CN216052049U - 一种电源芯片的自动测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种电源芯片的自动测试装置，涉及芯片测试装置技术领域，包括工作台，所述工作台上转动连接有一转动架，所述转动架上设置有多个夹持组件，所述夹持组件包括滑动设置在安装板上的第一夹持板及第二夹持板所述第一夹持板与第二夹持板之间设置有第一弹簧，所述第一夹持板滑动通过传动组件带动第二夹持板滑动，所述工作台上设有用于测试芯片本体的测试组件。通过工作台、转动架、夹持组件、安装板、第一夹持板、第二夹持板、第一弹簧、传动组件之间的配合，第一夹持板通过传动组件带动第二夹持板滑动，利用第一弹簧的弹力作用使得第一夹持板与第二夹持板靠近，防止在测试过程中芯片出现晃动的情况，高该测试装置的实用性。

Description

一种电源芯片的自动测试装置

技术领域

本实用新型涉及芯片测试装置技术领域，具体为一种电源芯片的自动测试装置。

背景技术

随着移动互联网、云计算、物联网、大数据等新兴产业的增长，电子信息产业进入了新的发展阶段。控制、通信、人机交互和网络互联等融入了大量的新兴的电子技术，设备功能越来越复杂，系统集成度越来越复杂。新兴电子信息技术的发展依赖与半导体产业的不断推动，因此，芯片作为一项核心技术，其使用变得越来越频繁和重要，芯片一般指集成电路载体，由晶圆分隔而成，亦指集成电路经过设计、制造、封装、测试后的结果，在完成芯片大批量生产后，需要对芯片的基本功能进行检测，以此来挑选出不合格的芯片，从而保留合格的芯片。

现有电源芯片的自动测试装置，如申请号为CN201820766260.3名称为“一种电源芯片的自动测试装置”的中国专利，公开了一种芯片自动测试装置，包括装置本体，所述装置本体包括传送机构和测试机构，所述传送机构包括下底板，所述下底板上设有上底板，所述上底板上设有第一铰接座，芯片载板通过所述第一铰接座与所述上底板可转动的相连接，所述芯片载板上设有放置槽，所述放置槽内放置待测芯片，所述芯片载板的一端设有拉杆，所述拉杆的一侧设有第二铰接座，连接杆通过所述第二铰接座与所述拉杆可转动的相连接，本实用新型通过机械结构进行待测芯片的自动化测试，测试效率高，降低了人工劳动强度，稳定性和可靠性好，保证了测试准确度，同时减低了工厂企业的生产和开发成本，安装和维护都非常便捷。

现有技术的不足之处在于：现有的芯片检测装置中，没有装置对芯片的位置进行固定，在检测过程中芯片可能会出现晃动的情况，从而影响芯片的检测结果。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种电源芯片的自动测试装置，以解决上述现有技术中的不足之处。

为了实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种电源芯片的自动测试装置，包括工作台，所述工作台上转动连接有一转动架，所述转动架上设置有多个夹持组件，每个夹持组件通过安装板安装在转动架上，所述夹持组件包括滑动设置在安装板上的第一夹持板及第二夹持板，所述芯片本体夹持在第一夹持板与第二夹持板之间，所述第一夹持板与第二夹持板之间设置有第一弹簧，所述第一夹持板滑动通过传动组件带动第二夹持板滑动，所述工作台上设有用于测试芯片本体的测试组件。

进一步地，所述安装板内部开设有驱动槽，所述传动组件安装在驱动槽内部，所述传动组件包括第一传动杆及第二传动杆，所述第一传动杆转动连接在第一夹持板底部，所述第二传动杆转动连接在第二夹持板底部，所述驱动槽内部转动连接有一轴杆，所述轴杆上转动连接有一连接杆，所述第一传动杆远离第一夹持板转动连接在连接杆的一端，所述第二传动杆远离第二夹持板的一端转动连接在连接杆的另一端，所述第一夹持板及第二夹持板上均设置有拉手槽。

进一步地，所述转动架上设置有多个安装槽，每个所述安装槽内均滑动设置有一安装块，多个所述安装板分别与对应的安装块固定连接，每个所述安装槽与对应的安装块之间均设置有锁止机构。

进一步地，所述锁止机构包括套杆，所述安装槽侧壁上开设有一固定槽，所述套杆安装在固定槽内，所述套杆 内滑动设置有一卡接杆，所述卡接杆与套杆之间设置有第二弹簧，所述安装块上开设有一卡接槽，所述第二弹簧的弹力驱使卡接杆卡接在卡接槽内，所述安装块竖直向上开设有滑槽。

进一步地，所述工作台内部开设有一凹槽，所述凹槽内安装有一驱动电机，所述驱动电机转动轴上固定连接有一转动杆，所述转动杆转动连接在工作台上，所述转动杆远离驱动电机的一端与转动架固定连接。

进一步地，所述工作台上开设有限位槽，所述转动杆上固定连接有仪限位环，所述限位环转动连接在限位槽内。

进一步地，所述工作台上转动连接有一固定架，所述固定架上固定连接有一电动推杆，所述测试组件与电动推杆固定连接。

进一步地，所述工作台底部固定连接有多个支撑腿，每个所述支撑腿底部均设置有橡胶垫。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：通过工作台、转动架、夹持组件、安装板、第一夹持板、第二夹持板、第一弹簧、传动组件之间的配合，在工作过程中第一夹持板通过传动组件带动第二夹持板滑动，利用第一弹簧的弹力作用使得第一夹持板与第二夹持板靠近，便可以将芯片本体固定，防止在测试过程中芯片出现晃动的情况，从而影响测试结果，提高该测试装置的实用性。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的整体结构示意图；

图2为本实用新型实施例提供的整体剖视结构示意图；

图3为本实用新型实施例提供的转动架与驱动电机连接方式结构示意图；

图4为本实用新型实施例提供的安装槽与安装块安装位置结构示意图；

图5为本实用新型实施例提供的安装板与夹持组件连接方式结构示意图；

图6为本实用新型实施例提供的夹持组件结构示意图；

图7为本实用新型实施例提供的传动组件结构示意图；

图8为图4中A区域放大结构示意图。

附图标记说明：1、工作台；2、转动架；3、凹槽；4、驱动电机；5、安装板；6、夹持组件；601、第一夹持板；602、第二夹持板；603、第一弹簧；604、传动组件；6041、第一传动杆；6042、第二传动杆；6043、连接杆；6044、轴杆；605、拉手槽；7、芯片本体；8、安装块；9、锁止机构；901、套杆；902、卡接杆；903、第二弹簧；904、卡接槽；905、滑槽；10、安装槽；1001、固定槽；11、转动杆；12、固定架；13、电动推杆；14、测试组件；15、支撑腿；16、橡胶垫；17、限位槽；18、限位环。

具体实施方式

为了使本领域的技术人员更好地理解本实用新型的技术方案，下面将结合附图对本实用新型作进一步的详细介绍。

请参阅图1-8，本实用新型实施例提供的一种电源芯片的自动测试装置，包括工作台1，工作台1上转动连接有一转动架2，转动架2上设置有多个夹持组件6，每个夹持组件6通过安装板5安装在转动架2上，夹持组件6包括滑动设置在安装板5上的第一夹持板601及第二夹持板602，芯片本体7夹持在第一夹持板601与第二夹持板602之间，第一夹持板601与第二夹持板602之间设置有第一弹簧603，第一夹持板601滑动通过传动组件604带动第二夹持板602滑动，工作台1上设有用于测试芯片本体7的测试组件14。

具体的，该电源芯片自动测试装置，包括有工作台1，在工作台1上转动连接有一个转动架2，在转动架2上设置有多个夹持组件6，芯片本体7设置在夹持组件6之间，通过转动架2带动夹持组件6转动，进而带动夹持组件6上的芯片本体1转动，转动至测试组件14底部进行检测；夹持组件6包括第一夹持板601及第二夹持板602，芯片本体1设置在第一夹持板601与第二夹持板602之间，第一夹持板601与第二夹持板602之间设置有第一弹簧603，其中第一弹簧603的数量可以为两个，分别分布在第一夹持板601及第二夹持板602的两侧，第一弹簧603的弹力驱使第一夹持板601及第二夹持板602相互靠近，进而夹持芯片本体7，将芯片本体7固定；在第一夹持板601与第二夹持板602之间设置有一个传动组件604，驱动第一夹持板601通过传动组件604带动第二夹持板602滑动，反之亦可，操作简单方便，便于夹持与拆卸芯片本体7；其中传动组件604具体可以为正反螺纹杆，第一夹持板601及第二夹持板602分别螺纹连接在正反螺纹杆的两侧，需要调节第一夹持板601与第二夹持板602之间的距离时，通过转动正反螺纹杆，进而带动第一夹持板601与第二夹持板602相向滑动，便于安装与拆卸芯片本体7，提高该该电源芯片自动测试装置的实用性；测试组件14用于测试夹持组件6上的芯片本体7，其中测试组件14为现有技术，在此便不再赘述。

安装板5内部开设有驱动槽，传动组件604安装在驱动槽内部，传动组件604包括第一传动杆6041及第二传动杆6042，第一传动杆6041转动连接在第一夹持板601底部，第二传动杆6042转动连接在第二夹持板602底部，驱动槽内部转动连接有一轴杆6044，轴杆6044上转动连接有一连接杆6043，第一传动杆6041远离第一夹持板601转动连接在连接杆6043的一端，第二传动杆6042远离第二夹持板602的一端转动连接在连接杆6043的另一端，第一夹持板601及第二夹持板602上均设置有拉手槽605。

优选的，本实用新型提供的另一种实施例：参阅图7，传动组件604通过驱动槽安装槽安装板5内部，第一传动杆6041转动连接在第一夹持板601底部，第二传动杆6042转动连接在第二夹持板602底部，连接杆6043的一端转动连接第一传动杆6041远离第一夹持板601的一端，另一端转动连接在第二传动杆6042远离第二夹持板602的一端，轴杆6044转动连接在连接杆6043中心位置；需要安装芯片本体7时，通过拉手槽605向远离第二夹持板602的一端驱动第一夹持板601，第一夹持板601滑动的同时带动第一传动杆6041滑动的同时转动，第一传动杆6041转动驱动连接杆6043转动，连接杆6043转动带动第二传动杆6042转动，进而带动第二夹持板602滑动，最终实现第一夹持板601与第二夹持板602相向运动，第一夹持板601与第二夹持板602之间的空间变大，便可以安装芯片本体7，在安装芯片本体7后，松开第一夹持板601后，第一弹簧603恢复弹力的过程带动第一夹持板601与第二夹持板602相互靠近，便可以将芯片本体7固定，防止在测试过程芯片晃动，从而影响测试效果，提高该该电源芯片自动测试装置的实用性；芯片本体7的拆卸过程与之相反，在此便不再赘述。

转动架2上设置有多个安装槽10，每个安装槽10内均滑动设置有一安装块8，多个安装板5分别与对应的安装块8固定连接，每个安装槽10与对应的安装块8之间均设置有锁止机构9。

优选的，转动架2上设置有多个安装槽10，安装板5通过安装块8滑动设置在安装槽10内，便于安装板5的安装以及后期的拆卸，在安装槽10与安装块8之间设置有锁止机构9，对安装板5进行固定，防止在工作的过程中安装板5出现脱落的情况，提高该该电源芯片自动测试装置的实用性。

锁止机构9包括套杆901，安装槽10侧壁上开设有一固定槽1001，套杆901安装在固定槽1001内，套杆901内滑动设置有一卡接杆902，卡接杆902与套杆901之间设置有第二弹簧903，安装块8上开设有一卡接槽904，第二弹簧903的弹力驱使卡接杆902卡接在卡接槽904内，安装块8竖直向上开设有滑槽905。

优选的，参阅图5，套杆901安装在固定槽1001内部，卡接杆902滑动设置在套杆901内部，在滑动的同时挤压第二弹簧903，第二弹簧903的弹力驱使卡接杆902卡接在卡接槽904内部时，便将安装块8锁止，安装块8竖直向上开设有滑槽905，在安装块8进行安装时，卡接杆902竖直向上滑动设置在滑槽905内部；在需要安装安装块8时，安装块8向下滑动时进行挤压卡接杆902，卡接杆902在套杆901内滑动，滑动的同时挤压第二弹簧903，在卡接杆902滑动至卡接槽904位置后，第二弹簧903恢复弹力过程带动卡接杆902卡接进卡接槽904内部，便将安装块8锁止，进而将安装板5锁止，提高在测试过程中芯片本体7的稳定性，提高该电源芯片自动测试装置的实用性。

工作台1内部开设有一凹槽3，凹槽3内安装有一驱动电机4，驱动电机4转动轴上固定连接有一转动杆11，转动杆11转动连接在工作台1上，转动杆11远离驱动电机4的一端与转动架2固定连接。

优选的，在工作台1内部设置有凹槽3，凹槽3内部设置有驱动电机4，其中驱动电机4具体为慢速电机，为转动架2转动提供驱动力，转动杆11与转动架2固定连接，驱动电机4转动轴与转动杆11固定连接，驱动电机4转动带动转动杆11转动，进而带动转动架2转动，便于测试组件14进行测试作业，在工作台1上设置有传感器，传感器目的在于控制驱动电机4的转动与停止，当转动架2上的芯片本体1转动至测试组件14底部时，传感器控制驱动电机4停止转动，在设定的时间内，驱动电机4再次启动，带动转动架2继续转动，循环往复工作，提高该该电源芯片自动测试装置的工作效率。

工作台1上开设有限位槽17，转动杆11上固定连接有仪限位环18，限位环18转动连接在限位槽17内。

优选的，通过限位环18在限位槽17内转动，提高转动架2转动时的稳定性。

工作台1上转动连接有一固定架12，固定架12上固定连接有一电动推杆13，测试组件14与电动推杆13固定连接。

优选的，通过在工作台1上转动连接有固定架12，固定架12转动带动测试组件14转动，在不需要使用测试组件14后，可以将厕所组件14转动到一侧，通过设置电动推杆13，便于调节测试组件14的高度，进而可以适用于更多的工作环境，提高该电源芯片自动测试装置的实用性。

工作台1底部固定连接有多个支撑腿15，每个支撑腿15底部均设置有橡胶垫16。

优选的，通过支撑腿15与橡胶垫16之间的配合，能够提高该电源芯片自动测试装置的稳定性。

工作原理：该电源芯片自动测试装置的稳定性，实用性首先将芯片本体7安装至夹持组件6之间，需要安装芯片本体7时，通过拉手槽605向远离第二夹持板602的一端驱动第一夹持板601，第一夹持板601滑动的同时带动第一传动杆6041滑动的同时转动，第一传动杆6041转动驱动连接杆6043转动，连接杆6043转动带动第二传动杆6042转动，进而带动第二夹持板602滑动，最终实现第一夹持板601与第二夹持板602相向运动，第一夹持板601与第二夹持板602之间的空间变大，便可以安装芯片本体7，在安装芯片本体7后，松开第一夹持板601后，第一弹簧603恢复弹力的过程带动第一夹持板601与第二夹持板602相互靠近，便可以将芯片本体7固定，防止在测试过程芯片晃动，从而影响测试效果；然后将安装板5通过安装块8安装至安装槽10内部，在需要安装安装块8时，安装块8向下滑动时进行挤压卡接杆902，卡接杆902在套杆901内滑动，滑动的同时挤压第二弹簧903，在卡接杆902滑动至卡接槽904位置后，第二弹簧903恢复弹力过程带动卡接杆902卡接进卡接槽904内部，便将安装块8锁止；然后启动驱动电机4，驱动电机4转动轴转动带动转动杆11转动，进而带动转动架2转动，再利用电动推杆13进行调节测试组件14的高度，进行测试芯片本体7，提高该该电源芯片自动测试装置的实用性

以上只通过说明的方式描述了本实用新型的某些示范性实施例，毋庸置疑，对于本领域的普通技术人员，在不偏离本实用新型的精神和范围的情况下，可以用各种不同的方式对所描述的实施例进行修正。因此，上述附图和描述在本质上是说明性的，不应理解为对本实用新型权利要求保护范围的限制。

Claims (8)

1.一种电源芯片的自动测试装置，包括工作台（1），其特征在于：所述工作台（1）上转动连接有一转动架（2），所述转动架（2）上设置有多个夹持组件（6），每个夹持组件（6）通过安装板（5）安装在转动架（2）上；

所述夹持组件（6）包括滑动设置在安装板（5）上的第一夹持板（601）及第二夹持板（602），所述芯片本体（7）夹持在第一夹持板（601）与第二夹持板（602）之间；

所述第一夹持板（601）与第二夹持板（602）之间设置有第一弹簧（603），所述第一夹持板（601）滑动通过传动组件（604）带动第二夹持板（602）滑动；

所述工作台（1）上设有用于测试芯片本体（7）的测试组件（14）。

2.根据权利要求1所述的一种电源芯片的自动测试装置，其特征在于：所述安装板（5）内部开设有驱动槽，所述传动组件（604）安装在驱动槽内部；

所述传动组件（604）包括第一传动杆（6041）及第二传动杆（6042），所述第一传动杆（6041）转动连接在第一夹持板（601）底部，所述第二传动杆（6042）转动连接在第二夹持板（602）底部，所述驱动槽内部转动连接有一轴杆（6044），所述轴杆（6044）上转动连接有一连接杆（6043）；

所述第一传动杆（6041）远离第一夹持板（601）转动连接在连接杆（6043）的一端，所述第二传动杆（6042）远离第二夹持板（602）的一端转动连接在连接杆（6043）的另一端；

所述第一夹持板（601）及第二夹持板（602）上均设置有拉手槽（605）。

3.根据权利要求1所述的一种电源芯片的自动测试装置，其特征在于：所述转动架（2）上设置有多个安装槽（10），每个所述安装槽（10）内均滑动设置有一安装块（8），多个所述安装板（5）分别与对应的安装块（8）固定连接；

每个所述安装槽（10）与对应的安装块（8）之间均设置有锁止机构（9）。

4.根据权利要求3所述的一种电源芯片的自动测试装置，其特征在于：所述锁止机构（9）包括套杆（901），所述安装槽（10）侧壁上开设有一固定槽（1001），所述套杆（901）安装在固定槽（1001）内，所述套杆（901） 内滑动设置有一卡接杆（902），所述卡接杆（902）与套杆（901）之间设置有第二弹簧（903）；

所述安装块（8）上开设有一卡接槽（904），所述第二弹簧（903）的弹力驱使卡接杆（902）卡接在卡接槽（904）内；

所述安装块（8）竖直向上开设有滑槽（905）。

5.根据权利要求1所述的一种电源芯片的自动测试装置，其特征在于：所述工作台（1）内部开设有一凹槽（3），所述凹槽（3）内安装有一驱动电机（4），所述驱动电机（4）转动轴上固定连接有一转动杆（11），所述转动杆（11）转动连接在工作台（1）上，所述转动杆（11）远离驱动电机（4）的一端与转动架（2）固定连接。

6.根据权利要求5所述的一种电源芯片的自动测试装置，其特征在于：所述工作台（1）上开设有限位槽（17），所述转动杆（11）上固定连接有仪限位环（18），所述限位环（18）转动连接在限位槽（17）内。

7.根据权利要求1所述的一种电源芯片的自动测试装置，其特征在于：所述工作台（1）上转动连接有一固定架（12），所述固定架（12）上固定连接有一电动推杆（13），所述测试组件（14）与电动推杆（13）固定连接。

8.根据权利要求1所述的一种电源芯片的自动测试装置，其特征在于：所述工作台（1）底部固定连接有多个支撑腿（15），每个所述支撑腿（15）底部均设置有橡胶垫（16）。

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