CN214067328U - 一种芯片测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种芯片测试装置，涉及芯片加工技术领域，包括本体，所述本体的顶部设置有防尘装置，所述本体的一侧设置有收纳装置，所述防尘装置包括限位架，所述本体的顶部对称固定安装有限位架，所述限位架的表面滑动连接有滑块，所述滑块与限位架之间固定安装有弹簧，所述滑块之间转动连接有档杆，所述本体的外侧对称固定安装有限位框，所述限位框之间滑动连接有挡板，所述挡板的表面滑动连接有固定块，所述本体的表面开设有固定槽，所述本体的顶部固定安装有矩形块。本实用新型，通过设置该防尘装置，方便工作人员使用，使本体在闲置时，灰尘不会积累在本体表面，防止灰尘影响芯片的检测结果。

Description

一种芯片测试装置

技术领域

本实用新型涉及芯片加工技术领域，尤其涉及一种芯片测试装置。

背景技术

随着现代科技的发展，芯片越来越多的用在我们的日常生活中，为人们的生活提供便利，在芯片生产加工的过程中，为了保证芯片出厂的合格率，需要在芯片出厂前对芯片进行检测，这就需要用到芯片检测设备。

现有的芯片检测设备在长时间闲置后，芯片的连接口会积累灰尘，再次使用时，不仅需要将面板上的灰尘擦去，而且芯片插入接口时，可能会因为灰尘的原因而接触不良，影响检测结果。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种芯片测试装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种芯片测试装置，包括本体，所述本体的顶部设置有防尘装置，所述本体的一侧设置有收纳装置。

所述防尘装置包括限位架，所述本体的顶部对称固定安装有限位架，所述限位架的表面滑动连接有滑块，所述滑块与限位架之间固定安装有弹簧，所述滑块之间转动连接有档杆，所述本体的外侧对称固定安装有限位框，所述限位框之间滑动连接有挡板，所述挡板的表面滑动连接有固定块，所述本体的表面开设有固定槽，所述本体的顶部固定安装有矩形块，所述矩形块的一侧固定安装有防尘布，所述防尘布的另一端与挡板固定连接，所述防尘布位于矩形块与挡板之间的一段与档杆滑动连接。

优选的，所述收纳装置包括收纳盒，所述收纳盒与本体固定连接，所述收纳盒的表面开设有缺口，所述收纳盒的内部滑动连接有收线筒，所述收线筒的外侧转动连接有拉环。

优选的，所述滑块的内部开设有圆孔，所述滑块通过圆孔与限位架滑动连接。

优选的，所述挡板的两端均固定安装有限位块，所述挡板通过限位块与限位框滑动连接。

优选的，所述挡板的表面开设有通槽，所述固定块通过通槽与挡板滑动连接。

优选的，所述收纳盒的表面开设有贯穿槽，所述收线筒通过贯穿槽与收纳盒滑动连接。

与现有技术相比，本实用新型的优点和积极效果在于，

1、本实用新型中，通过设置防尘装置，在使用完本体对芯片进行测试后，可以向下拉动固定块，使固定块带动挡板沿着限位框向下移动，从而使挡板拉动防尘布移动，使档杆带动滑块沿着限位架滑动，并对弹簧进行压缩，当固定块移动至固定槽外侧时，向内推动固定块，将固定块的一端推入固定槽，即可使挡板得到固定，使防尘布对本体进行防护，防止灰尘积累在本体的面板与连接口上，需要再次使用本体时，向外拉动固定块，滑块会在弹簧的作用下向外移动，从而带动档杆拉动防尘布移动，从而将防尘布收纳至本体顶部，使挡板升至限位框顶端，通过设置该防尘装置，方便工作人员使用，使本体在闲置时，灰尘不会积累在本体表面，防止灰尘影响芯片的检测结果。

2、本实用新型中，通过设置收纳装置，需要对本体的电源线进行收纳时，可以向外拉动，将收线筒拉出收纳盒，然后可以将电源线缠绕在收线筒上，然后即可向内推动收线筒，将收线筒推入收纳盒，电源线可以通过缺口被置于收纳盒外侧，即可实现对电源线的收纳，通过设置该收纳装置，方便工作人员对电源线进行收纳，大大提高了该装置的实用性。

附图说明

图1为本实用新型提出一种芯片测试装置的整体结构示意图；

图2为本实用新型提出一种芯片测试装置的后视的结构示意图；

图3为本实用新型提出一种芯片测试装置的正视的结构示意图；

图4为本实用新型提出一种芯片测试装置的剖视的结构示意图。

图例说明：

1、本体；2、防尘装置；201、限位架；202、滑块；203、弹簧；204、档杆；205、限位框；206、挡板；207、固定块；208、固定槽；209、矩形块；210、防尘布；3、收纳装置；301、收纳盒；302、缺口；303、收线筒；304、拉环。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本实用新型的上述目的、特征和优点，下面结合附图和实施例对本实用新型做进一步说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

请参阅图1-4，本实用新型提供一种芯片测试装置，包括本体1，本体1的顶部设置有防尘装置2，本体1的一侧设置有收纳装置3。

防尘装置2包括限位架201，本体1的顶部对称固定安装有限位架201，限位架201的表面滑动连接有滑块202，滑块202与限位架201之间固定安装有弹簧203，滑块202之间转动连接有档杆204，本体1的外侧对称固定安装有限位框205，限位框205之间滑动连接有挡板206，挡板206的表面滑动连接有固定块207，本体1的表面开设有固定槽208，本体1的顶部固定安装有矩形块209，矩形块209的一侧固定安装有防尘布210，防尘布210的另一端与挡板206固定连接，防尘布210位于矩形块209与挡板206之间的一段与档杆204滑动连接。

本实施方案中，通过设置防尘装置2，在使用完本体1对芯片进行测试后，可以向下拉动固定块207，使固定块207带动挡板206沿着限位框205向下移动，从而使挡板206拉动防尘布210移动，使档杆204带动滑块202沿着限位架201滑动，并对弹簧203进行压缩，当固定块207移动至固定槽208外侧时，向内推动固定块207，将固定块207的一端推入固定槽208，即可使挡板206得到固定，使防尘布210对本体1进行防护，防止灰尘积累在本体1的面板与连接口上，需要再次使用本体1时，向外拉动固定块207，滑块202会在弹簧203的作用下向外移动，从而带动档杆204拉动防尘布210移动，从而将防尘布210收纳至本体1顶部，使挡板206升至限位框205顶端，通过设置该防尘装置2，方便工作人员使用，使本体1在闲置时，灰尘不会积累在本体1表面，防止灰尘影响芯片的检测结果。

具体的，收纳装置3包括收纳盒301，收纳盒301与本体1固定连接，收纳盒301的表面开设有缺口302，收纳盒301的内部滑动连接有收线筒303，收线筒303的外侧转动连接有拉环304。

在本实施例中：通过设置收纳装置3，需要对本体1的电源线进行收纳时，可以向外拉动，将收线筒303拉出收纳盒301，然后可以将电源线缠绕在收线筒303上，然后即可向内推动收线筒303，将收线筒303推入收纳盒301，电源线可以通过缺口302被置于收纳盒301外侧，即可实现对电源线的收纳，通过设置该收纳装置3，方便工作人员对电源线进行收纳，大大提高了该装置的实用性。

具体的，滑块202的内部开设有圆孔，滑块202通过圆孔与限位架201滑动连接。

在本实施例中：使滑块202可以通过圆孔沿着限位架201滑动，并带动档杆204移动。

具体的，挡板206的两端均固定安装有限位块，挡板206通过限位块与限位框205滑动连接。

在本实施例中：限位块能够限制挡板206的移动，使挡板206能够滑动的更加稳定。

具体的，挡板206的表面开设有通槽，固定块207通过通槽与挡板206滑动连接。

在本实施例中：使固定块207能够通过通槽插入固定槽208内部，使挡板206得到固定。

具体的，收纳盒301的表面开设有贯穿槽，收线筒303通过贯穿槽与收纳盒301滑动连接。

在本实施例中：贯穿槽能够限制收线筒303的移动，防止收线筒303彻底从收纳盒301内取出。

工作原理：在使用完本体1对芯片进行测试后，可以向下拉动固定块207，使固定块207带动挡板206沿着限位框205向下移动，从而使挡板206拉动防尘布210移动，使档杆204带动滑块202沿着限位架201滑动，并对弹簧203进行压缩，当固定块207移动至固定槽208外侧时，向内推动固定块207，将固定块207的一端推入固定槽208，即可使挡板206得到固定，使防尘布210对本体1进行防护，防止灰尘积累在本体1的面板与连接口上，需要再次使用本体1时，向外拉动固定块207，滑块202会在弹簧203的作用下向外移动，从而带动档杆204拉动防尘布210移动，从而将防尘布210收纳至本体1顶部，使挡板206升至限位框205顶端，需要对本体1的电源线进行收纳时，可以向外拉动，将收线筒303拉出收纳盒301，然后可以将电源线缠绕在收线筒303上，然后即可向内推动收线筒303，将收线筒303推入收纳盒301，电源线可以通过缺口302被置于收纳盒301外侧，即可实现对电源线的收纳。

以上，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非是对本实用新型作其它形式的限制，任何熟悉本专业的技术人员可能利用上述揭示的技术内容加以变更或改型为等同变化的等效实施例应用于其它领域，但是凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与改型，仍属于本实用新型技术方案的保护范围。

Claims (6)

1.一种芯片测试装置，包括本体(1)，其特征在于：所述本体(1)的顶部设置有防尘装置(2)，所述本体(1)的一侧设置有收纳装置(3)；

所述防尘装置(2)包括限位架(201)，所述本体(1)的顶部对称固定安装有限位架(201)，所述限位架(201)的表面滑动连接有滑块(202)，所述滑块(202)与限位架(201)之间固定安装有弹簧(203)，所述滑块(202)之间转动连接有档杆(204)，所述本体(1)的外侧对称固定安装有限位框(205)，所述限位框(205)之间滑动连接有挡板(206)，所述挡板(206)的表面滑动连接有固定块(207)，所述本体(1)的表面开设有固定槽(208)，所述本体(1)的顶部固定安装有矩形块(209)，所述矩形块(209)的一侧固定安装有防尘布(210)，所述防尘布(210)的另一端与挡板(206)固定连接，所述防尘布(210)位于矩形块(209)与挡板(206)之间的一段与档杆(204)滑动连接。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述收纳装置(3)包括收纳盒(301)，所述收纳盒(301)与本体(1)固定连接，所述收纳盒(301)的表面开设有缺口(302)，所述收纳盒(301)的内部滑动连接有收线筒(303)，所述收线筒(303)的外侧转动连接有拉环(304)。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述滑块(202)的内部开设有圆孔，所述滑块(202)通过圆孔与限位架(201)滑动连接。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述挡板(206)的两端均固定安装有限位块，所述挡板(206)通过限位块与限位框(205)滑动连接。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述挡板(206)的表面开设有通槽，所述固定块(207)通过通槽与挡板(206)滑动连接。

6.根据权利要求2所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述收纳盒(301)的表面开设有贯穿槽，所述收线筒(303)通过贯穿槽与收纳盒(301)滑动连接。

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