CN214622913U - 一种碳化硅双脉冲测试装置 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及一种碳化硅双脉冲测试装置,其电容模块包括多个并联的充电电容器,充电电容器的第一电极连接有同一个第一母排,充电电容器的第二电极连接有同一个第二母排;同轴电阻模块包括同轴电阻器以及连接件,同轴电阻器的第一电极与第一母排电连接,同轴电阻器的第二电极与连接器件模块电连接;同轴电阻器的第一电极通过连接件与第一母排可拆卸连接,和/或,同轴电阻器的第二电极通过连接件与连接器件模块可拆卸连接;连接器件模块包括第一连接排、测试器件以及第二连接排,第一连接排与同轴电阻器的第二电极电连接,第二连接排与第二母排电连接;本申请具有对不同参数的碳化硅器件的适应性强的效果。
Description
技术领域
本申请涉及碳化硅测试的领域,尤其是涉及一种碳化硅双脉冲测试装置。
背景技术
目前在半导体器件的应用方面,随着碳化硅生产成本的降低,碳化硅由于其优良的性能而可能取代硅作芯片,打破硅芯片由于材料本身性能的瓶颈,给电子业带来了革命性的变革。碳化硅的主要应用领域有LED固体照明和高频率器件,碳化硅晶片制成的功率器件具有禁带宽度大、器件极限工作温度高、临界击穿电场强度大、热导率等显著的性能优势,在电动汽车、电源、军工、航天等领域具有广阔的市场前景。
基于碳化硅晶片的功率器件制成后需要对其性能进行测试,目前使用碳化硅测试平台对碳化硅进行测试,因此测试主回路中会使用到同轴电阻器。现有结构中,常采用焊接的方法将同轴电阻器固定并电连接在测试主回路中,大大降低了测试台的适配性。
发明人认为在检测不同参数的碳化硅器件时,需要更换同轴电阻器不同的测试主回路对不同的碳化硅器件进行测试,现有焊接有同轴电阻器的碳化硅测试平台存在有适配性低、成本高的缺陷。
发明内容
为了提高碳化硅测试平台的适配性、降低测试成本,本申请提供一种碳化硅双脉冲测试装置。
本申请提供的一种碳化硅双脉冲测试装置采用如下的技术方案:
一种碳化硅双脉冲测试装置,包括电容模块、同轴电阻模块以及连接器件模块;
所述电容模块包括多个并联连接且充有电能的充电电容器,多个所述充电电容器的第一电极连接有同一个第一母排,多个所述充电电容器的第二电极连接有同一个第二母排;
所述同轴电阻模块包括同轴电阻器以及连接件,所述同轴电阻器的第一电极与所述第一母排电连接,所述同轴电阻器的第二电极与所述连接器件模块电连接;所述同轴电阻器的第一电极通过所述连接件与所述第一母排可拆卸连接,和/或,所述同轴电阻器的第二电极通过所述连接件与所述连接器件模块可拆卸连接;
所述连接器件模块包括依次电连接的第一连接排、测试器件以及第二连接排,所述第一连接排与所述同轴电阻器的第二电极电连接,所述第二连接排与所述第二母排电连接。
通过采用上述技术方案,将同轴电阻器设为可拆卸连接,提高了同轴电阻模块针对不同参数的碳化硅器件的适应性。
优选的,所述连接件包括相互可拆卸连接的连接杆与连接套,所述同轴电阻器的第一电极与所述连接杆固定连接,所述第一母排上开设有第一通孔,所述连接杆的一端穿过所述第一通孔后与所述连接套可拆卸连接,所述连接套抵紧所述第一母排,所述第一母排抵紧所述同轴电阻器的第一电极。
通过采用上述技术方案,连接杆与同轴电阻器的第一电极固定连接,连接杆通过连接套与第一母排实现连接,从而实现同轴电阻器的固定。
优选的,所述第二母排设有第二通孔,所述第二通孔的位置与所述第一通孔的位置对应,所述连接套位于所述第二通孔内。
通过采用上述技术方案,连接套位于第二通孔内,利于缩短第一母排与第二母排之间的距离,缩短安装路径,便于拆装。
优选的,所述连接件包括相互可拆卸连接的连接杆与连接套,所述第一连接排设有第三通孔,所述同轴电阻器的第二电极设有第四通孔,所述第三通孔与所述第四通孔位置对应,所述连接杆一端抵紧所述第一连接排,另一端依次穿过所述第三通孔与所述第四通孔后与所述连接套可拆卸连接,所述连接套抵紧所述同轴电阻器的第二电极,所述同轴电阻器的第二电极抵紧所述第一连接排。
通过采用上述技术方案,连接杆与连接套将同轴电阻器的第二电极与第一连接排夹紧,实现同轴电阻器的固定。
优选的,所述第三通孔内壁设有第一斜面部,所述第一斜面部的斜面朝向远离所述同轴电阻器的第二电极,所述连接杆的端部设有与所述斜面部形状适配的第一压接部,所述第一压接部抵紧所述第一斜面部。
通过采用上述技术方案,连接杆通过第一压接部压接第一斜面部,提高与第三通孔之间的接触面积,第一斜面部能引导第一压接部移动至预设的标准位置,方便安装。
优选的,所述第一连接排与所述同轴电阻器的第二电极之间抵紧有导电垫片,所述导电垫片设有与所述第三通孔以及所述第四通孔对应的第五通孔,所述连接杆穿过所述第五通孔。
通过采用上述技术方案,导电垫片利于降低第一连接排与同轴电阻器的第二电极之间的缝隙,提高导电效果。
优选的,所述第五通孔的内壁设有第二斜面部,所述第二斜面部的斜面朝向远离所述同轴电阻器的第二电极,所述第二斜面部的一个侧边与所述第一斜面部的一个侧边相对设置,所述连接杆的端部设有与所述第二斜面部形状适配的第二压接部,所述第二压接部抵紧所述第二斜面部。
通过采用上述技术方案,第二斜面部与第二压接部配合连接,使同轴电阻器的第二电极、导电垫片和第一连接排之间的相对位置在连接杆与连接套连接的过程中移动至预设的标准位置。
综上所述,本申请包括以下至少一种有益技术效果:
1.将同轴电阻器设为可拆卸连接,提高了同轴电阻模块针对不同参数的碳化硅器件的适应性;
2.使用同轴电阻器的两个电极作为连接点,把安装同轴电阻器所产生的额外路径降至最低,缩短更换同轴电阻器时的工作路径,便于拆装。
附图说明
图1是本申请实施例的整体结构示意图;
图2是本申请实施例展示连接件的竖直截面示意;
图3是图2的A部放大示意图。
附图标记:100、电容模块;110、充电电容器;120、第一母排;121、第一通孔;130、第二母排;131、第二通孔; 200、同轴电阻模块;210、同轴电阻器;211、第四通孔;220、连接件;221、连接杆;2211、第一压接部;2212、第二压接部;222、连接套;300、连接器件模块;310、第一连接排;311、第三通孔;3111、第一斜面部;312、导电垫片;313、第五通孔;3131、第二斜面部;320、测试器件;330、第二连接排。
具体实施方式
以下结合附图1-3对本申请作进一步详细说明。
本申请实施例公开一种碳化硅双脉冲测试装置。
参照图1与图2,碳化硅双脉冲测试装置包括用于存储电能的电容模块100、同轴电阻模块200以及用于安装测试器件320的连接器件模块300。
电容模块100包括多个充电电容器110,充电电容器110具有位于同一侧的第一电机与第二电极,多个充电电容器110并联连接以扩充可存储的最大电量,充电电容器110内充有电能。多个充电电容器110的第一电极连接有同一个第一母排120,多个充电电容器110的第二电极连接有同一个第二母排130。
如图2与图3所示,同轴电阻模块200包括同轴电阻器210以及至少一个的连接件220,连接件220用于固定同轴电阻器210。同轴电阻器210具有位于同一端的第一电极与第二电极,同轴电阻器210的第一电极与第一母排120电连接,同轴电阻器210的第二电极与连接器件模块300电连接。
同轴电阻器210的第一电极通过连接件220与第一母排120可拆卸连接。连接件220包括相互可拆卸连接的连接杆221与连接套222,连接杆221可采用插入同轴电阻器210一端的螺杆,连接套222采用可与连接杆221螺纹连接的螺母。同轴电阻器210的第一电极与连接杆221电连接且可通过焊接固定连接。第一母排120上开设有第一通孔121,连接杆221的一端穿过第一通孔121后与连接套222螺纹连接,连接套222将第一母排120抵紧在同轴电阻器210的第一电极上。第二母排130设有第二通孔131,第二通孔131的位置与第一通孔121的位置对应,连接套222位于第二通孔131内,让同轴电阻器210的第一电极与第二母排130进行电气隔离。
同轴电阻器210的第二电极可与连接器件模块300的电连接端子抵紧而实现电连接,也可通过另一个连接件220与连接器件模块300可拆卸连接,若采用另一个连接件220,则也包括连接杆221与连接套222,则该连接件220的连接杆221与同轴电阻器210的第二电极以及连接器件模块300均连接。
连接器件模块300包括依次电连接的第一连接排310、测试器件320以及第二连接排330,第一连接排310与同轴电阻器210的第二电极电连接,第二连接排330与第二母排130电连接。第一连接排310设有第三通孔311,同轴电阻器210的第二电极设有第四通孔211,第三通孔311与第四通孔211位置对应。第一连接排310与同轴电阻器210的第二电极之间抵紧有圆环形的导电垫片312,导电垫片312采用导电材料制成,如铁、铜等,导电垫片312设有与第三通孔311以及第四通孔211对应的第五通孔313。
连接杆221一端抵紧第一连接排310,另一端依次穿过第三通孔311、第四通孔211以及第五通孔313后与连接套222螺纹连接,连接套222将同轴电阻器210的第二电极抵紧在第一连接排310上。
第三通孔311内壁设有第一斜面部3111,第一斜面部3111的斜面朝向远离同轴电阻器210的第二电极,第五通孔313的内壁设有第二斜面部3131,第二斜面部3131的斜面朝向远离同轴电阻器210的第二电极,第二斜面部3131的一个侧边与第一斜面部3111的一个侧边相对设置。第一斜面部3111与第二斜面部3131组合呈扩口状。
连接杆221的端部设有第一压接部2211与第二压接部2212。第一压接部2211与第一斜面部3111形状适配,并抵紧第一斜面部3111。第二压接部2212与第二斜面部3131形状适配并抵紧第二斜面部3131。
实施例的实施原理为:使用多个并联的充电电容器110,提高了充电电容器110的电容量同时还大幅度降低了电容模块100自身的杂感。将同轴电阻器210通过连接件220与第一母排120可拆卸连接,也可通过另一连接件220与第一连接排310可拆卸连接,提高了同轴电阻模块200针对不同参数的碳化硅器件的适应性,使用同轴电阻器210的两个电极作为连接点,把安装同轴电阻器210所产生的额外路径降至最短,便于拆装。
以上均为本申请的较佳实施例,并非依此限制本申请的保护范围,故:凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化,均应涵盖于本申请的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种碳化硅双脉冲测试装置,其特征在于:包括电容模块(100)、同轴电阻模块(200)以及连接器件模块(300);
所述电容模块(100)包括多个并联连接且充有电能的充电电容器(110),多个所述充电电容器(110)的第一电极连接有同一个第一母排(120),多个所述充电电容器(110)的第二电极连接有同一个第二母排(130);
所述同轴电阻模块(200)包括同轴电阻器(210)以及连接件(220),所述同轴电阻器(210)的第一电极与所述第一母排(120)电连接,所述同轴电阻器(210)的第二电极与所述连接器件模块(300)电连接;所述同轴电阻器(210)的第一电极通过所述连接件(220)与所述第一母排(120)可拆卸连接,和/或,所述同轴电阻器(210)的第二电极通过所述连接件(220)与所述连接器件模块(300)可拆卸连接;
所述连接器件模块(300)包括依次电连接的第一连接排(310)、测试器件(320)以及第二连接排(330),所述第一连接排(310)与所述同轴电阻器(210)的第二电极电连接,所述第二连接排(330)与所述第二母排(130)电连接。
2.根据权利要求1所述的碳化硅双脉冲测试装置,其特征在于:所述连接件(220)包括相互可拆卸连接的连接杆(221)与连接套(222),所述同轴电阻器(210)的第一电极与所述连接杆(221)固定连接,所述第一母排(120)上开设有第一通孔(121),所述连接杆(221)的一端穿过所述第一通孔(121)后与所述连接套(222)可拆卸连接,所述连接套(222)抵紧所述第一母排(120),所述第一母排(120)抵紧所述同轴电阻器(210)的第一电极。
3.根据权利要求2所述的碳化硅双脉冲测试装置,其特征在于:所述第二母排(130)设有第二通孔(131),所述第二通孔(131)的位置与所述第一通孔(121)的位置对应,所述连接套(222)位于所述第二通孔(131)内。
4.根据权利要求1所述的碳化硅双脉冲测试装置,其特征在于:所述连接件(220)包括相互可拆卸连接的连接杆(221)与连接套(222),所述第一连接排(310)设有第三通孔(311),所述同轴电阻器(210)的第二电极设有第四通孔(211),所述第三通孔(311)与所述第四通孔(211)位置对应,所述连接杆(221)一端抵紧所述第一连接排(310),另一端依次穿过所述第三通孔(311)与所述第四通孔(211)后与所述连接套(222)可拆卸连接,所述连接套(222)抵紧所述同轴电阻器(210)的第二电极,所述同轴电阻器(210)的第二电极抵紧所述第一连接排(310)。
5.根据权利要求4所述的碳化硅双脉冲测试装置,其特征在于:所述第三通孔(311)内壁设有第一斜面部(3111),所述第一斜面部(3111)的斜面朝向远离所述同轴电阻器(210)的第二电极,所述连接杆(221)的端部设有与所述斜面部形状适配的第一压接部(2211),所述第一压接部(2211)抵紧所述第一斜面部(3111)。
6.根据权利要求5所述的碳化硅双脉冲测试装置,其特征在于:所述第一连接排(310)与所述同轴电阻器(210)的第二电极之间抵紧有导电垫片(312),所述导电垫片(312)设有与所述第三通孔(311)以及所述第四通孔(211)对应的第五通孔(313),所述连接杆(221)穿过所述第五通孔(313)。
7.根据权利要求6所述的碳化硅双脉冲测试装置,其特征在于:所述第五通孔(313)的内壁设有第二斜面部(3131),所述第二斜面部(3131)的斜面朝向远离所述同轴电阻器(210)的第二电极,所述第二斜面部(3131)的一个侧边与所述第一斜面部(3111)的一个侧边相对设置,所述连接杆(221)的端部设有与所述第二斜面部(3131)形状适配的第二压接部(2212),所述第二压接部(2212)抵紧所述第二斜面部(3131)。
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CN202120739522.9U CN214622913U (zh) | 2021-04-10 | 2021-04-10 | 一种碳化硅双脉冲测试装置 |
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CN202120739522.9U Active CN214622913U (zh) | 2021-04-10 | 2021-04-10 | 一种碳化硅双脉冲测试装置 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN116381440A (zh) * | 2023-03-10 | 2023-07-04 | 南京航空航天大学 | 一种多功能便携式碳化硅器件特性测试仪 |
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2021
- 2021-04-10 CN CN202120739522.9U patent/CN214622913U/zh active Active
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CN116381440A (zh) * | 2023-03-10 | 2023-07-04 | 南京航空航天大学 | 一种多功能便携式碳化硅器件特性测试仪 |
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