CN214703881U - 一种具有旋转调整效果的集成电路芯片检测基台 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种具有旋转调整效果的集成电路芯片检测基台，包括基片和台边缠绕架，所述基片的底端壁固定有片活条，且片活条的外侧端安置有外片，所述基片的顶端安装有片上轴，且片上轴的上端安置有轴顶台，所述台边缠绕架安装于轴顶台的内侧中部，且轴顶台的内侧左右两端均安置有内置机构。本实用新型通过片滑柱的五棱柱状设计，方便将片滑柱与滑柱腔稳定的进行活动，当滑柱腔内侧片滑柱上移后，片滑柱顶端的支片随之移动，调节至一个合适的位置后，支片端部的螺丝旋紧进行定位，此时可将芯片检测电器如万用表等结构安置在调节至合适位置的支片上，方便搭载检测使用，同时台边缠绕架端部可缠绕收卷线缆线束，方便其收整使用。

Description

一种具有旋转调整效果的集成电路芯片检测基台

技术领域

本实用新型涉及集成电路芯片技术领域，具体为一种具有旋转调整效果的集成电路芯片检测基台。

背景技术

成电路芯片是包括一硅基板、至少一电路、一固定封环、一接地环及至少一防护环的电子元件，电路形成于硅基板上，电路具有至少一输出/输入垫。固定封环形成于硅基板上，并围绕电路及输出/输入垫，其在使用前常需要进行检测。

现有的具有旋转调整效果的集成电路芯片检测基台存在的缺陷是：

1、现有的具有旋转调整效果的集成电路芯片检测基台不便于根据芯片口径的不同来调节自身的基台高度，搭载检测电器时存在着不够便捷的情况；

2、现有的具有旋转调整效果的集成电路芯片检测基台难以将自身的检测部分结构元件存放在本体的侧端，导致其存储收纳效果较差。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种具有旋转调整效果的集成电路芯片检测基台，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种具有旋转调整效果的集成电路芯片检测基台，包括基片和台边缠绕架，所述基片的底端壁固定有片活条，且片活条的外侧端安置有外片，所述基片的顶端安装有片上轴，且片上轴的上端安置有轴顶台，所述台边缠绕架安装于轴顶台的内侧中部，且轴顶台的内侧左右两端均安置有内置机构，所述轴顶台的侧端安置有侧台，且侧台的前后两侧端壁均开设有台侧滑道，所述台侧滑道的外侧端安置有台前片，且台前片的端壁穿设有片卡孔，所述台前片的前端安置有前支机构。

优选的，所述内置机构包括支片、片滑柱和滑柱腔，所述支片的底端壁固定有片滑柱，且片滑柱的底端侧开设有滑柱腔。

优选的，所述支片、片滑柱之间相互固定连接，且片滑柱关于支片的中心呈对称分布。

优选的，所述片滑柱与滑柱腔之间相互活动连接，同时侧台通过台侧滑道与台前片之间构成滑动结构。

优选的，所述前支机构包括连架、架前扣、侧楔块、楔块杆、楔块柱和内腔柱，且连架的侧端壁固定有架前扣，所述连架的左右两侧端均安置有侧楔块，且侧楔块的端壁固定有楔块杆以及楔块柱，所述楔块柱的中部穿设有内腔柱。

优选的，所述连架与楔块杆之间相互活动连接，同时楔块柱和内腔柱之间相互活动套接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型通过片滑柱的五棱柱状设计，方便将片滑柱与滑柱腔稳定的进行活动，当滑柱腔内侧片滑柱上移后，片滑柱顶端的支片随之移动，调节至一个合适的位置后，支片端部的螺丝旋紧进行定位，此时可将芯片检测电器如万用表等结构安置在调节至合适位置的支片上，方便搭载检测使用，同时台边缠绕架端部可缠绕收卷线缆线束，方便其收整使用。

2、本实用新型通过台侧滑道可滑动台前片，调节台前片的水平位置，当台前片水平调节后，利用台前片来卡接连架，方便其灵活的操控使用，同时片活条、外片之间的活动，可外移外片，同时基片上的片上轴旋转，可转动轴顶台底端的基片，将其调节至一个合适的位置稳定的进行支撑。

3、本实用新型通过连架与楔块杆的活动，调节楔块杆的位置，而楔块柱、内腔柱的配合活动，可调节二者的间距，使用时外移两个侧楔块，可延伸侧楔块之间的间距，此时可将大口径的物料搭载在侧楔块上端壁，反之，可将侧楔块内移，缩短侧楔块之间的间距，来搭载小口径的物料，如检测的集成芯片，而连架通过架前扣卡合在片卡孔内，可对连架进行定位。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型的支片正视结构示意图；

图3为本实用新型的连架立体结构示意图；

图4为本实用新型的图1中A处放大结构示意图。

图中：1、基片；2、片活条；3、外片；4、片上轴；5、轴顶台；6、台边缠绕架；7、内置机构；8、支片；9、片滑柱；10、滑柱腔；11、侧台；12、台侧滑道；13、台前片；14、片卡孔；15、前支机构；16、连架；17、架前扣；18、侧楔块；19、楔块杆；20、楔块柱；21、内腔柱。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

请参阅图1-4，本实用新型提供的一种实施例：一种具有旋转调整效果的集成电路芯片检测基台，包括基片1、片活条2、外片3、片上轴4、轴顶台5、台边缠绕架6、内置机构7、支片8、片滑柱9、滑柱腔10、侧台11、台侧滑道12、台前片13、片卡孔14、前支机构15、连架16、架前扣17、侧楔块18、楔块杆19、楔块柱20和内腔柱21，基片1的底端壁固定有片活条2，且片活条2的外侧端安置有外片3，基片1的顶端安装有片上轴4，且片上轴4的上端安置有轴顶台5，台边缠绕架6安装于轴顶台5的内侧中部，且轴顶台5的内侧左右两端均安置有内置机构7，轴顶台5的侧端安置有侧台11，且侧台11的前后两侧端壁均开设有台侧滑道12，台侧滑道12的外侧端安置有台前片13，且台前片13的端壁穿设有片卡孔14，台前片13的前端安置有前支机构15。

进一步，内置机构7包括支片8、片滑柱9和滑柱腔10，支片8的底端壁固定有片滑柱9，且片滑柱9的底端侧开设有滑柱腔10，支片8、片滑柱9之间相互固定连接，且片滑柱9关于支片8的中心呈对称分布，通过片滑柱9的五棱柱状设计，方便将片滑柱9与滑柱腔10稳定的进行活动，当滑柱腔10内侧片滑柱9上移后，片滑柱9顶端的支片8随之移动，调节至一个合适的位置后，支片8端部的螺丝旋紧进行定位，此时可将芯片检测电器如万用表等结构安置在调节至合适位置的支片8上，方便搭载检测使用，同时台边缠绕架6端部可缠绕收卷线缆线束，方便其收整使用；

进一步，片滑柱9与滑柱腔10之间相互活动连接，同时侧台11通过台侧滑道12与台前片13之间构成滑动结构，通过台侧滑道12可滑动台前片13，调节台前片13的水平位置，当台前片13水平调节后，利用台前片13来卡接连架16，方便其灵活的操控使用，同时片活条2、外片3之间的活动，可外移外片3，同时基片1上的片上轴4旋转，可转动轴顶台5底端的基片1，将其调节至一个合适的位置稳定的进行支撑；

进一步，前支机构15包括连架16、架前扣17、侧楔块18、楔块杆19、楔块柱20和内腔柱21，且连架16的侧端壁固定有架前扣17，连架16的左右两侧端均安置有侧楔块18，且侧楔块18的端壁固定有楔块杆19以及楔块柱20，楔块柱20的中部穿设有内腔柱21，连架16与楔块杆19之间相互活动连接，同时楔块柱20和内腔柱21之间相互活动套接，通过连架16与楔块杆19的活动，调节楔块杆19的位置，而楔块柱20、内腔柱21的配合活动，可调节二者的间距，使用时外移两个侧楔块18，可延伸侧楔块18之间的间距，此时可将大口径的物料搭载在侧楔块18上端壁，反之，可将侧楔块18内移，缩短侧楔块18之间的间距，来搭载小口径的物料，如检测的集成芯片，而连架16通过架前扣17卡合在片卡孔14内，可对连架16进行定位。

工作原理：通过片滑柱9的五棱柱状设计，方便将片滑柱9与滑柱腔10稳定的进行活动，当滑柱腔10内侧片滑柱9上移后，片滑柱9顶端的支片8随之移动，调节至一个合适的位置后，支片8端部的螺丝旋紧进行定位，此时可将芯片检测电器如万用表等结构安置在调节至合适位置的支片8上，方便搭载检测使用，同时台边缠绕架6端部可缠绕收卷线缆线束，方便其收整使用，通过台侧滑道12可滑动台前片13，调节台前片13的水平位置，当台前片13水平调节后，利用台前片13来卡接连架16，方便其灵活的操控使用，同时片活条2、外片3之间的活动，可外移外片3，同时基片1上的片上轴4旋转，可转动轴顶台5底端的基片1，将其调节至一个合适的位置稳定的进行支撑，通过连架16与楔块杆19的活动，调节楔块杆19的位置，而楔块柱20、内腔柱21的配合活动，可调节二者的间距，使用时外移两个侧楔块18，可延伸侧楔块18之间的间距，此时可将大口径的物料搭载在侧楔块18上端壁，反之，可将侧楔块18内移，缩短侧楔块18之间的间距，来搭载小口径的物料，如检测的集成芯片，而连架16通过架前扣17卡合在片卡孔14内，可对连架16进行定位。

对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

Claims (6)

1.一种具有旋转调整效果的集成电路芯片检测基台，包括基片(1)和台边缠绕架(6)，其特征在于：所述基片(1)的底端壁固定有片活条(2)，且片活条(2)的外侧端安置有外片(3)，所述基片(1)的顶端安装有片上轴(4)，且片上轴(4)的上端安置有轴顶台(5)，所述台边缠绕架(6)安装于轴顶台(5)的内侧中部，且轴顶台(5)的内侧左右两端均安置有内置机构(7)，所述轴顶台(5)的侧端安置有侧台(11)，且侧台(11)的前后两侧端壁均开设有台侧滑道(12)，所述台侧滑道(12)的外侧端安置有台前片(13)，且台前片(13)的端壁穿设有片卡孔(14)，所述台前片(13)的前端安置有前支机构(15)。

2.根据权利要求1所述的一种具有旋转调整效果的集成电路芯片检测基台，其特征在于：所述内置机构(7)包括支片(8)、片滑柱(9)和滑柱腔(10)，所述支片(8)的底端壁固定有片滑柱(9)，且片滑柱(9)的底端侧开设有滑柱腔(10)。

3.根据权利要求2所述的一种具有旋转调整效果的集成电路芯片检测基台，其特征在于：所述支片(8)、片滑柱(9)之间相互固定连接，且片滑柱(9)关于支片(8)的中心呈对称分布。

4.根据权利要求2所述的一种具有旋转调整效果的集成电路芯片检测基台，其特征在于：所述片滑柱(9)与滑柱腔(10)之间相互活动连接，同时侧台(11)通过台侧滑道(12)与台前片(13)之间构成滑动结构。

5.根据权利要求1所述的一种具有旋转调整效果的集成电路芯片检测基台，其特征在于：所述前支机构(15)包括连架(16)、架前扣(17)、侧楔块(18)、楔块杆(19)、楔块柱(20)和内腔柱(21)，且连架(16)的侧端壁固定有架前扣(17)，所述连架(16)的左右两侧端均安置有侧楔块(18)，且侧楔块(18)的端壁固定有楔块杆(19)以及楔块柱(20)，所述楔块柱(20)的中部穿设有内腔柱(21)。

6.根据权利要求5所述的一种具有旋转调整效果的集成电路芯片检测基台，其特征在于：所述连架(16)与楔块杆(19)之间相互活动连接，同时楔块柱(20)和内腔柱(21)之间相互活动套接。

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