CN215340190U - 一种afe的均衡诊断测试工装 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种AFE的均衡诊断测试工装，包括：均衡回路、测试电阻、第一I/O控制器、第二I/O控制器以及第三I/O控制器；所述测试电阻与第二I/O控制器并联，所述测试电阻的一端构成测试工装的A连接端，所述测试电阻的另一端与第一I/O控制器的一端连接，所述第一I/O控制器的另一端构成测试工装的B连接端，所述第一I/O控制器的另一端与第三I/O控制器的一端连接，所述第三I/O控制器的另一端构成C连接端，所述A连接端、B连接端以及C连接端与均衡回路连接。本发明可以有效便捷的对每一个均衡回路以及每一种均衡故障进行人为可控的设置，解决了在PCB板上无法有效进行均衡电路故障测试的问题，从而验证软件的诊断功能。
Description
技术领域
本实用新型涉及电路故障测试，具体地，涉及一种AFE的均衡诊断测试工装。
背景技术
电池包作为新能源汽车的动力系统的重要部件之一，它由一定数量的电池通过不同组合形式组成，由于电池的个体差异，导致使用过程无法保证电池的一致性。电池的不一致性直接导致电池容量的损失以及电池使用寿命的降低。现有的技术主要通过均衡的方式来保持电池的一致性，因而对均衡功能电路回路的诊断功能是必不可少的。
均衡电路故障包括均衡电阻开路故障、均衡电阻短路故障以及MOSFET短路故障。由于PCB的局限性，导致无法方便快捷的对每一路、每一种故障进行人为可控的设置。
在公开号为CN201867467U的中国实用新型专利文件中，公开了一种新型电池均衡电路测试电路，该电路包括外围辅助测试电路以及测试目标电路，所述的测试目标电路包括一均衡等效负载RL、与均衡等效负载RL串联的开关K以及测量均衡负载RL两端电压的电压采样电路。本实用新型电路简洁，可以大大提高测试的准确性以及测试效率，适合于批量生产中对电池均衡电路的控制。
实用新型内容
针对现有技术中的缺陷，本实用新型的目的是提供一种AFE的均衡诊断测试工装。
根据本实用新型提供的一种AFE的均衡诊断测试工装，包括：均衡回路、测试电阻、第一I/O控制器、第二I/O控制器以及第三I/O控制器；
所述测试电阻与第二I/O控制器并联，所述测试电阻的一端构成测试工装的A连接端，所述测试电阻的另一端与第一I/O控制器的一端连接，所述第一I/O控制器的另一端构成测试工装的B连接端，所述第一I/O控制器的另一端与第三I/O控制器的一端连接，所述第三I/O控制器的另一端构成C连接端，所述A连接端、B连接端以及C连接端与均衡回路连接。
优选的，所述测试电阻上串联有保险丝，所述测试电阻和保险丝串联后的电路与第二I/O控制器并联。
优选的，所述均衡回路包括均衡电阻和均衡开关半导体，所述A连接端与均衡电阻的一端连接，所述B连接端与均衡电阻的另一端连接，且A连接端和B连接端构成的电路取代均衡电阻。
优选的，所述B连接端与均衡开关半导体的一端连接，所述C连接端与均衡开关半导体的另一端连接。
优选的，所述第一I/O控制器和测试电阻构成均衡电阻断路测试组件。
优选的，所述第二I/O控制器与测试电阻构成均衡电阻短路测试组件。
优选的，所述第三I/O控制器构成均衡开关半导体短路测试组件。
优选的，所述第一I/O控制器、第二I/O控制器以及第三I/O控制器组合构成单个回路上多个故障同时发生测试组件或多个均衡回路上的故障同时发生测试组件。
优选的，所述第一I/O控制器和第三I/O控制器组合构成模拟测试电阻短路和均衡开关半导体短路故障测试组件。
优选的，第二I/O控制器和第三I/O控制器组合构成模拟测试电阻断路和均衡开关半导体短路故障测试组件。
与现有技术相比，本实用新型具有如下的有益效果：
1、通过本方法，可以有效便捷的对每一个均衡回路以及每一种均衡故障进行人为可控的设置，解决了在PCB板上无法有效进行均衡电路故障测试的问题，从而验证软件的诊断功能。
2、通过对多个I/0控制器的闭合与断开，从而实现对单点或多点的单个故障设置或组合故障设置。
附图说明
通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本实用新型的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
图1为本实用新型实施例中AFE的均衡诊断测试工装的电路结构图。
附图标记说明：1、测试电阻；2、保险丝。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本实用新型进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本实用新型，但不以任何形式限制本实用新型。应当指出的是，对本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变化和改进。这些都属于本实用新型的保护范围。
如图1所示，一个AFE可以具有N个支路的均衡功能，通过内部或外部的均衡开关半导体(MOSFET管)控制均衡回路的闭合与断开。将PCB上的均衡电阻回路输入端的电阻两端A、B通过短线的方式引出，将PCB上的电阻进行拆卸，以确保PCB上没有有效均衡回路。
测试工装包括测试电阻1、第一I/O控制器、第二I/O控制器以及第三I/O控制器，测试电阻1与第二I/O控制器并联，测试电阻1的一端构成测试工装的A连接端，测试电阻1的另一端与第一I/O控制器的一端连接，第一I/O控制器的另一端构成测试工装的B连接端，第一I/O控制器的另一端与第三I/O控制器的一端连接，第三I/O控制器的另一端构成C连接端，A连接端、B连接端以及C连接端与均衡回路连接。测试电阻1上串联有保险丝2，测试电阻1和保险丝2串联后的电路与第二I/O控制器并联。
在外部面包板上制作同等数量支路的均衡回路的等效电阻，将PCB上引出的电阻A端与A连接端相连。为了保护均衡电阻回路，在测试电阻1后面串联保险丝2，与第一I/O控制器一端串联。第一I/O控制器另一端所构成的测试工装的B连接端与PCB上引出的电阻B端连接，形成电路板外的均衡回路。
将PCB板上的另一侧均衡回路引出端点C，将第三I/O控制器一端与B端相连，另一端与C端相连，等效于MOSFET并联。
在第二I/0控制器断开，第三I/0控制器断开的前提下，通过控制第一I/0控制器的断开可以实现对任意均衡回路的均衡电阻开路故障模拟；在第一I/0控制器闭合，第三I/0控制器断开的的前提下，通过控制第二I/0控制器的闭合可以实现对任意均衡回路的均衡电阻短路故障模拟；在第一I/0控制器闭合，第二I/0控制器断开的的前提下，通过控制第三I/0控制器的闭合可以实现对任意均衡回路的MOSFET短路故障模拟。
通过不同I/O控制器的组合设置，可以实现单点多种故障同时发生，或者设置多个回路上的不同故障同时发生。
第一I/O控制器和第三I/O控制器组合模拟测试电阻1短路和均衡开关半导体短路故障测试。第二I/O控制器和第三I/O控制器组合构成模拟测试电阻1断路和均衡开关半导体短路故障测试。
通过以上操作，通过上位机控制多个I/0控制器的闭合与断开，从而实现对单点或多点的单个故障设置或组合故障设置。测试工装实现了模拟均衡诊断的可行性，解决了无法直接在PCB上模拟均衡故障的问题，对均衡诊断软件进行验证。
在本申请的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
以上对本实用新型的具体实施例进行了描述。需要理解的是，本实用新型并不局限于上述特定实施方式，本领域技术人员可以在权利要求的范围内做出各种变化或修改，这并不影响本实用新型的实质内容。在不冲突的情况下，本申请的实施例和实施例中的特征可以任意相互组合。
Claims (10)
1.一种AFE的均衡诊断测试工装，其特征在于，包括：均衡回路、测试电阻(1)、第一I/O控制器、第二I/O控制器以及第三I/O控制器；
所述测试电阻(1)与第二I/O控制器并联，所述测试电阻(1)的一端构成测试工装的A连接端，所述测试电阻(1)的另一端与第一I/O控制器的一端连接，所述第一I/O控制器的另一端构成测试工装的B连接端，所述第一I/O控制器的另一端与第三I/O控制器的一端连接，所述第三I/O控制器的另一端构成C连接端，所述A连接端、B连接端以及C连接端与均衡回路连接。
2.根据权利要求1所述的一种AFE的均衡诊断测试工装，其特征在于：所述测试电阻(1)上串联有保险丝(2)，所述测试电阻(1)和保险丝(2)串联后的电路与第二I/O控制器并联。
3.根据权利要求1所述的一种AFE的均衡诊断测试工装，其特征在于：所述均衡回路包括均衡电阻和均衡开关半导体，所述A连接端与均衡电阻的一端连接，所述B连接端与均衡电阻的另一端连接，且A连接端和B连接端构成的电路取代均衡电阻。
4.根据权利要求3所述的一种AFE的均衡诊断测试工装，其特征在于：所述B连接端与均衡开关半导体的一端连接，所述C连接端与均衡开关半导体的另一端连接。
5.根据权利要求3所述的一种AFE的均衡诊断测试工装，其特征在于：所述第一I/O控制器和测试电阻(1)构成均衡电阻断路测试组件。
6.根据权利要求1所述的一种AFE的均衡诊断测试工装，其特征在于：所述第二I/O控制器与测试电阻(1)构成均衡电阻短路测试组件。
7.根据权利要求1所述的一种AFE的均衡诊断测试工装，其特征在于：所述第三I/O控制器构成均衡开关半导体短路测试组件。
8.根据权利要求1所述的一种AFE的均衡诊断测试工装，其特征在于：所述第一I/O控制器、第二I/O控制器以及第三I/O控制器组合构成单个回路上多个故障同时发生测试组件或多个均衡回路上的故障同时发生测试组件。
9.根据权利要求8所述的一种AFE的均衡诊断测试工装，其特征在于：所述第一I/O控制器和第三I/O控制器组合构成模拟测试电阻(1)短路和均衡开关半导体短路故障测试组件。
10.根据权利要求8所述的一种AFE的均衡诊断测试工装，其特征在于：第二I/O控制器和第三I/O控制器组合构成模拟测试电阻(1)断路和均衡开关半导体短路故障测试组件。
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