CN214893642U - 一种高精度电子分析天平 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种高精度电子分析天平，包括设备主体，设备主体顶部固定安装有秤盘，秤盘顶部固定安装有插槽，插槽一端固定安装有电阻应变式传感器，设备主体顶部固定安装有玻璃罩，玻璃罩背面固定安装有静电消除器，设备主体顶部固定安装有显示屏，设备主体顶部固定安装有控制面板，设备主体底部固定安装有支撑脚，设备主体底部固定安装有工作台，工作台上表面设置有水平仪，工作台底部固定安装有减震器。本实用新型的一种高精度电子分析天平，通过设置微调刻度杆和套筒，能够很方便的调整整体装置的高度，有利于定位和微调，增加了减震器也是为了提高整体装置的稳定性和减震效果，整体装置结构简单，造价成本低，比较适合广泛的推广使用。

Description

一种高精度电子分析天平

技术领域

本实用新型涉及分析天平技术领域，具体为一种高精度电子分析天平。

背景技术

随着人们对于测量精度的要求越来越高，传统的机械天平已经很难满足需求，伴随着现代传感器技术、电子技术和计算机技术的迅速发展，电子天平有了突飞猛进的进步，其中传感器被称为电子天平的心脏部件，在高精度电子天平中起到很重要的作用，然而在称量的过程中，由于传感器受到某些横向力的作用使测量精度受损，而且分析天平上密闭的防风罩使灰尘堆积，也在一定的程度上影响了分析天平的测量精度。

现有技术存在以下缺陷或问题：

1、现有的一种高精度电子分析天平，作为电子天平这样的精密仪器，电子天平的水平度直接关系到测量的精确度，放置天平台的地面经常会出现不平整情况，导致调整电子天平台的水平度的难度非常大；

2、现有的一种高精度电子分析天平，在称量的过程中，传感器会受到某些横向力的作用使测量精度受损，而且分析天平上密闭的玻璃罩使灰尘堆积，也在一定的程度上影响了分析天平的测量精度，整体装置结构比较复杂，整体装置稳定性不佳。

实用新型内容

本实用新型的目的在于针对现有技术的不足之处，提供一种高精度电子分析天平，以解决背景技术中提出的电子天平放置的平台地面出现不平整的情况，传感器会受到某些横向力的作用使测量精度受损，析天平上密闭的玻璃罩使灰尘堆积，也在一定的程度上影响了分析天平的测量精度，结构复杂，稳定性不佳问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种高精度电子分析天平，包括设备主体，所述设备主体顶部固定安装有秤盘，所述秤盘顶部固定安装有插槽，所述插槽一端固定安装有电阻应变式传感器，所述设备主体顶部固定安装有玻璃罩，所述玻璃罩背面固定安装有静电消除器，所述设备主体顶部固定安装有显示屏，所述设备主体顶部固定安装有控制面板，所述设备主体底部固定安装有支撑脚，所述设备主体底部固定安装有工作台，所述工作台上表面设置有水平仪，所述工作台底部固定安装有减震器，所述减震器底部固定安装有基座，所述基座底部固定安装有微调刻度杆，所述微调刻度杆外壁设置有套筒。

作为本实用新型的优选技术方案，所述插槽设置有两个，所述插槽均匀对称分布在电阻应变式传感器两侧。

作为本实用新型的优选技术方案，所述玻璃罩为人工合成复合材料，所述玻璃罩通过固定螺栓固定安装在设备主体顶部。

作为本实用新型的优选技术方案，所述静电消除器内部设置有导线，所述静电消除器通过导线与外部电源电性连接。

作为本实用新型的优选技术方案，所述控制面板内部设置有导线，所述控制面板通过导线与外部电源电性连接。

作为本实用新型的优选技术方案，所述减震器设置有若干个，所述减震器均匀对称分布在基座顶部。

作为本实用新型的优选技术方案，所述微调刻度杆外壁尺寸与套筒内壁尺寸相适配，所述微调刻度杆与套筒活动连接。

与现有技术相比，本实用新型提供了一种高精度电子分析天平，具备以下有益效果：

1、该一种高精度电子分析天平，通过设置插槽使电阻应变式传感器稳定，消除电阻应变式传感器的横向力，提高分析天平的精度，静电消除器可以使分析天平的内部减少灰尘的堆积，进一步提高分析天平的精度，增加玻璃罩也是为了防止灰尘的进入，还有防止风速对测量精确度的影响；

2、该一种高精度电子分析天平，通过设置微调刻度杆和套筒，人工能够很方便的调整整体装置的高度，有利于定位和微调，同时增加了减震器也是为了提高整体装置的稳定性和减震效果，整体装置结构简单，造价成本较低，比较适合广泛的推广使用。

附图说明

图1为本实用新型立体结构示意图；

图2为本实用新型局部结构示意图；

图3为本实用新型正面结构示意图；

图4为本实用新型局部结构示意图。

图中：1、设备主体；2、秤盘；3、插槽；4、电阻应变式传感器；5、玻璃罩；6、静电消除器；7、显示屏；8、控制面板；9、支撑脚；10、工作台；11、水平仪；12、减震器；13、基座；14、微调刻度杆；15、套筒。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-4，本实施方案中：一种高精度电子分析天平，包括设备主体1，设备主体1顶部固定安装有秤盘2，秤盘2顶部固定安装有插槽3，插槽3一端固定安装有电阻应变式传感器4，设备主体1顶部固定安装有玻璃罩5，玻璃罩5背面固定安装有静电消除器6，设备主体1顶部固定安装有显示屏7，设备主体1顶部固定安装有控制面板8，设备主体1底部固定安装有支撑脚9，设备主体1底部固定安装有工作台10，工作台10上表面设置有水平仪11，工作台10底部固定安装有减震器12，减震器12底部固定安装有基座13，基座13底部固定安装有微调刻度杆14，微调刻度杆14外壁设置有套筒15。

本实施例中，插槽3设置有两个，插槽3均匀对称分布在电阻应变式传感器4两侧为了更好的固定住电阻应变式传感器4，防止会有脱落的风险；玻璃罩5为人工合成复合材料，玻璃罩5通过固定螺栓固定安装在设备主体1顶部，为了更好的固定住玻璃罩5，防止灰尘的进入，还有防风的作用；静电消除器6内部设置有导线，静电消除器6通过导线与外部电源电性连接，为了防止灰尘的堆积，造成测量精度的不准确性；为了更好的控制整体装置，保证控制的实时性和便捷性；减震器12设置有若干个，减震器12均匀对称分布在基座13顶部，为了提高整体装置的稳定性和减震效果，保证测量的精准度；微调刻度杆14外壁尺寸与套筒15内壁尺寸相适配，微调刻度杆14与套筒15活动连接，能够很方便的调整整体装置的高度，有利于定位和微调，能够确保台面的水平性。

本实用新型的工作原理及使用流程：该一种高精度电子分析天平，通过设置插槽3使电阻应变式传感器4稳定，消除电阻应变式传感器4的横向力，提高分析天平的精度，静电消除器6可以使分析天平的内部减少灰尘的堆积，进一步提高分析天平的精度，增加玻璃罩5也是为了防止灰尘的进入，还有防止风速对测量精确度的影响，通过设置微调刻度杆14和套筒15，人工能够很方便的调整整体装置的高度，有利于定位和微调，同时增加了减震器12也是为了提高整体装置的稳定性和减震效果，整体装置结构简单，造价成本较低，比较适合广泛的推广使用。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种高精度电子分析天平，其特征在于：包括设备主体（1），所述设备主体（1）顶部固定安装有秤盘（2），所述秤盘（2）顶部固定安装有插槽（3），所述插槽（3）一端固定安装有电阻应变式传感器（4），所述设备主体（1）顶部固定安装有玻璃罩（5），所述玻璃罩（5）背面固定安装有静电消除器（6），所述设备主体（1）顶部固定安装有显示屏（7），所述设备主体（1）顶部固定安装有控制面板（8），所述设备主体（1）底部固定安装有支撑脚（9），所述设备主体（1）底部固定安装有工作台（10），所述工作台（10）上表面设置有水平仪（11），所述工作台（10）底部固定安装有减震器（12），所述减震器（12）底部固定安装有基座（13），所述基座（13）底部固定安装有微调刻度杆（14），所述微调刻度杆（14）外壁设置有套筒（15）。

2.根据权利要求1所述的一种高精度电子分析天平，其特征在于：所述插槽（3）设置有两个，所述插槽（3）均匀对称分布在电阻应变式传感器（4）两侧。

3.根据权利要求1所述的一种高精度电子分析天平，其特征在于：所述玻璃罩（5）为人工合成复合材料，所述玻璃罩（5）通过固定螺栓固定安装在设备主体（1）顶部。

4.根据权利要求1所述的一种高精度电子分析天平，其特征在于：所述静电消除器（6）内部设置有导线，所述静电消除器（6）通过导线与外部电源电性连接。

5.根据权利要求1所述的一种高精度电子分析天平，其特征在于：所述控制面板（8）内部设置有导线，所述控制面板（8）通过导线与外部电源电性连接。

6.根据权利要求1所述的一种高精度电子分析天平，其特征在于：所述减震器（12）设置有若干个，所述减震器（12）均匀对称分布在基座（13）顶部。

7.根据权利要求1所述的一种高精度电子分析天平，其特征在于：所述微调刻度杆（14）外壁尺寸与套筒（15）内壁尺寸相适配，所述微调刻度杆（14）与套筒（15）活动连接。

Images