CN215866970U - 一种调试微波器件特性分析用实验装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种调试微波器件特性分析用实验装置，包括安装框，所述安装框内侧底面上安装有固定内垫，所述调节螺纹杆底端通过轴承座安装有定位板，且定位板下端面粘贴固定有接触垫，所述安装框外侧壁中心与侧轴一端连接固定，所述操作盘上贯穿安装有挤压螺栓，且挤压螺栓末端与侧槽内壁贴合，并且侧槽开设在侧板外侧面上，所述侧板底部设置有高度调节机构。该调试微波器件特性分析用实验装置，采用新型的结构设计，能对不同尺寸的微波器件进行快速稳定的定位固定，且能便捷的调整和固定微波器件的倾斜角度，还能便捷的调整和固定微波器件的高度，便于调试线路的接头与不同微波器件不同位置的针脚或接头处进行快速连接。
Description
技术领域
本实用新型涉及微波器件调试设备技术领域，具体为一种调试微波器件特性分析用实验装置。
背景技术
微波器件是指工作在微波波段的器件，其按功能可分为微波振荡器、功率放大器、混频器、检波器、微波天线、微波传输线等，通过电路设计，可将这些器件组合成各种有特定功能的微波电路，在微波器件制造出来后，需要进行调试，对其特性进行分析。
由于微波器件整体尺寸较小，不同型号和种类的微波器件也存在较大的尺寸差异，在对微波器件进行连接调试的过程中，无法对不同尺寸的微波器件进行便捷的固定，且调试线路的接头无法与不同微波器件不同位置的针脚或接头处进行快速连接，需要人工调整微波器件的姿态。
所以需要针对上述问题设计一种调试微波器件特性分析用实验装置。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种调试微波器件特性分析用实验装置，以解决上述背景技术中提出无法对不同尺寸的微波器件进行便捷的固定，且调试线路的接头无法与不同微波器件不同位置的针脚或接头处进行快速连接，需要人工调整微波器件的姿态的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种调试微波器件特性分析用实验装置，包括安装框，所述安装框内侧底面上安装有固定内垫，且安装框顶部开设有限位顶窗，并且限位顶窗内侧贯穿安装有活动座，同时活动座上贯穿安装有调节螺纹杆，所述调节螺纹杆底端通过轴承座安装有定位板，且定位板下端面粘贴固定有接触垫，所述安装框外侧壁中心与侧轴一端连接固定，且侧轴通过中心轴承座贯穿安装在侧板顶部，并且侧轴另一端焊接固定有操作盘，所述操作盘上贯穿安装有挤压螺栓，且挤压螺栓末端与侧槽内壁贴合，并且侧槽开设在侧板外侧面上，所述侧板底部设置有高度调节机构。
优选的，所述固定内垫和接触垫的材质均为表面粗糙的橡胶，且固定内垫的厚度大于接触垫的厚度。
优选的，所述活动座的侧视形状为“工”字型，且活动座与限位顶窗为滑动连接，并且活动座为等间距分布。
优选的，所述调节螺纹杆与活动座为螺纹连接，且调节螺纹杆关于定位板对称分布。
优选的，所述挤压螺栓与操作盘为螺纹连接，且挤压螺栓的直径与侧槽的宽度相同，并且侧槽的侧视形状为环形。
优选的，所述高度调节机构包括底螺纹杆、套筒和基板，且底螺纹杆顶端焊接固定在侧板底面上，并且底螺纹杆底端螺纹安装有套筒，同时套筒通过底端轴承座与基板上端面相互连接，所述套筒关于基板对称分布。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该调试微波器件特性分析用实验装置，采用新型的结构设计，能对不同尺寸的微波器件进行快速稳定的定位固定，且能便捷的调整和固定微波器件的倾斜角度，还能便捷的调整和固定微波器件的高度，便于调试线路的接头与不同微波器件不同位置的针脚或接头处进行快速连接；
1.通过安装框、固定内垫、限位顶窗、活动座、调节螺纹杆、定位板和接触垫相互配合工作，能够对不同尺寸的微波器件进行快速稳定的夹持固定，还能同时对多个微波器件进行固定，便于调试工作的连续进行；
2.通过侧轴、侧板、操作盘、挤压螺栓、侧槽和高度调节机构相互配合工作，能便捷的调整固定微波器件的倾斜角度和高度，调整微波器件的姿态，便于调试线路的接头与不同微波器件不同位置的针脚或接头处进行快速连接。
附图说明
图1为本实用新型正视结构示意图；
图2为本实用新型正视剖面结构示意图；
图3为本实用新型俯视结构示意图；
图4为本实用新型侧槽侧视结构示意图；
图5为本实用新型活动座侧视结构示意图。
图中：1、安装框；2、固定内垫；3、限位顶窗；4、活动座；5、调节螺纹杆；6、定位板；7、接触垫；8、侧轴；9、侧板；10、操作盘；11、挤压螺栓；12、侧槽；13、高度调节机构；1301、底螺纹杆；1302、套筒；1303、基板。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-5，本实用新型提供一种技术方案：一种调试微波器件特性分析用实验装置，包括安装框1、固定内垫2、限位顶窗3、活动座4、调节螺纹杆5、定位板6、接触垫7、侧轴8、侧板9、操作盘10、挤压螺栓11、侧槽12、高度调节机构13、底螺纹杆1301、套筒1302和基板1303，安装框1内侧底面上粘附安装有固定内垫2，且安装框1顶部中间位置开设有限位顶窗3，并且限位顶窗3内侧贯穿活动安装有活动座4，活动座4的侧视形状为“工”字型，且活动座4与限位顶窗3为滑动连接，并且活动座4为等间距分布，上述的结构设计使得活动座4能沿着限位顶窗3进行稳定的水平滑动位移，便于活动座4上安装的结构对不同尺寸的微波器件进行固定。
同时活动座4上贯穿式螺纹安装有调节螺纹杆5，调节螺纹杆5底端通过轴承座旋转连接有定位板6，调节螺纹杆5与活动座4为螺纹连接，且调节螺纹杆5关于定位板6的纵向中心线对称分布，上述的结构设计使得调节螺纹杆5在活动座4上旋转移动时，可以带动定位板6进行位移，配合安装框1，实现对不同微波器件的快速固定。
定位板6下端面粘贴固定有接触垫7，固定内垫2和接触垫7的材质均为表面粗糙的橡胶，且固定内垫2的厚度大于接触垫7的厚度，上述的结构设计可以在夹持固定微波器件的同时，对微波器件的结构进行保护。
安装框1外侧壁中心与侧轴8一端焊接固定，且侧轴8通过中心轴承座贯穿安装在侧板9顶部，并且侧轴8另一端焊接固定有操作盘10，操作盘10上贯穿安装有挤压螺栓11，挤压螺栓11与操作盘10为螺纹连接，且挤压螺栓11的直径与侧槽12的宽度相同，并且侧槽12的侧视形状为环形，上述的结构设计使得操作盘10能带着挤压螺栓11沿着侧槽12进行正常旋转运动，而挤压螺栓11则可以通过挤压侧槽12，对操作盘10、侧轴8和安装框1的状态进行快速固定，且挤压螺栓11末端与侧槽12内壁贴合，并且侧槽12开设在侧板9外侧面上，侧板9底部设置有高度调节机构13，高度调节机构13包括底螺纹杆1301、套筒1302和基板1303，且底螺纹杆1301顶端焊接固定在侧板9底面上，并且底螺纹杆1301底端螺纹安装有套筒1302，同时套筒1302通过底端轴承座与基板1303上端面相互连接，套筒1302关于基板1303对称分布，上述的结构设计可以对侧板9的高度进行便捷的调整和固定。
工作原理：使用本装置时，直接将待调试的微波器件水平插入图2中固定内垫2与定位板6之间，可以插入较大的微波器件，也可并排插入多个微波器件，随后同时同向旋转1个定位板6上方的2个调节螺纹杆5，调节螺纹杆5在活动座4上开设的螺纹孔洞内向下旋进，调节螺纹杆5在其底端轴承座的作用下将定位板6向下推动，至定位板6底部的接触垫7将微波器件挤压固定在固定内垫2上；
接着拨动操作盘10通过侧轴8带着安装框1和微波器件以侧轴8为中心旋转，至微波器件的倾斜角度合适，令微波器件不同位置的针脚和接头竖起，停止拨动操作盘10，将挤压螺栓11向侧槽12内旋进，挤压螺栓11挤压侧槽12内壁，将操作盘10、侧轴8和安装框1的倾斜角度固定，微波器件的倾斜角度也固定；
接着同时同向旋转1个侧板9底部的2个套筒1302，套筒1302利用螺纹连接关系推动底螺纹杆1301带着侧板9和安装框1竖直上升，至安装框1内固定的微波器件高度合适，将调试实验设备的线路接头与微波器件的针脚或接头连接，对线路接头进行正常的调试，这就是该调试微波器件特性分析用实验装置的工作原理。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种调试微波器件特性分析用实验装置，包括安装框(1)，其特征在于：所述安装框(1)内侧底面上安装有固定内垫(2)，且安装框(1)顶部开设有限位顶窗(3)，并且限位顶窗(3)内侧贯穿安装有活动座(4)，同时活动座(4)上贯穿安装有调节螺纹杆(5)，所述调节螺纹杆(5)底端通过轴承座安装有定位板(6)，且定位板(6)下端面粘贴固定有接触垫(7)，所述安装框(1)外侧壁中心与侧轴(8)一端连接固定，且侧轴(8)通过中心轴承座贯穿安装在侧板(9)顶部，并且侧轴(8)另一端焊接固定有操作盘(10)，所述操作盘(10)上贯穿安装有挤压螺栓(11)，且挤压螺栓(11)末端与侧槽(12)内壁贴合，并且侧槽(12)开设在侧板(9)外侧面上，所述侧板(9)底部设置有高度调节机构(13)。
2.根据权利要求1所述的一种调试微波器件特性分析用实验装置，其特征在于：所述固定内垫(2)和接触垫(7)的材质均为表面粗糙的橡胶，且固定内垫(2)的厚度大于接触垫(7)的厚度。
3.根据权利要求1所述的一种调试微波器件特性分析用实验装置，其特征在于：所述活动座(4)的侧视形状为“工”字型，且活动座(4)与限位顶窗(3)为滑动连接，并且活动座(4)为等间距分布。
4.根据权利要求1所述的一种调试微波器件特性分析用实验装置，其特征在于：所述调节螺纹杆(5)与活动座(4)为螺纹连接，且调节螺纹杆(5)关于定位板(6)对称分布。
5.根据权利要求1所述的一种调试微波器件特性分析用实验装置，其特征在于：所述挤压螺栓(11)与操作盘(10)为螺纹连接，且挤压螺栓(11)的直径与侧槽(12)的宽度相同，并且侧槽(12)的侧视形状为环形。
6.根据权利要求1所述的一种调试微波器件特性分析用实验装置，其特征在于：所述高度调节机构(13)包括底螺纹杆(1301)、套筒(1302)和基板(1303)，且底螺纹杆(1301)顶端焊接固定在侧板(9)底面上，并且底螺纹杆(1301)底端螺纹安装有套筒(1302)，同时套筒(1302)通过底端轴承座与基板(1303)上端面相互连接，所述套筒(1302)关于基板(1303)对称分布。
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- 2021-09-29 CN CN202122378043.1U patent/CN215866970U/zh active Active
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