CN214471674U - 一种led芯片出光角度测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种LED芯片出光角度测试装置，包括芯片固定装置、芯片数据检测装置及光学平板；芯片固定装置包括第一载台及LED芯片支架；芯片数据检测装置包括自动旋转台、第二载台及光电探测器；第一载台固定于光学平板上，自动旋转台固定于光学平板上，且自动旋转台与所述第一载台之间间隔预设距离；第二载台上设置有所述光电探测器，且第二载台固定于所述自动旋转台上；本实用新型将芯片固定装置和芯片数据检测装置都设置在光学平板上，芯片数据检测装置通过光电探测器获取芯片的检测数据，并且芯片数据检测装置能够通过自动旋转台旋转，实现对LED芯片不同角度发光数据的检测，从而得到LED芯片的出光角度，检测设备简单。

Description

一种LED芯片出光角度测试装置

技术领域

本实用新型涉及LED芯片检测领域，尤其涉及一种LED芯片出光角度测试装置。

背景技术

LED(Light Emitting Diode)即发光二极管，是一种将电能转化为光能的固态半导体器件。作为新型的发光器件，LED具有高光效、节能、使用寿命长、响应时间短、环保等优点，因此被称为最有潜力的新一代光源，在照明领域中的应用极为常见。随着对超高亮度LED的应用面不断扩大，如何进一步提高并保证LED的亮度备受关注，故尽可能地将LED芯片量子阱的发光提取出来，即提高LED芯片的法向出光变的尤为重要。通过测试LED芯片的出光角度，可以判断出光的离散程度，进而可以判断出法向出光量(法向出光量为沿法线方向的出光量，即垂直表面出光)，对提高LED外延结构的法向出光量有一定的指导和帮助，但是当前的LED芯片的生产制造过程中缺少简易有效装置来测试LED芯片的出光角度。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种LED芯片出光角度测试装置，实现对LED芯片出光角度的便捷测试。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：

一种LED芯片出光角度测试装置，包括芯片固定装置、芯片数据检测装置及光学平板；

所述芯片固定装置包括第一载台及LED芯片支架；

所述芯片数据检测装置包括自动旋转台、第二载台及光电探测器；

所述第一载台固定于所述光学平板上，所述自动旋转台固定于所述光学平板上，且所述自动旋转台与所述第一载台之间间隔预设距离；

所述第二载台上设置有所述光电探测器，且所述第二载台固定于所述自动旋转台上。

进一步地，所述第一载台及所述第二载台的结构相同；

所述第一载台包括X轴导轨、滑块、Y轴导轨、工作平台及光学挠性夹具；

所述滑块在所述X轴导轨上滑动，所述Y轴导轨固定于所述滑块上，所述工作平台在所述Y轴导轨上滑动，所述工作平台上设置有所述光学挠性夹具；

所述第一载台的X轴导轨固定于所述光学平板上；

所述第二载台的X轴导轨固定于所述自动旋转台上。

进一步地，所述第一载台还包括第一弹簧组件、第二弹簧组件、X轴调节杆及Y轴调节杆；

所述第一弹簧组件设置于所述X轴导轨及所述滑块之间，所述X轴调节杆与所述X轴导轨及所述滑块连接；

所述第二弹簧组件设置于所述Y轴导轨及所述工作平台之间，所述Y轴调节杆与所述滑块及所述工作平台连接。

进一步地，所述工作平台上设置有直槽口，所述光学挠性夹具可在所述直槽口上移动。

进一步地，还包括第一六角螺丝；

所述第一载台通过所述第一六角螺丝固定于所述光学平板上；

所述第二载台通过所述第一六角螺丝固定于所述自动旋转台上。

进一步地，所述X轴导轨的截面为T型。

本实用新型的有益效果在于：将芯片固定装置和芯片数据检测装置都设置在光学平板上，芯片固定装置通过芯片支架固定芯片，芯片数据检测装置通过光电探测器获取芯片的检测数据，并且芯片数据检测装置能够通过自动旋转台旋转，实现对LED芯片不同角度发光数据的检测，从而得到LED芯片的出光角度，检测设备简单。

附图说明

图1为本实用新型实施例的一种LED出光角度测试装置示意图；

图2为本实用新型实施例的芯片固定装置示意图；

图3为本实用新型实施例的芯片数据检测装置示意图；

图4为本实用新型实施例的一种X轴导轨示意图；

图5为本实用新型实施例的一种光学挠性夹具示意图；

图6-图9为本实用新型实施例中所用的六角螺丝示意图；

标号说明：

1、光学平板；2、X轴导轨；21、滑块；3、第一六角螺丝；41、第一弹簧组件；42、第二弹簧组件；5、Y轴导轨；51、工作平台；6、光学挠性夹具；61、第三六角螺丝；7、LED芯片支架；81、X轴调节杆；82、Y轴调节杆；9、自动旋转台；10、光电探测器；11、第四六角螺丝；12、第二六角螺丝13、与直槽口配合的开口。

具体实施方式

为详细说明本实用新型的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。

请参照图1，一种LED芯片出光角度测试装置，包括芯片固定装置、芯片数据检测装置及光学平板；

所述芯片固定装置包括第一载台及LED芯片支架；

所述芯片数据检测装置包括自动旋转台、第二载台及光电探测器；

所述第一载台固定于所述光学平板上，所述自动旋转台固定于所述光学平板上，且所述自动旋转台与所述第一载台之间间隔预设距离；

所述第二载台上设置有所述光电探测器，且所述第二载台固定于所述自动旋转台上。

从上述描述可知，本实用新型的有益效果在于：将芯片固定装置和芯片数据检测装置都设置在光学平板上，芯片固定装置通过芯片支架固定芯片，芯片数据检测装置通过光电探测器获取芯片的检测数据，并且芯片数据检测装置能够通过自动旋转台旋转，实现对LED芯片不同角度发光数据的检测，从而得到LED芯片的出光角度，检测设备简单。

进一步地，所述第一载台及所述第二载台的结构相同；

所述第一载台包括X轴导轨、滑块、Y轴导轨、工作平台及光学挠性夹具；

所述滑块在所述X轴导轨上滑动，所述Y轴导轨固定于所述滑块上，所述工作平台在所述Y轴导轨上滑动，所述工作平台上设置有所述光学挠性夹具；

所述第一载台的X轴导轨固定于所述光学平板上；

所述第二载台的X轴导轨固定于所述自动旋转台上。

由上述描述可知，第一载台由X轴导轨、滑块、Y轴导轨及工作平台连接，可以较为灵活地调整光学挠性夹具上所固定的LED芯片的位置，提高测量所得的数据精度。

进一步地，所述第一载台还包括第一弹簧组件、第二弹簧组件、X轴调节杆及Y轴调节杆；

所述第一弹簧组件设置于所述X轴导轨及所述滑块之间，所述X轴调节杆与所述X轴导轨及所述滑块连接；

所述第二弹簧组件设置于所述Y轴导轨及所述工作平台之间，所述Y轴调节杆与所述滑块及所述工作平台连接。

由上述描述可知，设置弹簧组件和调节杆调节位置，结构简单且调节程度能够满足需求。

进一步地，所述工作平台上设置有直槽口，所述光学挠性夹具可在所述直槽口上移动。

由上述描述可知，光学挠性夹具可通过工作平台上的直槽口调节位置，进一步增加了装置的可调节性，保证最终测得的出光角度的准确。

进一步地，还包括第一六角螺丝；

所述第一载台通过所述第一六角螺丝固定于所述光学平板上；

所述第二载台通过所述第一六角螺丝固定于所述自动旋转台上。

由上述描述可知，通过六角螺丝实现第一载台和第二载台的固定，固定效果好，不易发生移位。

进一步地，所述X轴导轨的截面为T型。

由上述描述可知，使用截面为T型的导轨，能够很好避免滑块在滑行过程中脱出的现象，保证了装置的安全性。

请参照图1，本实用新型的实施例一为：

一种LED芯片出光角度测试装置，包括芯片固定装置、芯片数据检测装置及光学平板1；

芯片固定装置包括第一载台及LED芯片支架7；

在一种可选的实施方式中，LED芯片支架7为TO支架；

芯片数据检测装置包括自动旋转台9、第二载台及光电探测器10；

在一种可选的实施方式中，自动旋转台9的旋转角度为0°-180°；

第一载台固定于光学平板1上，自动旋转台9固定于光学平板1上，且自动旋转台9与所述第一载台之间间隔预设距离；

所述第二载台上设置有所述光电探测器10，此处不限制具体型号，能够将光信号转换成电信号器件即可，光电探测器10可接收LED芯片支架7上LED芯片所发出的光，且所述第二载台固定于所述自动旋转台9上；

其中，第一载台与第二载台的结构相同，包括X轴导轨2、滑块21、Y轴导轨5、工作平台51及光学挠性夹具6；

在一种可选的实施方式中，X轴导轨2的界面为T型；

滑块可在X轴导轨2上移动，Y轴导轨5固定于滑块21上，工作平台51可在Y轴导轨5上移动，工作平台51上设置有光学挠性夹具6；

第一载台的X轴导轨2固定于光学平板1上；

请参照图4，在一种可选的实施方式中，第一载台的X轴导轨2上设置有镂空部，光学平板1上设置有螺纹孔，通过将第一六角螺丝3穿过镂空部与螺纹孔配合的方式将X轴导轨2固定于光学平板1上；

第二载台的X轴导轨固定于自动旋转台9上；

在一种可选的实施方式中，第二载台的X轴导轨上设置有镂空部，自动旋转台上设置有螺纹孔，通过将第一六角螺丝3穿过镂空部与螺纹孔配合的方式将X轴导轨固定于自动旋转平台上；

在一种可选的实施方式中，第一六角螺丝3的型号为M6(直径6mm)内六角螺丝；

在通过该装置测量LED芯片的出光角度时，将LED芯片固定在LED芯片支架上，通过第一载台和第二载台中的X轴调节杆和Y轴调节杆调节LED芯片支架及光电探测器的位置，使得光电探测器能够接收到LED芯片发出的光强；还可通过调节光学挠性夹具和工作平台之间的相对位置进一步调整LED芯片支架或光电探测器的位置；调整自动旋转台使其旋转，在0°-180°的旋转范围内，其上的光电探测器接收LED芯片发出的光强并将光强数据发送到对应的处理器得到光强与角度的关系曲线，进而得到LED的发光角度，LED芯片光强最强处是法向出光位置，LED的出光角度在平面上是扇形图，扇形的夹角就是出光角度，即扇形两边的光强弱中间强，实现LED发光角度的测量。

请参照图2至图9，本实用新型的实施例二为：

第一载台还包括第一弹簧组件41、第二弹簧组件42、X轴调节杆81及Y轴调节杆82；

第一弹簧组件41设置于所述X轴导轨2及所述滑块21之间，X轴调节杆81与X轴导轨2及Y轴导轨5连接；X轴调节杆81上设置有螺纹，X轴导轨2及Y轴导轨5上设置有与该螺纹配合的螺纹孔；

所述第二弹簧组件42设置于所述Y轴导轨5及所述工作平台51之间，所述Y轴调节杆82与第二弹簧组件42平行设置且与工作平台51及滑块21连接；Y轴调节杆82上设置有螺纹，工作平台51及滑块21上设置有与该螺纹配合的螺纹孔；

工作平台51上设置有直槽口，光学挠性夹具6可在直槽口上移动；

在一种可选的实施方式中，工作平台51上设置有直槽口，光学挠性夹具6上设置有与直槽口匹配的开口13，第二六角螺丝12穿过直槽口及光学挠性夹具6上的开口后与对应的螺帽连接，将光学挠性夹具固定在直槽口上；可调节光学挠性夹具6与直槽口之间的相对位置之后再进行固定，实现光学挠性夹具的位置调整；

在一种可选的实施方式中，第二六角螺丝12为M3乘10(直径3mm，长度10mm)内六角螺丝；

在一种可选的实施方式中，光学挠性夹具上设置有通孔，第三六角螺丝61穿过通孔实现LED芯片支架或光电探测器10的固定；

在一种可选的实施方式中，第三六角螺丝61为M2乘5(直径2mm，长度5mm)内六角螺丝。

综上所述，本实用新型提供的一种LED出光角度测试装置，分别设置LED芯片固定装置和芯片数据检测装置，都固定在光学平板上，光学平板上设置了间隔预设距离且规律排列的螺纹孔，能够方便地确定芯片固定装置和芯片数据检测装置之间的距离，方便进行位置的调整，其中第一载台和第二载台的结构相同，都通过X轴导轨、Y轴导轨与弹簧组件及调节杆配合的方式，实现在X轴方向和Y轴方向的移动，同时配合光学挠性夹具上的开口和工作平台上的直槽口实现移动，增强了灵活性，使得光电探测器能够更好地接收LED芯片的光强，在实现LED出光角度测试的同时保证了测量结果的准确性。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (6)

1.一种LED芯片出光角度测试装置，其特征在于，包括芯片固定装置、芯片数据检测装置及光学平板；

所述芯片固定装置包括第一载台及LED芯片支架；

所述芯片数据检测装置包括自动旋转台、第二载台及光电探测器；

所述第一载台固定于所述光学平板上，所述自动旋转台固定于所述光学平板上，且所述自动旋转台与所述第一载台之间间隔预设距离；

所述第二载台上设置有所述光电探测器，且所述第二载台固定于所述自动旋转台上。

2.根据权利要求1所述的一种LED芯片出光角度测试装置，其特征在于，所述第一载台及所述第二载台的结构相同；

所述第一载台包括X轴导轨、滑块、Y轴导轨、工作平台及光学挠性夹具；

所述滑块在所述X轴导轨上滑动，所述Y轴导轨固定于所述滑块上，所述工作平台在所述Y轴导轨上滑动，所述工作平台上设置有所述光学挠性夹具；

所述第一载台的X轴导轨固定于所述光学平板上；

所述第二载台的X轴导轨固定于所述自动旋转台上。

3.根据权利要求2所述的一种LED芯片出光角度测试装置，其特征在于，所述第一载台还包括第一弹簧组件、第二弹簧组件、X轴调节杆及Y轴调节杆；

所述第一弹簧组件设置于所述X轴导轨及所述滑块之间，所述X轴调节杆与所述第一弹簧组件连接；

所述第二弹簧组件设置于所述Y轴导轨及所述工作平台之间，所述Y轴调节杆与所述第二弹簧组件连接。

4.根据权利要求2所述的一种LED芯片出光角度测试装置，其特征在于，所述工作平台上设置有直槽口，所述光学挠性夹具可在所述直槽口上移动。

5.根据权利要求1所述的一种LED芯片出光角度测试装置，其特征在于，还包括六角螺丝；

所述第一载台通过所述六角螺丝固定于所述光学平板上；

所述第二载台通过所述六角螺丝固定于所述自动旋转台上。

6.根据权利要求2所述的一种LED芯片出光角度测试装置，其特征在于，所述X轴导轨的截面为T型。

Images