CN215810722U - 一种x射线测厚仪 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种X射线测厚仪,包括底座、扫描架、驱动组件、第一扫描组件和第二扫描组件,所述底座上设置有扫描架,所述驱动组件设置于扫描架内,用于驱动驱动组件之间相对设置的所述第一扫描组件和第二扫描组件,所述第一扫描组件和第二扫描组件用于测量被测物品的厚度。本实用新型通过设置扫描架、驱动组件、第一扫描组件和第二扫描组件,实现X射线进行测量厚度;本实用新型具有结构简单、性能稳定和使用效果较好的优点。

Description

一种X射线测厚仪
技术领域
本实用新型涉及测厚仪技术领域,具体涉及一种X射线测厚仪。
背景技术
测厚仪可以用来在线测 量轧制后的板带材厚度,并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统,以实现对板带厚度的自动厚度控制(AGC)。 目前常见的测厚仪有γ射线、β射 线及同位素射线等,其安放位置均在板带轧机的出口或入口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊,目的是降低板厚的滞后调整时间。
发明内容
有鉴于此,本实用新型的主要目的在于提供一种X射线测厚仪。
为达到上述目的,本实用新型的技术方案是这样实现的:
本实用新型实施例提供一种X射线测厚仪,包括底座、扫描架、驱动组件、第一扫描组件和第二扫描组件,所述底座上设置有扫描架,所述驱动组件设置于扫描架内,用于驱动驱动组件之间相对设置的所述第一扫描组件和第二扫描组件,所述第一扫描组件和第二扫描组件用于测量被测物品的厚度。
本实用新型优选地,所述第一扫描组件包括第一滑轨、第一滑块和第一扫描枪,所述第一滑块设置于第一滑轨内,所述第一滑块上设置有第一扫描枪。
本实用新型优选地,所述第二扫描组件包括第二滑轨、第二滑块和第二扫描枪,所述第二滑块设置于第二滑轨内,所述第二滑块上设置有第二扫描枪。
本实用新型优选地,所述驱动组件包括第一电机和第二电机,所述第一电机和第二电机分别设置于扫描架的两端内壁上,所述第一电机用于驱动第一滑块上下移动,所述第二电机用于驱动第二滑块上下移动。
本实用新型优选地,所述第一扫描枪和第二扫描枪发射X射线。
与现有技术相比,本实用新型通过设置扫描架、驱动组件、第一扫描组件和第二扫描组件,实现X射线进行测量厚度;本实用新型具有结构简单、性能稳定和使用效果较好的优点。
附图说明
图1为本实用新型所述的一种X射线测厚仪的结构示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
本实用新型实施例提供一种X射线测厚仪,如图1所示,包括底座10、扫描架1、驱动组件、第一扫描组件和第二扫描组件,底座10上设置有扫描架1,驱动组件设置于扫描架1内,用于驱动驱动组件之间相对设置的第一扫描组件和第二扫描组件,第一扫描组件和第二扫描组件用于测量被测物品的厚度。
如图1所示,第一扫描组件包括第一滑轨4、第一滑块5和第一扫描枪6,第一滑块5设置于第一滑轨4内,第一滑块5上设置有第一扫描枪6。
如图1所示,第二扫描组件包括第二滑轨7、第二滑块8和第二扫描枪9,第二滑块8设置于第二滑轨7内,第二滑块8上设置有第二扫描枪9。
如图1所示,驱动组件包括第一电机2和第二电机3,第一电机2和第二电机3分别设置于扫描架1的两端内壁上,第一电机2用于驱动第一滑块5上下移动,第二电机3用于驱动第二滑块8上下移动。
如图1所示,第一扫描枪6和第二扫描枪9发射X射线。
综上所述,本实用新型通过设置扫描架、驱动组件、第一扫描组件和第二扫描组件,实现X射线进行测量厚度;本实用新型具有结构简单、性能稳定和使用效果较好的优点。
本实施例的附图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件;在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此附图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明,不能理解为对本专利的限制,对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。
需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、物品或者装置不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
以上所述,仅为本实用新型的较佳实施例而已,并非用于限定本实用新型的保护范围。

Claims (5)

1.一种X射线测厚仪,其特征在于,包括底座、扫描架、驱动组件、第一扫描组件和第二扫描组件,所述底座上设置有扫描架,所述驱动组件设置于扫描架内,用于驱动驱动组件之间相对设置的所述第一扫描组件和第二扫描组件,所述第一扫描组件和第二扫描组件用于测量被测物品的厚度。
2.根据权利要求1所述的一种X射线测厚仪,其特征在于,所述第一扫描组件包括第一滑轨、第一滑块和第一扫描枪,所述第一滑块设置于第一滑轨内,所述第一滑块上设置有第一扫描枪。
3.根据权利要求2所述的一种X射线测厚仪,其特征在于,所述第二扫描组件包括第二滑轨、第二滑块和第二扫描枪,所述第二滑块设置于第二滑轨内,所述第二滑块上设置有第二扫描枪。
4.根据权利要求3所述的一种X射线测厚仪,其特征在于,所述驱动组件包括第一电机和第二电机,所述第一电机和第二电机分别设置于扫描架的两端内壁上,所述第一电机用于驱动第一滑块上下移动,所述第二电机用于驱动第二滑块上下移动。
5.根据权利要求4所述的一种X射线测厚仪,其特征在于,所述第一扫描枪和第二扫描枪发射X射线。
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