CN214846126U - 一种显示面板及裂纹检测系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种显示面板及裂纹检测系统，显示面板包括彩膜基板、阵列基板以及位于所述阵列基板与所述彩膜基板之间的液晶层，包括显示区和非显示区，所述非显示区位于所述显示区的外围；所述彩膜基板包括第一基板、位于所述第一基板上的多个色阻以及至少一条第一检测线，所述第一检测线位于所述非显示区，围绕所述显示区设置，位于所述第一基板的一侧；所述阵列基板包括第二基板、位于所述第二基板上的多个子像素以及至少一条第二检测线，所述第二检测线位于所述非显示区，围绕所述显示区设置，与所述子像素位于所述第二基板的同一侧。本实用新型提供一种显示面板及裂纹检测系统，以实现对微裂缝等损伤的检出，提高产品稳定性和产品良率。

Description

一种显示面板及裂纹检测系统

技术领域

本实用新型涉及显示技术，尤其涉及一种显示面板及裂纹检测系统。

背景技术

液晶显示面板因其具有显示效果好、工艺成熟和制作成本低等特点，在显示技术领域得到广泛的应用。液晶显示面板一般包括阵列基板、彩膜基板和夹持于阵列基板与彩膜基板之间的液晶层。

在制作形成液晶显示面板的过程中，需要彩膜基板母版进行切割，以形成多个彩膜基板，对阵列基板母版进行切割，以形成多个阵列基板。然而切割容易造成彩膜基板、阵列基板的损伤，例如出现微裂缝。另外，在阵列基板以及彩膜基板的运输、组立成盒等过程中，也可能对阵列基板以及彩膜基板造成损伤。但是微裂缝等损伤不易通过人眼检出。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种显示面板及裂纹检测系统，以实现对微裂缝等损伤的检出，提高产品稳定性和产品良率。

第一方面，本实用新型实施例提供一种显示面板，包括彩膜基板、阵列基板以及位于所述阵列基板与所述彩膜基板之间的液晶层，包括显示区和非显示区，所述非显示区位于所述显示区的外围；

所述彩膜基板包括第一基板、位于所述第一基板上的多个色阻以及至少一条第一检测线，所述第一检测线位于所述非显示区，围绕所述显示区设置，位于所述第一基板的一侧；

所述阵列基板包括第二基板、位于所述第二基板上的多个子像素以及至少一条第二检测线，所述第二检测线位于所述非显示区，围绕所述显示区设置，与所述子像素位于所述第二基板的同一侧。

进一步地，所述彩膜基板还包括黑矩阵，所述黑矩阵包括第一黑矩阵和第二黑矩阵，所述第一黑矩阵位于所述显示区，所述色阻位于所述第一黑矩阵的开口中；所述第二黑矩阵位于所述非显示区；

所述第一检测线位于所述第二黑矩阵远离所述第一基板一侧。

进一步地，所述彩膜基板还包括触控功能层，所述触控功能层位于所述显示区，与所述色阻位于所述第一基板的相对两侧；

所述第一检测线与所述触控功能层中的一个金属层同层设置。

进一步地，所述非显示区包括台阶区，所述阵列基板还包括多个绑定端子，所述绑定端子位于所述台阶区；

所述第二检测线位于所述绑定端子的外围。

进一步地，所述阵列基板还包括扫描线和数据线，所述扫描线与所述数据线异层设置；

所述第二检测线与所述扫描线或者所述数据线同层设置。

进一步地，所述阵列基板还包括第一绝缘层，所述第一绝缘层位于所述第二检测线远离所述第二基板一侧。

进一步地，还包括第一检测端子和第二检测端子，位于所述第二基板上的非显示区内；

所述第一检测线的第一端与所述第一检测端子电连接，所述第一检测线的第二端与所述第二检测端子电连接；

所述第二检测线的第一端与所述第一检测端子电连接，所述第二检测线的第二端与所述第二检测端子电连接。

进一步地，还包括第一检测端子、第二检测端子、第三检测端子和第四检测端子，位于第二基板上的非显示区内；

所述第一检测线的第一端与所述第一检测端子电连接，所述第一检测线的第二端与所述第二检测端子电连接；

所述第二检测线的第一端与所述第三检测端子电连接，所述第二检测线的第二端与所述第四检测端子电连接。

进一步地，所述第一检测线与所述第一基板的边缘之间的距离小于第一预设值；所述第二检测线与所述第二基板的边缘之间的距离小于第二预设值；

所述第一预设值和所述第二预设值均大于或者等于切割精度。

第二方面，本实用新型实施例提供一种裂纹检测系统，包括第一方面所述的显示面板，以及检测电表。

本实用新型实施例提供一种显示面板。显示面板包括彩膜基板和阵列基板，在彩膜基板中第一基板上设置第一检测线，可以实现对切割彩膜基板母板造成微裂缝等损伤的检出，在阵列基板中第二基板上设置第二检测线，可以实现对切割阵列基板母板造成微裂缝等损伤的检出，从而提高产品稳定性和产品良率。

附图说明

图1为本实用新型实施例提供的一种显示面板的俯视结构示意图；

图2为沿图1中AA’的剖视结构示意图；

图3为本实用新型实施例提供的一种彩膜基板的俯视结构示意图；

图4为沿图3中BB’的剖视结构示意图；

图5为本实用新型实施例提供的另一种彩膜基板的剖视结构示意图；

图6为本实用新型实施例提供的另一种彩膜基板的剖视结构示意图；

图7为本实用新型实施例提供的另一种彩膜基板的剖视结构示意图；

图8为本实用新型实施例提供的另一种彩膜基板的俯视结构示意图；

图9为本实用新型实施例提供的一种阵列基板的俯视结构示意图；

图10为沿图9中CC’的剖视结构示意图；

图11为本实用新型实施例提供的另一种阵列基板的剖视结构示意图；

图12为本实用新型实施例提供的另一种显示面板的俯视结构示意图；

图13为本实用新型实施例提供的一种裂纹检测系统的示意图。

具体实施方式

为更进一步阐述本实用新型为达成预定实用新型目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本实用新型提出的一种显示面板及裂纹检测系统的具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。

图1为本实用新型实施例提供的一种显示面板的俯视结构示意图，图2为沿图1中AA’的剖视结构示意图，图3为本实用新型实施例提供的一种彩膜基板的俯视结构示意图，图4为沿图3中BB’的剖视结构示意图，参考图1和图2，显示面板包括彩膜基板100、阵列基板200，以及位于彩膜基板100和阵列基板200之间的液晶层63。

彩膜基板包括第一基板21和位于第一基板21上的多个色阻22，彩膜基板包括显示区101和非显示区102，非显示区102位于显示区101的外围。其中，多个色阻22例如可以包括红色色阻、绿色色阻和蓝色色阻，红色色阻用于使透过其的光线呈现出红色，绿色色阻用于使透过其的光线呈现出绿色，蓝色色阻用于使透过其的光线呈现出蓝色。在其他一些实施方式中，多个色阻还可以包括白色色阻，白色色阻不对透过其的光线选择性过滤。彩膜基板还包括至少一条第一检测线11，第一检测线11位于非显示区102，从而第一检测线11不会遮挡显示区101的光线，不影响开口率。第一检测线11围绕显示区101设置，第一检测线11位于第一基板21的一侧。阵列基板包括第二基板51和位于第二基板51上的多个子像素(图中未示出)，子像素可以包括像素电极，通过对像素电极施加的电压的控制，可以控制像素电极与公共电极产生的电场强度，从而控制该子像素所在区域内的液晶分子的旋转角度，进而控制该子像素的发光亮度。阵列基板包括显示区101和非显示区102，非显示区102位于显示区101的外围。阵列基板还包括至少一条第二检测线12，第二检测线12位于非显示区102，第二检测线12围绕显示区101设置，第二检测线12与子像素位于第二基板51的同一侧。

本实用新型实施例提供一种显示面板。显示面板包括彩膜基板100和阵列基板200，在彩膜基板100中第一基板21上设置第一检测线11，可以实现对切割彩膜基板母板造成微裂缝等损伤的检出，在阵列基板200中第二基板51上设置第二检测线12，可以实现对切割阵列基板母板造成微裂缝等损伤的检出，从而提高产品稳定性和产品良率。

图5为本实用新型实施例提供的另一种彩膜基板的剖视结构示意图，可选地，参考图5，彩膜基板还包括黑矩阵23，黑矩阵23与色阻22位于第一基板21的同一侧。黑矩阵23包括第一黑矩阵231和第二黑矩阵232，第一黑矩阵231位于显示区101，色阻22位于第一黑矩阵231的开口中。第二黑矩阵232位于非显示区102。第一检测线11位于第二黑矩阵232远离第一基板21一侧。本实用新型实施例中，第一检测线11位于第二黑矩阵232远离第一基板21一侧，从而第二黑矩阵232可以对第一检测线11进行遮挡，防止第一检测线11反射外界环境光到人眼，提高了显示质量。

图6为本实用新型实施例提供的另一种彩膜基板的剖视结构示意图，参考图6，彩膜基板还包括触控功能层24，触控功能层24位于显示区101，触控功能层24与色阻22位于第一基板21的相对两侧，第一基板21位于触控功能层24与色阻22之间。第一检测线11与触控功能层24中的一个金属层同层设置。本实用新型实施例中，彩膜基板还包括触控功能层24，从而彩膜基板和阵列基板组立后所形成的显示面板具备触控功能。进一步地，第一检测线11与触控功能层24中的一个金属层同层设置，从而在形成触控功能层24中的一个金属层时，可以采用同种材料并在同一工艺中同时形成第一检测线11，减少了工艺制程。

示例性地，参考图6，触控功能层24包括一个金属层，触控功能层24例如可以包括自容式触控电极。第一检测线11与自容式触控电极同层设置。

图7为本实用新型实施例提供的另一种彩膜基板的剖视结构示意图，参考图7，触控功能层24包括触控驱动电极241、触控绝缘层242和触控感测电极243，触控绝缘层242位于触控驱动电极241与触控感测电极243之间。第一检测线11与触控驱动电极241同层设置，或者，第一检测线11与触控感测电极243同层设置。本实用新型实施例中的“同层设置”指的是，在同一工艺中采用同种材料同时形成。

图8为本实用新型实施例提供的另一种彩膜基板的俯视结构示意图，参考图8，彩膜基板还包括两条第一检测线11。第一检测线11位于非显示区102。第一检测线11围绕显示区101设置，第一检测线11位于第一基板21的一侧，第一检测线11与第一基板21的边缘之间的距离小于第一预设值。在其他实施方式中，彩膜基板还可以包括其他数量的第一检测线11，本实用新型实施例对于第一检测线11的数量不作限制。

图9为本实用新型实施例提供的一种阵列基板的俯视结构示意图，图10为沿图9中CC’的剖视结构示意图，参考图9和图10，非显示区102包括台阶区1021，阵列基板还包括多个绑定端子31，绑定端子31位于台阶区1021。其中，多个绑定端子31可以包括用于绑定驱动芯片的驱动芯片端子，以及用于绑定柔性电路板的柔性电路板端子。第二检测线12位于绑定端子31的外围。第二检测线12围绕显示区101和绑定端子31设置。

可选地，参考图9和图10，阵列基板还包括扫描线52和数据线53，扫描线52与数据线53异层设置。通常地，阵列基板可以包括多条扫描线52和多条数据线53。图10中仅示例性地示意出一条扫描线52和一条数据线53，以示意第二检测线12在剖视图中的上下膜层位置。第二检测线12与扫描线52同层设置。本实用新型实施例中，第二检测线12与扫描线52同层设置，从而在形成扫描线52时，可以采用同种材料并在同一工艺中同时形成第二检测线12，减少了工艺制程。

图11为本实用新型实施例提供的另一种阵列基板的剖视结构示意图，参考图11，阵列基板还包括扫描线52和数据线53，扫描线52与数据线53异层设置。第二检测线12与数据线53同层设置。本实用新型实施例中，第二检测线12与数据线53同层设置，从而在形成数据线53时，可以采用同种材料并在同一工艺中同时形成第二检测线12，减少了工艺制程。

可选地，阵列基板还包括第一绝缘层，第一绝缘层位于第二检测线12远离第二基板51一侧。本实用新型实施例中，通过在第二检测线12远离第二基板51一侧设置第一绝缘层，一方面，第一绝缘层可以作为第二检测线12的保护层，防止水氧侵蚀，以及防止外界损伤。另一方面，第一绝缘层将第二检测线12与外界电性隔绝，防止第二检测线12影响原有阵列基板的电学性能，从而提高了阵列基板的电学稳定性。其中，第一绝缘层可以为一个膜层或者多个膜层。

具体地，参考图10，阵列基板还包括栅极绝缘层54和钝化层55，栅极绝缘层54位于扫描线52与数据线53之间，钝化层55位于数据线53远离第二基板51一侧。第一绝缘层包括栅极绝缘层54和钝化层55，从而覆盖第二检测线12的膜层厚度较大，可以为第二检测线12提供更可靠的防水氧保护、机械防损伤保护，以及更优良的电学绝缘性能。

具体地，参考图11，阵列基板还包括栅极绝缘层54和钝化层55，第一绝缘层包括钝化层55，第二检测线12位于栅极绝缘层54和钝化层55之间。

可选地，继续参考图1和图2，显示面板还包括第一检测端子41和第二检测端子42，第一检测端子41和第二检测端子42均位于第二基板51上的非显示区102内，示例性地，第一检测端子41和第二检测端子42可以位于台阶区1021内。第一检测线11的第一端与第一检测端子41电连接，第一检测线11的第二端与第二检测端子42电连接。第二检测线12的第一端与第一检测端子41电连接，第二检测线12的第二端与第二检测端子42电连接。本实用新型实施例中，显示面板包括第一检测线11和第二检测线12时，第一检测线11的第一端以及第二检测线12的第一端均与第一检测端子41电连接，第一检测线11的第二端以及第二检测线12的第二端均与第二检测端子42电连接，从而可以为第一检测端子41施加检测信号，并在第二检测端子42接收反馈信号，如果彩膜基板的第一基板21产生裂纹，导致第一检测线11断裂，或者，阵列基板的第二基板51产生裂纹，导致第二检测线12断裂，则在第二检测端子42接收的反馈信号产生异常信号，故而可以对彩膜基板以及阵列基板损伤进行检测。可以理解的是，显示面板仅包括第一检测线11，不包括第二检测线12时，仅存在第一检测线11与第一检测端子41以及第二检测端子42电连接。显示面板仅包括第二检测线12，不包括第一检测线11时，仅存在第二检测线12与第一检测端子41以及第二检测端子42电连接。

图12为本实用新型实施例提供的另一种显示面板的俯视结构示意图，参考图12，显示面板还包括第一检测端子41、第二检测端子42、第三检测端子43和第四检测端子44，第一检测端子41、第二检测端子42、第三检测端子43和第四检测端子44均位于第二基板51上的非显示区102内。示例性地，第一检测端子41、第二检测端子42、第三检测端子43和第四检测端子44均位于台阶区1021内。第一检测线11的第一端与第一检测端子41电连接，第一检测线11的第二端与第二检测端子42电连接。第二检测线12的第一端与第三检测端子43电连接，第二检测线12的第二端与第四检测端子44电连接。本实用新型实施例中，显示面板包括第一检测线11和第二检测线12时，第一检测端子41施加检测信号，并在第二检测端子42接收反馈信号，如果彩膜基板的第一基板21产生裂纹，导致第一检测线11断裂，则在第二检测端子42接收的反馈信号产生异常信号，故而可以对彩膜基板损伤进行检测；第三检测端子43施加检测信号，并在第四检测端子44接收反馈信号，如果阵列基板的第二基板51产生裂纹，导致第二检测线12断裂，则在第四检测端子44接收的反馈信号产生异常信号，故而可以对阵列基板损伤进行检测。本实用新型实施例中，由于为第一检测线11单独设置第一检测端子41和第二检测端子42，位于第二检测线12单独设置第三检测端子43和第四检测端子44，因此可以对彩膜基板和阵列基板的损伤分别进行检测。可以理解的是，显示面板仅包括第一检测线11，不包括第二检测线12时，仅存在第一检测线11与第一检测端子41以及第二检测端子42电连接。显示面板仅包括第二检测线12，不包括第一检测线11时，仅存在第二检测线12与第三检测端子43以及第四检测端子44电连接。

示例性地，继续参考图1和图2，显示面板还可以包括转接线61、封框胶62和引线64。封框胶62位于非显示区102，封框胶62围绕显示区101一周设置。阵列基板200、彩膜基板100和封框胶62共同形成封闭空间，液晶层63位于该封闭空间内。液晶层63包括多个液晶分子。转接线61的一端与第一检测线11电连接，转接线61的另一端与引线64电连接，引线64与检测端子(包括第一检测端子41以及第二检测端子42)点连接，用于将位于彩膜基板100的第一检测线11电性连接至阵列基板的检测端子上。转接线61位于封框胶62远离液晶层63的一侧。在其他实施方式中，转接线61还可以位于封框胶62的内部，本实用新型实施例对此不作限制。

可选地，第一检测线11与第一基板21的边缘之间的距离小于第一预设值，第二检测线12与第二基板51的边缘之间的距离小于第二预设值，第一预设值与第二预设值均为大于或者等于切割精度值。可以理解的是，沿着彩膜基板母板上的切割线切割后，在切割线的位置形成第一基板21的边缘。故而，设置第一检测线11与第一基板21的边缘之间的距离小于第一预设值，即在第一基板21的边缘附近设置第一检测线11，可以实现对切割彩膜基板母板造成微裂缝等损伤的检出，提高产品稳定性和产品良率。类似的，沿着阵列基板母板上的切割线切割后，在切割线的位置形成第二基板51的边缘。故而，设置第二检测线12与第二基板51的边缘之间的距离小于第二预设值，即在第二基板51的边缘附近设置第二检测线12，可以实现对切割阵列基板母板造成微裂缝等损伤的检出，提高产品稳定性和产品良率。

图13为本实用新型实施例提供的一种裂纹检测系统的示意图，参考图13，裂纹检测系统包括上述任一实施例中的显示面板以及以及检测电表300，检测电表300可以包括多个检测端口，检测端口与显示面板中的检测端子电连接，检测端子例如可以包括第一检测端子41、第二检测端子42、第三检测端子43和第四检测端子44中的至少一个。以检测电表300包括4检测端口，显示面板包括4个检测端子为例，4检测端口分别为第一检测端口301、第二检测端口302、第三检测端口303和第四检测端口304。第一检测端口301与第一检测端子41电连接，第二检测端口302与第二检测端子42电连接，第三检测端口303与第三检测端子43电连接，第四检测端口304与第四检测端子44电连接。

进一步地，检测电表300还可以包括报警模块。彩膜基板的第一基板21产生裂纹，导致第一检测线11断裂，则在第二检测端子42接收的反馈信号产生异常信号。阵列基板的第二基板51产生裂纹，导致第二检测线12断裂，则在第四检测端子44接收的反馈信号产生异常信号。在第二检测端子42接收的反馈信号产生异常信号，和/或，在第四检测端子44接收的反馈信号产生异常信号时，报警模块可以发出报警信号，报警信号包括但不限于声音、文字、灯光等。

以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本实用新型，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。

Claims (10)

1.一种显示面板，包括彩膜基板、阵列基板以及位于所述阵列基板与所述彩膜基板之间的液晶层，其特征在于，包括显示区和非显示区，所述非显示区位于所述显示区的外围；

所述彩膜基板包括第一基板、位于所述第一基板上的多个色阻以及至少一条第一检测线，所述第一检测线位于所述非显示区，围绕所述显示区设置，位于所述第一基板的一侧；

所述阵列基板包括第二基板、位于所述第二基板上的多个子像素以及至少一条第二检测线，所述第二检测线位于所述非显示区，围绕所述显示区设置，与所述子像素位于所述第二基板的同一侧。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述彩膜基板还包括黑矩阵，所述黑矩阵包括第一黑矩阵和第二黑矩阵，所述第一黑矩阵位于所述显示区，所述色阻位于所述第一黑矩阵的开口中；所述第二黑矩阵位于所述非显示区；

所述第一检测线位于所述第二黑矩阵远离所述第一基板一侧。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述彩膜基板还包括触控功能层，所述触控功能层位于所述显示区，与所述色阻位于所述第一基板的相对两侧；

所述第一检测线与所述触控功能层中的一个金属层同层设置。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述非显示区包括台阶区，所述阵列基板还包括多个绑定端子，所述绑定端子位于所述台阶区；

所述第二检测线位于所述绑定端子的外围。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述阵列基板还包括扫描线和数据线，所述扫描线与所述数据线异层设置；

所述第二检测线与所述扫描线或者所述数据线同层设置。

6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述阵列基板还包括第一绝缘层，所述第一绝缘层位于所述第二检测线远离所述第二基板一侧。

7.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括第一检测端子和第二检测端子，位于所述第二基板上的非显示区内；

所述第一检测线的第一端与所述第一检测端子电连接，所述第一检测线的第二端与所述第二检测端子电连接；

所述第二检测线的第一端与所述第一检测端子电连接，所述第二检测线的第二端与所述第二检测端子电连接。

8.根据权利要求7所述的显示面板，其特征在于，还包括第三检测端子和第四检测端子，位于第二基板上的非显示区内；

所述第二检测线的第一端与所述第三检测端子电连接，所述第二检测线的第二端与所述第四检测端子电连接。

9.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一检测线与所述第一基板的边缘之间的距离小于第一预设值；所述第二检测线与所述第二基板的边缘之间的距离小于第二预设值；

所述第一预设值和所述第二预设值均大于或者等于切割精度。

10.一种裂纹检测系统，其特征在于，包括权利要求1-9任一项所述的显示面板，以及检测电表。

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