孔开孔区域大小的目的。
进一步的,所述调试组件为与调试盖板一体设置的锥台,该锥台位于腔体的内部,通过在锥台的内部开设不同口径的通孔来实现对滤波器的性能进行调整。
进一步的,所述调试组件与锥台的大口径端相连。
本实用新型的调试工装,包括:
激光器,用于在调试组件上开设不同口径的通孔或改变调试组件上开孔区域的大小;
滤波器本体,该滤波器本体为上述的小型化腔体滤波器。
进一步的,还包括用于对调试过程中产生的杂屑进行吸收的吸气装置。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:本实用新型在腔体滤波器的调试盖板上预留若干调试点,每个调试点处均具有调试组件,调试工装通过激光器在调试组件上开设不同口径的通孔或改变调试组件上开孔区域的大小,来达到调振目的,并具体通过修改对应调试盖板位置上的开孔区域大小及位置,改变调试盖板到谐振片的距离,来改变其电容值,使腔体滤波器频率变化,直至达到需求的频率值,本实用新型的腔体滤波器将不再需要调式螺钉及螺母,可降低高度,而且由于调试盖板上不需放置调螺,板厚也可减薄。重量可减轻,降本增效更加显著。
附图说明
图1是传统双路滤波器的分解图;
图2是实施例1中腔体滤波器的结构示意图;
图3是图2沿A-A向的剖视图;
图4是调试孔开孔区域的大小改变前后的示意图;
图5是实施例2中腔体滤波器的结构示意图;
图6是图5沿C-C向的剖视图;
图7是调试面的自由端调整前后的示意图;
图8是实施例3中腔体滤波器的结构示意图;
图9是图8沿A-A向的剖视图;
图10是锥台的内部在开孔前后的示意图;
图中标记:1、腔体,2、谐振片,3、调试盖板,4、调试点,5、调试孔,6、调试面,7、锥台,8、调谐螺杆,9、谐振器。
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本实用新型中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例,基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
实施例1
如图2和图3所示,一种小型化腔体滤波器,包括腔体1及设置在腔体内部的谐振片2,腔体的顶部和底部均盖设有调试盖板3,所述调试盖板上具有若干调试点4,每个调试点处均具有调试组件。
本实施例中,所述调试组件为贯穿调试盖板设置的调试孔5,通过改变调试孔开孔区域的大小来实现对滤波器的性能进行调节,调试孔开孔区域的大小改变前后的示意图如图4所示。
实施例2
如图5和图6所示,一种小型化腔体滤波器,本实施例与实施例1的区别在于:所述调试盖板3在调试孔5的内缘一体设置有向腔体的内部倾斜设置的调试面6,通过对调试面的自由端进行调整来达到改变调试孔开孔区域大小的目的,调试面6的自由端调整前后的示意图如图7所示。
实施例3
如图8和图9所示,一种小型化腔体滤波器,包括腔体1及设置在腔体内部的谐振片2,腔体的顶部和底部均盖设有调试盖板3,所述调试盖板上具有若干调试点4,每个调试点处均具有调试组件。
所述调试组件为与调试盖板3一体设置的锥台7,该锥台位于腔体的内部,通过在锥台的内部开设不同口径的通孔来实现对滤波器的性能进行调整,锥台7的内部在开孔前后的示意图如图10所示。
进一步的,所述调试组件与锥台的大口径端相连。
本实用新型还公开了一种调试工装,包括:
激光器,用于在调试组件上开设不同口径的通孔或改变调试组件上开孔区域的大小;
滤波器本体,该滤波器本体为上述的小型化腔体滤波器。
还包括用于对调试过程中产生的杂屑进行吸收的吸气装置。
本实用新型调试工装的的调试方式为:在调试盖板3上预留若干调试点4,每个调试点处均具有调试组件,调试组件分别为调式孔5、调试面6或锥台7,激光器以调试盖板3上的调式点4为基本点,对调试盖板的开孔区域大小及位置蚀刻达到调振目的,并具体通过修改对应谐振片位置的盖板上区域大小及位置,改变盖板到谐振片的距离,来改变其电容值,使腔体滤波器的频率变化,直至达到需求的频率值。
在调试过程中,还设置有吸气装置,可有效吸收调试中的杂屑,保证调试稳定性。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (7)
1.一种小型化腔体滤波器,包括腔体及设置在腔体内部的谐振片,腔体的顶部和底部均盖设有调试盖板,其特征在于:所述调试盖板上具有若干调试点,每个调试点处均具有调试组件,通过在调试组件上开设不同口径的通孔或改变调试组件上开孔区域的大小可实现对滤波器性能的调节。
2.根据权利要求1所述的一种小型化腔体滤波器,其特征在于:所述调试组件为贯穿调试盖板设置的调试孔,通过改变调试孔开孔区域的大小来实现对滤波器的性能进行调节。
3.根据权利要求2所述的一种小型化腔体滤波器,其特征在于:所述调试盖板在调试孔的内缘一体设置有向腔体的内部倾斜设置的调试面,通过对调试面的自由端进行调整来达到改变调试孔开孔区域大小的目的。
4.根据权利要求1所述的一种小型化腔体滤波器,其特征在于:所述调试组件为与调试盖板一体设置的锥台,该锥台位于腔体的内部,通过在锥台的内部开设不同口径的通孔来实现对滤波器的性能进行调整。
5.根据权利要求4所述的一种小型化腔体滤波器,其特征在于:所述调试组件与锥台的大口径端相连。
6.调试工装,其特征在于,包括:
激光器,用于在调试组件上开设不同口径的通孔或改变调试组件上开孔区域的大小;
滤波器本体,该滤波器本体为权利要求1-5任一项所述的一种小型化腔体滤波器。
7.根据权利要求6所述的调试工装,其特征在于,还包括用于对调试过程中产生的杂屑进行吸收的吸气装置。
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