CN215003410U - 一种瓷砖检测装置 - Google Patents
一种瓷砖检测装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN215003410U CN215003410U CN202023285149.9U CN202023285149U CN215003410U CN 215003410 U CN215003410 U CN 215003410U CN 202023285149 U CN202023285149 U CN 202023285149U CN 215003410 U CN215003410 U CN 215003410U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- ceramic tile
- tile
- camera unit
- unit
- linear laser
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
本实用新型涉及一种不仅使用寿命好、检测精度高，而且能够同时对瓷砖平整度及尺寸进行测量的一种瓷砖检测装置，包括输送机构和检测机构，所述输送机构带动瓷砖经过检测机构，所述检测机构包括一字激光发射单元和相机单元，在瓷砖流经相机单元的下面时一字激光发射单元能够同时发射六道一字激光线且六道一字激光线分别对应照射到瓷砖的四条边和两条对角线，此时相机单元能够拍摄到瓷砖的整个上端面。优点：一是本装置能够一次性瞬间对瓷砖的四边和对角线进行测量，从而避免了运动结构及台面平整度对测量造成的影响；二是本装置对瓷砖的平整性和尺寸能够实现一体检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种不仅使用寿命好、检测精度高，而且能够同时对瓷砖平整度及尺寸进行测量的一种瓷砖检测装置，属于检测技术领域。
背景技术
CN 110715623 A、名称“一种瓷砖平整度检测设备”，包括整机框架，整机框架内部下面穿插设置有用于输送瓷砖的输送机构，整机框架的前端设置有用于使瓷砖进入检测前准确自动定位的自动对中机，整机框架的内部上侧装有能够自由调节高低左右位置的面阵摄像机，整机框架内高于输送机构位置装有若干台能够自由调节高低左右以及角度的一字线激光器，整机框架的前端安装有用于控制面阵摄像机和一字线激光器的第一光电开关，整机框架内壁上还安装有同步控制器，第一光电开关的输出通过电缆连接到同步控制器，同步面阵摄像机和一字线激光器工作，面阵摄像机的数据输出端通过网线连接至控制台，整机框架外侧安装有用于对完成检测的瓷砖进行标记的喷码机和用于控制喷码机的第二光电开关，且控制台通过RS232总线与喷码机相连。当瓷砖通过输送机构传输至面阵摄像机下方时，面阵摄像机位于瓷砖的正上方。面阵摄像机的旁边安装有用于对面阵摄像机镜头进行除尘的除尘装置。控制台内部安装有图像处理工控计算机，上部安装有显示器，面阵摄像机的输出端通过电缆连接至图像处理工控计算机，所述显示器用于显示检测结果。一种瓷砖平整度检测方法，采用所述的一种瓷砖平整度检测设备，瓷砖被输送机构运输到自动对中机处时，自动对中机对瓷砖进行定位，使瓷砖位置摆正，当瓷砖经过第一光电开关时，同步控制器发送启动信号给面阵摄像机和一字线激光器，面阵摄像机把获取的信息输入给控制台，控制台经过运算将检测结果送到喷码机缓存，当瓷砖运行到第二光电开关处时，给控制台发送信号，控制台接收到信号后控制喷码机进行分级编号喷码，完成对瓷砖等级的标记。控制台内部安装有图像处理工控计算机，上部安装有显示器；面阵摄像机把获取的信息输送至图像处理工控计算机，图像处理工控计算机经过3D运算，计算出对应四个边的弯曲度、中心的弯曲度和角的翘曲度，将检测结果送到显示器显示和喷码机缓存。其不足之处在于：一是该种瓷砖平整度检测设备使用时，运动结构及台面平整度对瓷砖的测量会造成一定的影响；二是该种瓷砖平整度检测设备无法对瓷砖的尺寸进行测量。
实用新型内容
设计目的：为避免背景技术中的不足，设计一种不仅使用寿命好、检测精度高，而且能够同时对瓷砖平整度及尺寸进行测量的一种瓷砖检测装置。
设计方案：为实现上述设计目的。
1、所述检测机构包括一字激光发射单元和相机单元，在瓷砖流经相机单元的下面时一字激光发射单元能够同时发射六道一字激光线且六道一字激光线分别对应照射到瓷砖的四条边和两条对角线，此时相机单元能够拍摄到瓷砖的整个上端面的设计，是本实用新型的技术特征之一。这样设计的目的在于：一是采用一字激光对瓷砖平整度进行测量，由于全程无接触、无机械运动，从而不仅能够延长装置的使用寿命，而且检测精准性长久保持；二是本装置中的一字激光发射单元能够同时发射六道一字激光线，即本装置能够一次性瞬间对瓷砖的四边和对角线进行测量，从而避免了运动结构及台面平整度对测量造成的影响。三是本装置中的调制激光在不检测时处于不发亮状态，可以加长寿命，减少干扰。
2、在瓷砖流经相机单元的下面时光源单元能够同时发射四道面光线且四道面光线分别照射瓷砖的四角的设计，是本实用新型的技术特征之二。这样设计的目的在于：在瓷砖流经相机单元的下面时光源单元能够同时发射四道面光线且四道面光线分别照射瓷砖的四角，由于瓷砖与传送带对光的反射效果不同，发光源产生的光照射在瓷砖边角上呈现出光亮区，而照射在该边角周围的传送带呈光暗区，这样控制计算机就能识别出瓷砖的边角顶点并计算出瓷砖的准确大小尺寸；而且从激光点亮和照射光点亮之间的时间差极短，在此过程中瓷砖向前行进了较小的距离，该距离不会影响拍摄到瓷砖的完整的上端面，即本装置对瓷砖的平整性和尺寸能够实现一体检测。
3、所述光源单元包含有四个发光源且四个发光源均位于输送机构的上方的设计，是本实用新型的技术特征之三。这样设计的目的在于：在大多数使用过程中输送机构中的输送带的宽度常常大于瓷砖的宽度，光源单元中的四个发光源均位于输送机构的上方，这样发光源产生的光照射在瓷砖边角上会呈现出光亮区，而照射在该边角周围的传送带上会呈光暗区，从而令瓷砖边角的顶角被更显著的呈现，进而提高尺寸测量的精度。
4、所述一字激光发射单元包含有六个一字激光发射器且六个一字激光发射器均斜向下发射一字激光线的设计，是本实用新型的技术特征之四。这样设计的目的在于：所述一字激光发射单元包含有六个一字激光发射器且六个一字激光发射器均斜向下发射一字激光线，这样使用者可以根据需要调整各一字激光发射器的位置，避免了各一字激光发射器发射的激光线出现相互干扰的问题。
技术方案：一种瓷砖检测装置，包括输送机构和检测机构，所述输送机构带动瓷砖经过检测机构，所述检测机构包括一字激光发射单元和相机单元，在瓷砖流经相机单元的下面时一字激光发射单元能够同时发射六道一字激光线且六道一字激光线分别对应照射到瓷砖的四条边和两条对角线，此时相机单元能够拍摄到瓷砖的整个上端面。
本实用新型与背景技术相比，一是本装置能够一次性瞬间对瓷砖的四边和对角线进行测量，从而避免了运动结构及台面平整度对测量造成的影响；二是本装置对瓷砖的平整性和尺寸能够实现一体检测。
附图说明
图1是一种瓷砖检测装置的俯视结构示意图。
具体实施方式
实施例1：参照附图1。一种瓷砖检测装置，包括输送机构和检测机构，所述输送机构带动瓷砖1经过检测机构，所述检测机构包括一字激光发射单元2和相机单元3，在瓷砖1流经相机单元3的下面时一字激光发射单元2能够同时发射六道一字激光线且六道一字激光线分别对应照射到瓷砖1的四条边和两条对角线，此时相机单元3能够拍摄到瓷砖1的整个上端面。平整度连续曲线采用电子3D结构光原理,每条边可以多达500个探点，从而不漏过任何缺陷误差，特别是边角容易形变的地方。
所述检测机构还包括光源单元4，在瓷砖1流经相机单元3的下面时光源单元4能够同时发射四道光线且四道光线分别照射瓷砖1的四角。所述光源单元4包含有四个发光源41且四个发光源41均位于输送机构的上方，在瓷砖1流经相机单元3的下面时四个发光源41能够同时发射光线且四道光线分别照射到瓷砖1上对应的角；所述发光源41产生的光线为面光线。尺寸测量采用最可靠的图像投影式，最真实地反映瓷砖实际尺寸。所述一字激光发射单元2包含有六个一字激光发射器21且六个一字激光发射器21均斜向下发射一字激光线。所述相机单元3包含有至少一个工业相机31。使用时，一字激光发射单元2、相机单元3和光源单元4可以安装在同一个安装框架上，且安装框架位于输送机构中的传送带的上方。
当输送机构中的传送带5将一块瓷砖1运送到检测机构所在的检测区域后，六个一字激光发射器21将发射激光照射瓷砖1的四条边线及两条对角线，相机单元3同时会拍摄（垂直俯视）照射有激光线的瓷砖。由于激光是斜入射式的，在激光线照射到瓷砖1凸起的部分时，激光线会向一字激光发射器21方向弯曲（俯视），反之，在激光线照射到瓷砖1凹下去的部分时，激光线会向相反的方向弯曲，且瓷砖1凸起（凹陷）的越明显，激光线弯曲地越明显。程序通过在相机采集的激光线上密集采样来计算翘曲数据，进而计算瓷砖的平整度。
在瓷砖1到达检测区域时四个发光源41位于瓷砖1的四个边角的上方（一个发光源41对应瓷砖1的一个边角），相机单元3对四个发光源41照射的瓷砖1拍摄图像后能够将图像上传给控制计算机，控制计算机借助正光源（由于瓷砖1与传送带对光的反射效果不同，发光源41产生的光照射在瓷砖1边角上呈现出光亮区，而照射在该边角周围的传送带呈光暗区，这样控制计算机就能识别出瓷砖1的边角顶点）计算出瓷砖1的准确大小尺寸。
使用时，瓷砖1流经相机单元3下面时，一字激光发射单元2中的六根激光瞬间点亮，且各激光线倾斜入射到瓷砖1中的对应边长线和对角线上，相机单元3拍照后将图像上传给控制计算机，控制计算机能够计算得出各边长和对角线平整度。之后关掉激光，点亮照射光（即光源单元4），照亮瓷砖1得四角，相机单元3拍照后将图像上传给控制计算机，控制计算机能够计算得出瓷砖1边长以及对角线长度。从激光点亮和照射光点亮之间的时间差极短。在此过程中瓷砖1向前行进了较小的距离，该距离不会影响拍摄到瓷砖1的完整的上端面（打有激光的瓷砖1的完整上端面和打有照射光的瓷砖1的完整上端面）。
需要理解到的是：上述实施例虽然对本实用新型的设计思路作了比较详细的文字描述，但是这些文字描述，只是对本实用新型设计思路的简单文字描述，而不是对本实用新型设计思路的限制，任何不超出本实用新型设计思路的组合、增加或修改，均落入本实用新型的保护范围内。
Claims (5)
1.一种瓷砖检测装置，包括输送机构和检测机构，所述输送机构带动瓷砖（1）经过检测机构，其特征是：所述检测机构包括一字激光发射单元（2）和相机单元（3），在瓷砖（1）流经相机单元（3）的下面时一字激光发射单元（2）能够同时发射六道一字激光线且六道一字激光线分别对应照射到瓷砖（1）的四条边和两条对角线，此时相机单元（3）能够拍摄到瓷砖（1）的整个上端面。
2.根据权利要求1所述的一种瓷砖检测装置，其特征是：所述检测机构还包括光源单元（4），在瓷砖（1）流经相机单元（3）的下面时光源单元（4）能够同时发射四道光线且四道光线分别照射瓷砖（1）的四角。
3.根据权利要求2所述的一种瓷砖检测装置，其特征是：所述光源单元（4）包含有四个发光源（41）且四个发光源（41）均位于输送机构的上方，在瓷砖（1）流经相机单元（3）的下面时四个发光源（41）能够同时发射光线且四道光线分别照射到瓷砖（1）上对应的角。
4.根据权利要求1所述的一种瓷砖检测装置，其特征是：所述一字激光发射单元（2）包含有六个一字激光发射器（21）且六个一字激光发射器（21）均斜向下发射一字激光线。
5.根据权利要求1所述的一种瓷砖检测装置，其特征是：所述相机单元（3）包含有至少一个工业相机（31）。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202023285149.9U CN215003410U (zh) | 2020-12-29 | 2020-12-29 | 一种瓷砖检测装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202023285149.9U CN215003410U (zh) | 2020-12-29 | 2020-12-29 | 一种瓷砖检测装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN215003410U true CN215003410U (zh) | 2021-12-03 |
Family
ID=79142272
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202023285149.9U Active CN215003410U (zh) | 2020-12-29 | 2020-12-29 | 一种瓷砖检测装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN215003410U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114310548A (zh) * | 2021-12-10 | 2022-04-12 | 中交二公局第六工程有限公司 | 管廊端面打磨装置及其管廊施工系统 |
| CN116213290A (zh) * | 2023-05-04 | 2023-06-06 | 安徽点恩科技有限公司 | 一种建筑管理施工用质量检测装置 |
-
2020
- 2020-12-29 CN CN202023285149.9U patent/CN215003410U/zh active Active
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114310548A (zh) * | 2021-12-10 | 2022-04-12 | 中交二公局第六工程有限公司 | 管廊端面打磨装置及其管廊施工系统 |
| CN114310548B (zh) * | 2021-12-10 | 2023-02-03 | 中交二公局第六工程有限公司 | 管廊端面打磨装置及其管廊施工系统 |
| CN116213290A (zh) * | 2023-05-04 | 2023-06-06 | 安徽点恩科技有限公司 | 一种建筑管理施工用质量检测装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN215003410U (zh) | 一种瓷砖检测装置 | |
| US4105925A (en) | Optical object locator | |
| EP0876584B1 (en) | System for measuring surface flatness using shadow moire technology | |
| TWI333544B (en) | Substrate inspection apparatus | |
| US7458318B2 (en) | Off-axis illumination assembly and method | |
| EP0920791B1 (en) | Method of placing components on a carrier including a calibration procecure and device suitable therefor | |
| CN215003409U (zh) | 一种超大面积瓷砖检测装置 | |
| JP4434417B2 (ja) | プリント配線板の検査装置 | |
| KR20130045351A (ko) | 웨이퍼 톱니 자국의 ３차원 조사 장치 및 방법 | |
| CN105424721A (zh) | 一种金属应变计缺陷自动检测系统 | |
| US7039228B1 (en) | System and method for three-dimensional surface inspection | |
| CN110715623A (zh) | 一种瓷砖平整度检测设备及方法 | |
| JPH11264803A (ja) | 透明板状体の欠陥検出方法および装置 | |
| JPH0755442A (ja) | 電子部品認識装置及びこれを用いた電子部品装着装置 | |
| CN204789365U (zh) | 用于pcb菲林片检测的aoi装置的图像采集装置 | |
| JP4224268B2 (ja) | 電子回路部品装着機、ならびにそれの装着位置精度検査方法および装置 | |
| CN210847221U (zh) | 一种玻璃缺陷在线检测设备 | |
| CN204790307U (zh) | 用于pcb菲林片检测的aoi装置 | |
| CN114769884B (zh) | 氧化物去除设备和调校方法 | |
| KR101962427B1 (ko) | 3차원 형상 측정 시스템 | |
| CN210533305U (zh) | 一种瓷砖平整度检测设备 | |
| KR20080112948A (ko) | 검사장치 | |
| JP2005037211A (ja) | 被測定物の外径測定方法、外径測定装置及び外周面研削装置 | |
| CN211330310U (zh) | 一种高反光物体表面缺陷检测装置 | |
| CN113109346A (zh) | 一种汽车覆盖件板料的表面质量自动检测系统及方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |