CN215261598U - 一种千分表平面度数显检具 - Google Patents

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姚玲飞
徐金根
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Abstract

本实用新型公开了一种千分表平面度数显检具,包括基座、基准块、刻印槽、定位块和滑块,所述基座的上表面固定有基准块,所述基准块的上表面较长一边正中间开设有刻印槽,所述基准块的上表面两对角分别设置有纵向归零块和横向归零块,所述纵向滑轨和横向滑轨通过安装块固定在基座的上表面,所述纵向滑轨和横向滑轨的外表面连接有滑块,所述滑块的上表面安装有卡块,所述卡块的上端固定有数显千分表。该千分表平面度数显检具,设置有基准块、纵向滑轨和横向滑轨,通过将基准块、纵向滑轨和横向滑轨集成在基座上的方式使得千分表的滑动轨迹始终与基准块平行,避免了因为滑动误差导致的检测结果的不准确。

Description

一种千分表平面度数显检具
技术领域
本实用新型涉及检具技术领域,具体为一种千分表平面度数显检具。
背景技术
笔记本电脑的后盖在生产出来后为了保证能够与笔记本电脑的壳体顺利安装,需要对笔记本电脑后盖的整体平面度进行检测,以防止笔记本电脑后盖在安装时与笔记本电脑壳体之间发生错位导致无法安装,但是现有的笔记本电脑后壳的检具却存在一些问题,就比如传统的笔记本电脑后盖检具需要通过外置固定架对千分表进行固定,而外置固定架可能与基准平面之间存在放置上的偏差,导致千分表在外置固定架上滑动时并不是与基准面呈水平滑动,这就会使得检测结果出现偏差,将合格的产品判定为不合格的产品,同时笔记本电脑后壳在生产时边缘多多少少会出现毛刺,每次检测前需要手动将毛刺清除,忘记清除毛刺也会造成检测的结果不准确。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种千分表平面度数显检具,以解决上述背景技术中提出的检测方式不佳和需要手动去除毛刺的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种千分表平面度数显检具,包括基座、基准块、刻印槽、定位块和滑块,所述基座的上表面固定有基准块,所述基准块的上表面较长一边正中间开设有刻印槽,所述基准块的上表面两对角分别设置有纵向归零块和横向归零块,所述基准块的上表面固定有定位块,所述基座的上表面安装有纵向滑轨和横向滑轨,所述纵向滑轨和横向滑轨通过安装块固定在基座的上表面,所述纵向滑轨和横向滑轨的外表面连接有滑块,所述滑块的上表面安装有卡块,所述卡块的上端固定有数显千分表。
优选的,所述纵向滑轨和横向滑轨互相垂直,所述纵向滑轨和横向滑轨的一端相互贴合,2个所述安装块分别与纵向滑轨和横向滑轨不互相贴合的一端固定。
采用上述技术方案,使得滑块被限位不会脱离与纵向滑轨和横向滑轨的连接。
优选的,所述滑块的上表面固定有限位块,所述限位块的侧表面被打磨块所贯穿。
采用上述技术方案,打磨块在滑块滑动时会跟随滑块滑动并对毛刺进行打磨。
优选的,所述限位块的上表面被调节杆所贯穿,所述调节杆与限位块为转动连接。
采用上述技术方案,使得调节杆能够转动对打磨块进行调节。
优选的,所述数显千分表的一端位于基准块的上方,所述数显千分表位于基准块上方的一端距离基准块上表面的距离小于纵向归零块和横向归零块的上端距离基准块上表面的距离。
采用上述技术方案,使得数显千分表滑动至纵向归零块和横向归零块处时能够被纵向归零块和横向归零块所阻挡而确定统一的归零位置。
优选的,所述调节杆位于限位块内部的一端贯穿打磨块位于限位块内部的一端,所述调节杆与打磨块为螺纹连接。
采用上述技术方案,使得打磨块能够在调节杆的带动下滑动并与笔记本电脑后壳的上表面相贴合。
优选的,所述打磨块与限位块为滑动连接,所述打磨块位于基准块上方的投影长度大于数显千分表位于基准块上方的投影长度。
采用上述技术方案,使得打磨块的打磨范围大于数显千分表的检测范围。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:该千分表平面度数显检具:
1.设置有基准块、纵向滑轨和横向滑轨,通过将基准块、纵向滑轨和横向滑轨集成在基座上的方式使得千分表的滑动轨迹始终与基准块平行,避免了因为滑动误差导致的检测结果的不准确;
2.设置有打磨块,利用打磨块对基准块上的笔记本电脑后壳边缘进行打磨,以防止毛刺对检测结果的影响,同时打磨块是跟随数显千分表同步移动的,因此不需要额外的再去单独操作,防止了忘记去毛刺导致的检测结果不准确;
3.设置有刻印槽和定位块,在检具的进料方向开设刻印槽,从而对工作人员进行提示,防止工作人员将笔记本电脑后壳反向放置而无法通过定位块对笔记本电脑后壳进行定位,大大提升了检具使用时的便捷性。
附图说明
图1是本公开提供的整体立体结构示意图;
图2是本公开提供的整体正剖视结构示意图;
图3是本公开提供的整体俯剖视结构示意图;
图4是本公开提供的图1中A处放大结构示意图;
图5是本公开提供的图2中B处放大结构示意图;
图6是本公开提供的整体仰视结构示意图。
图中:1、基座;2、基准块;3、刻印槽;4、纵向归零块;5、横向归零块;6、定位块;7、纵向滑轨;8、横向滑轨;9、安装块;10、滑块;11、卡块;12、数显千分表;13、限位块;14、打磨块;15、调节杆。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-6,本实用新型提供一种技术方案:一种千分表平面度数显检具,包括基座1、基准块2、刻印槽3、纵向归零块4、横向归零块5、定位块6、纵向滑轨7、横向滑轨8、安装块9、滑块10、卡块11、数显千分表12、限位块13、打磨块14和调节杆15,基座1的上表面固定有基准块2,基准块2的上表面较长一边正中间开设有刻印槽3,基准块2的上表面两对角分别设置有纵向归零块4和横向归零块5,基准块2的上表面固定有定位块6,基座1的上表面安装有纵向滑轨7和横向滑轨8,纵向滑轨7和横向滑轨8通过安装块9固定在基座1的上表面,纵向滑轨7和横向滑轨8互相垂直,纵向滑轨7和横向滑轨8的一端相互贴合,2个安装块9分别与纵向滑轨7和横向滑轨8不互相贴合的一端固定,纵向滑轨7和横向滑轨8通过安装块9固定在基座1的上面,同时通过安装块9点对纵向滑轨7和横向滑轨8的一端内进行限位,同时通过纵向滑轨7和横向滑轨8另一端的相互贴合使得纵向滑轨7和横向滑轨8另一端也被限位,从而达到了防止滑块10滑动过度而与纵向滑轨7和横向滑轨8脱离连接的情况。
如图1-5所示,纵向滑轨7和横向滑轨8的外表面连接有滑块10,滑块10的上表面固定有限位块13,限位块13的侧表面被打磨块14所贯穿,限位块13的上表面被调节杆15所贯穿,调节杆15与限位块13为转动连接,调节杆15位于限位块13内部的一端贯穿打磨块14位于限位块13内部的一端,调节杆15与打磨块14为螺纹连接,打磨块14与限位块13为滑动连接,打磨块14位于基准块2上方的投影长度大于数显千分表12位于基准块2上方的投影长度,当滑块10滑动前,转动调节杆15,调节杆15通过与打磨块14的螺纹连接带动打磨块14向下滑动并与待检测的笔记本电脑后壳相贴合,滑动滑块10,滑块10通过限位块13带动打磨块14滑动并将笔记本电脑后壳边缘的毛刺去除。
如图1-6所示,滑块10的上表面安装有卡块11,卡块11的上端固定有数显千分表12,数显千分表12的一端位于基准块2的上方,数显千分表12位于基准块2上方的一端距离基准块2上表面的距离小于纵向归零块4和横向归零块5的上端距离基准块2上表面的距离,使得数显千分表12的一端能够在滑块10的带动下与纵向归零块4和横向归零块5的侧表面相贴合,此时数显千分表12的位置即为归零点位,测量时以归零点位为基准,从而保证每次测量的统一性。
工作原理:在使用该千分表平面度数显检具时,首先将待检测的笔记本电脑后壳按照刻印槽3的指示方向放置在基准块2的上表面并通过定位块6对笔记本电脑后壳进行定位,然后滑动数显千分表12至纵向归零块4和横向归零块5处并将数显千分表12数值归零,转动调节杆15,调节杆15带动打磨块14与笔记本电脑后壳的上表面相贴合,然后滑动数显千分表12,此时数显千分表12上所显示的数值即为笔记本电脑后壳的平面度数据,滑动过程中数显千分表12,打磨块14在数显千分表12的滑动方向前方对笔记本电脑后壳的上面进行打磨以去除毛刺,达到了防止毛刺影响检测结果的目的,增加了整体的实用性。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (7)

1.一种千分表平面度数显检具,包括基座(1)、基准块(2)、刻印槽(3)、定位块(6)和滑块(10),其特征在于:所述基座(1)的上表面固定有基准块(2),所述基准块(2)的上表面较长一边正中间开设有刻印槽(3),所述基准块(2)的上表面两对角分别设置有纵向归零块(4)和横向归零块(5),所述基准块(2)的上表面固定有定位块(6),所述基座(1)的上表面安装有纵向滑轨(7)和横向滑轨(8),所述纵向滑轨(7)和横向滑轨(8)通过安装块(9)固定在基座(1)的上表面,所述纵向滑轨(7)和横向滑轨(8)的外表面连接有滑块(10),所述滑块(10)的上表面安装有卡块(11),所述卡块(11)的上端固定有数显千分表(12)。
2.根据权利要求1所述的一种千分表平面度数显检具,其特征在于:所述纵向滑轨(7)和横向滑轨(8)互相垂直,所述纵向滑轨(7)和横向滑轨(8)的一端相互贴合,2个所述安装块(9)分别与纵向滑轨(7)和横向滑轨(8)不互相贴合的一端固定。
3.根据权利要求1所述的一种千分表平面度数显检具,其特征在于:所述滑块(10)的上表面固定有限位块(13),所述限位块(13)的侧表面被打磨块(14)所贯穿。
4.根据权利要求3所述的一种千分表平面度数显检具,其特征在于:所述限位块(13)的上表面被调节杆(15)所贯穿,所述调节杆(15)与限位块(13)为转动连接。
5.根据权利要求1所述的一种千分表平面度数显检具,其特征在于:所述数显千分表(12)的一端位于基准块(2)的上方,所述数显千分表(12)位于基准块(2)上方的一端距离基准块(2)上表面的距离小于纵向归零块(4)和横向归零块(5)的上端距离基准块(2)上表面的距离。
6.根据权利要求4所述的一种千分表平面度数显检具,其特征在于:所述调节杆(15)位于限位块(13)内部的一端贯穿打磨块(14)位于限位块(13)内部的一端,所述调节杆(15)与打磨块(14)为螺纹连接。
7.根据权利要求3所述的一种千分表平面度数显检具,其特征在于:所述打磨块(14)与限位块(13)为滑动连接,所述打磨块(14)位于基准块(2)上方的投影长度大于数显千分表(12)位于基准块(2)上方的投影长度。
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