CN214278345U - 一种绝缘性能检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种绝缘性能检测装置，包括：第一采样负载和第二采样负载，第一采样负载和第二采样负载用于与待检测件串联；第一运算放大器和第二运算放大器，第一运算放大器的放大倍数小于第二运算放大器的放大倍数；第一运算放大器连接至第一采样负载的两端，第二运算放大器连接至第二采样负载的两端；检测控制单元，第一运算放大器和第二运算放大器的输出端均与检测控制单元相连接，检测控制单元用于根据第一运算放大器输出的第一电压值和第二运算放大器输出的第二电压值得到待检测件的绝缘性能检测结果。通过实施该实用新型，能够实现对连接至该绝缘检测装置中的待检测件的常规绝缘性能以及是否产生过火花的检测，满足检测需求。

Description

一种绝缘性能检测装置

技术领域

本实用新型涉及电路性能检测技术领域，尤其涉及一种绝缘性能检测装置。

背景技术

在现代电子工业中，电路板已经得到了非常广泛的使用，同时随着对电子产品多功能化以及小型化的发展，电路板线宽线距不断缩小，层数不断增加，对电路板的质量检测也提出了更高的要求。为了保证电路板的质量，必须对电路板上的所有线段进行导通测试和绝缘测试，其中的绝缘测试实际上就是测量电路板不导通的线段与线段之间的电阻值，而绝缘电阻是电气设备和电气线路最基本的绝缘指标。在目前的电子工业中，常使用电路板的接触式检测测量绝缘电阻，通过与三极管开关阵列中的测试节点相连的探针和焊盘或者孔充分接触，并在测试所需高压施加在两条原本绝缘的线路上经过一段时间(电路测试条件进入稳态)后，分别测试各节点间的电流与电压的关系，从而求得各节点相应阻值。

但是，正是由于电路板线宽线距不断缩小，当出现刻蚀不良或者电路污染的情况下，在进行高压绝缘检测时(电路测试条件进入稳态前或者进入稳态后)可能会出现火花现象，此类电路板在使用过程中很可能会由于使用环境变化而发生离子迁移，最终使绝缘线路之间开始电连接，电路板出现故障，而基于火花现象的瞬时发生的特性，仅在电路测试条件进入稳态后进行一次或者多次数据采集一般很难检测到火花现象，无法满足检测需求；或者即使连续采集绝缘检测过程中的电流电压，但是由于产生火花时和未产生火花时的电路板线路之间的电流差距很大，难以通过现有的检测绝缘的器件装置同时检测到是否有火花产生。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于解决现有技术中的电路板绝缘检测可能会导致检测线路之间出现火花现象，而现有绝缘检测装置不能检测到火花现象，无法满足检测需求的问题。

为此，本实用新型提供了一种绝缘性能检测装置，包括：

第一采样负载和第二采样负载，第一采样负载和第二采样负载用于与待检测件串联；

第一运算放大器和第二运算放大器，第一运算放大器的放大倍数小于第二运算放大器的放大倍数；第一运算放大器连接至第一采样负载的两端，第二运算放大器连接至第二采样负载的两端，第一运算放大器和第二运算放大器用于在第一采样负载和第二采样负载与待检测件串联并连接至检测电源后，分别采集并放大第一采样负载和第二采样负载两端的电压；

检测控制单元，第一运算放大器和第二运算放大器的输出端均与检测控制单元相连接，检测控制单元用于根据第一运算放大器输出的第一电压值和第二运算放大器输出的第二电压值得到待检测件的绝缘性能检测结果。

可选地，检测控制单元用于当检测电源的电压稳定后，第二电压值大于预设绝缘阈值时，得到待检测件的绝缘性能不合格的检测结果；

检测控制单元还用于在串联的第一采样负载、第二采样负载和待检测件连接至检测电源后的预设时间内，存在第一电压值高于预设火花阈值时，得到待检测件的绝缘性能不合格的检测结果。

可选地，绝缘性能检测装置还包括：

分压负载和第三采样负载，分压负载和第三采样负载串联形成第一并联支路连接至第一采样负载；第二采样负载在与待检测件串联后形成第二并联支路连接至第一采样负载；

检测控制单元与第三采样负载的高电平端相连接，检测控制单元用于在第一采样负载连接至检测电源后，监测检测电源的输出电压；

检测控制单元用于根据第一电压值、第二电压值和检测电源的输出电压得到待检测件的绝缘性能检测结果。

可选地，绝缘性能检测装置还包括：

分压负载和第三采样负载，分压负载和第三采样负载串联形成第一并联支路；第一采样负载和第二采样负载用于在与待检测件串联后形成第二并联支路；

检测控制单元与第三采样负载的高电平端相连接，检测控制单元用于在第一并联支路和第二并联支路连接至检测电源后，监测检测电源的输出电压；

检测控制单元用于根据第一电压值、第二电压值和检测电源的输出电压得到待检测件的绝缘性能检测结果。

可选地，检测控制单元用于当检测电源的电压稳定后，第二电压值大于预设绝缘阈值时，得到待检测件的绝缘性能不合格的检测结果；

检测控制单元还用于在串联的第一采样负载、第二采样负载和待检测件连接至检测电源后的预设时间内，存在第一电压值高于预设火花阈值且同时检测电源的输出电压跌落时，得到待检测件的绝缘性能不合格的检测结果。

可选地，在预设时间内，检测电源包括电压上升状态和电压稳定状态两种状态。

可选地，第三采样负载为可调负载。

可选地，第二运算放大器的放大倍数是第一运算放大器的放大倍数的至少千倍。

可选地，第二运算放大器与检测控制单元之间设置有信号调理电路。

本实用新型提供的绝缘性能检测装置，具有如下优点：

1、本实用新型提供的绝缘性能检测装置，通过设置用于与待检测件串联的第二采样负载作为绝缘检测(待检测件的阻抗)的检测客体，同时，基于待检测件(电路板中两条待检测绝缘性能的线路)在常规情形下的阻抗很大(一般为MΩ级别)，在使用常用恒压源(电压值一般在50V～250V的范围内)作为检测电源时，整个负载电路(第一采样负载、第二采样负载和待检测件串联形成的电路)的电流较小(为μA级别)，也即第二采样负载两端的电压较小，因此通过设置与该第二采样负载的两端相连接的第二运算放大器采集并放大第二采样负载两端的电压；通过设置第一采样负载作为火花检测的检测客体，同时，基于产生火花现象的瞬间，整个负载电路的电流突变(一般突变至mA级别，且仅在产生的火花的能量足够大，使整个负载电路的电流达到预设火花电流阈值时，如12.5mA、6mA等，才会导致待检测件中两条线路之间的绝缘介质被击穿碳化，影响待检测件的绝缘性能)，因此，对应于两种情形下电流的变化，设置放大倍数小于第二运算放大器的第一运算放大器连接至第一采样负载的两端，采集并放大第一采样负载两端的电压；再通过设置与第一运算放大器和第二运算放大器相连接的检测控制单元，根据第一运算放大器输出的第一电压值和第二运算放大器输出的第二电压值得到待检测件的绝缘性能检测结果，实现对连接至该绝缘检测装置的待检测件的常规绝缘性能(阻抗)以及是否产生过影响待检测件绝缘性能的火花的检测，能够满足检测需求，防止仅通过绝缘阻抗检测被确定为绝缘的待检测件，由于在检测过程中产生过火花现象且被击穿，在客户使用过程中由于使用环境变化而发生离子迁移，最终使绝缘线路之间开始电连接，电路板出现故障。

2、本实用新型提供的绝缘性能检测装置，由于在绝缘性能检测装置连接至检测电源后的整个过程中，除了待检测件产生火花使第一运算放大器采集到的第一电压值突然增大以外，在刚连接至检测电源时还会由于分布电容充电而导致整个电路的电流突然增大(也即第一电压值突然增大)，但是在产生火花现象时，电源电压会同时跌落，而分布电容充电时电源电压不会跌落，因此，通过设置分压负载和第三采样负载串联形成第一并联支路连接至第一采样负载(第二采样负载在与待检测件串联后形成第二并联支路连接至第一采样负载)，形成电源电压检测的支路，并通过将检测控制单元与第三采样负载的高电平端相连接，在第一采样负载连接至检测电源后，监测检测电源的输出电压(基于检测控制单元常规仅能够检测较低电压值，而检测电源的电压值一般较高，因此不能直接监测检测电源的电压值，而是通过监测第三采样负载的电压值间接监测)，从而使检测控制单元能够根据第一电压值和检测电源的输出电压准确判断待检测件是否产生过火花(若不对电源电压进行监测，则一般通过排除第一电压值的第一次突然增大的方式，防止将由于分布电容充电导致的第一电压值增大误判为出现火花现象)，进一步提高该绝缘性能检测装置的绝缘性能检测准确性。

3、本实用新型提供的绝缘性能检测装置，基于检测控制单元常规仅能够检测较低电压值，因此，当该绝缘性能监测装置连接的检测电源的电压值变化时，可能会导致第三采样负载的电压值超过检测控制单元的可检测范围，因此，通过将第三采样负载设置为可调负载，从而在该绝缘性能检测装置应用于检测电源的电压值不同的各种场景时，能够通过调节第三采样负载中的电阻值，调节第三采样负载两端的电压值，使其落在检测控制单元的检测范围内，提高该绝缘性能检测装置的可适用范围。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的绝缘性能检测装置的一种电路结构示意图；

图2为本实用新型实施例提供的绝缘性能检测装置的另一种电路结构示意图。

具体实施方式

下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

此外，下面所描述的本实用新型不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。

本实施例提供了一种绝缘性能检测装置，如图1所示，该装置包括：第一采样负载、第二采样负载、第一运算放大器、第二运算放大器和检测控制单元。

在本实施例中，如图1所示，第一采样负载(图中以电阻Rshunt进行示出)和第二采样负载(图中以电阻Rr进行示出)用于与待检测件(图中以电阻Rx进行示出)串联。在这里，需要说明的是，虽然图1中待检测件连接在待检测装置中(图1中直接以电阻Rx与电阻Rshunt以及电阻Rr串联的状态进行示出)，但是，待检测件并不属于本实用新型实施例中的绝缘性能检测装置内的结构，而是绝缘性能检测装置的检测对象。

在本实施例中，如图1所示，第一运算放大器(图1中以U2，集成电路型AD8212YRMZ放大器进行示出)连接至第一采样负载的两端，第二运算放大器(图1中以放大器U3A进行示出)连接至第二采样负载的两端，第一运算放大器和第二运算放大器用于在第一采样负载和第二采样负载与待检测件串联并连接至检测电源后，分别采集并放大第一采样负载和第二采样负载两端的电压。

在本实施例中，第一运算放大器的放大倍数小于第二运算放大器的放大倍数，具体地，基于待检测件在常规未产生火花时的电阻一般是MΩ级别，在使用常用恒压源(电压值一般在50V～250V的范围内)作为检测电源时，整个负载电路(第一采样负载、第二采样负载和待检测件串联形成的电路)的电流较小，为μA级别，而产生火花现象的瞬间，整个负载电路的电流能够突变至mA级别，且仅在产生的火花的能量足够大，使整个负载电路的电流达到预设火花电流阈值时，如12.5mA、6mA等(该预设火花阈值的具体数值可以根据待检测件的性能、具体应用场景中对待检测件的使用寿命的要求等进行设置)，才会导致待检测件中两条线路之间的绝缘介质被击穿碳化，影响待检测件的绝缘性能，而电压值与电流值相对应，因此，第二运算放大器的放大倍数是第一运算放大器的放大倍数的至少千倍。当然，第一运算放大器和第二运算放大器的放大倍数也可以根据具体应用场景中待检测件常规未产生火花时的阻抗、产生火花现象时的电流大小、检测电源的电压值以及使用的第一运算放大器和第二运算放大器的工作范围进行设置们在此不做任何限制。

此外，图1中虽然以第一采样负载、第二采样负载和待检测件串联后且连接至检测电源(图1中以50～250V直流电源进行示出)的状态进行示出，但是，检测电源同样并非绝缘性能检测装置的内部结构，而仅是绝缘性能检测装置进入工作状态时的一个能源供给主体，绝缘性能检测装置也可处于未与检测电源连接的非工作状态。

在本实施例中，如图1所示，第一运算放大器和第二运算放大器的输出端均与检测控制单元相连接(图1中未直接示出检测控制单元，而是示出了模拟数字转换器ADC，但是本领域技术人员应当可以理解，图1中的ADC可以即为检测控制单元中的ADC接口，或者为与检测控制单元的输入接口相连接的单独的ADC)，检测控制单元用于根据第一运算放大器输出的第一电压值和第二运算放大器输出的第二电压值得到待检测件的绝缘性能检测结果。

具体地，检测控制单元用于当检测电源的电压稳定后，第二电压值大于预设绝缘阈值时，得到待检测件的绝缘性能不合格的检测结果，此时，待检测件的绝缘阻抗未达到合格品的要求；检测控制单元还用于在串联的第一采样负载、第二采样负载和待检测件连接至检测电源后的预设时间内，存在第一电压值高于预设火花阈值(对应的火花现象产生时的电流能够击穿待检测件中两条线路之间的绝缘介质)时，得到待检测件的绝缘性能不合格的检测结果，此时，待检测件由于产生过火花现象且被击穿而不合格(也是绝缘性能不合格的一种表现形式)。在本实施例中，检测控制单元可以在预设的一个或者多个时间点(具体地，预设的时间点均处于检测电源的电压稳定后的时间段，具体的预设时间点可以根据操作经验进行设置，在此不做任何限制)获取第二电压值，并在第二电压值大于预设绝缘阈值时，确定待检测件不合格；同时，检测控制单元持续获取预设时间内的第一电压值，并在预设时间内存在第一电压值高于预设火花阈值时，确定待检测件不合格。在本实施例中，在预设时间内，检测电源包括电压上升状态和电压稳定状态两种状态，具体地，可以将绝缘性能检测装置连接至检测电源的时间点到最后一次获取第二电压值的预设时间点之间的时间，作为预设时间，当然，预设时间同样可以根据具体应用场景内的检测电源的性质(从电压上升状态到电压稳定状态所需的时间长度等性质)进行具体设置。

在本实施例中，需要说明的是，由于在绝缘性能检测装置连接至检测电源后的整个过程中，除了待检测件产生火花使第一运算放大器采集到的第一电压值突然增大以外，在刚连接至检测电源时会由于分布电容充电而导致整个电路的电流突然增大(也即第一电压值突然增大)，因此，一般排除第一电压值的第一次增大，防止将由于分布电容充电导致的第一电压值增大误判为出现火花现象。

在本实施例中，如图1所示，当第一运算放大器采用AD8212YRMZ时，检测控制单元直接接收到的为外部电阻Rout的电压值Uout，而第一电压值需要根据Uout进行计算得到，AD8212YRMZ与晶体管Q1以及外部电阻Rout的具体连接方式以及通过Rout、Uout计算第一电压值的公式均属于现有技术，在此不再赘述。

在本实施例中，如图1所示，可以在第一运算放大器与检测控制单元之间设置跟随器U4A用于保护该绝缘性能检测装置的整个电路的稳定性，同时，为了防止在整个负载电路(第一采样负载、第二采样负载和待检测件串联形成的电路)出现故障或者第一运算放大器的电路出现故障导致第一运算放大器输出的电压值过大，跟随器U4A损坏，如图1所示，还可以在第一运算放大器和跟随器U4A之间设置二极管钳位保护(图2中的二极管D1和二极管D2)；二极管D1、二极管D2以及跟随器U4A的具体连接方式均为现有技术，在此不做赘述。

在本实施例中，如图1所示，基于第二运算放大器采集的第二电压值主要用于判断待检测件处于常规未出现火花现象时的阻抗(一般为MΩ级别)是否符合绝缘需求，因此，第二电压值一般较小，因此，为了防止环境以及绝缘性能检测装置中的其他结构的干扰影响检测控制单元采集到的第二电压值的准确性，如图1所示，还可以在第一运算放大器和检测控制单元之间设置信号调理电路(主要用于进行信号过滤和放大)。

本实施例中的绝缘性能检测装置，通过设置用于与待检测件串联的第二采样负载作为绝缘检测(待检测件的阻抗)的检测客体，同时，基于待检测件(电路板中两条待检测绝缘性能的线路)在常规情形下的阻抗很大(一般为MΩ级别)，在使用常用恒压源(电压值一般在50V～250V的范围内)作为检测电源时，整个负载电路(第一采样负载、第二采样负载和待检测件串联形成的电路)的电流较小(为μA级别)，也即第二采样负载两端的电压较小，因此通过设置与该第二采样负载的两端相连接的第二运算放大器采集并放大第二采样负载两端的电压；通过设置第一采样负载作为火花检测的检测客体，同时，基于产生火花现象的瞬间，整个负载电路的电流突变(一般突变至mA级别，且仅在产生的火花的能量足够大，使整个负载电路的电流达到预设火花电流阈值时，如12.5mA、6mA等，才会导致待检测件中两条线路之间的绝缘介质被击穿碳化，影响待检测件的绝缘性能)，因此，对应于两种情形下电流的变化，设置放大倍数小于第二运算放大器的第一运算放大器连接至第一采样负载的两端，采集并放大第一采样负载两端的电压；再通过设置与第一运算放大器和第二运算放大器相连接的检测控制单元，根据第一运算放大器输出的第一电压值和第二运算放大器输出的第二电压值得到待检测件的绝缘性能检测结果，实现对连接至该绝缘检测装置的待检测件的常规绝缘性能(阻抗)以及是否产生过影响待检测件绝缘性能的火花的检测，能够满足检测需求，防止仅通过绝缘阻抗检测被确定为绝缘的待检测件，由于在检测过程中产生过火花现象且被击穿，在客户使用过程中由于使用环境变化而发生离子迁移，最终使绝缘线路之间开始电连接，电路板出现故障。

作为本实用新型实施例的一种可选实施方式，为了解决第一电压值也可能因为分布电容充电而突然增大，若不排除此次增大，检测控制单元得到的待检测件的绝缘性能检测结果可能出错的问题，基于在产生火花现象时，电源电压会同时跌落，而分布电容充电时电源电压不会跌落，因此，如图2所示，绝缘性能检测装置还可以包括：分压负载(图2以串联的电阻R2和电阻R3进行示出)和第三采样负载(图2以串联的电阻R1和可调电阻VR1进行示出)，具体地，分压负载和第三采样负载串联形成第一并联支路连接至第一采样负载，第二采样负载在与待检测件串联后形成第二并联支路连接至第一采样负载，检测控制单元与第三采样负载的高电平端相连接(第三采样负载的低电平端接地)，检测控制单元用于在第一采样负载连接至检测电源后，监测检测电源的输出电压，并根据第一电压值、第二电压值和检测电源的输出电压得到待检测件的绝缘性能检测结果。

在这里，需要说明的是，虽然图2示出的分压负载包括串联的电阻R2和电阻R3，但是本领域技术人员应当可以理解，分压负载也可以为一个电阻或者3个及3个以上的串联电阻，数量上不存在限制；同样地，虽然图2示出的第三采样负载包括串联的电阻R1和可调电阻VR1，但是设置可调电阻VR1是基于扩大该绝缘性能检测装置的可适用范围的需求而设置，在该装置的应用场景改变，检测电源的电压值增大时，可以通过调节可调负载的电压值，使第三采样负载的电压值不会超出检测控制单元的检测范围，而当对绝缘性能检测装置的适用范围并不存在要求时，则第三采样负载仅为固定电阻即可。

在本发明实施例中，如图2所示，还可以在第三采样负载的高电平端与检测控制单元之间设置跟随器U1A用于保护该绝缘性能检测装置的整个电路的稳定性，同时，为了由于防止分压负载故障(如电阻R2或者电阻R3短路)，导致跟随器U1A的输入电压值过大，跟随器U1A损坏，如图2所示，还可以在第三采样负载的高电平端与跟随器U1A之间设置二极管钳位保护(图2中的二极管D3和二极管D4)；二极管D3、二极管D4以及跟随器U1A的具体连接方式均为现有技术，在此不做赘述。

在本实施例中，检测控制单元用于当检测电源的电压稳定后，第二电压值大于预设绝缘阈值时，得到待检测件的绝缘性能不合格的检测结果，或者在串联的第一采样负载、第二采样负载和待检测件连接至检测电源后的预设时间内，存在第一电压值高于预设火花阈值且同时检测电源的输出电压跌落时，得到待检测件的绝缘性能不合格的检测结果(若基于第二电压值已经得到待检测件不合格的绝缘性能检测结果，可以不再基于第一电压值和检测电源的输出电压进行判断)。

在本实施例中，基于第一采样负载的阻值很小，也即第一采样负载两端的分压较小(第一采样负载可以仅使用阻值为10Ω的电阻，无论是在待检测件处未产生火花现象，整个负载电路的电流为μA级别，还是在待检测件处产生火花现象，整个负载电路的电流为mA级别时，第一采样负载两端的分压均较小)因此，可以将串联后的分压负载和第三采样负载作为第一采样负载的一个并联支路(第二采样负载在与待检测件串联后形成第一采样负载的第二并联支路)，并将检测控制单元与第三采样负载的高电平端相连接，在第一采样负载连接至检测电源后，检测控制单元根据第三采样负载的高电平端的电平计算得到分压负载和第三采样负载的总电压值，并将其作为检测电源的输出电压，实现对测电源的输出电压的监测；当然，也可以将分压负载和第三采样负载串联形成第一并联支路，第一采样负载和第二采样负载用于在于待检测件串联后形成第二并联支路，检测控制单元与第三采样负载的高电平端相连接，检测控制单元用于在第一并联支路和第二并联支路连接至检测电源后，直接监测检测电源的输出电压。

显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型创造的保护范围之中。

Claims (9)

1.一种绝缘性能检测装置，其特征在于，包括：

第一采样负载和第二采样负载，所述第一采样负载和所述第二采样负载用于与待检测件串联；

第一运算放大器和第二运算放大器，所述第一运算放大器的放大倍数小于所述第二运算放大器的放大倍数；所述第一运算放大器连接至所述第一采样负载的两端，所述第二运算放大器连接至所述第二采样负载的两端，所述第一运算放大器和所述第二运算放大器用于在所述第一采样负载和所述第二采样负载与所述待检测件串联并连接至检测电源后，分别采集并放大所述第一采样负载和所述第二采样负载两端的电压；

检测控制单元，所述第一运算放大器和所述第二运算放大器的输出端均与所述检测控制单元相连接，所述检测控制单元用于根据所述第一运算放大器输出的第一电压值和所述第二运算放大器输出的第二电压值得到所述待检测件的绝缘性能检测结果。

2.根据权利要求1所述的绝缘性能检测装置，其特征在于，所述检测控制单元用于当所述检测电源的电压稳定后，所述第二电压值大于预设绝缘阈值时，得到所述待检测件的绝缘性能不合格的检测结果；

所述检测控制单元还用于在串联的所述第一采样负载、所述第二采样负载和所述待检测件连接至所述检测电源后的预设时间内，存在所述第一电压值高于预设火花阈值时，得到所述待检测件的绝缘性能不合格的检测结果。

3.根据权利要求1所述的绝缘性能检测装置，其特征在于，还包括：

分压负载和第三采样负载，所述分压负载和所述第三采样负载串联形成第一并联支路连接至所述第一采样负载；所述第二采样负载在与所述待检测件串联后形成第二并联支路连接至所述第一采样负载；

所述检测控制单元与所述第三采样负载的高电平端相连接，所述检测控制单元用于在所述第一采样负载连接至所述检测电源后，监测所述检测电源的输出电压；

所述检测控制单元用于根据所述第一电压值、所述第二电压值和所述检测电源的输出电压得到所述待检测件的绝缘性能检测结果。

4.根据权利要求1所述的绝缘性能检测装置，其特征在于，还包括：

分压负载和第三采样负载，所述分压负载和所述第三采样负载串联形成第一并联支路；所述第一采样负载和所述第二采样负载用于在与所述待检测件串联后形成第二并联支路；

所述检测控制单元与所述第三采样负载的高电平端相连接，所述检测控制单元用于在所述第一并联支路和所述第二并联支路连接至所述检测电源后，监测所述检测电源的输出电压；

所述检测控制单元用于根据所述第一电压值、所述第二电压值和所述检测电源的输出电压得到所述待检测件的绝缘性能检测结果。

5.根据权利要求3或4所述的绝缘性能检测装置，其特征在于，所述检测控制单元用于当所述检测电源的电压稳定后，所述第二电压值大于预设绝缘阈值时，得到所述待检测件的绝缘性能不合格的检测结果；

所述检测控制单元还用于在串联的所述第一采样负载、所述第二采样负载和所述待检测件连接至检测电源后的预设时间内，存在所述第一电压值高于预设火花阈值且同时所述检测电源的输出电压跌落时，得到所述待检测件的绝缘性能不合格的检测结果。

6.根据权利要求5所述的绝缘性能检测装置，其特征在于，在所述预设时间内，所述检测电源包括电压上升状态和电压稳定状态两种状态。

7.根据权利要求5所述的绝缘性能检测装置，其特征在于，所述第三采样负载为可调负载。

8.根据权利要求1所述的绝缘性能检测装置，其特征在于，所述第二运算放大器的放大倍数是所述第一运算放大器的放大倍数的至少千倍。

9.根据权利要求1所述的绝缘性能检测装置，其特征在于，所述第二运算放大器与所述检测控制单元之间设置有信号调理电路。

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