CN215449335U - 测试装置及集成机构测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种测试装置及集成机构测试系统，包括主框架、测试组件、驱动组件和压接机构，测试组件包括测试模块和测试底板，测试底板配接于主框架上，测试模块设置于测试底板上且能够与待测组件电连接；驱动组件配接于主框架上，能够能够带动待测组件移动至测试模块上；压接机构配接于主框架上，且包括位于测试模块远离测试底板的一侧的压接组件，压接组件能够沿第一方向向靠近和远离测试底板的方向移动，如此，压接组件可以压接于测试模块和待测组件上，直接将待测组件与测试模块进行电气软连接，提高了待测组件的成品率且测试装置的结构简单。

Description

测试装置及集成机构测试系统

技术领域

本实用新型涉及集成装置测试技术领域，特别是涉及一种测试装置及集成机构测试系统。

背景技术

随着光通信行业的快速发展，在光通信行业的光器件产品测试中，相对低速率的传输设备，新的集成高速器件带来了更高的传输带宽，因而越来越多的光器件产品采用开始集成高速器件，集成高速器件也是新的传输制式，所以测试方式与以前相比有所不同。

低速率的传输设备采用串行传输，测试在单个波长上进行，测量单个通道；而新的集成高速器件需要采用信道复用的技术(WDM复用技术)，采用新型测试系统测试多个波长和多个通道，测试待测组件的电学及光学参数测试，各项参数测试及链路搭建起来更加困难。

目前各厂家对集成高速器件的测试相关设备系统较少，已经开发出来的测试系统昂贵且实用性有待验证，无法有效保证集成高速器件的良品率。

实用新型内容

本实用新型针对现有集成高速器件测试系统昂贵且无法有效保证高速器件良品率的问题，提供一种结构简单且高速器件成品率高的测试装置及集成机构测试系统。

一种测试装置，用于测试待测组件，包括：

主框架；

测试组件，所述测试组件包括测试模块和测试底板，所述测试底板配接于所述主框架，所述测试模块设于所述测试底板上，被构造为能够与所述待测组件电连接；

驱动组件，配接于所述主框架上，所述驱动组件能够带动待测组件移动至所述测试模块上；

压接机构，配接于所述主框架上，且所述压接机构包括位于所述测试模块远离所述测试底板的一侧的压接组件，所述压接组件能够沿第一方向向靠近和远离所述测试底板的方向移动。

在其中一个实施例中，所述测试组件还包括模块固定件，所述模块固定件设于所述测试底板上，且所述模块固定件包括承载部、抵接部和按压部，所述抵接部与所述按压部围设于所述承载部的外周；

所述测试模块可被置于所述承载部且与所述抵接部相抵接，所述按压部可沿旋转轴转动，按压于所述测试模块远离测试底板的一侧；

其中，所述旋转轴与所述承载部所在平面垂直。

在其中一个实施例中，所述驱动组件包括相互连接的夹持部和第一驱动部，所述第一驱动部设于所述夹持部远离所述测试组件的一侧，所述第一驱动部可驱动所述夹持部沿所述第一方向、第二方向和第三方向向靠近或远离所述测试模块的方向运动；

其中，所述第一方向、所述第二方向和所述第三方向均两两垂直。

在其中一个实施例中，所述第一驱动部包括第一滑动块、第二滑动块、滑轨和滑轨座，所述第二滑动块设于所述滑动块与所述滑轨之间，第一所述滑轨设于所述滑轨座上，所述夹持部设于所述第一滑动块上；

所述第二滑动块能够在所述滑轨上沿第一方向运动，所述第一滑动块能够沿所述第二方向和所述第三方向运动。

在其中一个实施例中，所述压接机构远离所述压接组件的一侧设置有滑动台，所述滑动台与所述主框架连接；

所述滑动台被构造为能够驱动所述压接组件沿所述第二方向和所述第三方向在所述主框架上运动。

在其中一个实施例中，所述压接机构还包括缓冲件和第二驱动件，所述第二驱动件连接于所述滑动台与所述缓冲件之间，所述缓冲件连接于所述第二驱动件与所述压接组件之间；

所述第二驱动件可驱动所述压接组件沿第一方向往复运动。

在其中一个实施例中，所述主框架包括底座和设于所述底座上的外框，所述测试组件和所述驱动组件设于所述底座上，所述压接机构配接于所述外框上；

其中，所述压接组件可沿第一方向向靠近或远离所述底座的方向运动。

在其中一个实施例中，所述测试装置还包括监测组件，所述监测组件设于所述外框远离所述压接机构的一侧；

所述监测组件被构造为用于观察所述待测组件与所述测试模块的相对位置。

在其中一个实施例中，所述监测组件包括支架和监测件，所述支架一端与所述主框架远离所述压接机构的一侧连接，所述监测件设于所述支架上；

所述监测件用于获取所述待测组件与所述测试模块的相对位置。

根据本申请的另一方面，提供一种集成机构的测试系统，包括待测组件及如上述任一实施例中所述的测试装置。

上述测试装置，通过在测试底板上设置能够与待测组件电连接的测试模块，再通过设置可将集成架构靠近测试模块的驱动组件，可实现待测组件与测试模块的对准，通过压接组件沿第一方向向靠近和远离测试底板的方向移动，使得压接组件沿第一方向向靠近测试底板的方向移动时，可以压接于测试模块和待测组件上，不需焊接，将待测组件与测试模块形成电气连接，以便于待测组件进行电气及光学参数测试，提高了待测组件的成品率且测试装置的结构简单。

附图说明

图1为本实用新型一实施例提供的测试装置的轴测图；

图2为图1中提供的测试装置的爆炸图；

图3为图1中提供的测试装置测试模块的轴测图；

图4为图1中提供的测试装置模块固定件的轴测图；

图5为图1中提供的测试装置测试组件的轴测图；

图6为图1中提供的测试装置驱动组件的轴测图；

图7为图1中提供的测试装置外框与压接组件装配后的轴测图。

附图标记：100、测试装置；10、主框架；11、外框；111、测试孔；12、底座；20、测试组件；21、测试模块；22、测试底板；221、集成按压件；23、模块固定件；231、承载部；232、抵接部；233、按压部；30、驱动组件；31、夹持部；32、第一驱动部；321、第一滑动块；322、第二滑动块；323、滑轨； 324、滑轨座；33、垫块座；40、压接机构；41、压接组件；411、压接头；412、压头固定座；42、缓冲件；43、第二驱动件；44、滑动台；50、监测组件；51、支架；52、监测件；53、监测件固定环；54、支架座；60、支撑组件；61、导向柱；200、待测组件。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所述的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

结合图1至图2所示，本实用新型一实施例提供的测试装置100，用于测试待测组件200，测试装置100包括主框架10、测试组件20、驱动组件30和压接机构40。

测试组件20包括测试模块21和测试底板22，测试底板22配接于主框架 10上，测试模块21设置于测试底板22上且能够与待测组件200电连接；驱动组件30配接于主框架10上，能够夹持待测组件200，并能够带动待测组件200 移动至测试模块21上，压接机构40配接于主框架10上，且包括位于测试模块 21远离测试底板22的一侧的压接组件41，压接组件41能够沿第一方向向靠近和远离测试底板22的方向移动，如此，使得压接组件41沿第一方向向靠近测试底板22的方向移动时，可以压接于测试模块21和待测组件200上，不需焊接，将待测组件200与测试模块21形成电气软连接，进而对待测组件200进行电气及光学参数的测试，提高了待测组件200的成品率且测试装置100的结构简单。

在其中一实施例中，如图1及图2所示，主框架10包括底座12和设于底座12上的外框11，测试组件20及驱动组件30设于底座12上，压接机构40配接于外框11上；压接组件41可沿第一方向向靠近或远离底座12的方向运动，从而对测试组件20上的测试模块21和待测组件200实施压接，使得测试模块 21与待测组件200之间形成电连接，此种连接方式既可以减少环境污染，也可以减少焊接人员，降低了人力及相关成本。

具体的，外框11上设有测试孔111，测试用射频线可穿过测试孔111与测试底板22连接，进而使得测试底板22可以直接对待测组件200进行测试。

在其中一实施例中，测试模块21可为PCBA模块，待测组件200为高速集成器件，当驱动组件30驱动高速集成器件不断的靠近PCBA模块直至高速集成器件到达预设位置，此时PCBA模块与高速集成器件至少部分相对，压接机构40 可压接于两者的相对的部位上，使得PCBA模块与高速集成器件之间形成电连接，进而便于测试底板22开始对PCBA模块进行测试。

在其中一实施例中，如图2至4所示，测试组件20还包括模块固定件23，模块固定件23设于测试底板22上，模块固定件23用于将测试模块21固定于测试底板22上，被固定后，测试模块21不会与测试底板22产生相对移动。

具体地,如图4至图5所示，模块固定件23包括承载部231、抵接部232和按压部233，抵接部233与按压部233围设于承载部231的外周；测试模块21 可被置于承载部231上且与抵接部233相抵接，在测试模块21未被置于承载部 231上时，按压部233与承载部231不相对，当测试模块21被置于承载部231 后，按压部233可沿与承载部231所在平面垂直的旋转轴转动，从而按压于测试模块21远离测试底板22的一侧，此时按压部233与承载部231相对。

进一步地，如图2及图5所示，测试底板22上设有集成按压件221，当驱动组件30驱动待测组件200向靠近测试模块21的方向运动，直至到达预设位置时，集成按压件221可压紧于待测组件200上对其进行位置固定，避免待测组件200在到达预设位置后与测试装置100产生相对运动，保证了压接组件41 压接的有效性。

在其中一实施例中，如图1、2及图6所示，驱动组件30还包括第一驱动部32与垫块座33，垫块座33设于第一驱动部32与底座12之间，第一驱动部 32设于夹持部31远离测试组件20的一侧，可驱动夹持部31沿第一方向、第二方向和第三方向运动，其中，第一方向、第二方向和第三方向均两两垂直，如此，可实现集成机构200随着夹持部31在三维空间内的随意移动。

进一步地，如图6所示，驱动组件30包括相互连接的夹持部31和第一驱动部32，第一驱动部32设于夹持部31远离测试组件20的一侧，第一驱动部 32可驱动夹持部31沿第一方向、第二方向和第三方向运动，使其被移动到测试模块21上，到达预设位置。

具体地，第一驱动部32包括第一滑动块321、第二滑动块322、滑轨323、滑轨座324及垫块座33，第二滑动块322设于第一滑动块321与滑轨323之间，滑轨323设于滑轨座324上，夹持部31设于第一滑动块321上，滑轨座324设于垫块座33与滑轨323之间；在实际操作中，第二滑动块322可在滑轨323上沿第一方向运动，第一滑动块321能够沿第二方向和第三方向运动，从而实现驱动夹持部31夹持的待测组件200在三维空间内的随意调节，便于待测组件200 位置的调整。

在其中一实施例中，压接组件41包括相互连接的压接头411及压头固定座 412，压接头411位于压头固定座412靠近测试模块21的一侧，压头固定座412 可带动压接头411沿第一方向朝向靠近或远离测试模块21的方向运动对待测组件200和测试模块21进行压接。

在其中一实施例中，如图1、2及图7所示，压接机构40还包括缓冲件42、第二驱动件43和滑动台44，滑动台44与主框架10连接，滑动台44被构造为能够驱动压接组件41沿第二方向和第三方向在主框架10上运动；第二驱动件 43连接于滑动台44与缓冲件42之间，缓冲件42连接于第二驱动件43与压接组件41之间，第二驱动件43可驱动压接组件41沿第一方向往复运动，当第一滑动块321驱动待测组件200到达预设位置，压接组件41可在第二驱动件43 的驱动下，压接于待测组件200与测试模块21上，使得待测组件200与测试模块21形成电连接，由于缓冲件42的保护作用，在电连接压接过程中，待测组件200与测试模块21不会发生变形。

在其中一实施例中，本实施例提供的测试装置100还设有监测组件50，监测组件50设于外框11远离压接机构40的一侧，监测组件50被构造为用于实时获取待测组件200与测试模块21的相对位置，从而可以根据监测结果调整待测组件200与测试模块21的相对位置，保证了待测组件200与测试模块21能有效地连接。

进一步地，监测组件50包括支架51、监测件52、监测件固定环53和支架座54，支架51一端通过支架座54主框架10远离压接机构40的一侧连接，监测件52设于支架51上，支架51与监测件52之间设置有监测件固定环53，将支架51与监测件52固定连接；监测件52用于实时获取待测组件200与测试模块21的相对位置。

具体地，监测件52可为CCD检测仪，CCD检测仪可将物体外观转化为图像并进行实时的监测。

在其中一个实施例中，测试装置100还包括支撑组件60，支撑组件60设于测试组件20与底座12之间，具体地，设于测试底板22与底座12之间，从而对测试组件20起到支撑作用。

进一步地，支撑组件60包括导向柱61，导向柱61支撑设于测试底板22与底座12之间，从而稳定的支撑和固定测试组件20。

根据本实用新型的另一方面，提供一种待测组件的测试系统，包括待测组件200及上述任一实施例中提出的测试装置100，可将待测组件200固定于测试装置100上之后，测试用射频线穿过测试孔111与测试底板22连接，对测试底板22通电，对测试装置100进行电气及光学参数的测试，不仅可以实现待测组件200重复快速测试，降低了测试周期，提升了测试效率，而且避免了不必要的损耗。

对待测组件200的电学及光学参数的测试包括但不限于ICT测试、FCT测试及老化测试等，ICT测试主要测试PCBA的线路开路、短路以及电子元器件的焊接情况的测试；FCT测试可对PCBA的环境、电流、电压、压力等方面参数进行测试，测试的内容比较全面；老化测试通过对PCBA板进行不间断的持续通电以及检验产品的使用寿命，可确保产品的稳定性。

本实用新型以上实施例中的测试装置100及待测组件200的测试系统，具有以下优点：

(1)由于压接组件41能够沿第一方向向靠近和远离测试底板22的方向移动，如此，使得压接组件41沿第一方向向靠近测试底板22的方向移动时，可以压接于测试模块21和待测组件200上，不需焊接，将待测组件200与测试模块21进行电气软连接，进而待测组件200进行电气及光学参数测试，提高了待测组件200的成品率且测试装置100的结构简单。

(2)本实用新型提供的测试装置100，实现了自动压紧，采用电连接的方式将待测组件200与测试模块21连接，既可以减少环境污染，也可以减少焊接人员，降低了人力及相关成本；

(3)本实用新型提供的测试装置100，可以实现待测组件200重复快速测试，降低了测试周期，提升了测试效率，避免了不必要的损耗。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种测试装置，用于测试待测组件，其特征在于，包括：

主框架；

测试组件，所述测试组件包括测试模块和测试底板，所述测试底板配接于所述主框架，所述测试模块设于所述测试底板上，所述测试模块被构造为能够与所述待测组件电连接；

驱动组件，配接于所述主框架上，所述驱动组件能够带动待测组件移动至所述测试模块上；

压接机构，配接于所述主框架上，且所述压接机构包括位于所述测试模块远离所述测试底板的一侧的压接组件，所述压接组件能够沿第一方向向靠近和远离所述测试底板的方向移动。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试组件还包括模块固定件，所述模块固定件设于所述测试底板上，且所述模块固定件包括承载部、抵接部和按压部，所述抵接部与所述按压部围设于所述承载部的外周；

所述测试模块可被置于所述承载部且与所述抵接部相抵接，所述按压部可沿旋转轴转动，按压于所述测试模块远离测试底板的一侧；

其中，所述旋转轴与所述承载部所在平面垂直。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述驱动组件包括相互连接的夹持部和第一驱动部，所述第一驱动部设于所述夹持部远离所述测试组件的一侧，所述第一驱动部可驱动所述夹持部沿所述第一方向、第二方向和第三方向向靠近或远离所述测试模块的方向运动；

其中，所述第一方向、所述第二方向和所述第三方向均两两垂直。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述第一驱动部包括第一滑动块、第二滑动块、滑轨和滑轨座，所述第二滑动块设于所述滑动块与所述滑轨之间，第一所述滑轨设于所述滑轨座上，所述夹持部设于所述第一滑动块上；

所述第二滑动块能够在所述滑轨上沿第一方向运动，所述第一滑动块能够沿所述第二方向和所述第三方向运动。

5.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述压接机构远离所述压接组件的一侧设置有滑动台，所述滑动台与所述主框架连接；

所述滑动台被构造为能够驱动所述压接组件沿所述第二方向和所述第三方向在所述主框架上运动。

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述压接机构还包括缓冲件和第二驱动件，所述第二驱动件连接于所述滑动台与所述缓冲件之间，所述缓冲件连接于所述第二驱动件与所述压接组件之间；

所述第二驱动件可驱动所述压接组件沿第一方向往复运动。

7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述主框架包括底座和设于所述底座上的外框，所述测试组件和所述驱动组件设于所述底座上，所述压接机构配接于所述外框上；

其中，所述压接组件可沿第一方向向靠近或远离所述底座的方向运动。

8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括监测组件，所述监测组件设于所述外框远离所述压接机构的一侧；

所述监测组件被构造为用于观察所述待测组件与所述测试模块的相对位置。

9.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述监测组件包括支架和监测件，所述支架一端与所述主框架远离所述压接机构的一侧连接，所述监测件设于所述支架上；

所述监测件用于获取所述待测组件与所述测试模块的相对位置。

10.一种集成机构测试系统，其特征在于，包括待测组件及如权利要求1～9中任意一项所述的测试装置。

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