CN215069656U - 一种便于检测端面留边量的陶瓷电容 - Google Patents
一种便于检测端面留边量的陶瓷电容 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型涉及陶瓷电容技术领域，公开了一种便于检测端面留边量的陶瓷电容，包括上层薄膜，上层薄膜的下表面设置有第一薄膜，第一薄膜的下表面设置有第二薄膜，第二薄膜的下表面设置有第三薄膜，第三薄膜的下表面设置有下层薄膜，所述第一薄膜的表面设置有第一电极，第二薄膜的表面设置有第二电极，第三薄膜的表面设置有第三电极，由于第一电极和第三电极的形状，产品切割后可以直接观察产品外观中暴露出的第一电极、第二电极和第三电极的长度，便可以判断产品端面留边量是否满足规格，减少了人工，减少检验过程中产品损耗，节省检验时间，提高检验效率，加强了高效性，增强了实用性。
Description
技术领域
本实用新型涉及陶瓷电容技术领域，具体是一种便于检测端面留边量的陶瓷电容。
背景技术
伴随着电气设备的小型化、高性能化和高电压化，高压陶瓷电容器被广泛应用于FS短路器、避雷器、激光器和高压分压器领域所使用的高压陶瓷电容器的瓷介质主要有BaTiO和SrTiO系两类，在生产及使用中，对两种形式的电容器进行媒质耐压实验时都存在表面放电现象，前者出现于瓷片表面电极边缘，后者出现于在环氧层表面，都造成电容器瓷体的耐电强度下降，并在较低的电压下击穿，导致电容器的失效，为减少边缘放电击穿，在电容器的电极实际制作中，由于漏印现象银电极全部涂满端面难以实施，常常采用留边的办法测试电极留边量与瓷体表面放电的关系，由于产品侧面留边量埋藏在产品内部需要沿垂直电极方向剪开产品才可以看到，造成产品损失，剪开产品时需要确认产品叠层方向，并且需要保证剪开面的平整性，耗费工时。
因此，本领域技术人员提供了一种便于检测端面留边量的陶瓷电容，以解决上述背景技术中提出的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种便于检测端面留边量的陶瓷电容，由于第一电极和第三电极的形状，产品切割后可以直接观察产品外观中暴露出的第一电极、第二电极和第三电极的长度，便可以判断产品端面留边量是否满足规格，减少了人工，减少检验过程中产品损耗，节省检验时间，提高检验效率，加强了高效性，增强了实用性。
本实用新型的目的可以通过以下技术方案实现：
一种便于检测端面留边量的陶瓷电容，包括上层薄膜，上层薄膜的下表面设置有第一薄膜，第一薄膜的下表面设置有第二薄膜，第二薄膜的下表面设置有第三薄膜，第三薄膜的下表面设置有下层薄膜，所述第一薄膜的表面设置有第一电极，第二薄膜的表面设置有第二电极，第三薄膜的表面设置有第三电极。
作为本实用新型再进一步的方案：所述第一电极、第一电极和第三电极的形状均为“L”形，切割后从外侧可以看到留边量。
作为本实用新型再进一步的方案：所述第一电极和第三电极的一侧分别连接在第一薄膜和第三薄膜的一端，便于检测端面留边量。
作为本实用新型再进一步的方案：所述第二电极的形状为“L”形，且第二电极的一端延伸到第二薄膜的一侧，便于检测端面留边量。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
1、由于第一电极和第三电极的形状，产品切割后可以直接观察产品外观中暴露出的第一电极、第二电极和第三电极的长度，便可以判断产品端面留边量是否满足规格，减少了人工，减少检验过程中产品损耗，节省检验时间，提高检验效率，加强了高效性，增强了实用性。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为现有产品电极图；
图3为本实用新型的电极图；
图4为现有产品切割后的示意图；
图5为本实用新型切割后的示意图。
图中：1、上层薄膜；2、第一薄膜；3、第一电极；4、第二薄膜；5、第二电极；6、第三薄膜；7、第三电极；8、下层薄膜。
具体实施方式
实施例1
如图1所示，一种便于检测端面留边量的陶瓷电容，包括上层薄膜1，上层薄膜1的下表面设置有第一薄膜2，第一薄膜2的下表面设置有第二薄膜4，第二薄膜4的下表面设置有第三薄膜6，第三薄膜6的下表面设置有下层薄膜8，第一薄膜2的表面设置有第一电极3，第一电极3、第二电极5和第三电极7的形状均为“L”形，第二薄膜4的表面设置有第二电极5，第二电极5的形状为“L”形，且第二电极5的一端延伸到第二薄膜4的一侧，第三薄膜6的表面设置有第三电极7，第一电极3和第三电极7的一侧分别连接在第一薄膜2和第三薄膜6的一端。
本实用新型的工作原理是：由于第一电极3和第三电极7的形状，当对本实用性型端头进行切割时，第一电极3和第三电极7的一端与第一薄膜2和第三薄膜6的侧面平齐，如图5所示，直接从外观便可以观察到留边量，而图4中的切割后图形无法直观地展示留边量，由于第一电极3和第三电极7的形状，产品切割后直接观察产品外观中暴露出的第一电极3、第二电极5和第三电极7的长度，便可以判断产品端面留边量是否满足规格，减少了人工，减少检验过程中产品损耗，节省检验时间，提高检验效率，加强了实用性。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。
Claims (4)
1.一种便于检测端面留边量的陶瓷电容，包括上层薄膜(1)，上层薄膜(1)的下表面设置有第一薄膜(2)，第一薄膜(2)的下表面设置有第二薄膜(4)，第二薄膜(4)的下表面设置有第三薄膜(6)，第三薄膜(6)的下表面设置有下层薄膜(8)，其特征在于，所述第一薄膜(2)的表面设置有第一电极(3)，第二薄膜(4)的表面设置有第二电极(5)，第三薄膜(6)的表面设置有第三电极(7)。
2.根据权利要求1所述的一种便于检测端面留边量的陶瓷电容，其特征在于，所述第一电极(3)、第二电极(5)和第三电极(7)的形状均为“L”形。
3.根据权利要求1所述的一种便于检测端面留边量的陶瓷电容，其特征在于，所述第一电极(3)和第三电极(7)的一侧分别连接在第一薄膜(2)和第三薄膜(6)的一端。
4.根据权利要求1所述的一种便于检测端面留边量的陶瓷电容，其特征在于，所述第二电极(5)的形状为“L”形，且第二电极(5)的一端延伸到第二薄膜(4)的一侧。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202121582068.7U CN215069656U (zh) | 2021-07-13 | 2021-07-13 | 一种便于检测端面留边量的陶瓷电容 |
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Publications (1)
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Family Applications (1)
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Country Status (1)
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| CN (1) | CN215069656U (zh) |
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2021
- 2021-07-13 CN CN202121582068.7U patent/CN215069656U/zh active Active
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