CN215767596U - 检测设备和设备分类检测系统 - Google Patents

Abstract

本公开实施例涉及一种检测设备和设备分类检测系统。该设备包括：壳体、光感器件和聚光反射器件；所述壳体包括进光孔和检测孔；所述光感器件和所述聚光反射器件设置在所述壳体的内部；所述进光孔用于透过由被测投影设备投射出的光线；所述检测孔用于透过来自所述进光孔的光线以及透过上述光线经过被投面的折射光线；所述聚光反射器件用于将所述折射光线反射至所述光感器件；所述光感器件用于在检测到所述折射光线获取目标电学参数的当前值。本公开实施例提供的检测设备可以避免手部遮掩部分光线或者经手部的反射光线影响检测结果，有利于提高检测结果的准确度。并且，本实施例中通过设置聚光反射器件使光线覆盖球面，提高检测结果的准确度。

Description

检测设备和设备分类检测系统

技术领域

本公开涉及测试技术领域，尤其涉及一种检测设备和设备分类检测系统。

背景技术

通常，为检测投影仪的性能，用户将亮度计帖在幕布表面，由亮度计检测幕布表面处的投影亮度。目前，亮度计大部分采用球面测量方式，投影仪发出的光线可能无法完全覆盖球面，导致检测结果存在失真。并且，用户手持亮度计检测的方式可能存在手部遮掩部分光线或者经手部的反射光进入球面，也可能导致检测结果存在失真。

发明内容

本公开提供一种检测设备和设备分类检测系统，以解决相关技术的不足。

根据本公开实施例的第一方面，提供一种检测设备，包括：壳体、光感器件和聚光反射器件；所述壳体包括进光孔和检测孔；所述光感器件和所述聚光反射器件设置在所述壳体的内部；

所述进光孔用于透过由被测投影设备投射出的光线；所述检测孔用于透过来自所述进光孔的光线以及透过上述光线经过被投面的折射光线；所述聚光反射器件用于将所述折射光线反射至所述光感器件；

所述光感器件用于在检测到所述折射光线获取目标电学参数的当前值。

可选地，所述壳体的形状为长方体、球体或者梯形体。

可选地，所述进光孔包括朝向第一方向的第一进光孔和朝向第二方向的第二进光孔，所述第一方向和所述第二方向不同；所述壳体上设置有可活动的第一盖板和第二盖板；

所述第一盖板用于在第一状态时关闭所述第一进光孔，以及在第二状态时开放所述第一进光孔；

所述第二盖板用于在第一状态时关闭所述第二进光孔，以及在第二状态时开放所述第二进光孔。

可选地，所述聚光反射器件固定在所述壳体内部。

可选地，所述设备还包括角度调节器件；所述聚光反射器件固定在所述角度调节器件上；所述角度调节器件用于调节所述聚光反射器件的角度，以使折射光线对准所述光感器件。

可选地，所述角度调节器件的角度调节范围为[0，90]度。

可选地，所述聚光反射器件的靠近所述光感器件的表面设置有反射比超过预设反射比阈值的反射层。

可选地，所述反射层采用镀银制成。

可选地，所述目标电学参数包括以下至少一种：分辨率、色彩、色域、对比度、灰阶、色坐标和伽玛参数。

根据本公开实施例的第二方面，提供一种设备分类检测系统，包括如第一方面中的任一项所述的检测设备、被测投影设备、被投面和控制设备；所述检测设备贴合到所述被投面之上；所述控制设备与所述检测设备连接；

所述被测投影设备用于向所述被投面投射灰场信号测试图像；

所述检测设备用于在其进光孔进入光线时获取目标电学参数的当前值；

所述控制设备用于根据所述当前值确定所述被测投影设备的分类。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

本公开实施例提供的检测设备，通过将光感器件设置在壳体内部并贴合在被投面之上，无需用户手动检测，可以避免手部遮掩部分光线或者经手部的反射光线影响检测结果，有利于提高检测结果的准确度。并且，在本实施例中，通过设置聚光反射器件，由该聚光反射器件将被投面的折射光线反射至光感器件，从而使光线覆盖球面，提高检测结果的准确度。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。

图1是根据一示例性实施例示出的一种检测设备检测亮度的应用场景示意图。

图2是根据一示例性实施例示出的一种检测设备的结构示意图。

图3是根据一示例性实施例示出的另一种检测设备的结构示意图。

图4是根据一示例性实施例示出的又一种检测设备的结构示意图。

图5是根据一示例性实施例示出的聚光反射器件的移动路径示意图。

图6是根据一示例性实施例示出的一种设备分类检测系统的结构示意图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性所描述的实施例并不代表与本公开相一致的所有实施例。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置例子。

本公开实施例所称的被测投影设备可以为任何能够投射图像的设备，例如投影仪、手机。仅仅为了便于说明的目的，本公开实施例中以投影仪作为被测投影设备为例进行说明。

为解决上述技术问题，本公开实施例提供了一种检测设备，图1是根据一示例性实施例示出的一种检测设备检测亮度的应用场景示意图，图2是根据一示例性实施例示出的一种检测设备的结构示意图。

参见图1和图2，本公开实施例提供了一种检测设备，该设备1包括：壳体11、光感器件12和聚光反射器件13；壳体11包括进光孔111和检测孔112；光感器件12和聚光反射器件13设置在壳体11的内部。

其中，进光孔111用于透过由被测投影设备3投射出的光线；检测孔112用于透过来自进光孔111的光线以及透过上述光线经过被投面2的折射光线；聚光反射器件13用于将折射光线反射至光感器件12；

光感器件12用于在检测到折射光线获取目标电学参数的当前值，当前值用于后续确定被测投影设备的分类。其中，目标电学参数可以包括以下至少一种：分辨率、色彩、色域、对比度、灰阶、色坐标和伽玛参数等。技术人员可以根据具体场景选择合适的电学参数，相应方案落入本公开的保护范围。在一示例中，上述目标电学参数为亮度，该亮度的当前值可以表征被投面2前方指定距离处人眼观看到的亮度。

本实施例中，光感器件12可以采用一个光感传感器实现，或者采用具有采集一种电学参数的传感器组合而成。实际应用中，光感器件12可以包括多种传感器，在确定检测目标电学参数时可以换成相匹配的传感器。技术人员可以根据具体场景选择合适的方案，相应方案落入本公开的保护范围。

本实施例中，壳体11设置在上述光感器件12和聚光反射器件13的外部其目的在于，第一，提供一个空间，无需用户操作或者用户操作不会影响到检测结果；第二，提供一个类似暗室的光环境，以避免外界的环境光对光感器件12的影响。在一示例中，壳体11的形状可以设置有长方体、球体或者梯形体。技术人员可以根据具体场景选择合适的形状，相应方案落入本公开的保护范围。为保证附图清晰，本公开各附图中示出了长方体的壳体，但是不构成对本公开的限定，应理解的是，壳体不必是全封闭结构，例如，如图2所示的结构中，可以省略检测孔112和后续出现的第二进光孔113之间的部分壳体116，此时这部分壳体116对应空间会有环境光进入到检测设备的内部空间之中；可理解的是，在保证环境光可控的情况下，壳体不封闭也实现检测目标电学参数的当前值的效果。

在一些示例中，为避免壳体11对光线的漫反射影响到检测结果，该壳体11的内部和/或外部的表面可以设置有涂层，该涂层用于吸收到达该涂层的光线，以减少光线的漫反射。涂层可以采用以下至少一种材料制成：石墨烯。石墨、炭黑、铁氧体、碳化硅等，技术人员可以根据具体场景进行选择，相应方案落入本公开的保护范围。

本实施例中，壳体11包括进光孔。参见图2，进光孔可以包括朝向第一方向的第一进光孔111和朝向第二方向的第二进光孔113。以图2中所示壳体11为长方体为例，第一方向是指从检测设备的背面指向正面的方向，即，检测设备1的正前方或者正前方偏下的位置；第二方向是指从检测设备的顶部指向底部的方向，或者说检测设备1的底部或者底部偏向正前方的方向。即第一方向与第二方向是两个不同的方向。

以第一方向为例，当被测投影设备放置在该检测设备1的第一方向的位置时，投射的光线可以通过第一进光孔111进入检测设备1的内部，这种情况例如适用于检测具有前投模式的被测投影设备。其中，被测投影设备的前投模式是指被测投影设备与被投面之间的距离d大于或等于预设距离时的投影模式，即被测投影设备靠近被投面的最近部位与被投面之间的距离。其中，上述预设距离d取值为30～70cm。在一示例中，d取值为50cm。

以第二方向为例，当被测投影设备放置在该检测设备1的第二方向的位置时，投射的光线可以通过第二进光孔113进入检测设备1的内部，这种情况例如适用于检测具有后投模式的被测投影设备。其中，被测投影设备的后投模式是指被测投影设备与被投面之间的距离d小于或等于预设距离时的投影模式。

在一示例中，该检测设备1可以接收到位于0～70度的范围内放置的被测投影设备3，其中0度是指光感器件12所在平面，70度是按照逆时针方向旋转70度所得的角度。

本实施例中，继续参见图2，壳体11上可以设置有可活动的第一盖板114和第二盖板115。其中，第一盖板114能够具有两个状态，即第一状态和第二状态，在第一状态时，第一盖板114关闭第一进光孔111，并且在第二状态时，第一盖板114开放第一进光孔111，图2示出了第一盖板在第二状态时开放第一进光孔111的效果示意，这种情况例如适用于投影仪的前投模式。类似地，在第一状态时，第二盖板115关闭第二进光孔113，并且在第二状态时，第二盖板115开放第二进光孔113，图2示出了第二盖板115在第二状态时开放第二进光孔113的效果示意，这种情况例如适用于投影仪的后投模式。这样，本实施例中通过设备2个盖板和进光孔可以扩大覆盖范围(如上述的0～70度)，满足不同生产厂家提供的投影设备的检测需求。应理解的是，为方便描述检测设备中各部位的结构，图2示出了进光孔111和113同时开放的状态，具体应用中可以根据实际需要开放/关闭第一进光孔111和第二进光孔113，以满足不同的投影模式。

在一些示例中，第一盖板114的面板可以大于第一进光孔111的面积，当第一盖板114处于第一状态时，第一盖板114可以贴合到外壳的表面，由于第一盖板114面积较大，可以与壳体的外表面形成重叠区域，这部分重叠区域可以避免光线进入第一进光孔111，避免外界环境光影响以检测结果。

在另一些示例中，参见图3，第一盖板114上可以设置有卡扣1141，壳体11上设置有卡槽(图中未示出)。当第一盖板114处于第一状态时，卡扣1141可以插入卡槽内。这样，第一盖板114可以稳定的固定在壳体11上，并且可以避免光线进入第一进光孔111，避免外界环境光影响以检测结果。

需要说明的是，第二盖板115可以采用与第一盖板114的结构，在此不再赘述。此外，上述卡扣和卡槽的连接方式仅是示意，还可以采用其他已知的连接方式，例如螺栓连接，形状配合连接等等，在能够达到上述开放/关闭对应进光孔的情况下，相应方案落入本公开的保护范围。

另外，第一盖板114和第二盖板115的表面均设置有涂层，该涂层与壳体的涂层可以采用相同的工艺和材料制成。

本实施例中，参见图2，聚光反射器件13可以固定在壳体11的内表面上，这样可以将检测孔112透过的折射光线直接反射至光感器件12，达到快速检测的效果。

在一示例中，聚光反射器件13的靠近光感器件12的表面设置有反射比超过预设反射比阈值的反射层。其中反射比是指材质反射的漫反射光能的百分比，例如90％～99％。上述预设反射比阈值可以为95％。本示例中，上述反射层采用镀银实现。这样，本示例中通过设置反射层，可以减少折射光线的损耗，使尽可能多的光线汇聚到光感器件12，有利于保证检测结果的准确度。

本实施例中，参见图4，上述检测设备1还可以包括角度调节器件14。并且，聚光反射器件13可以固定在角度调节器件14之上。其中，角度调节器件14可以用于调节聚光反射器件的角度，以使折射光线对准上述光感器件12，或者说，使尽可能多的折射光线汇聚到光感器件12之上，从而提高检测结果的准确度。

在一些示例中，上述角度调节器件14可以调节聚光反射器件13在一个指定平面内旋转，上述指定平面是指聚光反射器件13的中心、光感器件12的中心以及检测孔的中心这三个中心所在平面，或者说，角度调节器件14的旋转范围覆盖检测孔和光感器件之间的范围，达到既接收尽可能多的折射光线又尽可能多汇聚折射光线到光感器件12，旋转范围w如图4中所示。本实施例中，角度调节器件14可以从第一位置旋转到第二位置，第一位置是指聚光反射器件13指向检测孔112时角度调节器件14所对应的位置，第二位置是指聚光反射器件13指向光感器件12时角度调节器件14所对应的位置。然后，光感器件12可以将角度调节器件14旋转过程中对应的最大值作为本次检测结果。

在另一些示例中，上述角度调节器件14调节聚光反射器件13既按照S形移动又在一个指定平面内旋转，移动路径如图5所示效果。这样，本示例中可以扩大聚光反射器件的移动范围，有利于找到汇聚折射光线到光感器件12最多的位置，从而有利于提高检测结果的准确度。

本实施例中，角度调节器件14可以包括1个驱动器件，如马达，利用马达的旋转来带动聚光反射器件13在指定平面内旋转。角度调节器件14可以包括2个驱动器件，如2个马达，1个马达带动聚光反射器件13进行S形运动，1个马达带动聚光反射器件13在指定平面内旋转。角度调节器件14可以是云台，利用云台在三个维度上调节聚光反射器件13的朝向。在一些示例中，角度调节器件14的角度调节范围为[0，90]度，其中0度是指聚光反射器件13正对被投面时角度调节器件14对应的角度，90度是指聚光反射器件13正对检测设备的底部时角度调节器件14对应的角度。

本实施例中，检测设备1还包括通信器件(图中未示出)。该通信器件与光感器件12连接，用于将光感器件12获得的目标电学参数的当前值输出。该通信器件可以为有线通信接口(如RS232接口)，还可以是无线通信模组(如WiFi模组、蓝牙模组等)，技术人员可以根据具体场景选择合适通信方式，相应方案落入本公开的保护范围。在一示例中，检测设备1选择WiFi模组实现通信。

本公开实施例还提供了一种设备分类检测系统，参见图6，包括如图1～图5所示的检测设备1、被投面2、被测投影设备3和控制设备4。检测设备1可以贴合到被投面2之上；控制设备4分别与检测设备1和被测投影设备3连接。其中，控制设备4用于向被测投影设备3提供灰场信号测试图像。被测投影设备3用于向被投面2投射灰场信号测试图像。检测设备1用于在其进光孔进入光线时获取目标电学参数的当前值；控制设备4用于根据当前值确定被测投影设备3的分类。

本实施例中，上述灰场信号测试图像是指各像素的像素值相同的纯色图像，例如纯黑(像素值均为0)、纯灰(像素值均为0～255间的同一个数值)和纯白(像素值均为255)图像。

本实施例中，被投面2是指对被测投影设备3的光线进行漫反射的介质，如幕布、显示基板或者白墙等，可以根据被测投影设备3的型号选择相匹配的被投面，相应方案落入本公开的保护范围。

本实施例中，控制设备4可以通过通信器件与检测设备1进行通信，从而获取到检测设备1检测的目标电学参数的当前值。然后，控制设备4可以根据所述当前值确定所述被测投影设备的分类。其中，

当实际值超过第一阈值时，控制设备4可以确定所述被测投影设备的类型为第一类型；当实际值超过第二阈值且小于第一阈值时，控制设备4可以确定被测投影设备的类型为第二类型；当所述实际值超过第三阈值且小于所述第二阈值时，控制设备4可以确定被测投影设备的类型为第三类型；当所述实际值小于所述第三阈值时，控制设备4可以确定被测投影设备的类型为第四类型。

需要说明的是，第一阈值、第二阈值和第三阈值可以根据所选的电学参数来确定，以电学参数是动态对比度为例，第一阈值可为40000：1，第二阈值可为20000：1，第三阈值可为5000：1。

需要说明的是，第一类型可以是优秀产品、第二类型可以是良好产品、第三类型可以是普通产品，第四类型可以是不合格产品。第一类型、第二类型、第三类型和第四类型可以根据检测设备的评价等级来确定，例如设置为2～5种类型，每种类型代表不同的含义，即在能够区别被测投影设备的情况下，相应方案落入本公开的保护范围。

下面结合图1～图5所示的检测设备和图6所示的设备分类检测系统，以及当前值是亮度值为例，描述检测被测投影设备的类型的过程：

(1)将被测投影设备调节到规定的标准工作状态，参考SJ/T 11746中的测试状态调节，做如下规定：a)将被测投影设备的图像设置恢复到“出厂设置”；如无“出厂设置”，将图像模式调节到“标准”或与之相对应的模式，其它菜单设置为开机后的设置。b)将被测投影设备的环境光控制关闭；如果不能关闭，检测设备中光感器件处给予不超过300lx的照度；c)将被测投影设备的幅型比调节到全屏显示模式，即重显率为100％的幅型比模式。如果没有这种模式，则将幅型比调节到重显率最高的显示模式。

(2)将检测设备连接到控制设备上，以及将被测投影设备连接到控制设备上。由控制设备为被测投影设备提供灰场信号测试图像。

(3)依次输入0％-100％的灰场信号测试图，以按照设定比例(如10％可以调节)递增。

(4)考虑到被测投影设备的动态对比度功能可以分为手动开关或内嵌式自动开关的，可如下操作：(41)针对需要手动开关动态对比度的被测投影设备进行以下测试步骤：设置动态对比度开，检测设备感应光线并输出亮度值；设置动态对比度关，检测设备感应光线并输出亮度值。(42)对于具有自动动态对比度功能的投影机，只需要根据灰场信号测试图依次更换读取检测设备的亮度值。

(5)统计依次变动的动态对比度，对动态对比度进行客观的数据分析。例如，动态对比度>＝A:1时，确定被测投影设备为卓越类型；动态对比度<A:1且>＝B:1时，确定被测投影设备为优秀类型；动态对比度<B:1且>＝C:1时，确定被测投影设备为优秀类型；动态对比度<C:1时，确定被测投影设备为不合格产品类型。

下面结合图1～图5所示的检测设备和图6所示的设备分类检测系统，以及获取最大亮度值为例，按GB/T 28037的试验方法描述检测被测投影设备的类型的过程：

将被测投影设备调节到规定的工作状态，该工作状态可以参见GB/T 28037的试验方法所规定的工作状态。

将灰场信号测试图像调节为100％全白图像，测量并记录检测设备中光感器件能够接收到的最大亮度值，在设定时间段(如5min)内至少记录设定次数(如3次)。然后计算设定次数的最大亮度值的平均值，得到最终的亮度值。

下面结合图1～图5所示的检测设备和图6所示的设备分类检测系统，以及电学参数为色度为例，按SJ/T 11346的相关试验方法描述检测被测投影设备的类型的过程：

将投影机调节至规定的工作状态；该工作状态可以参见GB/T 28037的试验方法所规定的工作状态。

分别输入100％全红场信号、100％全绿场信号、100％全蓝场信号的纯色测试图。

分别以检测设备中的光感器件抓取不同纯色测试图色坐标值u’和v’。

利用不同纯色测试图色坐标值再计算色度不均匀性，用Δu’v’表示，

下面结合图1～图5所示的检测设备和图6所示的设备分类检测系统，以及电学参数为色温为例，按SJ/T 11346的相关试验方法描述检测被测投影设备的类型的过程：

将投影机调节至规定的标准工作状态；该工作状态可以参见SJ/T 11346的试验方法所规定的工作状态。

输入100％全白场信号，调节被测投影设备，使其CCT值尽量与产品说明书中的CCT值相等；

用光感器件中的色度光学探头测量色温值，按GB/T 7921的有关规定，用“K”表示并记下测量结果。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的公开后，将容易想到本公开的其它实施方案。本公开旨在涵盖任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (10)

1.一种检测设备，其特征在于，包括：壳体、光感器件和聚光反射器件；所述壳体包括进光孔和检测孔；所述光感器件和所述聚光反射器件设置在所述壳体的内部；

所述进光孔用于透过由被测投影设备投射出的光线；所述检测孔用于透过来自所述进光孔的光线以及透过上述光线经过被投面的折射光线；所述聚光反射器件用于将所述折射光线反射至所述光感器件；

所述光感器件用于在检测到所述折射光线获取目标电学参数的当前值。

2.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述壳体的形状为长方体、球体或者梯形体。

3.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述进光孔包括朝向第一方向的第一进光孔和朝向第二方向的第二进光孔，所述第一方向和所述第二方向不同；所述壳体上设置有可活动的第一盖板和第二盖板；

其中，所述第一盖板用于在第一状态时关闭所述第一进光孔，以及在第二状态时开放所述第一进光孔；并且

所述第二盖板用于在第一状态时关闭所述第二进光孔，以及在第二状态时开放所述第二进光孔。

4.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述聚光反射器件固定在所述壳体内部。

5.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述设备还包括角度调节器件；所述聚光反射器件固定在所述角度调节器件上；所述角度调节器件用于调节所述聚光反射器件的角度，以使折射光线对准所述光感器件。

6.根据权利要求5所述的检测设备，其特征在于，所述角度调节器件的角度调节范围为[0，90]度。

7.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述聚光反射器件的靠近所述光感器件的表面设置有反射比超过预设反射比阈值的反射层。

8.根据权利要求7所述的检测设备，其特征在于，所述反射层采用镀银制成。

9.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述目标电学参数包括以下至少一种：分辨率、色彩、色域、对比度、灰阶、色坐标和伽玛参数。

10.一种设备分类检测系统，其特征在于，包括如权利要求1～9中的任一项所述的检测设备、被测投影设备、被投面和控制设备；所述检测设备贴合到所述被投面之上；所述控制设备与所述检测设备连接；

所述被测投影设备用于向所述被投面投射灰场信号测试图像；

所述检测设备用于在其进光孔进入光线时获取目标电学参数的当前值；

所述控制设备用于根据所述当前值确定所述被测投影设备的分类。

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