CN215613356U - 一种自动化ic测试分选设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种自动化IC测试分选设备，其包括分选机主体，所述分选机主体的下料通道下方固接有滑轨，所述滑轨长度方向与所述下料通道的落料方向呈正交设置，所述滑轨上滑动设置有下料盒，所述下料盒上设置有多个下料管，多个所述下料管沿所述滑轨的长度方向设置；所述分选机主体于所述下料通道正下方设置有震荡机构，当所述下料盒中其中一个所述下料管对准所述下料通道时，所述震荡机构与所述下料管抵触。本实用新型通过震荡机构对下料管进行震荡，可有效避免自下料通道内掉落的IC芯片卡嵌在下料管中的现象，使得多个IC芯片在下料管中堆叠得更加紧密。

Description

一种自动化IC测试分选设备

技术领域

本实用新型涉及芯片测试装置的技术领域，特别涉及一种自动化IC测试分选设备。

背景技术

IC芯片是将大量的微电子元器件形成的集成电路放在一块塑基上，做成一块芯片，集成电路芯片在出厂前必须经过严格测试，测试项目包括集成电路芯片的各项性能参数，如电流和电压等，人们需要将测试结果不在合格范围内的集成电路芯片筛选出来，并将测试结果不同的集成电路芯片进行分类。

现有的技术中，提出了一种自动化IC测试分选设备，包括主体，所述主体的下端设置有支撑架，所述主体的上端设置有调心托辊组，所述调心托辊组的一侧设置有垂直料道，所述垂直料道的一侧设置有固定板，所述垂直料道的另一侧设置有分选机构，所述分选机构的上端设置有进料斗，所述分选机构的一侧设置有料管，所述分选机构的下端设置有储料仓，所述料管的一侧设置有直线导轨。该实用新型所述的一种自动化IC测试分选设备，在直线导轨的作用下，使其产生的滚动摩擦变成滑动摩擦，从而减少摩擦力度，在调心托辊组的作用下，可以防止原料在分选过程中偏离，在信号连接器的作用下，可以大幅度的提升检测信号的接收，带来更好的使用前景。

上述中的现有技术方案存在以下缺陷：IC芯片测试完成后需要将检测完成的芯片依次装进下料装置中下料盒的下料管中，而为实现IC芯片在下料盒中的整齐堆叠，通常下料管管径仅比IC芯片略大，因而在下料过程中可能会存在IC芯片卡嵌在下料管中的现象，影响IC芯片在下料管中的有效堆叠。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种自动化IC测试分选设备，以解决尺寸适配的IC芯片容易在下料管中卡嵌、堆叠不密集的问题。

本实用新型提供了一种自动化IC测试分选设备，包括分选机主体，所述分选机主体的下料通道下方固接有滑轨，所述滑轨长度方向与所述下料通道的落料方向呈正交设置，所述滑轨上滑动设置有下料盒，所述下料盒上设置有多个下料管，多个所述下料管沿所述滑轨的长度方向设置；所述分选机主体于所述下料通道正下方设置有震荡机构，当所述下料盒中其中一个所述下料管对准所述下料通道时，所述震荡机构与所述下料管抵触。

进一步地，所述震荡机构包括安装在所述分选机主体上的振动电机，所述振动电机上安装有用于抵触对应的所述下料管的震荡头。

进一步地，所述振动电机上安装有震荡座，所述震荡头弹性设置在所述震荡座上。

进一步地，所述震荡座上固接有套筒，所述套筒内滑动设置有滑杆，所述震荡头固接在所述所述滑杆伸出所述套筒的一端，所述滑杆与所述套筒靠近所述震荡座的一端之间设置有弹性件。

进一步地，所述震荡头沿多个所述下料管排布方向的两侧均设置有斜面。

进一步地，所述套筒内壁开设有沿其轴向的防转槽，所述滑杆外壁上固接有与所述防转槽插接适配的防转条。

进一步地，所述套筒远离所述震荡座的一端安装有到位开关，所述到位开关与所述振动电机电连接；当所述震荡头与所述下料管抵触时，所述震荡头靠近所述震荡座的一端与所述到位开关抵触。

进一步地，所述震荡头靠近所述震荡座的一侧固接有弧形簧片，所述弧形环片对应于所述到位开关的部位朝背离所述到位开关的方向弯折。

本实用新型具有以下有益效果：下料盒带动其中一个下料管滑动至与下料通道对准时，检测完成的IC芯片掉落至该下料管内，此时该下料管与震荡机构抵触，震荡机构对该下料管进行震荡，可有效避免自下料通道内掉落的IC芯片卡嵌在下料管中的现象，使得多个IC芯片在下料管中堆叠得更加紧密。

附图说明

图1是本实用新型的整体结构示意图；

图2是本实用新型主要用于展示震荡机构的剖视结构示意图。

主要元件符号说明：

分选机主体	1	滑轨	2	下料盒	3
						下料管	4	振动电机	5	震荡头	6
震荡座	7	套筒	8	滑杆	9
						弹性件	10	斜面	11	防转槽	12
防转条	13	到位开关	14	弧形簧片	15

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本实用新型。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的若干个实施例。但是，本实用新型可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固设于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

如图1和图2所示，一种自动化IC测试分选设备，包括分选机主体1，分选机主体1的下料通道下方固接有滑轨2，滑轨2长度方向与下料通道的落料方向呈正交设置，滑轨2上滑动设置有下料盒3，下料盒3上设置有用于驱动下料盒3在滑轨2上滑动的驱动件，驱动件设置为转动设置在下料盒3上的齿轮及固接在下料盒3上且输出端与齿轮同轴固接的伺服电机，滑轨2上沿其长度方向固接有与齿轮啮合连接的齿条。下料盒3上设置有多个下料管4，多个下料管4沿滑轨2的长度方向设置，具体的，下料管4插接设置在下料盒3中，下料盒3上沿竖直方向贯穿开设有多个与下料管4插接适配的插孔，下料管4上端固接有尺寸大于插孔的防脱环。

从而经分选机主体1检测完成的IC芯片自下料通道掉落，伺服电机驱动齿轮旋转以使下料盒3上对应的下料管4与下料通道对准，可实现测试后IC芯片的自动装料作业；当下料管4内IC芯片盛装满后，直接上提落料管可将满载的落料管自落料盒上自由取出，再插入新的落料管，实现落料管的便捷更换。

如图1和图2所示，分选机主体1于下料通道正下方设置有震荡机构，当下料盒3中其中一个下料管4对准下料通道时，震荡机构与下料管4抵触，震荡机构包括安装在分选机主体1上的振动电机5，振动电机5为微型电机，振动电机5上安装有用于抵触对应的下料管4的震荡头6。振动电机5上安装有震荡座7，震荡头6弹性设置在震荡座7远离振动电机5的一侧。

并且，如图1和图2所示，震荡座7上固接有套筒8，套筒8内滑动设置有滑杆9，震荡头6固接在滑杆9伸出套筒8的一端，滑杆9与套筒8靠近震荡座7的一端之间设置有弹性件10，弹性件10设置为弹簧，弹性件10一端与震荡座7固接、另一端与滑杆9固接，当震荡头6与下料管4抵触时，弹性件10处于压缩状态。

从而下料盒3在滑轨2上滑动至其中一个下料管4与下料通道对准时，该下料管4与震荡头6抵触，弹性件10被压缩产生形变，随后振动电机5启动产生振动，并将振动自震荡座7、套筒8、弹性件10、滑杆9和震荡头6依次传递至下料盒3上，使得下料盒3发生振动，从而可将下料盒3内的IC芯片振实，有效避免了IC芯片在下料盒3内卡嵌住的现象。并且，由于震荡头6与震荡座7之间设置有弹性件10进行缓冲，可有效消除频率变化较大的震荡波，以防下料管4过分抖动而导致下料通道内的IC芯片无法准确掉落至下料管4中的现象。

而为避免多个下料管4跟随下料盒3在滑轨2上滑动时频繁撞击震荡头6，如图2所示，震荡头6沿多个下料管4排布方向的两侧均设置有斜面11，且套筒8内壁开设有沿其轴向的防转槽12，滑杆9外壁上固接有与防转槽12插接适配的防转条13。

同时为实现振动电机5的自动启闭，如图2所示，套筒8远离震荡座7的一端安装有到位开关14，到位开关14与振动电机5电连接；当震荡头6与下料管4抵触时，震荡头6靠近震荡座7的一端与到位开关14抵触；具体的，震荡头6靠近震荡座7的一侧固接有弧形簧片15，弧形环片对应于到位开关14的部位朝背离到位开关14的方向弯折，当震荡头6与下料管4抵触时，震荡头6通过弧形簧片15与到位开关14抵触，可对到位开关14进行有效防护，以及确保震荡头6在振动过程中能始终保持到位开关14被抵触的状态。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (8)

1.一种自动化IC测试分选设备，包括分选机主体，其特征在于，所述分选机主体的下料通道下方固接有滑轨，所述滑轨长度方向与所述下料通道的落料方向呈正交设置，所述滑轨上滑动设置有下料盒，所述下料盒上设置有多个下料管，多个所述下料管沿所述滑轨的长度方向设置；所述分选机主体于所述下料通道正下方设置有震荡机构，当所述下料盒中其中一个所述下料管对准所述下料通道时，所述震荡机构与所述下料管抵触。

2.根据权利要求1所述的一种自动化IC测试分选设备，其特征在于,所述震荡机构包括安装在所述分选机主体上的振动电机，所述振动电机上安装有用于抵触对应的所述下料管的震荡头。

3.根据权利要求2所述的一种自动化IC测试分选设备，其特征在于,所述振动电机上安装有震荡座，所述震荡头弹性设置在所述震荡座上。

4.根据权利要求3所述的一种自动化IC测试分选设备，其特征在于,所述震荡座上固接有套筒，所述套筒内滑动设置有滑杆，所述震荡头固接在所述滑杆伸出所述套筒的一端，所述滑杆与所述套筒靠近所述震荡座的一端之间设置有弹性件。

5.根据权利要求4所述的一种自动化IC测试分选设备，其特征在于,所述震荡头沿多个所述下料管排布方向的两侧均设置有斜面。

6.根据权利要求5所述的一种自动化IC测试分选设备，其特征在于,所述套筒内壁开设有沿其轴向的防转槽，所述滑杆外壁上固接有与所述防转槽插接适配的防转条。

7.根据权利要求6所述的一种自动化IC测试分选设备，其特征在于,所述套筒远离所述震荡座的一端安装有到位开关，所述到位开关与所述振动电机电连接；当所述震荡头与所述下料管抵触时，所述震荡头靠近所述震荡座的一端与所述到位开关抵触。

8.根据权利要求7所述的一种自动化IC测试分选设备，其特征在于,所述震荡头靠近所述震荡座的一侧固接有弧形簧片，所述弧形簧片对应于所述到位开关的部位朝背离所述到位开关的方向弯折。

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