CN215812927U

CN215812927U - 一种半导体分立器件可调节测试夹具

Info

Publication number: CN215812927U
Application number: CN202122216792.4U
Authority: CN
Inventors: 王茂荣
Original assignee: Jiangsu Yujing Semiconductor Technology Co ltd
Current assignee: Jiangsu Yujing Semiconductor Technology Co ltd
Priority date: 2021-09-14
Filing date: 2021-09-14
Publication date: 2022-02-11
Anticipated expiration: 2031-09-14

Abstract

本实用新型公开了一种半导体分立器件可调节测试夹具，包括底座，所述底座的底部四角分别固定连接有支撑腿，底座顶部左端固定连接有升降连接座，升降连接座的上端右侧设置有测试结构，底座的顶部右端固定连接有缓冲座，缓冲座的顶部开设有缓冲槽，缓冲槽的内腔上端活动连接有固定座，固定座的底部固定连接有压缩块，缓冲槽内壁固定连接有竖杆，竖杆的外部活动套设有第二缓冲弹簧。该一种半导体分立器件可调节测试夹具，通过设置的转动轴承、螺杆、螺筒、滑槽以及滑块的相互配合下，可以方便第二夹块的左右活动，进而方便调节第一夹块和第二夹块之间的距离，因此可以适应不同大小的半导体分立器件。

Description

一种半导体分立器件可调节测试夹具

技术领域

本实用新型涉及半导体分立器件生产领域，特别涉及一种半导体分立器件可调节测试夹具。

背景技术

半导体分立器件具有开关频率高、损耗低、导通电阻低、通态电流大、体积小等优点，在太阳能逆变器、高压DC/DC转换器、电动机、电源等方面的应用日益广泛，需求量越来越大，为了满足产品的高需求量，同时保证产品的质量，因此必须加快产品的生产效率，为保证产品的质量，必须通过测试过程将不合格产品筛选出去，因此测试是保证产品质量必不可少的环节，而现有技术中的半导体分立器件测试夹具有着不方便调节使用间距以及缓冲保护性能差等缺点。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种半导体分立器件可调节测试夹具，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

一种半导体分立器件可调节测试夹具，包括底座，所述底座的底部四角分别固定连接有支撑腿，所述底座顶部左端固定连接有升降连接座，所述升降连接座的上端右侧设置有测试结构，所述底座的顶部右端固定连接有缓冲座，所述缓冲座的顶部开设有缓冲槽，所述缓冲槽的内腔上端活动连接有固定座，所述固定座的底部固定连接有压缩块，所述缓冲槽内壁固定连接有竖杆，所述竖杆的外部活动套设有第二缓冲弹簧，所述固定座的顶部左端固定连接有第一固定块，所述第一固定块的右侧四角分别开设有限位槽，四个所述限位槽的内腔分别活动插设有限位杆，四个所述限位杆的右端固定连接有第一夹块，四个所述限位杆的外部分别活动套设有第一缓冲弹簧，所述固定座的顶部右端固定连接有第二固定块，所述第二固定块的侧壁开设有通孔，所述通孔的内壁固定连接有螺筒，所述螺筒的内壁通过螺纹连接有螺杆，所述固定座的顶部开设有滑槽，所述滑槽内腔的底部开设有第二固定槽，所述第二固定槽的内腔设置有滚轮，所述滑槽的内腔活动连接有滑块，所述滑块的顶部固定连接有第二夹块，所述第二夹块的右侧壁体开设有第一固定槽，所述第一固定槽的内壁固定连接有转动轴承。

优选的，所述竖杆的数量为四个，四个竖杆分别竖向固定连接于缓冲槽内腔的四角。

优选的，所述第二缓冲弹簧的数量为四个，四个第二缓冲弹簧分别活动套设于四个竖杆的下端外部。

优选的，所述压缩块的四角分别活动套设于四个竖杆的上端外部。

优选的，所述第一缓冲弹簧位于第一固定块和第一夹块之间，并且四个第一缓冲弹簧的大小规格相同。

优选的，所述螺杆的左端位于第二夹块和第二固定块之间并且与转动轴承的内壁固定连接，所述滚轮的数量为九个，九个滚轮的大小相同，并且九个滚轮的顶部均能与滑块的底部相接触。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

该一种半导体分立器件可调节测试夹具，通过设置的转动轴承、螺杆、螺筒、滑槽以及滑块的相互配合下，可以方便第二夹块的左右活动，进而方便调节第一夹块和第二夹块之间的距离，因此可以适应不同大小的半导体分立器件，通过设置的滚轮可以减小滑块左右活动时与滑槽内壁的摩擦力，从而更方便第二夹块的左右活动，通过设置的限位槽、限位杆、第一缓冲弹簧的相互配合，可以对夹紧固定时的半导体分立器件起到缓冲保护的作用，通过设置的竖杆、压缩块、第二缓冲弹簧的相互配合可以对测试时的半导体分立器件起到缓冲保护的作用，以防测试结构向下挤压对半导体分立器件造成损坏。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型图1中A处放大图；

图3是本实用新型图1中B处放大图；

图4是本实用新型图1中C处放大图；

图5是本实用新型竖杆与压缩块连接处立体图。

图中：1、底座；2、支撑腿；3、缓冲座；4、升降连接座；5、螺杆；6、测试结构；7、固定座；8、第一固定块；9、限位槽；10、限位杆；11、第一缓冲弹簧；12、第一夹块；13、第二夹块；14、第一固定槽；15、转动轴承；16、滚轮；17、第二固定槽；18、滑槽；19、通孔；20、螺筒；21、第二固定块；22、滑块；23、竖杆；24、压缩块；25、第二缓冲弹簧；26、缓冲槽。

具体实施方式

为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本实用新型。

如图1-5所示，一种半导体分立器件可调节测试夹具，包括底座1，底座1的底部四角分别固定连接有支撑腿2，底座1顶部左端固定连接有升降连接座4，升降连接座4的上端右侧设置有测试结构6，底座1的顶部右端固定连接有缓冲座3，缓冲座3的顶部开设有缓冲槽26，缓冲槽26的内腔上端活动连接有固定座7，固定座7的底部固定连接有压缩块24，压缩块24的四角分别活动套设于四个竖杆23的上端外部，缓冲槽26内壁固定连接有竖杆23，竖杆23的数量为四个，四个竖杆23分别竖向固定连接于缓冲槽26内腔的四角，竖杆23的外部活动套设有第二缓冲弹簧25，第二缓冲弹簧25的数量为四个，四个第二缓冲弹簧25分别活动套设于四个竖杆23的下端外部，通过设置的竖杆23、压缩块24、第二缓冲弹簧25的相互配合可以对测试时的半导体分立器件起到缓冲保护的作用，以防测试结构6向下挤压对半导体分立器件造成损坏，固定座7的顶部左端固定连接有第一固定块8，第一固定块8的右侧四角分别开设有限位槽9，四个限位槽9的内腔分别活动插设有限位杆10，四个限位杆10的右端固定连接有第一夹块12，四个限位杆10的外部分别活动套设有第一缓冲弹簧11，第一缓冲弹簧11位于第一固定块8和第一夹块12之间，并且四个第一缓冲弹簧11的大小规格相同，通过设置的限位槽9、限位杆10、第一缓冲弹簧11的相互配合，可以对夹紧固定时的半导体分立器件起到缓冲保护的作用，固定座7的顶部右端固定连接有第二固定块21，第二固定块21的侧壁开设有通孔19，通孔19的内壁固定连接有螺筒20，螺筒20的内壁通过螺纹连接有螺杆5，螺杆5的左端位于第二夹块13和第二固定块21之间并且与转动轴承15的内壁固定连接，固定座7的顶部开设有滑槽18，滑槽18内腔的底部开设有第二固定槽17，第二固定槽17的内腔设置有滚轮16，滚轮16的数量为九个，九个滚轮16的大小相同，并且九个滚轮16的顶部均能与滑块22的底部相接触，通过设置的滚轮16可以减小滑块22左右活动时与滑槽18内壁的摩擦力，从而更方便第二夹块13的左右活动，滑槽18的内腔活动连接有滑块22，滑块22的顶部固定连接有第二夹块13，第二夹块13的右侧壁体开设有第一固定槽14，第一固定槽14的内壁固定连接有转动轴承15，通过设置的转动轴承15、螺杆5、螺筒20、滑槽18以及滑块22的相互配合下，可以方便第二夹块13的左右活动，进而方便调节第一夹块12和第二夹块13之间的距离，因此可以适应不同大小的半导体分立器件。

需要说明的是，本实用新型为一种半导体分立器件可调节测试夹具，使用时将需要测试的半导体分立器件固定在第一夹块12和第二夹块13之间，然后在转动轴承15、螺杆5、螺筒20、滑槽18以及滑块22的相互配合下将其夹紧固定，同时还可以适应不同大小的半导体分立器件，具体的，通过转动螺杆5并在转动轴承15和螺筒20的作用下第二夹块13向第一夹块12靠近，当半导体分立器件完全被夹紧固定时启动该装置即可对半导体分立器件进行测试，在滚轮16的设置下可以减小滑块22左右活动时与滑槽18内壁的摩擦力，从而更方便第二夹块13的左右活动，在限位槽9、限位杆10、第一缓冲弹簧11的相互配合下可以对夹紧固定时的半导体分立器件起到缓冲保护的作用，具体的，第二夹块13挤压半导体分立器件，半导体分立器件挤压第一夹块12，第一夹块12挤压第一缓冲弹簧11，第一缓冲弹簧11因此产生形变并进一步产生横向的作用力，进而便起到了缓冲保护的效果，在竖杆23、压缩块24、第二缓冲弹簧25的相互配合下可以对测试时的半导体分立器件起到缓冲保护的作用，以防测试结构6向下挤压对半导体分立器件造成损坏，具体的，测试时测试结构6向下挤压固定座7，固定座7挤压压缩块24，压缩块24挤压第二缓冲弹簧25，第二缓冲弹簧25会因此产生形变并进一步产生纵向的作用力，进而便达到了缓冲的效果。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims

1.一种半导体分立器件可调节测试夹具，包括底座（1），其特征在于：所述底座（1）的底部四角分别固定连接有支撑腿（2），所述底座（1）顶部左端固定连接有升降连接座（4），所述升降连接座（4）的上端右侧设置有测试结构（6），所述底座（1）的顶部右端固定连接有缓冲座（3），所述缓冲座（3）的顶部开设有缓冲槽（26），所述缓冲槽（26）的内腔上端活动连接有固定座（7），所述固定座（7）的底部固定连接有压缩块（24），所述缓冲槽（26）内壁固定连接有竖杆（23），所述竖杆（23）的外部活动套设有第二缓冲弹簧（25），所述固定座（7）的顶部左端固定连接有第一固定块（8），所述第一固定块（8）的右侧四角分别开设有限位槽（9），四个所述限位槽（9）的内腔分别活动插设有限位杆（10），四个所述限位杆（10）的右端固定连接有第一夹块（12），四个所述限位杆（10）的外部分别活动套设有第一缓冲弹簧（11），所述固定座（7）的顶部右端固定连接有第二固定块（21），所述第二固定块（21）的侧壁开设有通孔（19），所述通孔（19）的内壁固定连接有螺筒（20），所述螺筒（20）的内壁通过螺纹连接有螺杆（5），所述固定座（7）的顶部开设有滑槽（18），所述滑槽（18）内腔的底部开设有第二固定槽（17），所述第二固定槽（17）的内腔设置有滚轮（16），所述滑槽（18）的内腔活动连接有滑块（22），所述滑块（22）的顶部固定连接有第二夹块（13），所述第二夹块（13）的右侧壁体开设有第一固定槽（14），所述第一固定槽（14）的内壁固定连接有转动轴承（15）。

2.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件可调节测试夹具，其特征在于：所述竖杆（23）的数量为四个，四个竖杆（23）分别竖向固定连接于缓冲槽（26）内腔的四角。

3.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件可调节测试夹具，其特征在于：所述第二缓冲弹簧（25）的数量为四个，四个第二缓冲弹簧（25）分别活动套设于四个竖杆（23）的下端外部。

4.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件可调节测试夹具，其特征在于：所述压缩块（24）的四角分别活动套设于四个竖杆（23）的上端外部。

5.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件可调节测试夹具，其特征在于：所述第一缓冲弹簧（11）位于第一固定块（8）和第一夹块（12）之间，并且四个第一缓冲弹簧（11）的大小规格相同。

6.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件可调节测试夹具，其特征在于：所述螺杆（5）的左端位于第二夹块（13）和第二固定块（21）之间并且与转动轴承（15）的内壁固定连接，所述滚轮（16）的数量为九个，九个滚轮（16）的大小相同，并且九个滚轮（16）的顶部均能与滑块（22）的底部相接触。