CN214041641U - 一种电子检测治具 - Google Patents
一种电子检测治具 Download PDFInfo
- Publication number
- CN214041641U CN214041641U CN202022787831.1U CN202022787831U CN214041641U CN 214041641 U CN214041641 U CN 214041641U CN 202022787831 U CN202022787831 U CN 202022787831U CN 214041641 U CN214041641 U CN 214041641U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- module
- control module
- electronic
- power supply
- connector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Abstract
本实用新型公开了一种电子检测治具,包括:固定模块、供电控制模块、电子测试模块和显示控制模块。供电控制模块固定在固定模块上,供电控制模块的侧面设置第一信号转接组件;电子测试模块固定在固定模块上,电子测试模块的侧面设置第一连接组件,第一信号转接组件与第一连接组件电性连接;显示控制模块固定在固定模块上,显示控制模块分别与电子测试模块和供电控制模块电性连接。本实用新型的电子检测治具能够降低生产装配和维护过程耗费的时间。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子测试装置技术领域,特别涉及一种电子检测治具。
背景技术
现有的电子测试治具都采用整体式结构设计,尤其是手机芯片测试治具。在电子测试治具的制作阶段:在生产装配电子测试治具的过程中,使用整体式结构设计,每一次设计都需要重新排布电子测试治具的布局,需要耗费较多的时间;整体式结构设计的零部件制造过程中,每一个零件都需要机械加工,需要耗费大量设备时间;在整体式结构设计的电子测试治具的组装过程中,由于每次组装的电子测试治具的结构不同,员工需要认真查看装配结构图,花费较多时间;对电子测试治具内部的接线需要员工根据不同的结构关系,自行测量并定义接线的对应关系,耗费较多时间。
在电子测试治具的维护阶段:整体式结构设计的电子测试治具的维护工作对操作人员的技能有较高的要求,一般需要返厂保修,物流耗费时间较长;整体式结构设计的电子测试治具维护前,需要拆机,并且更换配件时,还需要重新梳理配件之间的接线,耗费较多时间。综上,现有的整体式结构设计的电子测试治具在生产装配和维护过程中都需要耗费大量时间。
实用新型内容
本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本实用新型提出一种电子检测治具,能够降低生产装配和维护过程耗费的时间。
根据本实用新型实施例的电子检测治具,包括:固定模块;供电控制模块,安装在所述固定模块上,所述供电控制模块的侧面设置第一信号转接组件;电子测试模块,安装在所述固定模块上,所述电子测试模块的侧面设置第一连接组件,所述第一信号转接组件与所述第一连接组件电性连接;显示控制模块,安装在所述固定模块上,所述显示控制模块分别与所述电子测试模块和所述供电控制模块电性连接。
根据本实用新型实施例的电子检测治具,至少具有如下有益效果:电子检测治具根据功能划分为固定模块、供电控制模块、电子测试模块、显示控制模块,这四种模块中,供电控制模块是标准模块,可以应用多种电子检测治具,其余为非标准模块。非标准模块可以根据实际需求,更换非标准模块的部分零件,而不需要重新设计。电子检测治具根据功能模块化设计,减少对布局的要求,减少需要机械加工的零件。并且使用不同的模块的电子检测治具的结构基本一致,减少了装配时间。电子检测治具维护时,可以更换损坏的模块,减少了对专业技能的要求,减少了维护过程耗费的时间。
根据本实用新型的一些实施例,所述第一信号转接组件包括第一基板、第一连接器和第二连接器,所述第一连接器与所述第二连接器都安装在所述第一基板上,便于各个模块之间的电性连接。
根据本实用新型的一些实施例,所述第一连接组件包括第二基板、第三连接器和插针,所述插针和所述第三连接器分别安装在所述第二基板的上下两侧,便于电子测试模块对外电性连接。
根据本实用新型的一些实施例,所述电子测试模块的侧面还设置第二连接组件,所述第二连接组件的结构与所述第一连接组件的结构相同,所述显示控制模块的侧面设置第二信号转接组件,所述第二信号转接组件的结构与所述第一信号转接组件的结构相同,所述第二信号转接组件分别与所述第一信号转接组件和所述第二连接组件电性连接,便于显示控制模块对外电性连接。
根据本实用新型的一些实施例,所述电子检测治具还包括信号引出模块,所述信号引出模块的侧面设置第三信号转接组件,所述信号引出模块的顶部设置第一接口,所述显示控制模块设置有第二接口,所述电子测试模块的侧面还设置第二连接组件,所述第三信号转接组件与所述第二连接组件电性连接,所述显示控制模块的第二接口与所述信号引出模块的第一接口电性连接,便于电子测试模块和与第二连接组件不匹配的显示控制模块电性连接。
根据本实用新型的一些实施例,所述第三信号转接组件包括第三基板和第四连接器,所述第四连接器安装在所述第三基板上,便于电子测试模块与信号引出模块电性连接。
根据本实用新型的一些实施例,所述电子测试模块包括:压头组件、上盖组件、探针组件、PCB主板组件和底框组件,所述上盖组件上设置有安装部,所述压头组件安装在所述安装部的上侧,所述探针组件安装在所述安装部的下侧,所述上盖组件安装在所述底框组件的上侧,所述PCB主板组件安装在所述底框组件与所述上盖组件之间,便于替换零件。
根据本实用新型的一些实施例,所述底框组件设置有若干个通孔,便于减小电子测试模块的重量。
根据本实用新型的一些实施例,所述固定模块的上侧设置有第一凹槽和第二凹槽,所述第一凹槽适配于所述供电控制模块,所述第一凹槽用于放置所述供电控制模块,所述第二凹槽适配于所述电子测试模块,所述第二凹槽用于放置所述电子测试模块,便于装配。
根据本实用新型的一些实施例,所述供电控制模块的底部设置有电池盒,所述供电控制模块的顶部设置有第三接口和开关,所述第三接口内设置导电件,所述开关分别与所述导电件和所述电池盒电性连接,便于外接供电或电池供电。
本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本实用新型的实践了解到。
附图说明
本实用新型的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:
图1为本实用新型实施例的电子检测治具的结构示意图;
图2为图1所示的电子检测治具的爆炸图;
图3为图2所示的电子检测治具的电子测试模块的爆炸图;
图4为图1所示的电子检测治具的第一信号转接组件的结构示意图;
图5为图3所示的电子测试模块的第一连接组件的结构示意图;
图6为图1所示的电子检测治具的柔性排线的结构示意图。
附图标记如下:
供电控制模块100、第三接口110、开关120;
电子测试模块200、上盖组件210、安装部211、第一防尘盒212、指纹感应器213、第二防尘盒214、压头组件220、探针组件230、PCB主板组件240、底框组件250、插入口260;
第一连接组件270、第二基板271、第三连接器272、插针273、第二焊盘274、第二连接组件280;
显示控制模块300、第二接口310、固定模块400、第一凹槽410、第二凹槽420、平整部430、信号引出模块500、第一接口510;
第一信号转接组件600、第一基板610、第一连接器620、第二连接器630、第一焊盘640、柔性排线700。
具体实施方式
下面详细描述本实用新型的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本实用新型,而不能理解为对本实用新型的限制。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,涉及到方位描述,例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
在本实用新型的描述中,若干的含义是一个或者多个,多个的含义是两个及两个以上,大于、小于、超过等理解为不包括本数,以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
本实用新型的描述中,除非另有明确的限定,设置、安装、连接等词语应做广义理解,所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本实用新型中的具体含义。
在本实用新型的描述中,第一连接器620、第二连接器630、第三连接器272和第四连接器统称连接器。
参照图1,电子检测治具,包括:固定模块400、供电控制模块100、电子测试模块200和显示控制模块300。供电控制模块100安装在固定模块400上,供电控制模块100的侧面设置第一信号转接组件600;电子测试模块200安装在固定模块400上,电子测试模块200的侧面设置第一连接组件270,第一信号转接组件600与第一连接组件270电性连接;显示控制模块300安装在固定模块400上,显示控制模块300分别与电子测试模块200和供电控制模块100电性连接。
具体地,将电子检测治具根据功能模块化,划分为固定模块400、供电控制模块100、电子测试模块200和显示控制模块300。供电控制模块100为电子测试模块200和显示控制模块300供电;固定模块400用于固定供电控制模块100、电子测试模块200和显示控制模块300;显示控制模块300用于显示电子测试模块200的数据以及对电子测试模块200的控制;电子测试模块200用于测试手机芯片、平板芯片或PCB芯片等电子芯片。
供电控制模块100是标准模块,标准模块是指可以直接用来装配为新的电子检测治具的模块。例如,测试手机芯片的测试治具,供电部分可以直接用供电控制模块100,而不需要对供电控制模块100修改。固定模块400、电子测试模块200和显示控制模块300是非标准模块,非标准模块是指根据测试的芯片的不同,需要修改部分零件的模块。例如,检测带有指纹感应功能的芯片,电子测试模块200可以增加指纹感应器213;或者,电子测试模块200的尺寸作出了修改,固定模块400可以对放置电子测试模块200的部分做出修改,以匹配修改后的电子测试模块200;再或者,显示控制模块300需要与移动终端连接,可以在显示控制模块300的侧面增加与移动终端相匹配的接口。
第一信号转接组件600和第一连接组件270是标准组件,可以直接安装并应用于各个功能模块中。例如,供电控制模块100安装第一信号转接组件600;或者,电子测试模块200安装第一连接组件270。将标准组件安装在相应的功能模块中,各个功能模块可以通过标准组件直接连接,减少接线的时间。
电子检测治具根据功能模块化,在装配过程中,可以根据需要的功能,把相应的功能模块连接在一起,并固定在固定模块400上,组成电子检测治具对于减少了装配时间。对于非标准模块,根据实际需求,可以对部分零件做出修改,得到需要的功能模块,减少了零件的机械加工的时间。在维护阶段,可以直接替换损坏的功能模块,减少了维护的时间,还减少了对操作人员的专业技能的要求。
需要说明的是,功能模块是标准模块和非标准模块的统称。
参照图1和图2,在本实用新型的一些实施例中,电子检测治具还包括信号引出模块500,信号引出模块500的侧面设置第三信号转接组件(图中未示出),信号引出模块500的顶部设置第一接口510,显示控制模块300设置有第二接口310,电子测试模块200的侧面还设置第二连接组件280,第三信号转接组件与第二连接组件280电性连接,显示控制模块300的第二接口310与信号引出模块500的第一接口510电性连接。
具体地,显示控制模块300通过信号引出模块500与电子测试模块200电性连接。显示控制模块300的第二接口310与电子测试模块200的第二连接组件280不匹配,不能直接连接,显示控制模块300的第二接口310需要与信号引出模块500的第一接口510电性连接,信号引出模块500的第三信号转接组件与电子测试模块200的第二连接组件280电性连接,便于电子测试模块200和与连接器不匹配的显示控制模块300电性连接。
需要说明的是,信号引出模块500是标准模块,第一接口510的数量与连接器的引脚数量相同。
需要说明的是,参照图3,第一连接组件270和第二连接组件280安装在PCB主板组件240的上侧,但是,参照图2,对于电子测试模块200来说,第一连接组件270和第二连接组件280是设置在电子测试模块200的侧面的,以便于电子测试模块200与另外的功能模块连接。
在本使用新型的另一些实施例中,第三信号转接组件包括第三基板和第四连接器,第四连接器安装在第三基板上。具体地,信号引出模块500的作用是将与连接器不匹配的设备与具有连接器的功能模块连接,安装了第三信号转接组件的信号引出模块500,便于将设备与功能模块连接。
参照图2,在本实用新型的一些实施例中,固定模块400的上侧设置有第一凹槽410和第二凹槽420,第一凹槽410适配于供电控制模块100,第一凹槽410用于放置供电控制模块100,第二凹槽420适配于电子测试模块200,第二凹槽420用于放置电子测试模块200。
具体地,在固定模块400上设置第一凹槽410和第二凹槽420,将固定模块400区分为平整部430、第一凹槽410和第二凹槽420。第一凹槽410适配于供电控制模块100是指:第一凹槽410的每一条边长与供电控制模块100的每一条边长都一一对应,即第一凹槽410的形状和尺寸与供电控制模块100的形状和尺寸相同。第二凹槽420适配于电子测试模块200是指:第二凹槽420的每一条边长与电子测试模块200的每一条边长都一一对应,即第二凹槽420的形状和尺寸与电子测试模块200的形状和尺寸相同。
装配过程中,将供电控制模块100固定在第一凹槽410,将电子测试模块200固定在第二凹槽420,将显示控制模块300和信号引出模块500固定在平整部430,有利于减少结构布局的时间,从而减少生产装配的时间。
参照图1和图2,在本实用新型的一些实施例中,供电控制模块100的底部设置有电池盒(图中未示出),供电控制模块100的顶部设置有第三接口110和开关120,第三接口110内设置导电件(图中未示出),开关120分别与导电件和电池盒电性连接。
具体地,供电控制模块100设置电池盒,可以使用电池供电;供电控制模块100设置第三接口110,可以通过外接电源供电。供电控制模块100设置开关120,开关120分别与电池盒和第三接口110的导电件电性连接,实现对电池供电和外接供电的模式切换功能,以便于根据实际需求选择供电方式。
参照图3,在本实用新型的一些实施例中,电子测试模块200包括:压头组件220、上盖组件210、探针组件230、PCB主板组件240和底框组件250,上盖组件210上设置有安装部211,压头组件220安装在安装部211的上侧,探针组件230安装在安装部211的下侧,上盖组件210安装在底框组件250的上侧,PCB主板组件240安装在底框组件250与上盖组件210之间。
具体地,压头组件220安装在上盖组件210的安装部211的上侧,压头组件220可以通过卡扣安装在安装部211的上侧,也可以通过螺丝安装在安装部211的上侧。探针组件230安装在上盖组件210的安装部211的下侧,探针组件230可以通过卡扣安装在安装部211的下侧,也可以通过螺丝安装在安装部211的下侧。上盖组件210可以通过卡扣或螺丝安装在底框组件250的上侧,PCB主板组件240可以通过螺丝安装在上盖组件210和底框组件250之间。
探针组件230具有一定弹性,压头组件220用于将探针组件230下压,使探针组件230与PCB主板组件240接触进行电信号导通测试,进而实现电子测试功能。电子测试模块200可以根据实际需求,替换压头组件220、上盖组件210、探针组件230、PCB主板组件240或底框组件250,而不需要替换所有组件,以实现对不同电子芯片的测试功能,有利于减少零件的机械加工时间。
参照图3,在本实用新型的一些实施例中,电子测试模块200的侧面还设置第二连接组件280,第二连接组件280的结构与第一连接组件270的结构相同,显示控制模块300的侧面设置第二信号转接组件(图中未示出),第二信号转接组件的结构与第一信号转接组件600的结构相同,第二信号转接组件分别与第一信号转接组件600和第二连接组件280电性连接。
具体地,电子测试模块200的侧面设置第二连接组件280,显示控制模块300的侧面设置第二信号转接组件,便于电子测试模块200与显示控制模块300电性连接。第二信号转接组件的结构与第一信号转接组件600的结构相同,便于显示控制模块300与供电控制模块100电性连接。
需要说明的是,第二连接组件280和第二信号转接组件是标准组件,可以直接安装并应用于各个功能模块中。
参照图1至图3,在本实用新型的一些实施例中,上盖组件210设置有第一防尘盒212与第二防尘盒214,第一防尘盒212位于第一连接组件270的上方,第二防尘盒214位于第二连接组件280的上方。具体地,第一防尘盒212用于避免第一连接组件270上的插针273积灰,以便于避免接触不良,第二防尘盒214用于避免第二连接组件280上的插针273积灰,以避免接触不良。
参照图1至图3,在本实用新型的一些实施例中,上盖组件210设置有指纹感应器213。具体地,需要测试电子芯片关于指纹方面的功能时,可以在上盖组件210增加指纹感应器213,用于录入或检测指纹,以便于测试电子芯片关于指纹方面的功能。
参照图1至图3,在本实用新型的一些实施例中,上盖组件210的侧面设置有插入口260。具体地,对于需要测试电子芯片关于SIM卡方面的功能时,可以在上盖组件210的侧面增加插入口260,用于插入SIM卡,以便于检测电子芯片关于SIM卡方面的功能。
参照图3,在本实用新型的一些实施例中,底框组件250设置有若干个通孔。具体地,底框组件250在固定PCB主板组件240和上盖组件210的前提下,设置四个通孔,以便于减少电子测试模块200的重量,同时增加透光效果。
需要说明的是,通孔的数量设置为四个,只是为了说明效果,因此不能作为本实用新型的限制。可以理解的是,根据实际需求,还可以设置为一个、两个、三个或五个以上。
参照图4,在本实用新型的一些实施例中,第一信号转接组件600包括第一基板610、第一连接器620和第二连接器630,第一连接器620与第二连接器630都安装在第一基板610的上侧。具体地,第一信号组件设置第一连接器620和第二连接器630,有利于安装有连接器的功能模块与安装有第一信号转接组件600的功能模块连接,实现输入或输出的功能。
需要说明的是,第一基板610上还设置有第一焊盘640,第一焊盘640与第一连接器620或第二连接器630连接。第一信号转接组件600安装在功能模块上时,便于功能模块与第一连接器620和第二连接器630通过第一焊盘640连接,实现将第一信号转接组件600作为功能模块的对外连接端口。
需要说明的是,第一连接器620的结构与第二连接器630的结构相同。
参照图5,在本实用新型的一些实施例中,第一连接组件270包括第二基板271、第三连接器272和插针273,插针273安装在第二基板271的上侧,第三连接器272安装在第二基板271的下侧。具体地,第二基板271用于固定第三连接器272和插针273,第三连接器272的结构与第一连接器620的结构相同,便于安装第一连接组件270的功能模块与安装有连接器的功能模块连接;插针273安装在第二基板271的上侧,便于安装第一连接组件270的功能模块与外设连接。
需要说明的是,外设是指不能通过连接器和功能模块连接,但可以通过插针273和功能模块连接的装置。
需要说明的是,第一连接组件270还设置第二焊盘274,功能模块可以通过第二焊盘274与第一连接组件270的第三连接器272连接。
参照图6,在本实用新型的一些实施例中,电子检测治具还包括柔性排线700。具体地,多个设置有连接器的功能模块之间使用柔性排线700来电性连接。例如,供电控制模块100与电子测试模块200通过柔性排线700连接;或者,信号引出模块500与电子测试模块200通过柔性排线700连接。通过柔性排线700来连接有利于节约连接空间。
上面结合附图对本实用新型实施例作了详细说明,但是本实用新型不限于上述实施例,在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内,还可以在不脱离本实用新型宗旨的前提下作出各种变化。
Claims (10)
1.一种电子检测治具,其特征在于,包括:
固定模块;
供电控制模块,安装在所述固定模块上,所述供电控制模块的侧面设置第一信号转接组件;
电子测试模块,安装在所述固定模块上,所述电子测试模块的侧面设置第一连接组件,所述第一信号转接组件与所述第一连接组件电性连接;
显示控制模块,安装在所述固定模块上,所述显示控制模块分别与所述电子测试模块和所述供电控制模块电性连接。
2.根据权利要求1所述的电子检测治具,其特征在于,所述第一信号转接组件包括第一基板、第一连接器和第二连接器,所述第一连接器与所述第二连接器都安装在所述第一基板上。
3.根据权利要求1所述的电子检测治具,其特征在于,所述第一连接组件包括第二基板、第三连接器和插针,所述插针和所述第三连接器分别安装在所述第二基板的上下两侧。
4.根据权利要求1至3任一项所述的电子检测治具,其特征在于,所述电子测试模块的侧面还设置第二连接组件,所述第二连接组件的结构与所述第一连接组件的结构相同,所述显示控制模块的侧面设置第二信号转接组件,所述第二信号转接组件的结构与所述第一信号转接组件的结构相同,所述第二信号转接组件分别与所述第一信号转接组件和所述第二连接组件电性连接。
5.根据权利要求1所述的电子检测治具,其特征在于,所述一种电子检测治具还包括信号引出模块,所述信号引出模块的侧面设置第三信号转接组件,所述信号引出模块的顶部设置第一接口,所述显示控制模块设置有第二接口,所述电子测试模块的侧面还设置第二连接组件,所述第三信号转接组件与所述第二连接组件电性连接,所述显示控制模块的第二接口与所述信号引出模块的第一接口电性连接。
6.根据权利要求5所述的电子检测治具,其特征在于,所述第三信号转接组件包括第三基板和第四连接器,所述第四连接器安装在所述第三基板上。
7.根据权利要求1所述的电子检测治具,其特征在于,所述电子测试模块包括:压头组件、上盖组件、探针组件、PCB主板组件和底框组件,所述上盖组件上设置有安装部,所述压头组件安装在所述安装部的上侧,所述探针组件安装在所述安装部的下侧,所述上盖组件安装在所述底框组件的上侧,所述PCB主板组件安装在所述底框组件与所述上盖组件之间。
8.根据权利要求7所述的电子检测治具,其特征在于,所述底框组件设置有若干个通孔。
9.根据权利要求1所述的电子检测治具,其特征在于,所述固定模块的上侧设置有第一凹槽和第二凹槽,所述第一凹槽适配于所述供电控制模块,所述第一凹槽用于放置所述供电控制模块,所述第二凹槽适配于所述电子测试模块,所述第二凹槽用于放置所述电子测试模块。
10.根据权利要求1所述的电子检测治具,其特征在于,所述供电控制模块的底部设置有电池盒,所述供电控制模块的顶部设置有第三接口和开关,所述第三接口内设置导电件,所述开关分别与所述导电件和所述电池盒电性连接。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202022787831.1U CN214041641U (zh) | 2020-11-26 | 2020-11-26 | 一种电子检测治具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202022787831.1U CN214041641U (zh) | 2020-11-26 | 2020-11-26 | 一种电子检测治具 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN214041641U true CN214041641U (zh) | 2021-08-24 |
Family
ID=77362956
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202022787831.1U Active CN214041641U (zh) | 2020-11-26 | 2020-11-26 | 一种电子检测治具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN214041641U (zh) |
-
2020
- 2020-11-26 CN CN202022787831.1U patent/CN214041641U/zh active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20120299614A1 (en) | Test socket with a rapidly detachable electrical connection module | |
KR100826257B1 (ko) | 휴대전자기기용 에프피씨비 검사장치 | |
CN214041641U (zh) | 一种电子检测治具 | |
CN115932550B (zh) | 一种半导体测试装置 | |
CN213633714U (zh) | 一种用于柔性线路板的射频测试探针模块 | |
CN210514535U (zh) | 一种电路板的新型测试结构 | |
CN212341382U (zh) | 一种方口usb接口自动插拔测试装置 | |
CN113702803A (zh) | 应用于多种触控产品的检测装置和检测方法 | |
CN210514528U (zh) | Pcba副板功能测试装置 | |
CN219016512U (zh) | 兼容多种电路板的测试设备 | |
CN217404464U (zh) | Pcb板视觉检测装置 | |
CN215263868U (zh) | 一种弹簧式免装夹pcb板测试结构 | |
CN212622932U (zh) | 一种pcb生产表面元器件缺损检测装置 | |
CN218037585U (zh) | 一种液晶屏测试装置 | |
CN213633702U (zh) | 相机主板测试设备 | |
CN220382365U (zh) | 连接器组件及板间连接器模组 | |
CN220419395U (zh) | 适用于高精自动测试机台的电子卡板检测装置 | |
CN220340344U (zh) | 一种pcb主板信号的功能模块板测试装置 | |
CN220419496U (zh) | 一种无线性能测试设备 | |
CN220545101U (zh) | 一种用于测试光模块与交换机通讯的测试装置及系统 | |
CN219016874U (zh) | 功能卡替换装置及测试服务器 | |
CN216216951U (zh) | 一种基于通讯器的通讯质量检测装置 | |
CN219810973U (zh) | 一种测试转接模组 | |
CN215297440U (zh) | 一种测试治具 | |
CN218916767U (zh) | 显示模组测试设备和测试系统 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |