CN113484716B - 一种芯片老练动态可重构测试装置及其使用方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种芯片老练动态可重构测试装置及其使用方法，涉及芯片检测技术领域，包括设备本体，所述设备本体的表面设置有托盘装置，所述设备本体的一侧固定安装有控制面板，所述控制面板的外侧设置有擦拭装置，所述设备本体的另一侧设置有收纳装置，所述芯片老练动态可重构测试装置的使用方法由S1‑S4构成，所述托盘装置包括矩形板，所述设备本体的外侧转动连接有矩形板，所述矩形板的外侧开设有结构槽，所述结构槽的内部滑动连接有连接块。本发明，通过设置该托盘装置，方便工作人员在检测的过程中摆放芯片，节省了工作人员弯腰拿取芯片的时间，降低了工作人员的劳动量，提高了工作人员的工作效率。
Description
技术领域
本发明涉及芯片检测技术领域，尤其涉及一种芯片老练动态可重构测试装置及其使用方法。
背景技术
随着现代科技的发展，芯片越来越多的用在我们的日常生活中，为人们的生活提供便利，在芯片生产加工的过程中，为了保证芯片出厂的合格率，需要在芯片出厂前对芯片进行老练测试，以测试芯片的使用寿命，这就需要用到芯片老练测试设备。
现有的测试设备在使用时，需要将芯片一个一个的安装在设备内部，但设备外侧被没有没有放置芯片的位置，只能将存放芯片的盒子放置在地面或是设备一侧的桌面上，工作人员在拿取芯片进行安装时，需要反复转头或是弯腰拿取芯片，这一过程增加了工作人员的劳动量，需要花费一定时间，影响工作人员的工作效率。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种芯片老练动态可重构测试装置及其使用方法。
为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：一种芯片老练动态可重构测试装置，包括设备本体，所述设备本体的表面设置有托盘装置，所述设备本体的一侧固定安装有控制面板，所述控制面板的外侧设置有擦拭装置，所述设备本体的另一侧设置有收纳装置，所述芯片老练动态可重构测试装置的使用方法由S1-S4构成。
所述托盘装置包括矩形板，所述设备本体的外侧转动连接有矩形板，所述矩形板的外侧开设有结构槽，所述结构槽的内部滑动连接有连接块，所述连接块与结构槽之间固定安装有第一弹簧，所述连接块的外侧固定安装有定位块，所述连接块的表面固定安装有固定杆，所述固定杆的表面转动连接有拉环，所述设备本体的表面开设有固定孔，所述设备本体的表面位于矩形板的外侧固定安装有限位块，所述设备本体的表面转动连接有支撑杆，所述支撑杆的内部滑动连接有连接杆，所述连接杆与矩形板转动连接，所述连接杆与支撑杆之间固定安装有第二弹簧；
所述擦拭装置包括滑槽，所述设备本体的表面开设有滑槽，所述滑槽的外侧滑动连接有结构块，所述结构块的外侧转动连接有清洁板，所述清洁板的外侧固定安装有推块，所述设备本体的表面固定安装有放置架；
所述收纳装置包括保护壳，所述设备本体的表面固定安装有保护壳，所述保护壳的表面开设有连通槽，所述保护壳的内部套设有收纳筒，所述收纳筒通过连通槽与保护壳滑动连接，所述收纳筒的外侧固定安装有连接条。
一种芯片老练动态可重构测试装置的使用方法，包括以下步骤：
S1：先将设备本体的检测口打开，然后向下拉动拉环，使拉环带动连接块向下移动，使定位块移出限位块，此时连接杆在第二弹簧的作用下推动矩形板转动，使矩形板平行于地面，松开拉环，使连接块在第一弹簧的作用下推动固定杆向内移动，即可将固定杆推入固定孔内，使矩形板得到固定，即可将存放芯片的盒子放置在矩形板上，然后将芯片安装至设备本体内部进行检测；
S2：芯片安装完成后，可以向外拉动拉环，将固定杆拉出固定孔内，然后向下按动矩形板，使矩形板贴合设备本体，然后松开拉环，连接块会在第一弹簧的作用下推动定位块向上移动，使定位块卡在限位块下方，即可使矩形板得到固定，使矩形板被收纳至设备本体外侧；
S3：在控制面板的过程中可以转动清洁板，使清洁板贴合控制面板的显示器，然后即可推动推块，使推块带动清洁板沿着滑槽上下滑动，使清洁板对控制面板的显示器进行清理，清理完成后，可以转动清洁板，将清洁板转动至放置架所处的一侧，然后向下按动清洁板，即可将清洁板限制在放置架内部，防止清洁板随意转动；
S4：在整个设备本体使用过后，可以向外拉动连接条，将收纳筒拉出保护壳，然后即可将电源线缠绕至收纳筒上，向内推动收纳筒，使收纳筒完全进入保护壳内部，即可使用连接条转动收纳筒，使收纳筒被连通槽限制在保护壳内部，即可完成对电源线的收纳，使电源线得到保护壳的防护。
优选的，所述矩形板的表面固定安装有限位框，所述固定杆的形状与固定孔相适配。
优选的，所述设备本体的表面固定安装有凸块，所述支撑杆通过销轴与凸块转动连接。
优选的，所述支撑杆的内部开设有限位槽，所述连接杆通过限位槽与支撑杆滑动连接。
优选的，所述清洁板通过转轴与结构块转动连接，所述清洁板的内侧固定安装有清洁布。
优选的，所述保护壳的表面开设有缺口，缺口的数量共两组。
与现有技术相比，本发明的优点和积极效果在于，
1、本发明中，通过设置托盘装置，在使用设备本体对芯片进行测量时，可以先将设备本体的检测口打开，然后向下拉动拉环，使拉环带动连接块向下移动，使限位块移出限位块，此时连接杆在第二弹簧的作用下推动矩形板转动，使矩形板平行于地面，松开拉环，使连接块在第一弹簧的作用下推动固定杆向内移动，即可将固定杆推入固定孔内，使矩形板得到固定，即可将存放芯片的盒子放置在矩形板上，方便工作人员从矩形板上拿取芯片，然后安装至设备本体内部进行检测，需要将矩形板收起时，向外拉动拉环，将固定杆拉出固定孔内，然后向下按动矩形板，使矩形板贴合设备本体，然后松开拉环，连接块会在第一弹簧的作用下推动定位块向上移动，使定位块卡在限位块下方，即可使矩形板得到固定，使矩形板被收纳至设备本体外侧，通过设置该托盘装置，方便工作人员在检测的过程中摆放芯片，节省了工作人员弯腰拿取芯片的时间，降低了工作人员的劳动量，提高了工作人员的工作效率。
2、本发明中，通过设置擦拭装置，当控制面板的显示器上粘有灰尘，影响工作人员的查看时，可以转动清洁板，使清洁板贴合控制面板的显示器，然后即可推动推块，使推块带动清洁板沿着滑槽上下滑动，使清洁板对控制面板的显示器进行清理，清理完成后，可以转动清洁板，将清洁板转动至放置架所处的一侧，然后向下按动清洁板，即可将清洁板限制在放置架内部，防止清洁板随意转动，通过设置该清洁装置，方便工作人员快速的对控制面板的显示器进行擦拭，使工作人员能够更加清楚的看到显示器上的内容。
3、本发明中，通过设置收纳装置，当设备本体的电源线过长需要进行收纳时，可以向外拉动连接条，将收纳筒拉出保护壳，然后即可将电源线缠绕至收纳筒上，向内推动收纳筒，使收纳筒完全进入保护壳内部，即可使用连接条转动收纳筒，使收纳筒被连通槽限制在保护壳内部，即可完成对电源线的收纳，使电源线得到保护壳的防护，通过设置该收纳装置，方便工作人员对设备本体的电源线进行整理收纳与保护，大大提高了该装置的实用性。
附图说明
图1为本发明提出一种芯片老练动态可重构测试装置的整体结构示意图；
图2为本发明提出一种芯片老练动态可重构测试装置的正视的结构示意图；
图3为本发明提出一种芯片老练动态可重构测试装置的图2中A处的结构示意图；
图4为本发明提出一种芯片老练动态可重构测试装置的图2中B处的结构示意图；
图5为本发明提出一种芯片老练动态可重构测试装置的侧视的结构示意图；
图6为本发明提出一种芯片老练动态可重构测试装置的图5中C处的结构示意图；
图7为本发明提出一种芯片老练动态可重构测试装置的后视的结构示意图；
图8为本发明提出一种芯片老练动态可重构测试装置的图7中D处的结构示意图。
图例说明：
1、设备本体；2、托盘装置；201、矩形板；202、结构槽；203、连接块；204、第一弹簧；205、定位块；206、固定杆；207、拉环；208、固定孔；209、限位块；210、支撑杆；211、连接杆；212、第二弹簧；3、控制面板；4、擦拭装置；401、滑槽；402、结构块；403、清洁板；404、推块；405、放置架；5、收纳装置；501、保护壳；502、连通槽；503、收纳筒；504、连接条。
具体实施方式
为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点，下面结合附图和实施例对本发明做进一步说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
请参阅图1-8，本发明提供一种芯片老练动态可重构测试装置，包括设备本体1，设备本体1的表面设置有托盘装置2，设备本体1的一侧固定安装有控制面板3，控制面板3的外侧设置有擦拭装置4，设备本体1的另一侧设置有收纳装置5，芯片老练动态可重构测试装置的使用方法由S1-S4构成。
托盘装置2包括矩形板201，设备本体1的外侧转动连接有矩形板201，矩形板201的外侧开设有结构槽202，结构槽202的内部滑动连接有连接块203，连接块203与结构槽202之间固定安装有第一弹簧204，连接块203的外侧固定安装有定位块205，连接块203的表面固定安装有固定杆206，固定杆206的表面转动连接有拉环207，设备本体1的表面开设有固定孔208，设备本体1的表面位于矩形板201的外侧固定安装有限位块209，设备本体1的表面转动连接有支撑杆210，支撑杆210的内部滑动连接有连接杆211，连接杆211与矩形板201转动连接，连接杆211与支撑杆210之间固定安装有第二弹簧212。
本实施方案中，通过设置托盘装置2，在使用设备本体1对芯片进行测量时，可以先将设备本体1的检测口打开，然后向下拉动拉环207，使拉环207带动连接块203向下移动，使限位块209移出限位块209，此时连接杆211在第二弹簧212的作用下推动矩形板201转动，使矩形板201平行于地面，松开拉环207，使连接块203在第一弹簧204的作用下推动固定杆206向内移动，即可将固定杆206推入固定孔208内，使矩形板201得到固定，即可将存放芯片的盒子放置在矩形板201上，方便工作人员从矩形板201上拿取芯片，然后安装至设备本体1内部进行检测，需要将矩形板201收起时，向外拉动拉环207，将固定杆206拉出固定孔208内，然后向下按动矩形板201，使矩形板201贴合设备本体1，然后松开拉环207，连接块203会在第一弹簧204的作用下推动定位块205向上移动，使定位块205卡在限位块209下方，即可使矩形板201得到固定，使矩形板201被收纳至设备本体1外侧，通过设置该托盘装置2，方便工作人员在检测的过程中摆放芯片，节省了工作人员弯腰拿取芯片的时间，降低了工作人员的劳动量，提高了工作人员的工作效率。
具体的，擦拭装置4包括滑槽401，设备本体1的表面开设有滑槽401，滑槽401的外侧滑动连接有结构块402，结构块402的外侧转动连接有清洁板403，清洁板403的外侧固定安装有推块404，设备本体1的表面固定安装有放置架405。
在本实施例中：通过设置擦拭装置4，当控制面板3的显示器上粘有灰尘，影响工作人员的查看时，可以转动清洁板403，使清洁板403贴合控制面板3的显示器，然后即可推动推块404，使推块404带动清洁板403沿着滑槽401上下滑动，使清洁板403对控制面板3的显示器进行清理，清理完成后，可以转动清洁板403，将清洁板403转动至放置架405所处的一侧，然后向下按动清洁板403，即可将清洁板403限制在放置架405内部，防止清洁板403随意转动，通过设置该清洁装置，方便工作人员快速的对控制面板3的显示器进行擦拭，使工作人员能够更加清楚的看到显示器上的内容。
具体的，收纳装置5包括保护壳501，设备本体1的表面固定安装有保护壳501，保护壳501的表面开设有连通槽502，保护壳501的内部套设有收纳筒503，收纳筒503通过连通槽502与保护壳501滑动连接，收纳筒503的外侧固定安装有连接条504。
在本实施例中：通过设置收纳装置5，当设备本体1的电源线过长需要进行收纳时，可以向外拉动连接条504，将收纳筒503拉出保护壳501，然后即可将电源线缠绕至收纳筒503上，向内推动收纳筒503，使收纳筒503完全进入保护壳501内部，即可使用连接条504转动收纳筒503，使收纳筒503被连通槽502限制在保护壳501内部，即可完成对电源线的收纳，使电源线得到保护壳501的防护，通过设置该收纳装置5，方便工作人员对设备本体1的电源线进行整理收纳与保护，大大提高了该装置的实用性。
具体的，矩形板201的表面固定安装有限位框，固定杆206的形状与固定孔208相适配。
在本实施例中：限位框能够限制放置在矩形板201上的盒子，防止存放芯片的盒子从矩形板201上滑落，固定杆206能够插入固定孔208内对矩形板201的位置进行固定。
具体的，设备本体1的表面固定安装有凸块，支撑杆210通过销轴与凸块转动连接。
在本实施例中：凸块能够限制支撑杆210，使支撑杆210能够以凸块为中心转动。
具体的，支撑杆210的内部开设有限位槽，连接杆211通过限位槽与支撑杆210滑动连接。
在本实施例中：限位槽能够限制连接杆211的最大移动距离。
具体的，清洁板403通过转轴与结构块402转动连接，清洁板403的内侧固定安装有清洁布。
在本实施例中：使清洁板403能够转动至清洁布与控制面板3的显示器贴合，使清洁布能够对显示器进行清理。
具体的，保护壳501的表面开设有缺口，缺口的数量共两组。
在本实施例中：使电源线能够通过缺口进入保护壳501内部。
具体的，一种芯片老练动态可重构测试装置的使用方法，包括以下步骤：
S1：先将设备本体1的检测口打开，然后向下拉动拉环207，使拉环207带动连接块203向下移动，使定位块205移出限位块209，此时连接杆211在第二弹簧212的作用下推动矩形板201转动，使矩形板201平行于地面，松开拉环207，使连接块203在第一弹簧204的作用下推动固定杆206向内移动，即可将固定杆206推入固定孔208内，使矩形板201得到固定，即可将存放芯片的盒子放置在矩形板201上，然后将芯片安装至设备本体1内部进行检测；
S2：芯片安装完成后，可以向外拉动拉环207，将固定杆206拉出固定孔208内，然后向下按动矩形板201，使矩形板201贴合设备本体1，然后松开拉环207，连接块203会在第一弹簧204的作用下推动定位块205向上移动，使定位块205卡在限位块209下方，即可使矩形板201得到固定，使矩形板201被收纳至设备本体1外侧。
S3：在控制面板3的过程中可以转动清洁板403，使清洁板403贴合控制面板3的显示器，然后即可推动推块404，使推块404带动清洁板403沿着滑槽401上下滑动，使清洁板403对控制面板3的显示器进行清理，清理完成后，可以转动清洁板403，将清洁板403转动至放置架405所处的一侧，然后向下按动清洁板403，即可将清洁板403限制在放置架405内部，防止清洁板403随意转动；
S4：在整个设备本体1使用过后，可以向外拉动连接条504，将收纳筒503拉出保护壳501，然后即可将电源线缠绕至收纳筒503上，向内推动收纳筒503，使收纳筒503完全进入保护壳501内部，即可使用连接条504转动收纳筒503，使收纳筒503被连通槽502限制在保护壳501内部，即可完成对电源线的收纳，使电源线得到保护壳501的防护。
在本实施例中：方便工作人员更加方便的使用设备本体1。
工作原理：在使用设备本体1对芯片进行测量时，可以先将设备本体1的检测口打开，然后向下拉动拉环207，使拉环207带动连接块203向下移动，使定位块205移出限位块209，此时连接杆211在第二弹簧212的作用下推动矩形板201转动，使矩形板201平行于地面，松开拉环207，使连接块203在第一弹簧204的作用下推动固定杆206向内移动，即可将固定杆206推入固定孔208内，使矩形板201得到固定，即可将存放芯片的盒子放置在矩形板201上，方便工作人员从矩形板201上拿取芯片，然后安装至设备本体1内部进行检测，需要将矩形板201收起时，向外拉动拉环207，将固定杆206拉出固定孔208内，然后向下按动矩形板201，使矩形板201贴合设备本体1，然后松开拉环207，连接块203会在第一弹簧204的作用下推动定位块205向上移动，使定位块205卡在限位块209下方，即可使矩形板201得到固定，使矩形板201被收纳至设备本体1外侧，当控制面板3的显示器上粘有灰尘，影响工作人员的查看时，可以转动清洁板403，使清洁板403贴合控制面板3的显示器，然后即可推动推块404，使推块404带动清洁板403沿着滑槽401上下滑动，使清洁板403对控制面板3的显示器进行清理，清理完成后，可以转动清洁板403，将清洁板403转动至放置架405所处的一侧，然后向下按动清洁板403，即可将清洁板403限制在放置架405内部，防止清洁板403随意转动，当设备本体1的电源线过长需要进行收纳时，可以向外拉动连接条504，将收纳筒503拉出保护壳501，然后即可将电源线缠绕至收纳筒503上，向内推动收纳筒503，使收纳筒503完全进入保护壳501内部，即可使用连接条504转动收纳筒503，使收纳筒503被连通槽502限制在保护壳501内部，即可完成对电源线的收纳，使电源线得到保护壳501的防护。
以上，仅是本发明的较佳实施例而已，并非是对本发明作其它形式的限制，任何熟悉本专业的技术人员可能利用上述揭示的技术内容加以变更或改型为等同变化的等效实施例应用于其它领域，但是凡是未脱离本发明技术方案内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与改型，仍属于本发明技术方案的保护范围。
Claims (6)
1.一种芯片老练动态可重构测试装置，包括设备本体(1)，其特征在于：所述设备本体(1)的表面设置有托盘装置(2)，所述设备本体(1)的一侧固定安装有控制面板(3)，所述控制面板(3)的外侧设置有擦拭装置(4)，所述设备本体(1)的另一侧设置有收纳装置(5)，所述芯片老练动态可重构测试装置的使用方法由S1-S4构成；
所述托盘装置(2)包括矩形板(201)，所述设备本体(1)的外侧转动连接有矩形板(201)，所述矩形板(201)的外侧开设有结构槽(202)，所述结构槽(202)的内部滑动连接有连接块(203)，所述连接块(203)与结构槽(202)之间固定安装有第一弹簧(204)，所述连接块(203)的外侧固定安装有定位块(205)，所述连接块(203)的表面固定安装有固定杆(206)，所述固定杆(206)的表面转动连接有拉环(207)，所述设备本体(1)的表面开设有固定孔(208)，所述设备本体(1)的表面位于矩形板(201)的外侧固定安装有限位块(209)，所述设备本体(1)的表面转动连接有支撑杆(210)，所述支撑杆(210)的内部滑动连接有连接杆(211)，所述连接杆(211)与矩形板(201)转动连接，所述连接杆(211)与支撑杆(210)之间固定安装有第二弹簧(212)；
所述擦拭装置(4)包括滑槽(401)，所述设备本体(1)的表面开设有滑槽(401)，所述滑槽(401)的外侧滑动连接有结构块(402)，所述结构块(402)的外侧转动连接有清洁板(403)，所述清洁板(403)的外侧固定安装有推块(404)，所述设备本体(1)的表面固定安装有放置架(405)；
所述收纳装置(5)包括保护壳(501)，所述设备本体(1)的表面固定安装有保护壳(501)，所述保护壳(501)的表面开设有连通槽(502)，所述保护壳(501)的内部套设有收纳筒(503)，所述收纳筒(503)通过连通槽(502)与保护壳(501)滑动连接，所述收纳筒(503)的外侧固定安装有连接条(504)；
一种芯片老练动态可重构测试装置的使用方法，包括以下步骤：
S1：先将设备本体(1)的检测口打开，然后向下拉动拉环(207)，使拉环(207)带动连接块(203)向下移动，使定位块(205)移出限位块(209)，此时连接杆(211)在第二弹簧(212)的作用下推动矩形板(201)转动，使矩形板(201)平行于地面，松开拉环(207)，使连接块(203)在第一弹簧(204)的作用下推动固定杆(206)向内移动，即可将固定杆(206)推入固定孔(208)内，使矩形板(201)得到固定，即可将存放芯片的盒子放置在矩形板(201)上，然后将芯片安装至设备本体(1)内部进行检测；
S2：芯片安装完成后，可以向外拉动拉环(207)，将固定杆(206)拉出固定孔(208)内，然后向下按动矩形板(201)，使矩形板(201)贴合设备本体(1)，然后松开拉环(207)，连接块(203)会在第一弹簧(204)的作用下推动定位块(205)向上移动，使定位块(205)卡在限位块(209)下方，即可使矩形板(201)得到固定，使矩形板(201)被收纳至设备本体(1)外侧；
S3：在控制面板(3)的过程中可以转动清洁板(403)，使清洁板(403)贴合控制面板(3)的显示器，然后即可推动推块(404)，使推块(404)带动清洁板(403)沿着滑槽(401)上下滑动，使清洁板(403)对控制面板(3)的显示器进行清理，清理完成后，可以转动清洁板(403)，将清洁板(403)转动至放置架(405)所处的一侧，然后向下按动清洁板(403)，即可将清洁板(403)限制在放置架(405)内部，防止清洁板(403)随意转动；
S4：在整个设备本体(1)使用过后，可以向外拉动连接条(504)，将收纳筒(503)拉出保护壳(501)，然后即可将电源线缠绕至收纳筒(503)上，向内推动收纳筒(503)，使收纳筒(503)完全进入保护壳(501)内部，即可使用连接条(504)转动收纳筒(503)，使收纳筒(503)被连通槽(502)限制在保护壳(501)内部，即可完成对电源线的收纳，使电源线得到保护壳(501)的防护。
2.根据权利要求1所述的一种芯片老练动态可重构测试装置，其特征在于：所述矩形板(201)的表面固定安装有限位框，所述固定杆(206)的形状与固定孔(208)相适配。
3.根据权利要求1所述的一种芯片老练动态可重构测试装置，其特征在于：所述设备本体(1)的表面固定安装有凸块，所述支撑杆(210)通过销轴与凸块转动连接。
4.根据权利要求1所述的一种芯片老练动态可重构测试装置，其特征在于：所述支撑杆(210)的内部开设有限位槽，所述连接杆(211)通过限位槽与支撑杆(210)滑动连接。
5.根据权利要求1所述的一种芯片老练动态可重构测试装置，其特征在于：所述清洁板(403)通过转轴与结构块(402)转动连接，所述清洁板(403)的内侧固定安装有清洁布。
6.根据权利要求1所述的一种芯片老练动态可重构测试装置，其特征在于：所述保护壳(501)的表面开设有缺口，缺口的数量共两组。
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Citations (6)
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|---|---|---|---|---|
| GB1357218A (en) * | 1970-07-17 | 1974-06-19 | Emhart Corp | Tray forming apparatus |
| CN109489708A (zh) * | 2018-09-13 | 2019-03-19 | 深圳市卓精微智能机器人设备有限公司 | 一种一体式的蓝牙自动测试系统 |
| CN210101646U (zh) * | 2019-04-24 | 2020-02-21 | 长春职业技术学院 | 一种高铁用折叠桌板 |
| CN210181163U (zh) * | 2018-11-14 | 2020-03-24 | 深圳市建滔科技有限公司 | 一种新型智慧家电ai芯片测试装置 |
| CN211294999U (zh) * | 2020-03-17 | 2020-08-18 | 宁波第二技师学院 | 一种电子自动开关 |
| CN111624464A (zh) * | 2020-05-18 | 2020-09-04 | 马鞍山芯海科技有限公司 | 一种芯片测试装置及芯片测试方法 |
-
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Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1357218A (en) * | 1970-07-17 | 1974-06-19 | Emhart Corp | Tray forming apparatus |
| CN109489708A (zh) * | 2018-09-13 | 2019-03-19 | 深圳市卓精微智能机器人设备有限公司 | 一种一体式的蓝牙自动测试系统 |
| CN210181163U (zh) * | 2018-11-14 | 2020-03-24 | 深圳市建滔科技有限公司 | 一种新型智慧家电ai芯片测试装置 |
| CN210101646U (zh) * | 2019-04-24 | 2020-02-21 | 长春职业技术学院 | 一种高铁用折叠桌板 |
| CN211294999U (zh) * | 2020-03-17 | 2020-08-18 | 宁波第二技师学院 | 一种电子自动开关 |
| CN111624464A (zh) * | 2020-05-18 | 2020-09-04 | 马鞍山芯海科技有限公司 | 一种芯片测试装置及芯片测试方法 |
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