CN214372264U - 一种用于二次元测试仪的mux组件测量装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置,包括第一滑台、第二滑台和第三滑台,所述第一滑台顶面沿水平方向开设有滑槽,所述滑槽内滑动嵌设有滑块;所述第二滑台沿水平方向滑动安装在第一滑台上,且所述第二滑台在第一滑台上的滑动方向与所述滑槽的开槽方向垂直;所述第三滑台固定安装在第二滑台上,所述第三滑台上沿竖直方向滑动安装有滑臂,所述滑臂的外侧壁上固定安装有第一夹具,所述滑块上设有与所述第一夹具相对应的第二夹具,所述第一夹具、第二夹具分别用于夹持MUX组件的两端。本实用新型通过二次元测试仪测量MUX组件的外形尺寸,测量精度高,误差小。
Description
技术领域
本实用新型属于测量设备技术领域,尤其涉及一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置。
背景技术
二次元测量仪又叫二次元量测仪,或者叫影像测量仪和视频测量机,是用来测量产品及模具的尺寸的,测量要素包括位置度、同心度、直线度、轮廓度、圆度和与基准有关的尺寸等。
用于测量二维平面尺寸,广泛应用在各种不同的精密产业中。其主要用于在卡尺、角度尺很难测量到或根本测量不到的但在装配中起着重要的零部件尺寸、角度等,如硅胶、电路板的爬电距离、电器间隙、控制面板的灯孔、塑料件的某些尺寸等等,还可用于对某些零部件的图片进行照片用于分析不良原因。由于影像测量仪是利用表面光或轮廓光照明零件所得到的影像,故在测量时需要保证待测工件的水平度。
现有技术中,在测量MUX组件的外形尺寸时,一般都是通过尺子来测量的,而这种测量方法误差较大,无法精确测量光纤的长度;因此,可以借用二次元测量仪来测量,二次元测量仪是一种由高解析度CCD彩色摄像器、连续变倍物镜、彩色显示器、视频十字线发生器、精密光学尺、多功能数据处理器、2D数据测量软件与高精密工作台结构组成的高精度光学影像测量仪器。现有的二次元测量仪中的高精密工作台不具备夹持功能,无法将光纤拉直后测量,也无法调节光纤的水平度,因此,亟需对现有二次元测量仪的工作台进行改进。
发明内容
本实用新型的目的是针对现有技术存在的问题,提供一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置。
为实现上述目的,本实用新型采用的技术方案是:
一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置,包括第一滑台、第二滑台和第三滑台,所述第一滑台顶面沿水平方向开设有滑槽,所述滑槽内滑动嵌设有滑块;所述第二滑台沿水平方向滑动安装在第一滑台上,且所述第二滑台在第一滑台上的滑动方向与所述滑槽的开槽方向垂直;所述第三滑台固定安装在第二滑台上,所述第三滑台上沿竖直方向滑动安装有滑臂,所述滑臂的外侧壁上固定安装有第一夹具,所述滑块上设有与所述第一夹具相对应的第二夹具,所述第一夹具、第二夹具分别用于夹持MUX组件的两端;所述MUX组件包括光纤、复用器和光接口,所述复用器和光接口分别安装在光纤的两端。
本实用新型通过第一夹具和第二夹具分别夹持MUX组件的两端,并通过滑动滑块将光纤拉直,同时通过第二滑台、第三滑台和滑臂来调节光纤的水平度,从而提高了二次元测试仪测量光纤长度的准确性(光纤在自然状态下是弯曲的,需要绷直后测量;由于二次元测量仪采用的是投影法测量,因此需要将光纤调水平后再测量,以减小测量误差)。
具体地,所述第二滑台上设有第一调节旋柄,用于调节所述第二滑台在第一滑台上的位置;所述第三滑台上设有第二调节旋柄,用于调节所述滑臂在第三滑台上的位置;通过转动第一调节旋柄,可以驱动第二滑台在第一滑台上沿水平方向滑动,通过转动第二调节旋柄,可以驱动滑臂在第三滑台上沿竖直方向滑动。
进一步地,所述第二滑台的侧壁设有第一锁紧螺栓;所述第三滑台的侧壁设有第二锁紧螺栓。当所述第二滑台的位置调节好之后,通过旋紧第一锁紧螺栓,可以将第二滑台固定到第一滑台上,避免测量过程中第二滑台的位置发生改变;当所述滑臂的高度调节好之后,通过旋紧第二锁紧螺栓,可以将滑臂固定到第三滑台上,避免测量过程中滑臂的高度发生改变;通过设置第一锁紧螺栓和第二锁紧螺栓,可以提高测量装置使用的稳定性。
具体地,所述第一夹具包括固定座,所述固定座固定安装在滑臂上;所述固定座顶面设有固定挡块、活动挡块、滑轨和第一紧固螺栓,所述活动挡块滑动嵌设在所述滑轨上;所述活动挡块一端与所述固定挡块相对,另一端的端面设有T形槽;所述固定座顶面远离固定挡块的一端设有安装臂,所述第一紧固螺栓的末端贯穿安装臂嵌设在所述T形槽内。通过旋动第一紧固螺栓,可以驱动活动挡块沿滑轨滑动,从而调节活动挡块与固定挡块之间的距离,实现夹紧和松开的功能,测量时,MUX组件的一端夹持在固定挡块与活动挡块之间。
进一步地,所述固定挡块和活动挡块相对的侧壁上均设有缓冲垫,避免夹持时损坏器件。
具体地,所述第二夹具包括第一挡板和第二挡板,所述第一挡板与第二挡板平行设置在滑块顶部,所述第一挡板的前端活动嵌设有第二紧固螺栓,所述第二挡板的前端设有与所述第二紧固螺栓末端相对的夹臂;通过旋动第二紧固螺栓,可以调节第二紧固螺栓末端与夹壁端面之间的距离,从而实现夹紧和松开的功能,测量时,MUX组件的另一端夹持在第二紧固螺栓末端和夹壁端面之间;所述夹臂与第二紧固螺栓相对的端面设有V形槽,通过设置V形槽可以提高夹持的稳固性。
具体地,所述滑块底部设有磁体,所述第一滑台采用铁磁材料制成,当滑动滑块拉直光纤后,所述滑块通过底部的磁体吸附在第一滑台上,避免测量过程中滑块的位置发生变化。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:本实用新型采用二次元影像测量法测量MUX组件的外形尺寸,通过设置第一滑台、第二滑台、第三滑台、第一夹具和第二夹具,在测量过程中将光纤拉直,并调节光纤的水平度,提高了二次元测试仪测量MUX组件长度的精确度,降低了测量误差。
附图说明
图1为本实用新型实施例一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置的立体图;
图2为本实用新型实施例一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置的俯视图;
图3为本实用新型实施例一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置的主视图;
图4为本实用新型实施例中第一夹具的结构示意图;
图5为本实用新型实施例中第二夹具的结构示意图;
图中:1、第一滑台;2、第二滑台;3、第三滑台;4、滑槽;5、滑块;6、滑臂;7、光纤;8、复用器;9、光接口;10、第一调节旋柄;11、第二调节旋柄;12、第一锁紧螺栓;13、第二锁紧螺栓;14、第一夹具;15、第二夹具;16、固定座;17、固定挡块;18、活动挡块;19、滑轨;20、第一紧固螺栓;21、T形槽;22、安装臂;23、第一挡板;24、第二挡板;25、第二紧固螺栓;26、夹臂。
具体实施方式
下面将结合本实用新型中的附图,对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动条件下所获得的所有其它实施例,都属于本实用新型保护的范围。
如图1至3所示,本实施例提供了一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置,包括第一滑台1、第二滑台2和第三滑台3,所述第一滑台1顶面沿水平方向开设有滑槽4,所述滑槽4内滑动嵌设有滑块5;所述第二滑台2沿水平方向滑动安装在第一滑台1上,且所述第二滑台2在第一滑台1上的滑动方向与所述滑槽4的开槽方向垂直;所述第三滑台3固定安装在第二滑台2上,所述第三滑台3上沿竖直方向滑动安装有滑臂6,所述滑臂6的外侧壁上固定安装有第一夹具14,所述滑块5上设有与所述第一夹具14相对应的第二夹具15,所述第一夹具14、第二夹具15分别用于夹持MUX组件的两端;所述MUX组件包括光纤7、复用器8和光接口9,所述复用器8和光接口9分别安装在光纤7的两端。
本实施例通过第一夹具14和第二夹具15分别夹持MUX组件的两端,并通过滑动滑块5将光纤7拉直,同时通过第二滑台2、第三滑台3和滑臂6来调节光纤7的水平度,从而提高了二次元测试仪测量光纤7长度的准确性(光纤7在自然状态下是弯曲的,需要绷直后测量;由于二次元测量仪采用的是投影法测量,因此需要将光纤7调水平后再测量,以减小测量误差)。
具体地,所述第二滑台2上设有第一调节旋柄10,用于调节所述第二滑台2在第一滑台1上的位置;所述第三滑台3上设有第二调节旋柄11,用于调节所述滑臂6在第三滑台3上的位置;通过转动第一调节旋柄10,可以驱动第二滑台2在第一滑台1上沿水平方向滑动,通过转动第二调节旋柄11,可以驱动滑臂6在第三滑台3上沿竖直方向滑动。
进一步地,所述第二滑台2的侧壁设有第一锁紧螺栓12;所述第三滑台3的侧壁设有第二锁紧螺栓13。当所述第二滑台2的位置调节好之后,通过旋紧第一锁紧螺栓12,可以将第二滑台2固定到第一滑台1上,避免测量过程中第二滑台2的位置发生改变;当所述滑臂6的高度调节好之后,通过旋紧第二锁紧螺栓13,可以将滑臂6固定到第三滑台3上,避免测量过程中滑臂6的高度发生改变;通过设置第一锁紧螺栓12和第二锁紧螺栓13,可以提高测量装置使用的稳定性。
具体地,如图4所示,所述第一夹具14包括固定座16,所述固定座16固定安装在滑臂6上;所述固定座16顶面设有固定挡块17、活动挡块18、滑轨19和第一紧固螺栓20,所述活动挡块18滑动嵌设在所述滑轨19上;所述活动挡块18一端与所述固定挡块17相对,另一端的端面设有T形槽21;所述固定座16顶面远离固定挡块17的一端设有安装臂22,所述第一紧固螺栓20的末端贯穿安装臂22嵌设在所述T形槽21内(所述第一紧固螺栓20的末端为T形)。通过旋动第一紧固螺栓20,可以驱动活动挡块18沿滑轨19滑动,从而调节活动挡块18与固定挡块17之间的距离,实现第一夹具14夹紧和松开的功能,测量时,MUX组件的一端夹持在固定挡块17与活动挡块18之间。
进一步地,所述固定挡块17和活动挡块18相对的侧壁上均设有缓冲垫,避免夹持时损坏器件。
具体地,如图5所示,所述第二夹具15包括第一挡板23和第二挡板24,所述第一挡板23与第二挡板24平行设置在滑块5顶部,所述第一挡板23的前端活动嵌设有第二紧固螺栓25,所述第二挡板24的前端设有与所述第二紧固螺栓25末端相对的夹臂26;通过旋动第二紧固螺栓25,可以调节第二紧固螺栓25末端与夹壁端面之间的距离,从而实现第二夹具15夹紧和松开的功能,测量时,MUX组件的另一端夹持在第二紧固螺栓25末端和夹壁端面之间;所述夹臂26与第二紧固螺栓25相对的端面设有V形槽,通过设置V形槽可以提高夹持的稳固性。
具体地,所述滑块5底部设有磁体,所述第一滑台1采用铁磁材料制成,当滑动滑块5拉直光纤7后,所述滑块5通过底部的磁体吸附在第一滑台1上,避免测量过程中滑块5的位置发生变化。
本实施例的测量装置在测量MUX组件的光纤7长度时,首先,将光纤7的两端分别通过第一夹具14和第二夹具15夹紧,再滑动滑块5将光纤7拉直并固定,再通过调节第一调节旋柄10和第二调节旋柄11来调节第一夹具14的位置,使光纤7处于水平,最后通过二次元影像测量法来精确测量光纤7投影后的二维尺寸(包括长度和直径);本实施例的测量装置在对MUX组件进行外观尺寸测量时,还需要借助高解析度CCD彩色摄像器、测量主机等。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (7)
1.一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置,其特征在于,包括第一滑台、第二滑台和第三滑台,所述第一滑台顶面沿水平方向开设有滑槽,所述滑槽内滑动嵌设有滑块;所述第二滑台沿水平方向滑动安装在第一滑台上,且所述第二滑台在第一滑台上的滑动方向与所述滑槽的开槽方向垂直;所述第三滑台固定安装在第二滑台上,所述第三滑台上沿竖直方向滑动安装有滑臂,所述滑臂的外侧壁上固定安装有第一夹具,所述滑块上设有与所述第一夹具相对应的第二夹具,所述第一夹具、第二夹具分别用于夹持MUX组件的两端;所述MUX组件包括光纤、复用器和光接口,所述复用器和光接口分别安装在光纤的两端。
2.根据权利要求1所述的一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置,其特征在于,所述第二滑台上设有第一调节旋柄,用于调节所述第二滑台在第一滑台上的位置;所述第三滑台上设有第二调节旋柄,用于调节所述滑臂在第三滑台上的位置。
3.根据权利要求2所述的一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置,其特征在于,所述第二滑台的侧壁设有第一锁紧螺栓;所述第三滑台的侧壁设有第二锁紧螺栓。
4.根据权利要求1所述的一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置,其特征在于,所述第一夹具包括固定座,所述固定座固定安装在滑臂上;所述固定座顶面设有固定挡块、活动挡块、滑轨和第一紧固螺栓,所述活动挡块滑动嵌设在所述滑轨上;所述活动挡块一端与所述固定挡块相对,另一端的端面设有T形槽;所述固定座顶面远离固定挡块的一端设有安装臂,所述第一紧固螺栓的末端贯穿安装臂嵌设在所述T形槽内。
5.根据权利要求4所述的一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置,其特征在于,所述固定挡块和活动挡块相对的侧壁上均设有缓冲垫。
6.根据权利要求1所述的一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置,其特征在于,所述第二夹具包括第一挡板和第二挡板,所述第一挡板与第二挡板平行设置在滑块顶部,所述第一挡板的前端活动嵌设有第二紧固螺栓,所述第二挡板的前端设有与所述第二紧固螺栓末端相对的夹臂,所述夹臂与第二紧固螺栓相对的端面设有V形槽。
7.根据权利要求1所述的一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置,其特征在于,所述滑块底部设有磁体。
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