CN216036866U - 抛光度分析仪布米机构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种抛光度分析仪布米机构，包括安装架、振动器和振动米斗，其技术要点是：振动米斗的底面为平面，振动米斗的一侧设有倾斜向下的导流口，导流口下方承接有米粒流动盘，米粒流动盘倾斜布置，米粒流动盘的上表面均匀设有沿其长度方向延伸的长条形通槽组，米粒流动盘的下表面设有加热器，振动米斗的侧壁上设有海绵支撑体，振动米斗的上方悬设有下米管组件，下米管组件的下端边缘与海绵支撑体上表面贴合，下米管组件固定有硅胶垫且硅胶垫向导流口延伸，硅胶垫末端与振动米斗底面之间留有出米间隙。本机构解决了现有布米机构不适于分析仪实现长期连续监测的问题，实现连续均匀布米，显著提高分析仪检测精度，同时故障率低，制作成本低。
Description
技术领域
本实用新型涉及大米等米粒加工精度检测设备，具体涉及一种抛光度分析仪布米机构。
背景技术
随着人们生活水平不断提高，人们对大米等农作物的品质和口感提出了更高的要求，品质优良、外表晶莹光滑的精米受到人们的普遍青睐。因此，大米抛光是大米精加工工艺流程中必不可少的一道工序。大米抛光是指糙米经过多机碾白后，去除碎米和糠片，经喷雾着水、润米后，进入抛光机的抛光室内，在一定的压力和温度下，通过摩擦使米粒表面上光。通过抛光处理，不仅可以清除米粒表面浮糠，还起到使米粒表面淀粉预糊化和胶质化的作用，淀粉糊化弥补裂纹，从而获得色泽晶莹光洁的外观质量，提高大米的储藏性能和实用品质。
抛光度分析仪是用来检测大米等米粒抛光度的设备，其主要由布米机构和检测机构组成，其中，布米机构是先行装置，是决定检测精度的前提条件，但现有的布米机构在工作过程中存在如下问题：1、均匀布米性不足，会存在叠粒的情况，降低了分析仪的检测精度；2、通常是布米机构在水平的承载面上方往复移动布米，然后承载面通过振动器振动使米粒再均匀分布，最后图像检测机构采集图像后，承载面翻转倒米，布米机构再次布米，这种工作方式需要多个驱动机构作辅助，布米效率低，且故障率高；3、布米和图像采集不能同时进行，则不适于连续性布料检测，布米量有限，不适于分析仪实现长期连续监测；4、随米粒落于承载面上方的米垢容易附着于承载面，积累过多后无法轻易卸除，影响后期检测结果。
发明内容
本实用新型的目的是为了一种结构合理、使用可靠的抛光度分析仪布米机构，解决现有布米机构不适于分析仪实现长期连续监测的问题，实现连续均匀布米，显著提高分析仪检测精度，同时故障率低，制作成本低。
本实用新型的技术方案是：
一种抛光度分析仪布米机构，包括安装架、设于安装架上的振动器、与振动器连接的振动米斗，其技术要点是：所述振动米斗的底面为平面，振动米斗的一侧设有倾斜向下的导流口，所述导流口下方承接有米粒流动盘，所述米粒流动盘倾斜布置，米粒流动盘的上表面均匀设有沿其长度方向延伸的长条形通槽组，米粒流动盘的下表面设有加热器，所述振动米斗的侧壁上设有海绵支撑体，振动米斗的上方悬设有下米管组件，所述下米管组件的下端边缘与海绵支撑体上表面贴合，所述下米管组件朝向导流口侧固定有硅胶垫且硅胶垫向导流口延伸，所述硅胶垫末端与振动米斗底面之间留有出米间隙。
上述的抛光度分析仪布米机构，所述下米管组件包括下米管、与下米管下端连接且与支撑海绵体接触的底座、固定于下米管外侧的定位法兰，所述底座与振动米斗的侧壁和底面之间形成半包围落米区域，半包围落米区域的敞口侧朝向导流口，所述硅胶垫与底座连接固定，所述定位法兰用于与布米机构所在分析仪框架连接固定。
上述的抛光度分析仪布米机构，所述振动器包括振动器主体、固定于振动器主体上的前、后支板、固定于前、后支板顶端的支撑台，所述前、后支板采用塑性材料制成，所述振动米斗的底部焊接有过渡连接架，所述过渡连接架底部与支撑台连接固定，所述振动器主体底部与安装架上表面之间设有多个缓冲弹簧。
上述的抛光度分析仪布米机构，所述米粒流动盘与水平面的夹角为20°～40°，米粒流动盘底部两侧分别设有角度调节支座，布米机构所在分析仪框架对应角度调节支座的位置设有翻转支撑座，所述角度调节支座为直角座，其一面与米粒流动盘连接固定，另一面设有弧形调节孔和与弧形调节孔弧心重合的定位轴孔，所述翻转支撑座为直角座，其一面与分析仪框架连接固定，另一面设有与弧形调节孔配合的长连接孔Ⅰ和与定位轴孔配合的长连接孔Ⅱ，所述弧形调节孔和长连接孔Ⅰ利用螺栓副连接固定，所述定位轴孔和长连接孔Ⅱ利用螺栓副连接固定。
上述的抛光度分析仪布米机构，所述加热器为电加热片，所述米粒流动盘利用夹板将电加热片夹持固定于其下表面，所述夹板上设有对应电加热片接线位置的避让口。
上述的抛光度分析仪布米机构，所述导流口的末端与米粒流动盘相距1mm-1.5mm，所述米粒流动盘两侧设有侧挡墙，以避免米粒流动过程中由流动盘侧方落下。
上述的抛光度分析仪布米机构，所述米粒流动盘上的长条形通槽组的各个长条形通槽的底面为弧面，相邻两个长条形通槽之间的隔断部顶面为圆滑过渡面。
上述的抛光度分析仪布米机构，所述长条形通槽组的各个长条形通槽的长度与米粒流动盘的长度相等，长条形通槽的顶部开口宽度为3.5mm，相邻两个长条形通槽的间距为1.5mm。
上述的抛光度分析仪布米机构，所述长条形通槽的槽底弧面的半径为R2.5mm。
上述的抛光度分析仪布米机构，所述安装架由安装板、设于安装板两侧的连接架组成，所述缓冲弹簧位于振动器主体与安装板之间，所述连接架用于与布米机构所在分析仪框架连接固定。
本实用新型的有益效果是：
1、通过振动器产生的振动，不断落入振动米斗中的米粒连续均匀的通过导流口下落至倾斜布置的米粒流动盘上方，在此过程中，可以通过调节振动器的振幅，控制大米单位时间内的米流量，而米粒流动盘上表面的长条形通槽组有利于大米流向检测机构过程中均匀分布，从而提高检测精度；另这种连续下落的布米结构使米粒不间断的通过预先设置好的检测机构，解决了现有布米机构不能满足分析仪长期连续监测需求的问题。
2、与现有布米机构相比，振动米斗设于安装架上，米粒流动盘在布米过程中无需移动，无需配置驱动机构等，则故障率低，制作成本低。
3、通过在米粒流动盘下表面增设加热器，使附着的米垢不板结，加热变软后由后序的米粒冲落，实现较好的自洁效果。
4、由于下米管组件的下端边缘与海绵支撑体上表面贴合，则保证了下米管组件与振动米斗之间无间隙连接，避免了米粒下落过程中有流失，同时海绵支撑体的结构特性，使振动米斗振动的振动幅度不受下米管组件的位置影响，保证振动效果。
5、由于在下米管组件朝向导流口侧设置了硅胶垫，使振动米斗在振动过程时，落入的米粒不会蹦出米斗，可在硅胶垫的束缚下均匀可控的流向米粒流动盘，进一步减少米粒流失。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图；
图2是本实用新型的另一角度的立体图；
图3是本实用新型的米粒流动盘末端的局部放大图。
图中：1.米粒流动盘、101.长条形通槽、102.隔断部、2.侧挡墙、3.翻转支撑座、4.振动米斗、5.海绵支撑体、6.硅胶垫、7.底座、8.定位法兰、9.下米管、10.振动器、11.连接架、12.缓冲弹簧、13.安装板、14.前支板、15.支撑台、16.后支板、17.长连接孔Ⅱ、18.长连接孔Ⅰ、19.角度调节支座、20.夹板、21.加热器、22.弧形调节孔、23.定位轴孔、24.过渡连接架。
具体实施方式
结合说明书附图对本实用新型作详细描述。
如图1-图3所示，该抛光度分析仪布米机构，包括安装架、设于安装架上的振动器10、与振动器10连接的振动米斗4。
其中，所述振动米斗4的底面为平面，振动米斗4的一侧设有倾斜向下的导流口。所述导流口下方承接有米粒流动盘1，所述米粒流动盘1倾斜布置，米粒流动盘1的上表面均匀设有沿其长度方向延伸的长条形通槽组，米粒流动盘1的下表面设有加热器21。所述振动米斗4的侧壁上设有海绵支撑体5，振动米斗4的上方悬设有下米管组件，所述下米管组件的下端边缘与海绵支撑体5上表面贴合。所述下米管组件朝向导流口侧固定有硅胶垫6且硅胶垫6向导流口延伸，所述硅胶垫6末端与振动米斗4底面之间留有出米间隙。
本实施例中，所述下米管组件包括下米管9、与下米管9下端连接且与支撑海绵体5接触的底座7、固定于下米管9外侧的定位法兰8，所述底座7与振动米斗4的侧壁和底面之间形成半包围落米区域，半包围落米区域的敞口侧朝向导流口，所述硅胶垫6与底座7连接固定，所述定位法兰8用于与布米机构所在分析仪框架连接固定。所述振动器包括振动器主体、固定于振动器主体上的前、后支板14、16、固定于前、后支板14、16顶端的支撑台15，所述前、后支板14、16采用塑性材料制成，所述振动米斗4的底部焊接有过渡连接架24，所述过渡连接架24底部与支撑台15连接固定，所述振动器主体底部与安装架上表面之间设有多个缓冲弹簧12。所述安装架由安装板13、设于安装板13两侧的连接架11组成，所述缓冲弹簧12位于振动器主体与安装板13之间，所述连接架11用于与布米机构所在分析仪框架连接固定。
所述米粒流动盘1与水平面的夹角为30°，米粒流动盘1底部两侧分别设有角度调节支座19，布米机构所在分析仪框架对应角度调节支座19的位置设有翻转支撑座3，所述角度调节支座19为直角座，其一面与米粒流动盘1连接固定，另一面设有弧形调节孔22和与弧形调节孔22弧心重合的定位轴孔23，所述翻转支撑座3为直角座，其一面与分析仪框架连接固定，另一面设有与弧形调节孔22配合的长连接孔Ⅰ18和与定位轴孔23配合的长连接孔Ⅱ17，所述弧形调节孔22和长连接孔Ⅰ18利用螺栓副连接固定，所述定位轴孔23和长连接孔Ⅱ17利用螺栓副连接固定。
所述加热器21为电加热片，所述米粒流动盘1利用夹板20将电加热片夹持固定于其下表面，所述夹板20上设有对应电加热片接线位置的避让口。所述导流口的末端与米粒流动盘1相距1mm，所述米粒流动盘1两侧设有侧挡墙2，以避免米粒流动过程中由流动盘侧方落下。所述米粒流动盘1上的长条形通槽组的各个长条形通槽101的底面为弧面，相邻两个长条形通槽101之间的隔断部102顶面为圆滑过渡面。所述长条形通槽组的各个长条形通槽101的长度与米粒流动盘1的长度相等，长条形通槽101的顶部开口宽度为3.5mm，相邻两个长条形通槽101的间距为1.5mm。所述长条形通槽101的槽底弧面的半径为R2.5mm。
工作原理：
大米通过下米管组件流入振动米斗4，由于下米管组件与振动米斗4之间设置了海绵支撑体5，使振动米斗4的振动不受下米管组件位置制约，振动过程中保持两者之间无缝隙，另由于下米管组件安装了硅胶垫6，使大米落入振动米斗4后反弹撞到硅胶垫6上，防止了大米蹦出振动米斗4。通过振动器10带动振动米斗4振动，使大米均匀流落到米粒流动盘1上，同时可以通过调节振动器10振幅，控制大米流量，米粒流动盘1表面的长条形通槽101，使大米流下过程中均匀分布。通过调整米粒流动盘1两侧的角度调节支座19和翻转支撑座3的相对角度，从而调整米粒流动盘1的倾斜角度，进一步控制大米流下速度，使米粒流量可控。米粒流动盘1背面的电加热片，使积于米粒流动盘1表面的米垢变软，从而被流动的米粒带走，无法积留在米粒流动盘1上。
以上对本实用新型的实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本实用新型的较佳实施例，不能被认为用于限定本实用新型的实施范围。凡依本实用新型创造范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本专利涵盖范围之内。
Claims (10)
1.一种抛光度分析仪布米机构，包括安装架、设于安装架上的振动器、与振动器连接的振动米斗，其特征在于：所述振动米斗的底面为平面，振动米斗的一侧设有倾斜向下的导流口，所述导流口下方承接有米粒流动盘，所述米粒流动盘倾斜布置，米粒流动盘的上表面均匀设有沿其长度方向延伸的长条形通槽组，米粒流动盘的下表面设有加热器，所述振动米斗的侧壁上设有海绵支撑体，振动米斗的上方悬设有下米管组件，所述下米管组件的下端边缘与海绵支撑体上表面贴合，所述下米管组件朝向导流口侧固定有硅胶垫且硅胶垫向导流口延伸，所述硅胶垫末端与振动米斗底面之间留有出米间隙。
2.根据权利要求1所述的抛光度分析仪布米机构，其特征在于：所述下米管组件包括下米管、与下米管下端连接且与支撑海绵体接触的底座、固定于下米管外侧的定位法兰，所述底座与振动米斗的侧壁和底面之间形成半包围落米区域，半包围落米区域的敞口侧朝向导流口，所述硅胶垫与底座连接固定，所述定位法兰用于与布米机构所在分析仪框架连接固定。
3.根据权利要求1所述的抛光度分析仪布米机构，其特征在于：所述振动器包括振动器主体、固定于振动器主体上的前、后支板、固定于前、后支板顶端的支撑台，所述前、后支板采用塑性材料制成，所述振动米斗的底部焊接有过渡连接架，所述过渡连接架底部与支撑台连接固定，所述振动器主体底部与安装架上表面之间设有多个缓冲弹簧。
4.根据权利要求1所述的抛光度分析仪布米机构，其特征在于：所述米粒流动盘与水平面的夹角为20°～40°，米粒流动盘底部两侧分别设有角度调节支座，布米机构所在分析仪框架对应角度调节支座的位置设有翻转支撑座，所述角度调节支座为直角座，其一面与米粒流动盘连接固定，另一面设有弧形调节孔和与弧形调节孔弧心重合的定位轴孔，所述翻转支撑座为直角座，其一面与分析仪框架连接固定，另一面设有与弧形调节孔配合的长连接孔Ⅰ和与定位轴孔配合的长连接孔Ⅱ，所述弧形调节孔和长连接孔Ⅰ利用螺栓副连接固定，所述定位轴孔和长连接孔Ⅱ利用螺栓副连接固定。
5.根据权利要求1所述的抛光度分析仪布米机构，其特征在于：所述加热器为电加热片，所述米粒流动盘利用夹板将电加热片夹持固定于其下表面，所述夹板上设有对应电加热片接线位置的避让口。
6.根据权利要求1所述的抛光度分析仪布米机构，其特征在于：所述导流口的末端与米粒流动盘相距1mm-1.5mm，所述米粒流动盘两侧设有侧挡墙。
7.根据权利要求1所述的抛光度分析仪布米机构，其特征在于：所述米粒流动盘上的长条形通槽组的各个长条形通槽的底面为弧面，相邻两个长条形通槽之间的隔断部顶面为圆滑过渡面。
8.根据权利要求1所述的抛光度分析仪布米机构，其特征在于：所述长条形通槽组的各个长条形通槽的长度与米粒流动盘的长度相等，长条形通槽的顶部开口宽度为3.5mm，相邻两个长条形通槽的间距为1.5mm。
9.根据权利要求1所述的抛光度分析仪布米机构，其特征在于：所述长条形通槽的槽底弧面的半径为R2.5mm。
10.根据权利要求3所述的抛光度分析仪布米机构，其特征在于：所述安装架由安装板、设于安装板两侧的连接架组成，所述缓冲弹簧位于振动器主体与安装板之间，所述连接架用于与布米机构所在分析仪框架连接固定。
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