CN214893080U - 一种用于干涉仪的检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于干涉仪领域,具体涉及一种用于干涉仪的检测装置,包括底板、高度调节装置、旋转台和干涉仪支撑台;干涉仪支撑台四角设置在底板上,高度调节装置设置在干涉仪支撑台的中心下方并固定在底板上,旋转台设置在高度调节装置上;高度调节装置包括本体,本体中间滑动连接有立柱,立柱上纵向均匀开设有卡孔,本体的内部贯穿有插杆,且插杆的边侧连接有第一弹簧。解决了现在的干涉仪检测装置在高频率的调高过程中,调节装置的稳定性差,使得检测台轻微晃动,影响检测结果。另外现有的干涉仪的检测装置在调节高度的同时不能转动,不能满足多角度测量的技术问题。
Description
技术领域
本实用新型属于干涉仪技术领域,具体涉及一种用于干涉仪的检测装置。
背景技术
现光学行业使用检测表面平整度的工具干涉仪(F601F II倒立式富士干涉仪)主要包括布置在下的可调节检测平台,布置在上的镜头及布置在旁的显示器三大部分。其中,检测平台用于放置被检测镜片,由于被检测透镜的曲率半径(R)不一样,所以需要根据镜片R值来调节检测平台相对于镜头的高度从而找到被检测镜片的焦点(俗称猫眼OSO),焦点的的位置可通过显示器显示出来。
但是现在的干涉仪检测装置在高频率的调高过程中,调节装置的稳定性差,使得检测台轻微晃动,影响检测结果。另外现有的干涉仪的检测装置在调节高度的同时不能转动,不能满足多角度测量。
实用新型内容
本实用新型解决的技术问题:现在的干涉仪检测装置在高频率的调高过程中,调节装置的稳定性差,使得检测台轻微晃动,影响检测结果。另外现有的干涉仪的检测装置在调节高度的同时不能转动,不能满足多角度测量。
技术方案:为了解决上述技术问题,本实用新型采用的技术方案如下:
一种用于干涉仪的检测装置,包括底板、高度调节装置、旋转台和干涉仪支撑台;干涉仪支撑台四角设置在底板上,高度调节装置设置在干涉仪支撑台的中心下方并固定在底板上,旋转台设置在高度调节装置上;
所述高度调节装置包括本体,本体中间滑动连接有立柱,立柱上纵向均匀开设有卡孔,本体的内部贯穿有插杆,且插杆的边侧连接有第一弹簧。
进一步地,所述插杆的外端设置把手。
进一步地,所述旋转台包括转座、转盘和刻度;所述转座固定在立柱顶部,转座的中部设有转盘,转盘可在转座上沿轴心转动,转座的边缘设有刻度。
进一步地,所述转座的中间设有孔,转盘的底部设有转轴,孔内设有轴承,转轴设置在轴承内。
进一步地,所述转座的边缘设有凸缘,凸缘上设置刻度,对应的转盘上设置箭头标记;在所述箭头标记的一旁设置外端开口的沟槽,沟槽内设置可拨动的限位磁铁,限位磁铁高于转盘;所述凸缘为铁质凸缘。
进一步地,所述限位磁铁的后部设置复位弹簧。
进一步地,所述转轴的底部设置第二弹簧;所述转盘的底端面圆周均匀设置若干卡柱,转座上表面对应卡柱的位置设置卡槽;
所述卡柱与卡槽之间为卡合连接,卡合连接后第二弹簧处于初始状态。
进一步地,所述卡柱的底部为凸起的半球形,对应的卡槽为内凹的半球形卡槽。
有益效果:与现有技术相比,本实用新型具有以下优点:
(1)本实用新型在检测平台下设置高度调节装置,其中立柱沿装置本体的内部上下滑动,对装置的高度进行调节,插杆与立柱内部开设的卡孔进行卡合,对高度进行固定,通过插杆的设置,保证高度可调的同时,对高度进行固定,避免使用过程中出现晃动,影响检测结果。
(2)本申请的检测平台即转盘可转动,对物品进行多角度校测,使用更加方便。转盘与转座之间通过轴承连接,转动更加顺畅。
(3)在转盘与转座之间设置沟槽、限位磁铁和凸起的铁质刻度可以保证转盘转动一定角度后锁紧固定,转盘固定后便于进行检测。
附图说明
图1是本实用新型整体结构示意图;
图2是旋转台结构剖视图;
图3是图2的俯视图;
图4是旋转台结构剖视图。
具体实施方式
下面结合具体实施例,进一步阐明本发明,实施例在以本发明技术方案为前提下进行实施,应理解这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围。
如图1所示,本申请的一种用于干涉仪的检测装置,包括底板1、高度调节装置、旋转台和干涉仪支撑台4;干涉仪支撑台4四角设置在底板1上,高度调节装置设置在干涉仪支撑台4的中心下方并固定在底板1上,旋转台设置在高度调节装置上。
高度调节装置包括本体21,本体21中间滑动连接有立柱22,立柱22上纵向均匀开设有卡孔23,本体21的内部贯穿有插杆24,且插杆24的边侧连接有第一弹簧25。
使用时,将插杆24拉出,然后升高或降低立柱22,完毕后将插杆24插入卡孔23内完成高度的调节。
为了便于使用,在插杆24的外端设置把手26。
旋转台包括转座31、转盘32和刻度33,转座31固定在立柱22顶部,转座31的中部设有转盘32,转盘32可在转座31上沿轴心转动,转座31的边缘设有刻度33。
转盘32转动到固定刻度33时,转盘32盘固定,所以转盘32和转座31之间的连接方式包括但不限于以下几种:
第一种:如图2、3所示,转座31的中间设有孔34,转盘32的底部设有转轴35,孔34内设有轴承36,转轴35设置在轴承36内。转座31的边缘设有凸缘37,凸缘37上设置刻度33,对应的转盘32上设置箭头标记38,箭头标记38用于对应刻度33,在箭头标记38的一旁设置外端开口的沟槽39,沟槽39内设置可拨动的限位磁铁391,限位磁铁391高于转盘32。上述的凸缘37为铁质凸缘。当转动转盘32到指定位置后,将限位磁铁391拨动至凸缘37一侧,限位磁铁391吸附凸缘37从而将转盘32固定。
在限位磁铁391的后部设置复位弹簧392,便于限位磁铁391的拨动。
第二种:如图4所示,转座31的中间设有孔34,转盘32的底部设有转轴35,孔34内设有轴承36,转轴35设置在轴承36内;转轴35的底部设置第二弹簧351,第二弹簧351用于连接转轴35和孔34的底部;转盘32的底端面圆周均匀设置若干卡柱321,转座31上表面对应卡柱321的位置设置卡槽311。
卡柱321与卡槽311之间为卡合连接,卡合连接后第二弹簧351处于初始状态,需要转动时,抬起转盘32,使得卡柱321与卡槽311脱离,对角度进行调节后,将转盘32放下,第二弹簧351起到复位并固定的作用,卡柱321与卡槽311重新卡合,通过卡柱321的设置,使得转向角度可被固定。
转盘32直径小于转座31,转座31的边缘设置刻度33,转盘32的表面设置箭头标记38。
为了便于滑动,卡柱321的底部为凸起的半球形,对应的卡槽311为内凹的半球形卡槽311。
由于卡槽311和卡柱321的数量有限,所以第二种方式的调节角度范围不低于10°,所以相比于第一种方式,第二种方式的调节角度有限。但是可满足干涉仪检测装置使用。
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。
Claims (8)
1.一种用于干涉仪的检测装置,其特征在于:包括底板(1)、高度调节装置、旋转台和干涉仪支撑台(4);干涉仪支撑台(4)四角设置在底板(1)上,高度调节装置设置在干涉仪支撑台(4)的中心下方并固定在底板(1)上,旋转台设置在高度调节装置上;
所述高度调节装置包括本体(21),本体(21)中间滑动连接有立柱(22),立柱(22)纵向均匀开设有卡孔(23),本体(21)的内部贯穿有插杆(24),且插杆(24)的边侧连接有第一弹簧(25)。
2.根据权利要求1所述的用于干涉仪的检测装置,其特征在于:所述插杆(24)的外端设置把手(26)。
3.根据权利要求1所述的用于干涉仪的检测装置,其特征在于:所述旋转台包括转座(31)、转盘(32)和刻度(33);所述转座(31)固定在立柱(22)顶部,转座(31)的中部设有转盘(32),转盘(32)可在转座(31)上沿轴心转动,转座(31)的边缘设有刻度(33)。
4.根据权利要求3所述的用于干涉仪的检测装置,其特征在于:所述转座(31)的中间设有孔(34),转盘(32)的底部设有转轴(35),孔(34)内设有轴承(36),转轴(35)设置在轴承(36)内。
5.根据权利要求4所述的用于干涉仪的检测装置,其特征在于:所述转座(31)的边缘设有凸缘(37),凸缘(37)上设置刻度(33),对应的转盘(32)上设置箭头标记(38);在所述箭头标记(38)的一旁设置外端开口的沟槽(39),沟槽(39)内设置可拨动的限位磁铁(391),限位磁铁(391)高于转盘(32);所述凸缘(37)为铁质凸缘。
6.根据权利要求5所述的用于干涉仪的检测装置,其特征在于:所述限位磁铁(391)的后部设置复位弹簧(392)。
7.根据权利要求4所述的用于干涉仪的检测装置,其特征在于:所述转轴(35)的底部设置第二弹簧(351);所述转盘(32)的底端面圆周均匀设置若干卡柱(321),转座(31)上表面对应卡柱(321)的位置设置卡槽(311);
所述卡柱(321)与卡槽(311)之间为卡合连接,卡合连接后第二弹簧(351)处于初始状态。
8.根据权利要求7所述的用于干涉仪的检测装置,其特征在于:所述卡柱(321)的底部为凸起的半球形,对应的卡槽(311)为内凹的半球形卡槽(311)。
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