CN214310805U

CN214310805U - 电子设备的充电测试电路及装置

Info

Publication number: CN214310805U
Application number: CN202022846735.XU
Authority: CN
Inventors: 黄忠喜
Original assignee: Shanghai Wingtech Information Technology Co Ltd
Current assignee: Shanghai Wingtech Information Technology Co Ltd; Shanghai Wentai Information Technology Co Ltd
Priority date: 2020-12-01
Filing date: 2020-12-01
Publication date: 2021-09-28
Anticipated expiration: 2030-12-01

Abstract

本实用新型提供一种电子设备的充电测试电路，包括第一充电端接口、第一设备端接口、控制模块及切换开关；第一充电端接口包括第一充电端电源引脚、第一充电端数据正引脚及第一充电端数据负引脚，第一设备端接口包括第一设备端电源引脚、第一设备端数据正引脚及第一设备端数据负引脚；切换开关包括数据正公共引脚、数据负公共引脚、与数据正公共引脚对应的第一数据正连接引脚及第二数据正连接引脚、与数据负公共引脚对应的第一数据负连接引脚及第二数据负连接引脚。本实用新型还提供一种电子设备的充电测试装置。本实用新型提供的电子设备的充电测试电路及装置，能够实现充电器充电测试及模拟终端充电测试，且提高了测试效率。

Description

电子设备的充电测试电路及装置

【技术领域】

本实用新型涉及测试技术领域，尤其涉及一种电子设备的充电测试电路及装置。

【背景技术】

目前，电子设备(例如手机)在出厂前，需要对其进行充电功能测试。大部分生产厂家，产线只进行终端充电测试，例如电脑通过USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)线为手机进行充电测试，而没有进行接入充电器的充电测试，如此，流向市场上的手机，存在充电器识别异常的风险，会造成一定的市场不良。即使部分厂家增加了充电器相关充电测试，但终端充电测试与充电器充电测试均是分开进行测试的，影响测试效率。

鉴于此，实有必要提供一种新型的电子设备的充电测试电路及装置以克服上述缺陷。

【实用新型内容】

本实用新型的目的是提供一种电子设备的充电测试电路及装置，既能够实现充电器充电测试，也能够实现模拟终端进行充电测试，能够避免流入市场的电子设备的充电器识别异常的问题，且提高了测试效率。

为了实现上述目的，第一方面，本实用新型提供一种电子设备的充电测试电路，包括第一充电端接口、第一设备端接口、控制模块及切换开关；所述第一充电端接口包括第一充电端电源引脚、第一充电端数据正引脚及第一充电端数据负引脚，所述第一设备端接口包括第一设备端电源引脚、第一设备端数据正引脚及第一设备端数据负引脚；所述切换开关包括数据正公共引脚、数据负公共引脚、与所述数据正公共引脚对应的第一数据正连接引脚及第二数据正连接引脚、与所述数据负公共引脚对应的第一数据负连接引脚及第二数据负连接引脚；所述第一充电端数据正引脚连接所述第一数据正连接引脚，所述第一充电端数据负引脚连接所述第一数据负连接引脚，所述第二数据正连接引脚连接第一电阻后接地，所述第二数据负连接引脚连接第二电阻后接地，所述第一设备端数据正引脚连接所述数据正公共引脚，所述第一设备端数据负引脚连接所述数据负公共引脚；所述切换开关还包括选择引脚，所述控制模块的第一端连接所述选择引脚，所述控制模块的第二端连接所述第一充电端电源引脚，所述控制模块的第三端连接所述第一设备端电源引脚；当所述选择引脚的电压为低电平时，所述数据正公共引脚连接所述第一数据正连接引脚，所述数据负公共引脚连接所述第一数据负连接引脚，连接所述第一充电端接口的充电器经过所述切换开关为连接所述第一设备端接口的电子设备进行充电，以实现充电器充电测试；当所述选择引脚的电压为高电平时，所述数据正公共引脚连接所述第二数据正连接引脚，所述数据负公共引脚连接所述第二数据负连接引脚，所述充电器经过所述切换开关且所述第一设备端数据正引脚及第一设备端数据负引脚通过所述第一电阻及第二电阻进行电压下拉后为所述电子设备进行充电，以实现终端充电测试。

在一个优选实施方式中，所述控制模块包括三极管及继电器，所述三极管的基极引出所述控制模块的第一端，所述三极管的发射极接地，所述三极管的集电极连接所述继电器内的线圈的第二端，所述线圈的第一端引出所述控制模块的第二端，所述继电器内的开关的公共端连接所述线圈的第一端，所述开关的第一触点引出所述控制模块的第三端，所述开关的第二触点连接所述第一触点。

在一个优选实施方式中，所述线圈的两端还连接有二极管，所述二极管的阳极连接所述线圈的第一端，所述二极管的阴极连接所述线圈的第二端。

在一个优选实施方式中，所述三极管的基极通过第三电阻连接所述选择引脚。

在一个优选实施方式中，还包括供电模块，所述供电模块包括降压芯片，所述降压芯片的输入引脚连接供电电源，所述降压芯片的输出引脚连接所述切换开关的电源引脚。

在一个优选实施方式中，所述输入引脚连接有第一电容，所述输出引脚连接有第二电容；所述输入引脚通过第四电阻连接所述降压芯片的使能引脚。

在一个优选实施方式中，所述选择引脚连接有单刀双掷开关，所述单刀双掷开关的公共端连接所述选择引脚，所述单刀双掷开关的第一触点通过第五电阻连接所述降压芯片的输出引脚，所述单刀双掷开关的第二触点通过第六电阻接地。

在一个优选实施方式中，还包括第二充电端接口及第二设备端接口，所述第二充电端接口包括第二充电端电源引脚、第二充电端数据正引脚及第二充电端数据负引脚，所述第二设备端接口包括第二设备端电源引脚、第二设备端数据正引脚及第二设备端数据负引脚；所述第二充电端电源引脚连接所述第一充电端电源引脚，所述第二充电端数据正引脚连接所述第一数据正连接引脚，所述第二充电端数据负引脚连接所述第一数据负连接引脚；所述第二设备端电源引脚连接所述第一设备端电源引脚，所述第二设备端数据正引脚连接所述数据正公共引脚，所述第二设备端数据负引脚连接所述数据负公共引脚。

在一个优选实施方式中，所述第一充电端接口及第一设备端接口为TYPE-C接口，所述第二充电端接口及第二设备端接口为micro USB接口。

第二方面，本实用新型还提供一种电子设备的充电测试装置，包括上述任意一项所述的电子设备的充电测试电路。

相比于现有技术，本实用新型提供的电子设备的充电测试电路及装置，控制模块连通第一充电端电源引脚及第一设备端电源引脚，在第一充电端接口的第一充电端数据正引脚、第一充电端数据负引脚与第一设备端接口的第一设备端数据正引脚及第一设备端数据负引脚之间连接切换开关，第二数据正连接引脚连接第一电阻后接地，第二数据负连接引脚连接第二电阻后接地，如此设计，充电测试电路既能够实现充电器通过切换开关直接为电子设备供电的充电测试，也能够实现充电器经过切换开关且第一设备端数据正引脚及第一设备端数据负引脚通过第一电阻及第二电阻进行电压下拉后为所述电子设备进行充电，以模拟终端进行充电测试，能够避免流入市场的电子设备的充电器识别异常的问题，且提高了测试效率。

为使实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举本实用新型较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

【附图说明】

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本实用新型提供的电子设备的充电测试电路的电路图；

图2为本实用新型提供的电子设备的充电测试电路的控制模块的电路图；

图3为本实用新型提供的电子设备的充电测试电路的供电模块的电路图。

【具体实施方式】

下面将结合本实用新型实施例中附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1，本实用新型提供一种电子设备的充电测试电路100，包括第一充电端接口J1、第一设备端接口J2、控制模块10及切换开关U1。

具体的，第一充电端接口J1包括第一充电端电源引脚VBUS1_C、第一充电端数据正引脚DP1_C及第一充电端数据负引脚DM1_C，第一设备端接口J2包括第一设备端电源引脚VBUS1_D、第一设备端数据正引脚DP1_D及第一设备端数据负引脚DM1_D。切换开关U1包括数据正公共引脚DP、数据负公共引脚DM、与数据正公共引脚DP对应的第一数据正连接引脚DP1及第二数据正连接引脚DP2、与数据负公共引脚DM对应的第一数据负连接引脚DM1及第二数据负连接引脚DM2。

第一充电端数据正引脚DP1_C连接第一数据正连接引脚DP1，第一充电端数据负引脚DM1_C连接第一数据负连接引脚DM1，第二数据正连接引脚DP2连接第一电阻R1后接地，第二数据负连接引脚DM2连接第二电阻R2后接地，第一设备端数据正引脚DP1_D连接数据正公共引脚DP，第一设备端数据负引脚DM1_D连接数据负公共引脚DM。切换开关U1还包括选择引脚SE；控制模块10的第一端连接选择引脚SE，控制模块10的第二端连接第一充电端电源引脚VBUS1_C，控制模块10的第三端连接第一设备端电源引脚VBUS1_D。

本实用新型提供的电子设备的充电测试电路100，应用时，控制模块10用于连通第一充电端电源引脚VBUS1_C及第一设备端电源引脚VBUS1_D，当选择引脚SE的电压为低电平时，数据正公共引脚DP连接第一数据正连接引脚DP1，数据负公共引脚DM连接第一数据负连接引脚DM1，则连接第一充电端接口J1的充电器经过切换开关U1为连接第一设备端接口J2的电子设备进行充电，以实现充电器充电测试；当选择引脚SE的电压为高电平时，数据正公共引脚DP连接第二数据正连接引脚DP2，数据负公共引脚DM连接第二数据负连接引脚DM2，所述充电器经过切换开关U1且第一设备端数据正引脚DP1_D及第一设备端数据负引脚DM1_D通过第一电阻R1及第二电阻R2进行电压下拉后为所述电子设备进行充电，以实现终端充电测试。并且，选择引脚SE的电压由低电平向高电平切换的过程中，能够使控制模块触发连接第一设备端接口J2的电子设备重新进行充电检测，即控制模块能够使电子设备识别出此时的充电状态为终端充电测试状态。

可以理解，当数据正公共引脚DP连接第二数据正连接引脚DP2、数据负公共引脚DM连接第二数据负连接引脚DM2时，第一设备端接口J2的第一设备端数据正引脚DP1_D及第一设备端数据负引脚DM1_D分别通过第一电阻R1及第二电阻R2进行电压下拉，以模拟终端充电时接口内数据引脚(具体包括数据正引脚及数据负引脚)的电压下拉，进而模拟终端充电测试。本实施方式中，终端为电脑，对应的，第一电阻R1及第二电阻R2的大小为15K欧姆。

因此，本实用新型提供的电子设备的充电测试电路100，控制模块10连通第一充电端电源引脚VBUS1_C及第一设备端电源引脚VBUS1_D，在第一充电端接口J1的第一充电端数据正引脚DP1_C、第一充电端数据负引脚DM1_C与第一设备端接口J2的第一设备端数据正引脚DP1_D及第一设备端数据负引脚DM1_D之间连接切换开关U1，第二数据正连接引脚DP2连接第一电阻R1后接地，第二数据负连接引脚DM2连接第二电阻R2后接地，如此设计，充电测试电路100既能够实现充电器通过切换开关U1直接为电子设备供电的充电测试，也能够实现充电器经过切换开关U1且第一设备端数据正引脚DP1_D及第一设备端数据负引脚DM1_D通过第一电阻R1及第二电阻R2进行电压下拉后为所述电子设备进行充电，以模拟终端进行充电测试，能够避免流入市场的电子设备的充电器识别异常的问题，且提高了测试效率。

请一并参阅图2，进一步地，控制模块10包括三极管Q及继电器U2，三极管Q的基极引出控制模块10的第一端，三极管Q的发射极接地，三极管Q的集电极连接继电器U2内的线圈的第二端，线圈的第一端引出控制模块10的第二端，继电器U2内的开关的公共端O连接所述线圈的第一端，所述开关的第一触点A引出控制模块10的第三端，开关的第二触点B连接第一触点A。

可以理解，当选择引脚SE的电压为低电平时，三极管Q的基极与发射极的电压差小于0，三极管Q截止，继电器U2未吸合，继电器U2内的开关的公共端O连接第二触点B，电路处于充电器充电测试状态。当选择引脚SE的电压为高电平时，三极管Q的基极与发射极的电压差大于0，三极管Q导通，触发继电器U2吸合，继电器U2内的开关的公共端O由连接第二触点B切换到连接第一触点A，切换的过程存在第一充电端电源引脚VBUS1_C与第一设备端电源引脚VBUS1_D断开的一瞬间，进而触发连接第一设备端接口J2的电子设备重新进行充电检测，切换完成后，电路则处于终端充电测试状态。

具体的，所述线圈的两端还连接有二极管D，二极管D的阳极连接所述线圈的第一端，二极管D的阴极连接所述线圈的第二端，二极管D能够为继电器U2提供放电回路，进而保护三极管Q。本实施方式中，三极管Q的基极通过第三电阻R3连接选择引脚SE，第三电阻R3用于分压。

请一并参阅图3，本实用新型提供的电子设备的充电测试电路100，还包括供电模块20，供电模块20包括降压芯片U3，降压芯片U3的输入引脚VIN连接供电电源VBUS，降压芯片U3的输出引脚VOUT连接切换开关U1的电源引脚VDD。可以理解，供电电源VBUS通过降压芯片U3为切换开关U1供电，切换开关U1不需要额外的电源供电，通常，供电电源VBUS的电压为5V，切换开关U1的电源引脚VDD处的电压为3.3V。

本实施方式中，输入引脚VIN连接有第一电容C1，第一电容C1用于滤除电路的噪声，稳定输入引脚VIN的电压，输出引脚VOUT连接有第二电容C2，第二电容C2用于滤除电路的噪声，稳定输出引脚VOUT的电压，具体的，第一电容C1及第二电容C2的大小均为1微法。输入引脚VIN通过第四电阻R4连接降压芯片U3的使能引脚EN，以实现降压芯片U3的正常使能工作，第四电阻R4的大小为10K欧姆。

进一步地，如图1所示，选择引脚SE连接有单刀双掷开关S，单刀双掷开关S的公共端O1连接选择引脚SE，单刀双掷开关S的第一触点A1通过第五电阻R5连接降压芯片U3的输出引脚VOUT，单刀双掷开关S的第二触点B1通过第六电阻R6接地，第五电阻R5及第六电阻R6均为分压电阻。

可以理解，当单刀双掷开关S的公共端O1连接第一触点A1时，选择引脚SE的电压为高电平；当单刀双掷开关S的公共端O1连接第二触点B1时，选择引脚SE的电压为低电平。如此设计，通过单刀双掷开关S来控制选择引脚SE的电平的高低，无需软件进行控制，控制方式简单可靠。

本实用新型提供的电子设备的充电测试电路100，还包括第二充电端接口J3及第二设备端接口J4，第二充电端接口J3包括第二充电端电源引脚VBUS2_C、第二充电端数据正引脚DP2_C及第二充电端数据负引脚DM2_C，第二设备端接口J4包括第二设备端电源引脚VBUS2_D、第二设备端数据正引脚DP2_D及第二设备端数据负引脚DM2_D。

具体的，第二充电端电源引脚VBUS2_C连接第一充电端电源引脚VBUS1_C，第二充电端数据正引脚DP2_C连接第一数据正连接引脚DP1，第二充电端数据负引脚DM2_C连接第一数据负连接引脚DM1。第二设备端电源引脚VBUS2_D连接第一设备端电源引脚VBUS1_D，第二设备端数据正引脚DP2_D连接数据正公共引脚DP，第二设备端数据负引脚DM2_D连接数据负公共引脚DM。

可以理解，第一充电端接口J1及第一设备端接口J2为TYPE-C接口，用于满足TYPE-C接口的电子设备的充电测试。第二充电端接口J3及第二设备端接口J4为micro USB接口，用于满足micro USB接口的电子设备的充电测试。两种接口满足市场上绝大部分的电子设备，提高了充电测试电路通用性。

本实用新型还提供一种电子设备的充电测试装置，包括上述任意一项实施方式所述的电子设备的充电测试电路100。需要说明的是，本实用新型提供的电子设备的充电测试电路100的所有实施例均适用于本实用新型提供的电子设备的充电测试装置，且均能够达到相同或相似的有益效果。

综上，本实用新型提供的电子设备的充电测试电路100及装置，控制模块10连通第一充电端电源引脚VBUS1_C及第一设备端电源引脚VBUS1_D，在第一充电端接口J1的第一充电端数据正引脚DP1_C、第一充电端数据负引脚DM1_C与第一设备端接口J2的第一设备端数据正引脚DP1_D及第一设备端数据负引脚DM1_D之间连接切换开关U1，第二数据正连接引脚DP2连接第一电阻R1后接地，第二数据负连接引脚DM2连接第二电阻R2后接地，如此设计，充电测试电路100既能够实现充电器通过切换开关U1直接为电子设备供电的充电测试，也能够实现充电器经过切换开关U1且第一设备端数据正引脚DP1_D及第一设备端数据负引脚DM1_D通过第一电阻R1及第二电阻R2进行电压下拉后为所述电子设备进行充电，以模拟终端进行充电测试，能够避免流入市场的电子设备的充电器识别异常的问题，且提高了测试效率。

以上所述仅为本实用新型的实施方式，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims

1.一种电子设备的充电测试电路，其特征在于，包括第一充电端接口、第一设备端接口、控制模块及切换开关；所述第一充电端接口包括第一充电端电源引脚、第一充电端数据正引脚及第一充电端数据负引脚，所述第一设备端接口包括第一设备端电源引脚、第一设备端数据正引脚及第一设备端数据负引脚；所述切换开关包括数据正公共引脚、数据负公共引脚、与所述数据正公共引脚对应的第一数据正连接引脚及第二数据正连接引脚、与所述数据负公共引脚对应的第一数据负连接引脚及第二数据负连接引脚；

所述第一充电端数据正引脚连接所述第一数据正连接引脚，所述第一充电端数据负引脚连接所述第一数据负连接引脚，所述第二数据正连接引脚连接第一电阻后接地，所述第二数据负连接引脚连接第二电阻后接地，所述第一设备端数据正引脚连接所述数据正公共引脚，所述第一设备端数据负引脚连接所述数据负公共引脚；所述切换开关还包括选择引脚，所述控制模块的第一端连接所述选择引脚，所述控制模块的第二端连接所述第一充电端电源引脚，所述控制模块的第三端连接所述第一设备端电源引脚；

当所述选择引脚的电压为低电平时，所述数据正公共引脚连接所述第一数据正连接引脚，所述数据负公共引脚连接所述第一数据负连接引脚，连接所述第一充电端接口的充电器经过所述切换开关为连接所述第一设备端接口的电子设备进行充电，以实现充电器充电测试；当所述选择引脚的电压为高电平时，所述数据正公共引脚连接所述第二数据正连接引脚，所述数据负公共引脚连接所述第二数据负连接引脚，所述充电器经过所述切换开关且所述第一设备端数据正引脚及第一设备端数据负引脚通过所述第一电阻及第二电阻进行电压下拉后为所述电子设备进行充电，以实现终端充电测试。

2.如权利要求1所述的电子设备的充电测试电路，其特征在于，所述控制模块包括三极管及继电器，所述三极管的基极引出所述控制模块的第一端，所述三极管的发射极接地，所述三极管的集电极连接所述继电器内的线圈的第二端，所述线圈的第一端引出所述控制模块的第二端，所述继电器内的开关的公共端连接所述线圈的第一端，所述开关的第一触点引出所述控制模块的第三端，所述开关的第二触点连接所述第一触点。

3.如权利要求2所述的电子设备的充电测试电路，其特征在于，所述线圈的两端还连接有二极管，所述二极管的阳极连接所述线圈的第一端，所述二极管的阴极连接所述线圈的第二端。

4.如权利要求2所述的电子设备的充电测试电路，其特征在于，所述三极管的基极通过第三电阻连接所述选择引脚。

5.如权利要求1所述的电子设备的充电测试电路，其特征在于，还包括供电模块，所述供电模块包括降压芯片，所述降压芯片的输入引脚连接供电电源，所述降压芯片的输出引脚连接所述切换开关的电源引脚。

6.如权利要求5所述的电子设备的充电测试电路，其特征在于，所述输入引脚连接有第一电容，所述输出引脚连接有第二电容；所述输入引脚通过第四电阻连接所述降压芯片的使能引脚。

7.如权利要求6所述的电子设备的充电测试电路，其特征在于，所述选择引脚连接有单刀双掷开关，所述单刀双掷开关的公共端连接所述选择引脚，所述单刀双掷开关的第一触点通过第五电阻连接所述降压芯片的输出引脚，所述单刀双掷开关的第二触点通过第六电阻接地。

8.如权利要求1所述的电子设备的充电测试电路，其特征在于，还包括第二充电端接口及第二设备端接口，所述第二充电端接口包括第二充电端电源引脚、第二充电端数据正引脚及第二充电端数据负引脚，所述第二设备端接口包括第二设备端电源引脚、第二设备端数据正引脚及第二设备端数据负引脚；

所述第二充电端电源引脚连接所述第一充电端电源引脚，所述第二充电端数据正引脚连接所述第一数据正连接引脚，所述第二充电端数据负引脚连接所述第一数据负连接引脚；所述第二设备端电源引脚连接所述第一设备端电源引脚，所述第二设备端数据正引脚连接所述数据正公共引脚，所述第二设备端数据负引脚连接所述数据负公共引脚。

9.如权利要求8所述的电子设备的充电测试电路，其特征在于，所述第一充电端接口及第一设备端接口为TYPE-C接口，所述第二充电端接口及第二设备端接口为micro USB接口。

10.一种电子设备的充电测试装置，其特征在于，包括如权利要求1-9任意一项所述的电子设备的充电测试电路。