CN215639132U - 一种尺寸检验治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种尺寸检验治具，其技术方案要点是包括底板、侧挡板、顶板和槽检验块，至少两个所述侧挡板对称设置在底板上，所述侧挡板上部设置有顶板，两个所述侧挡板之间设置有支撑顶块，所述支撑顶块与料盒的内侧顶壁贴平，所述底板上还设置有槽检验块，所述槽检验块用于检验料盒内的条形槽。本实用新型能够对晶圆料盒高度、宽度，以及料盒内部的条形槽的尺寸进行全面检测，确保晶圆料盒适于对应晶圆的盛放，而且本治具结构简单，操作方便。

Description

一种尺寸检验治具

技术领域

本实用新型涉及治具的技术领域，特别涉及一种尺寸检验治具。

背景技术

封装测试是将生产出来的合格晶圆进行切割、焊线、塑封，使芯片电路与外部器件实现电气连接，并为芯片提供机械物理保护，并利用集成电路设计企业提供的测试工具，对封装完毕的芯片进行功能和性能测试。封测的意义重大，获得一颗IC芯片要经过从设计到制造漫长的流程，然而一颗芯片相当小且薄，如果不在外施加保护，会被轻易的刮伤损坏。

因此，晶圆在进行封测流程时，将其储存在晶圆料盒中，便于其转运加工，以免其被刮伤损坏，由于晶圆的尺寸和形状不同，因此，设计了不同尺寸、规格的料盒用来储存晶圆。

现有的晶圆料盒在加工成品的过程中，存在的问题：(1)加工过程中存在尺寸误差，可能会出现残次品；(2)料盒内侧壁开设有条形槽，需确保条形槽的尺寸标准适合容纳的晶圆。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种尺寸检验治具，能够对晶圆料盒高度、宽度，以及料盒内部的条形槽的尺寸进行全面检测，确保晶圆料盒适于对应晶圆的盛放，而且本治具结构简单，操作方便。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种尺寸检验治具，包括底板、侧挡板、顶板和槽检验块，至少两个所述侧挡板对称设置在底板上，所述侧挡板上部设置有顶板，两个所述侧挡板之间设置有支撑顶块，所述支撑顶块与料盒的内侧顶壁贴平，所述底板上还设置有槽检验块，所述槽检验块用于检验料盒内的条形槽。

进一步的，所述底板上设置有导轨，所述导轨上滑动配合有滑块，所述滑块上连接有底托，所述底托用于放置待检验的料盒。

进一步的，所述底托上开设有容纳槽。

进一步的，所述底托远离侧挡板的一侧设置有把手挡块。

进一步的，所述槽检验块的两侧开设有若干卡槽，所述卡槽与需要检验的条形槽配合卡接。

进一步的，两个所述侧挡板相背离的一侧设置有L型连接块，所述L型连接块用于支撑固定侧挡板。

进一步的，所述支撑顶块包括底支撑块和顶块，所述底支撑块呈“T”型，所述顶块安装在底支撑块上部。

进一步的，所述底托拆卸连接在导轨上。

进一步的，所述L型连接块上连接有第一固定件和第二固定件，所述第一固定件将L型连接块与底板连接锁紧，所述第二固定件将L型连接块与侧挡板连接锁紧。

进一步的，所述顶板拆卸连接在侧挡板上。

综上所述，本实用新型具有以下有益效果：

1.通过侧挡板、顶板和槽检验块的设置，工作人员调节需要检验的料盒放置自两个侧挡板之间，调节料盒滑动穿过两个侧挡板以及顶板之间，侧挡板和顶板对料盒的高度和宽度的外部尺寸进行测量，通过槽检验块的设置，料盒从槽检验块的外部穿过，实现对料盒内部的条形槽的检测；

2.进一步的，在底板上设置导轨、滑块和底托，工作人员将待测的料盒放置在底板上，然后调节底托沿导轨滑动，将料盒滑动穿过侧挡板和槽检验块，降低了工作人员的工作量，提高检测的便捷性；

3.进一步的，在底托的一侧设置把手挡块和容纳槽，待检验的料盒放置在容纳槽内，把手挡块的设置，一方面可防止料盒从容纳槽内脱出，另一方面，便于工作人员推动底托上的料盒进行检验；

4.进一步的，在侧挡板相背离的两侧安装有L型连接块，L型连接块用于支撑侧挡板，对侧挡板进行支撑定位。

附图说明

图1是实施例中用于体现治具的正面结构示意图；

图2是实施例中用于体现治具的俯视结构示意图；

图3是实施例中用于体现治具的侧面结构示意图；

图中，1、底板；2、侧挡板；3、顶板；4、槽检验块；6、支撑顶块；601、底支撑块；602、顶块；8、卡槽；9、导轨；10、滑块；11、底托；12、容纳槽；13、把手挡块；14、L型连接块；15、第一固定件；16、第二固定件。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图和具体实施方式对本实用新型提出的装置作进一步详细说明。根据下面说明，本实用新型的优点和特征将更清楚。需要说明的是，附图采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本实用新型实施方式的目的。为了使本实用新型的目的、特征和优点能够更加明显易懂，请参阅附图。须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本实用新型实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本实用新型所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本实用新型所揭示的技术内容能涵盖的范围内。

实施例：

一种尺寸检验治具，如图1和2所示，包括底板1、侧挡板2、顶板3和槽检验块4，两个侧挡板2对称设置在底板1上，侧挡板2上部设置有顶板3，顶板3通过螺栓拆卸连接在侧挡板2上。两个侧挡板2之间设置有支撑顶块6，支撑顶块6与料盒的内侧顶壁贴平，底板1上还设置有槽检验块4，槽检验块7用于检验料盒内的条形槽。在槽检验块74的两侧开设有若干卡槽8，卡槽8与需要检验的条形槽配合卡接。

如图1和2所示，为了实现对导轨9上滑块10的测试的便捷性，在底板1上设置有导轨9，导轨9上滑动配合有滑块10，滑块10上连接有底托11，底托11用于放置待检验的料盒。在底托11上开设有容纳槽12，用于放置待测料盒，在底托11远离侧挡板2的一侧设置有把手挡块13，既便于工作人员滑动底托11，又可阻挡底托11上的料盒脱出。

如图1和2所示，设置底托11通过螺栓拆卸连接在导轨9上，便于底托11的更换。

如图1和2所示，在侧挡板2的相背离的一侧设置有L型连接块14，L型连接块14用于支撑固定侧挡板2，L型连接块14上连接有第一固定件15和第二固定件16，第一固定件15将L型连接块14与底板1连接锁紧，第二固定件16将L型连接块14与侧挡板2连接锁紧，通过拆卸连接的方式固定，便于侧挡板2的组装。L型连接块14的设置，在侧挡板2的一侧起到支撑固定的效果。

如图2和3所示，支撑顶块6包括底支撑块601和顶块602，底支撑块601呈“T”型，顶块602安装在底支撑块601上部，顶块602的顶部与料盒的内侧顶部贴平，实现对料盒内部高度和尺寸的检测。

具体实施过程：工作人员将待检测的料盒放置在底托11的容纳槽12内，然后调节底托11沿导轨9滑动，使得底托11连同料盒一起通过两侧挡板2之间，两个侧挡板2度对料盒宽度进行检验，顶板3对料盒的高度进行检验，支撑顶块6与料盒的内部高度进行检验，槽检验块4的料盒内的条形槽进行检验，实现了料盒的全方位检验。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种尺寸检验治具，其特征在于，包括底板、侧挡板、顶板和槽检验块，至少两个所述侧挡板对称设置在底板上，所述侧挡板上部设置有顶板，两个所述侧挡板之间设置有支撑顶块，所述支撑顶块与料盒的内侧顶壁贴平，所述底板上还设置有槽检验块，所述槽检验块用于检验料盒内的条形槽。

2.根据权利要求1所述的尺寸检验治具，其特征在于：所述底板上设置有导轨，所述导轨上滑动配合有滑块，所述滑块上连接有底托，所述底托用于放置待检验的料盒。

3.根据权利要求2所述的尺寸检验治具，其特征在于：所述底托上开设有容纳槽。

4.根据权利要求2所述的尺寸检验治具，其特征在于：所述底托远离侧挡板的一侧设置有把手挡块。

5.根据权利要求1所述的尺寸检验治具，其特征在于：所述槽检验块的两侧开设有若干卡槽，所述卡槽与需要检验的条形槽配合卡接。

6.根据权利要求1所述的尺寸检验治具，其特征在于：两个所述侧挡板相背离的一侧设置有L型连接块，所述L型连接块用于支撑固定侧挡板。

7.根据权利要求1所述的尺寸检验治具，其特征在于：所述支撑顶块包括底支撑块和顶块，所述底支撑块呈“T”型，所述顶块安装在底支撑块上部。

8.根据权利要求2所述的尺寸检验治具，其特征在于：所述底托拆卸连接在导轨上。

9.根据权利要求6所述的尺寸检验治具，其特征在于：所述L型连接块上连接有第一固定件和第二固定件，所述第一固定件将L型连接块与底板连接锁紧，所述第二固定件将L型连接块与侧挡板连接锁紧。

10.根据权利要求1所述的尺寸检验治具，其特征在于：所述顶板拆卸连接在侧挡板上。

Images