CN215413457U - 一种多工位数显卡尺自动检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于数显卡尺技术领域，尤其为一种多工位数显卡尺自动检测装置，包括工作台，所述工作台的正面与十字隔板的背面固定连接，所述十字隔板的左侧面与连接板的右侧面固定连接，所述连接板的背面与工作台的正面固定连接，通过设置十字隔板、电动推杆、电机、摄像机和光栅尺，十字隔板将工作台分隔成若干个检测平台，检测人员将数显卡尺本体贴近连接板放置，两个电动推杆同时推动两个固定板相互靠近对数显卡尺本体进行固定，电机启动带动工作台进行旋转，旋转的过程中光栅尺对多个数显卡尺本体的平行度进行检测，摄像机对数显卡尺本体的外观进行检测，完成对数显卡尺本体的多工位检测，避免人为误差，提升了检测效率。

Description

一种多工位数显卡尺自动检测装置

技术领域

本实用新型属于数显卡尺技术领域，具体涉及一种多工位数显卡尺自动检测装置。

背景技术

数显卡尺，是一种测量长度、内外径、深度的量具，具有读数直观、使用方便、功能多样的特点，数显卡尺主要由尺体、传感器、控制运算部分和数字显示部分组成，按照传感器的不同形式划分，数显卡尺分为磁栅式数显卡尺和容栅式数显卡尺两大类。

现有的数显卡尺通常是采用人工检测的方式—金属量块分段检测的方式对数显卡尺进行检测，而传统的人工检测工作强度大、效率低、存在较大的人为误差，且人工检测无法对尺身平行度进行检测。

实用新型内容

为解决上述背景技术中提出的问题。本实用新型提供了一种多工位数显卡尺自动检测装置，具有多工位同时检测和数显卡尺校正的特点。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种多工位数显卡尺自动检测装置，包括工作台，所述工作台的正面与十字隔板的背面固定连接，所述十字隔板的左侧面与连接板的右侧面固定连接，所述连接板的背面与工作台的正面固定连接，所述连接板的下表面与数显卡尺本体的上表面贴合，所述工作台的左右两侧面分别与两个滑块相对的一面固定连接，两个所述滑块的左右两侧面分别与底架内壁开设的滑槽内壁的左右两侧面滑动连接，所述工作台的背面与电机的输出轴固定连接，所述电机设置在底架内壁的背面。

优选的，所述底架的正面通过两个连接柱与顶板的背面固定连接，所述顶板背面的左右两侧分别设置有两个摄像机，所述摄像机与工作台对称设置。

优选的，所述工作台的正面设置有精密刻度条，所述精密刻度条与数显卡尺本体平行设置，所述工作台的正面分别与内测量爪校定块和外测量爪校定块的背面固定连接。

优选的，所述工作台的正面开设有动力槽，所述动力槽内壁的左右两侧面均设置有电动推杆，所述电动推杆的输出端与固定块的左侧面固定连接，且两个所述固定块相对的一面与数显卡尺本体的左右两侧面贴合。

优选的，所述底架内壁的左右两侧分别设置有两个光栅尺，所述光栅尺与数显卡尺本体相互平行。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型，通过设置十字隔板、电动推杆、电机、摄像机和光栅尺，十字隔板将工作台分隔成若干个检测平台，检测人员将数显卡尺本体贴近连接板放置，两个电动推杆同时推动两个固定板相互靠近对数显卡尺本体进行固定，电机启动带动工作台进行旋转，旋转的过程中光栅尺对多个数显卡尺本体的平行度进行检测，摄像机对数显卡尺本体的外观进行检测，完成对数显卡尺本体的多工位检测，避免人为误差，提升了检测效率。

2、本实用新型，通过设置精密刻度条、内测量爪校定块和外测量爪校定块，内测量爪校定块和外测量爪校定块可以对数显卡尺本体的内测量爪和外测量爪进行校定，同时通过摄像机观测数显卡尺本体的显示装置是否完好，通过精密刻度条对数显卡尺本体的长度是否一致进行测量，完成对数显卡尺本体的校正，无需人工校正，节省了人力，提升了数显卡尺本体的检测效率。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型中正视的剖面结构示意图；

图3为本实用新型中A处的放大结构示意图；

图中：1、工作台；2、十字隔板；3、连接板；4、滑块；5、底架；6、光栅尺；7、连接柱；8、顶板；9、摄像机；10、电机；11、内测量爪校定块；12、精密刻度条；13、外测量爪校定块；14、数显卡尺本体；15、电动推杆；16、固定块。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例

请参阅图1-3，本实用新型提供以下技术方案：一种多工位数显卡尺自动检测装置，包括工作台1，所述工作台1的正面与十字隔板2的背面固定连接，所述十字隔板2的左侧面与连接板3的右侧面固定连接，所述连接板3的背面与工作台1的正面固定连接，所述连接板3的下表面与数显卡尺本体14的上表面贴合，所述工作台1的左右两侧面分别与两个滑块4相对的一面固定连接，两个所述滑块4的左右两侧面分别与底架5内壁开设的滑槽内壁的左右两侧面滑动连接，所述工作台1的背面与电机10的输出轴固定连接，所述电机10设置在底架5内壁的背面。

具体的，通过设置所述底架5的正面通过两个连接柱7与顶板8的背面固定连接，所述顶板8背面的左右两侧分别设置有两个摄像机9，所述摄像机9与工作台1对称设置；

人们可以通过摄像机9对数显卡尺本体14的外观进行检测，电机10带动工作台1转动，使摄像机9可以对多个数显卡尺本体14进行检测。

具体的，通过设置所述工作台1的正面设置有精密刻度条12，所述精密刻度条12与数显卡尺本体14平行设置，所述工作台1的正面分别与内测量爪校定块11和外测量爪校定块13的背面固定连接；

内测量爪校定块11和外测量爪校定块13可以对数显卡尺本体14的内测量爪和外测量爪进行校定，若数显卡尺本体14的显示装置显示出内测量爪校定块11和外测量爪校定块13的数值，则数显卡尺本体14校定完成，同时通过摄像机9观测数显卡尺本体14的显示装置是否完好，通过精密刻度条12对数显卡尺本体14的长度是否一致进行测量。

具体的，通过设置所述工作台1的正面开设有动力槽，所述动力槽内壁的左右两侧面均设置有电动推杆15，所述电动推杆15的输出端与固定块16的左侧面固定连接，且两个所述固定块16相对的一面与数显卡尺本体14的左右两侧面贴合；

检测人员将数显卡尺本体14贴近连接板3放置，两个电动推杆15同时推动两个固定板相互靠近对数显卡尺本体14进行固定，避免数显卡尺本体14在检测的过程中发生晃动。

具体的，通过设置所述底架5内壁的左右两侧分别设置有两个光栅尺6，所述光栅尺6与数显卡尺本体14相互平行；

数显卡尺本体14在工作台1的带动下进行旋转，旋转的过程中光栅尺6对数显卡尺本体14的平行度进行检测。

本实用新型的工作原理及使用流程：

本实用新型，十字隔板2将工作台1分隔成若干个检测平台，检测人员将数显卡尺本体14贴近连接板3放置，将数显卡尺本体14的内测量爪放置进内测量爪校定块11内，将外测量爪校定块13放置进两个外测量爪内，两个电动推杆15同时推动两个固定板相互靠近对数显卡尺本体14进行固定，电机10启动带动工作台1进行旋转，旋转的过程中光栅尺6对多个数显卡尺本体14的平行度进行检测，摄像机9对数显卡尺本体14的外观进行检测。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种多工位数显卡尺自动检测装置，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)的正面与十字隔板(2)的背面固定连接，所述十字隔板(2)的左侧面与连接板(3)的右侧面固定连接，所述连接板(3)的背面与工作台(1)的正面固定连接，所述连接板(3)的下表面与数显卡尺本体(14)的上表面贴合，所述工作台(1)的左右两侧面分别与两个滑块(4)相对的一面固定连接，两个所述滑块(4)的左右两侧面分别与底架(5)内壁开设的滑槽内壁的左右两侧面滑动连接，所述工作台(1)的背面与电机(10)的输出轴固定连接，所述电机(10)设置在底架(5)内壁的背面。

2.根据权利要求1所述的一种多工位数显卡尺自动检测装置，其特征在于：所述底架(5)的正面通过两个连接柱(7)与顶板(8)的背面固定连接，所述顶板(8)背面的左右两侧分别设置有两个摄像机(9)，所述摄像机(9)与工作台(1)对称设置。

3.根据权利要求1所述的一种多工位数显卡尺自动检测装置，其特征在于：所述工作台(1)的正面设置有精密刻度条(12)，所述精密刻度条(12)与数显卡尺本体(14)平行设置，所述工作台(1)的正面分别与内测量爪校定块(11)和外测量爪校定块(13)的背面固定连接。

4.根据权利要求3所述的一种多工位数显卡尺自动检测装置，其特征在于：所述工作台(1)的正面开设有动力槽，所述动力槽内壁的左右两侧面均设置有电动推杆(15)，所述电动推杆(15)的输出端与固定块(16)的左侧面固定连接，且两个所述固定块(16)相对的一面与数显卡尺本体(14)的左右两侧面贴合。

5.根据权利要求2所述的一种多工位数显卡尺自动检测装置，其特征在于：所述底架(5)内壁的左右两侧分别设置有两个光栅尺(6)，所述光栅尺(6)与数显卡尺本体(14)相互平行。

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