CN215866829U - 一种用于pcb电路测试的探针 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于PCB电路测试的探针,属于探针技术领域,包括探针主体,所述探针主体的内壁上滑动连接有安装筒,所述安装筒的内部设置有弹簧结构,所述探针主体上设置有操作装置,所述操作装置与安装筒之间螺纹连接。该实用新型,由于安装筒与探针主体之间为滑动连接,安装筒被限制无法转动,安装筒便会随着操作装置的转动而移动,从而使得安装筒内部的弹簧结构处于探针主体外部长度增长,以此针对不同情况下对PCB电路板的测试,当需要将安装筒复位时,使用人员方向转动操作装置即可,操作装置的设置使用人员可以简单快捷的对此探针进行调整,以此针对不同情况下的测试,解决了以往PCB电路测试的探针无法调节与弹性不佳的问题。
Description
技术领域
本实用新型涉及探针技术领域,更具体地说,涉及一种用于PCB电路测试的探针。
背景技术
探针用于检测PCB板上线路的通断,一般包括针管、导电针以及装在针管内的弹簧,导电针包括针杆和针头。进行电路检测时,针头受按压,从而弹簧抵紧针杆,使得针头与PCB板上的待检测点有良好的电接触效果。
但现有的PCB板电路测试探针的弹性效果不佳,且无法进行调整,在不同的检测情况下就存在局限性,因此本领域的专业人员提供了一种用于PCB电路测试的探针,已解决上述提到的问题。
实用新型内容
针对现有技术中存在的问题,本实用新型的目的在于提供一种用于PCB电路测试的探针,以解决以往PCB电路测试的探针无法调节与弹性不佳的问题。
为解决上述问题,本实用新型采用如下的技术方案。
一种用于PCB电路测试的探针,包括探针主体,所述探针主体的内壁上滑动连接有安装筒,所述安装筒的内部设置有弹簧结构,所述探针主体上设置有操作装置,所述操作装置与安装筒之间螺纹连接。
作为上述技术方案的进一步描述:所述探针主体的内壁上开设有两个限位槽,两个所述限位槽的内部均滑动连接有限位条,两个所述限位条相对的一侧均固定连接在安装筒上。
作为上述技术方案的进一步描述:所述弹簧结构包含有安装弹簧,所述安装弹簧的位于安装筒的内部,所述安装弹簧的左右两端均固定连接有浮动板,两个所述浮动板均与安装筒的内壁之间滑动连接,左侧的所述浮动板上固定连接有主接触端,所述主接触端的左端贯穿安装筒并延伸至探针主体的左侧,右侧的所述浮动板上固定连接有次接触端,所述次接触端的右端贯穿安装筒并延伸至探针主体的右侧。
作为上述技术方案的进一步描述:所述安装弹簧的内部设置有伸缩杆,所述伸缩杆的左右两端分别固定连接在两个浮动板相对的一侧。
作为上述技术方案的进一步描述:所述操作装置包含有安装槽,所述安装槽开设在探针主体上,所述安装槽的内部设置有螺纹环,所述螺纹环与安装槽的内壁之间螺纹连接,所述安装筒上开设有均匀分布的扭螺纹,所述螺纹环通过扭螺纹与安装筒之间螺纹连接。
作为上述技术方案的进一步描述:所述螺纹环上固定连接有软垫,所述软垫上开设有均匀分布的防滑纹。
相比于现有技术,本实用新型的优点在于:
(1)本方案,当使用人员使用此探针对PCB板进行电路测试时,使用人员将探针主体垂直,此时弹簧结构位于PCB板顶部,接着使用人员将弹簧结构向下移动直至与PCB板接触,当弹簧结构接触到PCB板时弹簧结构自身便会发生形变,弹簧结构的设置使得探针主体具有稳定的弹性,便于保护自身的同时也不会损坏PCB电路板,当需要对安装筒进行移动时,使用人员转动操作装置,与操作装置螺纹连接的安装筒开始移动,由于安装筒与探针主体之间为滑动连接,安装筒被限制无法转动,安装筒便会随着操作装置的转动而移动,从而使得安装筒内部的弹簧结构处于探针主体外部长度增长,以此针对不同情况下对PCB电路板的测试,当需要将安装筒复位时,使用人员方向转动操作装置即可,操作装置的设置使用人员可以简单快捷的对此探针进行调整,以此针对不同情况下的测试,解决了以往PCB电路测试的探针无法调节与弹性不佳的问题。
(2)本方案,当安装筒在探针主体内部移动时,限位条也会在限位槽内部移动,限位条与限位槽之间的配合使用可以对安装筒起到限制作用,使得安装筒不会在探针主体内部发生转动,同时还可以减少探针主体与安装筒之间的摩擦,便于安装筒的移动。
(3)本方案,当使用人员使用此探针对PCB板进行电路测试时,使用人员将探针主体垂直,此时主接触端位于PCB板顶部,接着使用人员将主接触端向下移动直至与PCB板接触,当主接触端接触到PCB板时,主接触端受力开始压动浮动板,浮动板受力开始挤压安装弹簧,主接触端随之向探针主体内部移动,当测试结束后将探针主体提起安装弹簧便会复位将主接触端顶回原位,使用人员还可以使用次接触端进行检测,原理相同,弹簧结构的设置使得探针主体具有稳定的弹性,便于保护自身的同时也不会损坏PCB电路板。
(4)本方案,当两个浮动板之间距离发生变化时伸缩杆也会随之收缩,伸缩杆的设置可以对安装弹簧起到限制作用,使得安装弹簧受力时不会发生扭曲,使得安装弹簧只可以进行水平方向的伸缩。
(5)本方案,当需要对安装筒进行移动时,使用人员转动螺纹环,通过扭螺纹与螺纹环螺纹连接的安装筒开始移动,由于安装筒与探针主体之间为滑动连接,安装筒被限制无法转动,安装筒便会随着螺纹环的转动而移动,从而使得安装筒内部的弹簧结构处于探针主体外部长度增长,以此针对不同情况下对PCB电路板的测试,当需要将安装筒复位时,使用人员方向转动螺纹环即可,操作装置的设置使用人员可以简单快捷的对此探针进行调整,以此针对不同情况下的测试。
(6)本方案,当使用人员需要转动螺纹环时,软垫可以提高使用人员的舒适度,防滑纹则可以增大使用人员手部与软垫之间的摩擦,从而避免使用人员发生手滑。
附图说明
图1为本实用新型的立体结构示意图;
图2为本实用新型的正视剖面结构示意图;
图3为本实用新型的图2中A处放大结构示意图;
图4为本实用新型的安装筒立体结构示意图。
图中标号说明:
1、探针主体;2、安装筒;3、弹簧结构;301、安装弹簧;302、浮动板;303、主接触端;304、次接触端;4、操作装置;401、安装槽;402、螺纹环;403、扭螺纹;5、限位槽;6、限位条;7、伸缩杆;8、软垫。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述;
请参阅图1~4,本实用新型中,一种用于PCB电路测试的探针,包括探针主体1,探针主体1的内壁上滑动连接有安装筒2,安装筒2的内部设置有弹簧结构3,探针主体1上设置有操作装置4,操作装置4与安装筒2之间螺纹连接。
本实用新型中,当使用人员使用此探针对PCB板进行电路测试时,使用人员将探针主体1垂直,此时弹簧结构3位于PCB板顶部,接着使用人员将弹簧结构3向下移动直至与PCB板接触,当弹簧结构3接触到PCB板时弹簧结构3自身便会发生形变,弹簧结构3的设置使得探针主体1具有稳定的弹性,便于保护自身的同时也不会损坏PCB电路板,当需要对安装筒2进行移动时,使用人员转动操作装置4,与操作装置4螺纹连接的安装筒2开始移动,由于安装筒2与探针主体1之间为滑动连接,安装筒2被限制无法转动,安装筒2便会随着操作装置4的转动而移动,从而使得安装筒2内部的弹簧结构3处于探针主体1外部长度增长,以此针对不同情况下对PCB电路板的测试,当需要将安装筒2复位时,使用人员方向转动操作装置4即可,操作装置4的设置使用人员可以简单快捷的对此探针进行调整,以此针对不同情况下的测试,解决了以往PCB电路测试的探针无法调节与弹性不佳的问题。
请参阅图2与4,其中:探针主体1的内壁上开设有两个限位槽5,两个限位槽5的内部均滑动连接有限位条6,两个限位条6相对的一侧均固定连接在安装筒2上。
本实用新型中,当安装筒2在探针主体1内部移动时,限位条6也会在限位槽5内部移动,限位条6与限位槽5之间的配合使用可以对安装筒2起到限制作用,使得安装筒2不会在探针主体1内部发生转动,同时还可以减少探针主体1与安装筒2之间的摩擦,便于安装筒2的移动。
请参阅图1、2与4,其中:弹簧结构3包含有安装弹簧301,安装弹簧301的位于安装筒2的内部,安装弹簧301的左右两端均固定连接有浮动板302,两个浮动板302均与安装筒2的内壁之间滑动连接,左侧的浮动板302上固定连接有主接触端303,主接触端303的左端贯穿安装筒2并延伸至探针主体1的左侧,右侧的浮动板302上固定连接有次接触端304,次接触端304的右端贯穿安装筒2并延伸至探针主体1的右侧。
本实用新型中,当使用人员使用此探针对PCB板进行电路测试时,使用人员将探针主体1垂直,此时主接触端303位于PCB板顶部,接着使用人员将主接触端303向下移动直至与PCB板接触,当主接触端303接触到PCB板时,主接触端303受力开始压动浮动板302,浮动板302受力开始挤压安装弹簧301,主接触端303随之向探针主体1内部移动,当测试结束后将探针主体1提起安装弹簧301便会复位将主接触端303顶回原位,使用人员还可以使用次接触端304进行检测,原理相同,弹簧结构3的设置使得探针主体1具有稳定的弹性,便于保护自身的同时也不会损坏PCB电路板。
请参阅图2,其中:安装弹簧301的内部设置有伸缩杆7,伸缩杆7的左右两端分别固定连接在两个浮动板302相对的一侧。
本实用新型中,当两个浮动板302之间距离发生变化时伸缩杆7也会随之收缩,伸缩杆7的设置可以对安装弹簧301起到限制作用,使得安装弹簧301受力时不会发生扭曲,使得安装弹簧301只可以进行水平方向的伸缩。
请参阅图1~4,其中:操作装置4包含有安装槽401,安装槽401开设在探针主体1上,安装槽401的内部设置有螺纹环402,螺纹环402与安装槽401的内壁之间螺纹连接,安装筒2上开设有均匀分布的扭螺纹403,螺纹环402通过扭螺纹403与安装筒2之间螺纹连接。
本实用新型中,当需要对安装筒2进行移动时,使用人员转动螺纹环402,通过扭螺纹403与螺纹环402螺纹连接的安装筒2开始移动,由于安装筒2与探针主体1之间为滑动连接,安装筒2被限制无法转动,安装筒2便会随着螺纹环402的转动而移动,从而使得安装筒2内部的弹簧结构3处于探针主体1外部长度增长,以此针对不同情况下对PCB电路板的测试,当需要将安装筒2复位时,使用人员方向转动螺纹环402即可,操作装置4的设置使用人员可以简单快捷的对此探针进行调整,以此针对不同情况下的测试。
请参阅图1~4,其中:螺纹环402上固定连接有软垫8,软垫8上开设有均匀分布的防滑纹。
本实用新型中,当使用人员需要转动螺纹环402时,软垫8可以提高使用人员的舒适度,防滑纹则可以增大使用人员手部与软垫8之间的摩擦,从而避免使用人员发生手滑。
工作原理:当使用人员使用此探针对PCB板进行电路测试时,使用人员将探针主体1垂直,此时主接触端303位于PCB板顶部,接着使用人员将主接触端303向下移动直至与PCB板接触,当主接触端303接触到PCB板时,主接触端303受力开始压动浮动板302,浮动板302受力开始挤压安装弹簧301,主接触端303随之向探针主体1内部移动,当测试结束后将探针主体1提起安装弹簧301便会复位将主接触端303顶回原位,使用人员还可以使用次接触端304进行检测,原理相同,弹簧结构3的设置使得探针主体1具有稳定的弹性,便于保护自身的同时也不会损坏PCB电路板,当需要对安装筒2进行移动时,使用人员转动螺纹环402,通过扭螺纹403与螺纹环402螺纹连接的安装筒2开始移动,由于安装筒2与探针主体1之间为滑动连接,安装筒2被限制无法转动,安装筒2便会随着螺纹环402的转动而移动,从而使得安装筒2内部的弹簧结构3处于探针主体1外部长度增长,以此针对不同情况下对PCB电路板的测试,当安装筒2在探针主体1内部移动时,限位条6也会在限位槽5内部移动,限位条6与限位槽5之间的配合使用可以对安装筒2起到限制作用,使得安装筒2不会在探针主体1内部发生转动,同时还可以减少探针主体1与安装筒2之间的摩擦,便于安装筒2的移动,当需要将安装筒2复位时,使用人员方向转动螺纹环402即可,操作装置4的设置使用人员可以简单快捷的对此探针进行调整,以此针对不同情况下的测试,解决了以往PCB电路测试的探针无法调节与弹性不佳的问题。
以上所述,仅为本实用新型较佳的具体实施方式;但本实用新型的保护范围并不局限于此。任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,根据本实用新型的技术方案及其改进构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本实用新型的保护范围内。
Claims (6)
1.一种用于PCB电路测试的探针,包括探针主体(1),其特征在于:所述探针主体(1)的内壁上滑动连接有安装筒(2),所述安装筒(2)的内部设置有弹簧结构(3),所述探针主体(1)上设置有操作装置(4),所述操作装置(4)与安装筒(2)之间螺纹连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于PCB电路测试的探针,其特征在于:所述探针主体(1)的内壁上开设有两个限位槽(5),两个所述限位槽(5)的内部均滑动连接有限位条(6),两个所述限位条(6)相对的一侧均固定连接在安装筒(2)上。
3.根据权利要求1所述的一种用于PCB电路测试的探针,其特征在于:所述弹簧结构(3)包含有安装弹簧(301),所述安装弹簧(301)的位于安装筒(2)的内部,所述安装弹簧(301)的左右两端均固定连接有浮动板(302),两个所述浮动板(302)均与安装筒(2)的内壁之间滑动连接,左侧的所述浮动板(302)上固定连接有主接触端(303),所述主接触端(303)的左端贯穿安装筒(2)并延伸至探针主体(1)的左侧,右侧的所述浮动板(302)上固定连接有次接触端(304),所述次接触端(304)的右端贯穿安装筒(2)并延伸至探针主体(1)的右侧。
4.根据权利要求3所述的一种用于PCB电路测试的探针,其特征在于:所述安装弹簧(301)的内部设置有伸缩杆(7),所述伸缩杆(7)的左右两端分别固定连接在两个浮动板(302)相对的一侧。
5.根据权利要求1所述的一种用于PCB电路测试的探针,其特征在于:所述操作装置(4)包含有安装槽(401),所述安装槽(401)开设在探针主体(1)上,所述安装槽(401)的内部设置有螺纹环(402),所述螺纹环(402)与安装槽(401)的内壁之间螺纹连接,所述安装筒(2)上开设有均匀分布的扭螺纹(403),所述螺纹环(402)通过扭螺纹(403)与安装筒(2)之间螺纹连接。
6.根据权利要求5所述的一种用于PCB电路测试的探针,其特征在于:所述螺纹环(402)上固定连接有软垫(8),所述软垫(8)上开设有均匀分布的防滑纹。
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