CN215728483U - 一种下压式测试机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型旨在提供一种结构简单、操作方便、占用空间小且下压动作垂直度高的下压式测试机构。本实用新型包括底座、铰接在所述底座上的盖板和同轴预压组件，所述同轴预压组件位于所述底座和所述盖板之间，所述底座上设置有载板组件和PCB转接板，所述载板组件与设置在所述PCB转接板上的测试探针相配合，所述同轴预压组件上设置有浮动块组件，所述浮动块组件包括浮动设置在所述同轴预压组件上的浮动板，所述浮动板的两侧均设置有滚动轴承，所述浮动板上浮动设置有压针块，所述压针块穿过所述同轴预压组件并与所述载板组件相配合。本实用新型可应用于测试机构的技术领域。

Description

一种下压式测试机构

技术领域

本实用新型涉及测试机构的技术领域，特别涉及一种下压式测试机构。

背景技术

随着消费类电子产品核心零部件小型化的发展趋势，在当今电子测试领域中，对各类核心零部件的测试的精度和外观要求也越来越高，也有一些客户会对Socket（一种通过Pogo pin的一端连接产品连接器，另一端连接PCB板并带转接测试插座的一种手动夹具）的外观和尺寸也有较高的要求。

在对这类电子产品做测试时，现有的Pogo pin（电测试的接触媒介，为高端精密型电子五金元器件，也称为精密探针）翻盖式手动夹具在扣合时，或多或少存在一些角度，由于存在旋转角度问题，靠近旋转轴一侧会先接触B2B连接器或连接器背部表面，在完全扣合时对产品和Pogo pin模组（一种精密探针的安装固定模组，具有对探针定位、导向、固定及导向等作用）存在一定的侧向力，如果Pogo pin模组设计在上盖板上，会出现 B2B连接器一端先进入导向槽，探针针尖会在连接器上滑动，将会有压伤B2B连接器的风险，严重时可能使探针头弯曲或滑动，降低探针寿命，对被测产品表面也存在划伤、压伤的风险，如果Pogopin模组设计在底板上，上盖板的弹性压块与产品背部表面接触时存在侧向滑动，也会造成产品表面划伤的风险。目前，也有采用的侧面连杆机构设计的垂直下压结构，然而这样的结构存在着占用夹具空间大，外观也不美观的缺点。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种结构简单、操作方便、占用空间小且下压动作垂直度高的下压式测试机构。

本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括底座和铰接在所述底座上的盖板及同轴预压组件，所述同轴预压组件位于所述底座和所述盖板之间，所述底座上设置有载板组件和PCB转接板，所述载板组件浮动设置在所述底座上并与设置在所述PCB转接板上的测试探针相配合，所述同轴预压组件上设置有浮动块组件，所述浮动块组件包括浮动设置在所述同轴预压组件上的浮动板，所述浮动板的两侧均设置有滚动轴承，所述浮动板上浮动设置有压针块，所述压针块穿过所述同轴预压组件并与所述载板组件相配合。

进一步，所述同轴预压组件包括与所述底座相铰接的预压板，所述预压板上开设有与所述浮动板相适配的浮动槽，所述浮动槽的两侧均设置有轴承槽，所述轴承槽与所述滚动轴承相配合，所述浮动槽内开设有与所述压针块相适配的针块通槽。

进一步，所述浮动板上开设有压板槽，所述压板槽内开设有嵌合针槽，所述压针块滑动设置在所述嵌合针槽内且下端穿过所述嵌合针槽与所述针块通槽相适配，所述压板槽上设置有固定压板，所述压针块与所述固定压板之间设置有第一浮动弹簧。

进一步，所述浮动板上设置有四根第一等高螺丝，所述第一等高螺丝的下端穿过所述浮动板并与所述预压板相连接，所述浮动板与所述预压板之间设置有四根第一伸缩弹簧，所述浮动槽上还设置有两根定位销，两根所述定位销与开设在所述浮动板前后两侧的两个导向孔相适配。

进一步，所述盖板的前端设置有两根第二等高螺丝，所述第二等高螺丝的下端穿过所述盖板并与所述预压板的前端相连接，所述盖板与所述预压板之间设置有两根第二伸缩弹簧。

进一步，所述PCB转接板设置在所述底座的下端，所述底座上开设有阶梯通槽，所述PCB转接板上设置有探针块，所述测试探针设置在所述探针块内，所述载板组件包括产品载板，所述产品载板的两端设置有限位阶梯，所述产品载板位于所述阶梯通槽内，所述PCB转接板上设置有若干根第三伸缩弹簧，所述第三伸缩弹簧位于所述PCB转接板和所述产品载板之间，所述产品载板上设置有产品槽，所述产品槽的一端设置有与所述探针块相适配的连接通槽，所述压针块与所述产品槽相配合。

进一步，所述压板槽内还开设有第一嵌合槽和第二嵌合槽，所述第一嵌合槽和所述第二嵌合槽内分别滑动设置有第一压紧块和第二压紧块，所述第一压紧块和所述第二压紧块上均设置有第二浮动弹簧，所述浮动槽内开设有分别与所述第一压紧块和所述第二压紧块的下端相适配的第一压紧通槽和第二压紧通槽，所述第一压紧块和所述第二压紧块的下端均与所述产品槽相配合。

进一步，所述盖板的后端设置有铰接块，所述预压板的后端设置有铰接片，所述底座的后端设置有铰接轴，所述铰接轴穿过所述铰接块及所述铰接片，所述铰接轴的两端均设置有扭簧，所述扭簧与所述底座及所述盖板相配合。

进一步，所述盖板的前端设置有浮动卡扣，所述底座的前端设置有与所述浮动卡扣相配合的固定卡座，所述底座上开设有两个定位导孔，所述盖板上设置有两根与所述定位导孔相适配的定位导销。

进一步，所述PCB转接板的数量为两块，所述载板组件、所述同轴预压组件和所述浮动块组件的数量均为两组。

本实用新型的有益效果是：本实用新型采用盖板与底座铰接的结构进行下压使得待测产品通过测试探针与PCB转接板导通从而完成测试，下压测试时，待测产品放置在载板组件上，盖板施力接触浮动块组件的滚动轴承，滚动轴承转动同时施力使得同轴预压组件同步下压，直至同轴预压组件压合至最低位置，随后浮动板作进一步下压动作，压针块垂直下压使得其下端接触待测产品并带动载板组件及待测产品下移，最后令待测产品与测试探针接触，实现导通，从而进行测试。由上述可见，本实用新型采用压合结构，配合设置滚动轴承，使下压时的角度旋转运动转换为垂直运动，从而保证了下压动作的垂直度，并且不需要采用侧边连杆结构，使得整体结构简单、紧凑，所要占用的空间较小，外观也较为美观，由于下压时运动为垂直运动，能够保护待测产品不被划伤，也能够延长测试探针的使用寿命。

附图说明

图1是本实用新型未盖合时的立体结构示意图；

图2是本实用新型盖合后的立体结构示意图；

图3是本实用新型的爆炸图；

图4是本实用新型盖合后的剖视图；

图5是所述同轴预压组件和所述浮动块组件的爆炸图；

图6是所述载板组件和所述底座的爆炸图；

图7是所述载板组件的立体结构示意图。

具体实施方式

如图1至图7所示，在本实施例中，本实用新型包括底座1和铰接在所述底座1上的盖板2及同轴预压组件3，所述同轴预压组件3位于所述底座1和所述盖板2之间，所述底座1上设置有载板组件4和PCB转接板5，所述载板组件4浮动设置在所述底座1上并与设置在所述PCB转接板5上的测试探针51相配合，所述同轴预压组件3上设置有浮动块组件6，所述浮动块组件6包括浮动设置在所述同轴预压组件3上的浮动板61，所述浮动板61的两侧均设置有滚动轴承62，所述浮动板61上浮动设置有压针块63，所述压针块63穿过所述同轴预压组件3并与所述载板组件4相配合。所述盖板2和所述同轴预压组件3均能够相对所述底座1进行翻转压合，从而用于在测试时对待测产品进行下压；所述PCB转接板5设置在所述底座1的下端，起转接功能，用于外接测试设备，并且所述测试探针51设置在所述PCB转接板5上，与待测产品接触即可导通进行测试；所述载板组件4浮动设置在所述底座1上，可上下移动，所述载板组件4用于待测产品的放置，在受力下移时将与所述PCB转接板5上的所述测试探针51配合，使得所述待测产品被导通；所述浮动块组件6包括浮动板61，所述浮动板61浮动设置在所述同轴预压组件3上，两个所述滚动轴承62设置所述浮动板61的左右两侧，所述滚动轴承62用于将所述盖板2下压时的角度旋转运动转换为垂直运动，即在所述盖板2下压时，与所述滚动轴承62接触时所述滚动轴承62将承受的斜向力旋转卸掉并提供垂直下压力度，使得所述浮动板61下压时保持垂直动作，所述压针块63浮动设置在所述浮动板61上，所述压针块63用于对所述载板组件4进行下压，从而使得放置在所述载板组件4的待测产品连同所述载板组件4一起下移，从而使得所述测试探针51接触待测产品，实现导通，从而进行测试。由上述可见，本实用新型采用盖板2与底座1铰接的结构进行下压使得待测产品通过测试探针51与PCB转接板5导通从而完成测试，下压测试时，待测产品放置在载板组件4上，盖板2施力接触浮动块组件6的滚动轴承62，滚动轴承62转动同时施力使得同轴预压组件3同步下压，直至同轴预压组件3压合至最低位置，随后浮动板61作进一步下压动作，压针块63垂直下压使得其下端接触待测产品并带动载板组件4及待测产品下移，最后令待测产品与测试探针51接触，实现导通，从而进行测试。本实用新型采用压合结构，配合设置滚动轴承62，使下压时的角度旋转运动转换为垂直运动，从而保证了下压动作的垂直度，并且不需要采用侧边连杆结构，使得整体结构简单、紧凑，所要占用的空间较小，外观也较为美观，由于下压时运动为垂直运动，能够保护待测产品不被划伤，也能够延长测试探针51的使用寿命。

在本实施例中，所述同轴预压组件3包括与所述底座1相铰接的预压板31，所述预压板31上开设有与所述浮动板61相适配的浮动槽32，所述浮动槽32的两侧均设置有轴承槽33，所述轴承槽33与所述滚动轴承62相配合，所述浮动槽32内开设有与所述压针块63相适配的针块通槽34。所述预压板31的后端铰接在所述底座1上，由此获得翻转效果，所述浮动槽32用于给所述浮动板61提供浮动空间，所述轴承槽33用于所述滚动轴承62的放置以及提供活动空间，所述针块通槽34位于所述浮动槽32内，所述针块通槽34作为所述压针块63下压时的通道使用。

在本实施例中，所述浮动板61上开设有压板槽64，所述压板槽64内开设有嵌合针槽65，所述压针块63滑动设置在所述嵌合针槽65内且下端穿过所述嵌合针槽65与所述针块通槽34相适配，所述压板槽64上设置有固定压板66，所述压针块63与所述固定压板66之间设置有第一浮动弹簧67。所述嵌合针槽65为一阶梯槽，所述压针块63嵌合在所述嵌合针槽65内且上端受所述嵌合针槽65的限制无法滑出，所述固定压板66限制所述压针块63的上移行程，从而使得所述压针块63的上下移动处在设定范围内，所述第一浮动弹簧67使得所述压针块63获得一向下的浮动力，从而在测试时能够浮动下压，因此在于待测产品进行接触时具有缓冲效果，避免硬性接触，从而具有一定的保护作用。

在本实施例中，所述浮动板61上设置有四根第一等高螺丝68，所述第一等高螺丝68的下端穿过所述浮动板61并与所述预压板31相连接，所述浮动板61与所述预压板31之间设置有四根第一伸缩弹簧69，所述浮动槽32上还设置有两根定位销610，两根所述定位销610与开设在所述浮动板61前后两侧的两个导向孔611相适配。所述浮动板61通过四根所述第一等高螺丝68和四个所述第一伸缩弹簧69与所述预压板31浮动连接，两根所述定位销610与两个所述导向孔611配合使得所述浮动板61在安装时便于对位，从而有利于安装，便于操作人员进行操作。

在本实施例中，所述盖板2的前端设置有两根第二等高螺丝35，所述第二等高螺丝35的下端穿过所述盖板2并与所述预压板31的前端相连接，所述盖板2与所述预压板31之间设置有两根第二伸缩弹簧36。所述预压板31通过两根所述第二等高螺丝35和两个所述第二伸缩弹簧36与所述盖板2浮动连接，由此在测试时可由所述盖板2带动所述预压板31进行翻转，并且浮动连接可以进一步提高缓冲效果，对部件起到保护作用。

在本实施例中，所述PCB转接板5设置在所述底座1的下端，所述底座1上开设有阶梯通槽11，所述PCB转接板5上设置有探针块52，所述测试探针51设置在所述探针块52内，所述载板组件4包括产品载板41，所述产品载板41的两端设置有限位阶梯42，所述产品载板41位于所述阶梯通槽11内，所述PCB转接板5上设置有若干根第三伸缩弹簧53，所述第三伸缩弹簧53位于所述PCB转接板5和所述产品载板41之间，所述产品载板41上设置有产品槽43，所述产品槽43的一端设置有与所述探针块52相适配的连接通槽，所述压针块63与所述产品槽43相配合。所述PCB转接板5固定设置在所述底座1的下端，所述探针块52固定在所述PCB转接板5上，所述测试探针51设置在所述探针块52内且下端与所述PCB转接板5相连接，所述产品载板41活动设置在所述阶梯通槽11内且位于所述PCB转接板5和所述底座1之间，所述产品载板41的上移行程受所述底座1的限制，下移行程受所述PCB转接板5的限制，所述第三伸缩弹簧53的数量为四根，所述第三伸缩弹簧53为所述产品载板41提供浮动力，使得所述产品载板41在所述阶梯通槽11内上下浮动，所述产品载板41上开设有产品槽43用于待测产品的放置，所述连接通槽位于所述产品载板41的下端且与所述产品槽43相连通，所述连接通槽与所述探针块52适配，使得所述产品载板41在下移时能令所述探针块52嵌入，从而令所述测试探针51伸出，与待测产品连接导通，实现测试。

在本实施例中，所述压板槽64内还开设有第一嵌合槽612和第二嵌合槽613，所述第一嵌合槽612和所述第二嵌合槽613内分别滑动设置有第一压紧块614和第二压紧块615，所述第一压紧块614和所述第二压紧块615上均设置有第二浮动弹簧616，所述浮动槽32内开设有分别与所述第一压紧块614和所述第二压紧块615的下端相适配的第一压紧通槽617和第二压紧通槽618，所述第一压紧块614和所述第二压紧块615的下端均与所述产品槽43相配合。所述第一压紧块614和所述第二压紧块615通过所述第二浮动弹簧616向下浮动设置在所述浮动板61上，所述第一压紧块614通过所述第一压紧通槽617穿出，所述第二压紧块615通过所述第二压紧通槽618穿出，所述第一压紧块614和所述第二压紧块615分别对所述产品槽43的两个不同位置进行压紧动作，在测试时可对长条状的待测产品进行压紧，从而防止待测产品在测试的过程中出现折叠或位置偏移的情况，保证测试工作的顺利进行。

在本实施例中，所述盖板2的后端设置有铰接块7，所述预压板31的后端设置有铰接片8，所述底座1的后端设置有铰接轴9，所述铰接轴9穿过所述铰接块7及所述铰接片8，所述铰接轴9的两端均设置有扭簧10，所述扭簧10与所述底座1及所述盖板2相配合。所述盖板2通过所述铰接块7和所述铰接轴9铰接在所述底座1上，所述预压板31通过所述铰接片8和所述铰接轴9铰接在所述底座1上，两个所述扭簧10为所述盖板2提供浮动力，从而使得所述盖板2在不压合时能够保持张开的状态，因此在测试时能够方便操作人员放置或取出产品，所述盖板2的自然张开角度由所述扭簧10的强度决定。

在本实施例中，所述盖板2的前端设置有浮动卡扣21，所述底座1的前端设置有与所述浮动卡扣21相配合的固定卡座12，所述底座1上开设有两个定位导孔13，所述盖板2上设置有两根与所述定位导孔13相适配的定位导销22。所述浮动卡扣21可转动且能够自行复位，所述固定卡座12用于所述浮动卡扣21的配合，使得所述浮动卡扣21能够扣合，从而令所述盖板2与所述底座1保持盖合状态，从而实现待测产品与所述测试探针51保持导通状态，实现持续测试；所述盖板2通过所述定位导销22与所述定位导孔13配合实现定位，从而在盖合时能够具有正确的落点，保证盖合严密。

在本实施例中，所述PCB转接板5的数量为两块，所述载板组件4、所述同轴预压组件3和所述浮动块组件6的数量均为两组。本实用新型可以一次测试两个待测产品，也可以根据需要设置多个相同组件，满足一次性测试待测产品的个数需求。

虽然本实用新型的实施例是以实际方案来描述的，但是并不构成对本实用新型含义的限制，对于本领域的技术人员，根据本说明书对其实施方案的修改及与其他方案的组合都是显而易见的。

Claims (10)

1.一种下压式测试机构，其特征在于：它包括底座（1）、铰接在所述底座（1）上的盖板（2）和同轴预压组件（3），所述同轴预压组件（3）位于所述底座（1）和所述盖板（2）之间，所述底座（1）上设置有载板组件（4）和PCB转接板（5），所述载板组件（4）与设置在所述PCB转接板（5）上的测试探针（51）相配合，所述同轴预压组件（3）上设置有浮动块组件（6），所述浮动块组件（6）包括浮动设置在所述同轴预压组件（3）上的浮动板（61），所述浮动板（61）的两侧均设置有滚动轴承（62），所述浮动板（61）上浮动设置有压针块（63），所述压针块（63）穿过所述同轴预压组件（3）并与所述载板组件（4）相配合。

2.根据权利要求1所述的一种下压式测试机构，其特征在于：所述同轴预压组件（3）包括与所述底座（1）相铰接的预压板（31），所述预压板（31）上开设有与所述浮动板（61）相适配的浮动槽（32），所述浮动槽（32）的两侧均设置有轴承槽（33），所述轴承槽（33）与所述滚动轴承（62）相配合，所述浮动槽（32）内开设有与所述压针块（63）相适配的针块通槽（34）。

3.根据权利要求2所述的一种下压式测试机构，其特征在于：所述浮动板（61）上开设有压板槽（64），所述压板槽（64）内开设有嵌合针槽（65），所述压针块（63）滑动设置在所述嵌合针槽（65）内且下端穿过所述嵌合针槽（65）与所述针块通槽（34）相适配，所述压板槽（64）上设置有固定压板（66），所述压针块（63）与所述固定压板（66）之间设置有第一浮动弹簧（67）。

4.根据权利要求2所述的一种下压式测试机构，其特征在于：所述浮动板（61）上设置有四根第一等高螺丝（68），所述第一等高螺丝（68）的下端穿过所述浮动板（61）并与所述预压板（31）相连接，所述浮动板（61）与所述预压板（31）之间设置有四根第一伸缩弹簧（69），所述浮动槽（32）上还设置有两根定位销（610），两根所述定位销（610）与开设在所述浮动板（61）前后两侧的两个导向孔（611）相适配。

5.根据权利要求2所述的一种下压式测试机构，其特征在于：所述盖板（2）的前端设置有两根第二等高螺丝（35），所述第二等高螺丝（35）的下端穿过所述盖板（2）并与所述预压板（31）的前端相连接，所述盖板（2）与所述预压板（31）之间设置有两根第二伸缩弹簧（36）。

6.根据权利要求3所述的一种下压式测试机构，其特征在于：所述PCB转接板（5）设置在所述底座（1）的下端，所述底座（1）上开设有阶梯通槽（11），所述PCB转接板（5）上设置有探针块（52），所述测试探针（51）设置在所述探针块（52）内，所述载板组件（4）包括产品载板（41），所述产品载板（41）的两端设置有限位阶梯（42），所述产品载板（41）位于所述阶梯通槽（11）内，所述PCB转接板（5）上设置有若干根第三伸缩弹簧（53），所述第三伸缩弹簧（53）位于所述PCB转接板（5）和所述产品载板（41）之间，所述产品载板（41）上设置有产品槽（43），所述产品槽（43）的一端设置有与所述探针块（52）相适配的连接通槽，所述压针块（63）与所述产品槽（43）相配合。

7.根据权利要求6所述的一种下压式测试机构，其特征在于：所述压板槽（64）内还开设有第一嵌合槽（612）和第二嵌合槽（613），所述第一嵌合槽（612）和所述第二嵌合槽（613）内分别滑动设置有第一压紧块（614）和第二压紧块（615），所述第一压紧块（614）和所述第二压紧块（615）上均设置有第二浮动弹簧（616），所述浮动槽（32）内开设有分别与所述第一压紧块（614）和所述第二压紧块（615）的下端相适配的第一压紧通槽（617）和第二压紧通槽（618），所述第一压紧块（614）和所述第二压紧块（615）的下端均与所述产品槽（43）相配合。

8.根据权利要求2所述的一种下压式测试机构，其特征在于：所述盖板（2）的后端设置有铰接块（7），所述预压板（31）的后端设置有铰接片（8），所述底座（1）的后端设置有铰接轴（9），所述铰接轴（9）穿过所述铰接块（7）及所述铰接片（8），所述铰接轴（9）的两端均设置有扭簧（10），所述扭簧（10）与所述底座（1）及所述盖板（2）相配合。

9.根据权利要求1所述的一种下压式测试机构，其特征在于：所述盖板（2）的前端设置有浮动卡扣（21），所述底座（1）的前端设置有与所述浮动卡扣（21）相配合的固定卡座（12），所述底座（1）上开设有两个定位导孔（13），所述盖板（2）上设置有两根与所述定位导孔（13）相适配的定位导销（22）。

10.根据权利要求1所述的一种下压式测试机构，其特征在于：所述PCB转接板（5）的数量为两块，所述载板组件（4）、所述同轴预压组件（3）和所述浮动块组件（6）的数量均为两组。

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