CN214372167U - 一种涂层测厚仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种涂层测厚仪，具体涉及测厚仪技术领域，包括涂层测厚仪主体和探头，所述涂层测厚仪主体前侧设有校准机构，所述校准机构包括校准室，所述校准室内部后壁上设有中心轴并与中心轴一端通过轴承活动连接，所述中心轴外端固定设有试片，所述校准室内壁后壁上固定设有基底。本实用新型通过设置校准机构，将校准所用的试片和基底设置在校准室内部，校准室则固定在涂层测厚仪主体前侧，校准时将探头一端从插孔插入校准室中并与试片紧密接触后便可进行校准，还可以通过转动旋钮和中心轴调整校准时试片的厚度，使得校准所用的试片与基底与涂层测厚仪主体固定为一体，更加方便且不易丢失。

Description

一种涂层测厚仪

技术领域

本实用新型涉及测厚仪技术领域，更具体地说是一种涂层测厚仪。

背景技术

建筑工程中所用的材料种类繁多，其中大致包括有机材料、无机材料和复合型材料，无机材料之中应用最为广泛的就是各种金属材料，一般来说，建筑物的框架就是由金属构成的，然而金属在使用过程中，容易受到空气和水分的影响而氧化，因此需要在金属材料的外端覆盖一层保护涂层，在保护金属免于被氧化的同时，也使其更加美观。

为了确保金属外端的涂层厚度均匀，就需要使用涂层测厚仪对涂层厚度进行检测，涂层测厚仪在使用之前，需要使用基底和试片对探头进行校零和校准，以确保仪器的精度，现有的校准所用与基底和试片与测厚仪各自独立，给校准带来不便且极易丢失。

实用新型内容

为了克服现有技术的上述缺陷，本实用新型的实施例提供一种涂层测厚仪，以解决上述背景技术中出现的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种涂层测厚仪，包括涂层测厚仪主体和探头，所述探头设在涂层测厚仪主体一侧，所述涂层测厚仪主体前侧设有校准机构；

所述校准机构包括校准室，所述校准室固定设在涂层测厚仪主体前侧，所述校准室内部后壁上设有中心轴并与中心轴一端通过轴承活动连接，所述中心轴另一端延伸至校准室前侧，所述中心轴外端固定设有试片，所述试片设在校准室内部，所述校准室内壁后壁上固定设有基底，所述基底前侧与试片后侧相接触，所述校准室前侧开设有插孔，所述插孔设在中心轴一侧。

进一步地，所述中心轴外端固定设有多个隔板，所述隔板外端与校准室内壁相接触，所述隔板后侧与试片前侧固定连接。

进一步地，所述中心轴另一端固定设有旋钮，所述旋钮设在插孔一侧，所述旋钮外端固定设有凸起，所述校准室前侧固定设有指示圈，所述指示圈设在插孔和旋钮外侧。

进一步地，所述涂层测厚仪主体一侧设有导线，所述导线一端与探头一端相连接，所述探头另一端套设有防尘套并与防尘套通过螺纹连接。

进一步地，所述探头外端套设有套管，所述套管一端固定设有环形灯带，所述套管另一端固定设有弹簧，所述弹簧设在探头外侧，所述弹簧一端固定设有固定圈，所述固定圈固定设在探头外端。

进一步地，所述涂层测厚仪主体另一侧固定设有手柄，所述手柄两端均与涂层测厚仪主体另一侧固定连接，所述手柄外端固定设有防滑垫。

本实用新型的技术效果和优点：

本实用新型通过设置校准机构，将校准所用的试片和基底设置在校准室内部，校准室则固定在涂层测厚仪主体前侧，校准时将探头一端从插孔插入校准室中并与试片紧密接触后便可得出此处试片的厚度，再对照试片的实际厚度即可进行校准，还可以通过转动旋钮和中心轴调整校准时试片的厚度，使得校准所用的试片与基底与涂层测厚仪主体固定为一体，更加方便且不易丢失。

附图说明

图1为本实用新型的涂层测厚仪主体立体图。

图2为本实用新型的校准室立体图。

图3为本实用新型的校准室立体半剖图。

图4为本实用新型的中心轴及隔板立体图。

图5为本实用新型的探头立体图。

附图标记为：1、涂层测厚仪主体；2、防滑垫；3、指示圈；4、校准室；5、手柄；6、导线；7、插孔；8、旋钮；9、隔板；10、试片；11、基底；12、中心轴；13、固定圈；14、弹簧；15、套管；16、环形灯带；17、探头；18、防尘套。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

参照说明书附图1-5，该实施例的一种涂层测厚仪，包括涂层测厚仪主体1和探头17，所述探头17设在涂层测厚仪主体1一侧，所述涂层测厚仪主体 1前侧设有校准机构；

所述校准机构包括校准室4，所述校准室4固定设在涂层测厚仪主体1前侧，所述校准室4内部后壁上设有中心轴12并与中心轴12一端通过轴承活动连接，所述中心轴12另一端延伸至校准室4前侧，所述中心轴12外端固定设有试片10，所述试片10设在校准室4内部，所述校准室4内壁后壁上固定设有基底11，所述基底11前侧与试片10后侧相接触，所述校准室4前侧开设有插孔7，所述插孔7设在中心轴12一侧。

进一步地，所述中心轴12外端固定设有多个隔板9，所述隔板9外端与校准室4内壁相接触，所述隔板9后侧与试片10前侧固定连接，通过隔板9 将试片10上厚度不同的区域隔开。

进一步地，所述中心轴12另一端固定设有旋钮8，所述旋钮8设在插孔 7一侧，所述旋钮8外端固定设有凸起，所述校准室4前侧固定设有指示圈3，所述指示圈3设在插孔7和旋钮8外侧，以此显示试片10的实际厚度。

进一步地，所述涂层测厚仪主体1一侧设有导线6，所述导线6一端与探头17一端相连接，所述探头17另一端套设有防尘套18并与防尘套18通过螺纹连接，减小灰尘对探头17的影响。

实施场景具体为：在使用涂层测厚仪主体1时，首先利用导线6将探头 17与涂层测厚仪主体1连接，开机后进行校准，校准时，取下探头17一端套设的防尘套18，将探头17一端通过校准室4前侧的插孔7垂直插入校准室4 内部，探头17一端进入校准室4内部后，与校准室4中的试片10相接触，并将试片10紧紧压在基底11外端，此时通过涂层测厚仪主体1上的显示屏便可看出此处试片10的厚度，再对照此时旋钮8外端的凸起所指向的指示圈 3外端的刻度，若二者相差在允许的误差范围内，便说明校准成功，而后进行二次校准，将探头17从校准室4中拔出后，转动旋钮8，带动中心轴12和中心轴12外端的试片10转动，中心轴12外端的隔板9将试片10分隔为多个区域，每一区域的厚度不同，在旋钮8转动的过程中，凸起随之转动，凸起指向指示圈3外端的刻度便是此时位于插孔7后侧的试片10的厚度，当另一区域的试片10转动至插孔7后侧时，按照以此第一次校准的方法再次校准，校准2到3次均无异常后，便可正式进行测量，通过设置校准机构，将校准所用的试片10和基底11设置在校准室4内部，校准室4则固定在涂层测厚仪主体1前侧，校准时将探头17一端从插孔7插入校准室4中并与试片10 紧密接触后便可得出此处试片10的厚度，再对照试片10的实际厚度即可进行校准，还可以通过转动旋钮8和中心轴12调整校准时试片10的厚度，使得校准所用的试片10与基底11与涂层测厚仪主体1固定为一体，更加方便且不易丢失，该实施方式具体解决了现有技术中校准所用与基底和试片与测厚仪各自独立给校准带来不便且极易丢失的问题。

参照说明书附图1-5，该实施例的一种涂层测厚仪，所述探头17外端套设有套管15，所述套管15一端固定设有环形灯带16，所述套管15另一端固定设有弹簧14，所述弹簧14设在探头17外侧，所述弹簧14一端固定设有固定圈13，所述固定圈13固定设在探头17外端。

进一步地，所述涂层测厚仪主体1另一侧固定设有手柄5，所述手柄5两端均与涂层测厚仪主体1另一侧固定连接，所述手柄5外端固定设有防滑垫2，便于握持和携带涂层测厚仪主体1。

实施场景具体为：测量金属或其他材料外端的涂层厚度时，手握套管15，将探头17一端对准将要测量的位置，打开套管15一端的环形灯带16，环形灯带16发光后，光线照射在材料的表面，形成一个光圈，光圈内侧便是测量的具体位置，随着探头17一端不断靠近材料，光圈也不断缩小，以此可精准的定位测量的位置，当探头17一端与材料接触时，继续推动套管15，使得套管15一端在探头17上滑动，弹簧14被拉长，直至套管15一端的环形灯带16也与材料充分接触，此时再开始读取测量的数据，以此可保证探头17在测量时不发生倾斜。

最后应说明的几点是：首先，在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，可以是机械连接或电连接，也可以是两个元件内部的连通，可以是直接相连，“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变，则相对位置关系可能发生改变；

其次：本实用新型公开实施例附图中，只涉及到与本公开实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计，在不冲突情况下，本实用新型同一实施例及不同实施例可以相互组合；

最后：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种涂层测厚仪，包括涂层测厚仪主体(1)和探头(17)，所述探头(17)设在涂层测厚仪主体(1)一侧，其特征在于：所述涂层测厚仪主体(1)前侧设有校准机构；

所述校准机构包括校准室(4)，所述校准室(4)固定设在涂层测厚仪主体(1)前侧，所述校准室(4)内部后壁上设有中心轴(12)并与中心轴(12)一端通过轴承活动连接，所述中心轴(12)另一端延伸至校准室(4)前侧，所述中心轴(12)外端固定设有试片(10)，所述试片(10)设在校准室(4)内部，所述校准室(4)内壁后壁上固定设有基底(11)，所述基底(11)前侧与试片(10)后侧相接触，所述校准室(4)前侧开设有插孔(7)，所述插孔(7)设在中心轴(12)一侧。

2.根据权利要求1所述的一种涂层测厚仪，其特征在于：所述中心轴(12)外端固定设有多个隔板(9)，所述隔板(9)外端与校准室(4)内壁相接触，所述隔板(9)后侧与试片(10)前侧固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种涂层测厚仪，其特征在于：所述中心轴(12)另一端固定设有旋钮(8)，所述旋钮(8)设在插孔(7)一侧，所述旋钮(8)外端固定设有凸起，所述校准室(4)前侧固定设有指示圈(3)，所述指示圈(3)设在插孔(7)和旋钮(8)外侧。

4.根据权利要求1所述的一种涂层测厚仪，其特征在于：所述涂层测厚仪主体(1)一侧设有导线(6)，所述导线(6)一端与探头(17)一端相连接，所述探头(17)另一端套设有防尘套(18)并与防尘套(18)通过螺纹连接。

5.根据权利要求1所述的一种涂层测厚仪，其特征在于：所述探头(17)外端套设有套管(15)，所述套管(15)一端固定设有环形灯带(16)，所述套管(15)另一端固定设有弹簧(14)，所述弹簧(14)设在探头(17)外侧，所述弹簧(14)一端固定设有固定圈(13)，所述固定圈(13)固定设在探头(17)外端。

6.根据权利要求1所述的一种涂层测厚仪，其特征在于：所述涂层测厚仪主体(1)另一侧固定设有手柄(5)，所述手柄(5)两端均与涂层测厚仪主体(1)另一侧固定连接，所述手柄(5)外端固定设有防滑垫(2)。

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