CN213987478U - 测试系统及测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种测试系统及测试设备。该相位变换器包括：多个测试接口，多个测试接口用于与待测试设备的多个通信接口一一对应连接；一个测试电源，所述测试电源用于提供测试电信号；测试导通装置，所述测试导通装置的第一端分别与所述多个测试接口电连接，所述测试导通装置的第二端与所述测试电源电连接，所述测试导通装置用于导通目标测试接口和所述测试电源之间的测试通路，以使所述测试电信号通过导通的测试通路传输至目标测试接口对应连接的通信接口，所述目标测试接口为多个测试接口中的至少一个。该测试系统可以降低对一个设备的多个通信接口进行测试的成本。该测试设备包括该测试系统。

Description

测试系统及测试设备

技术领域

本实用新型涉及设备测试技术领域，特别是涉及一种测试系统及测试设备。

背景技术

随著物联网的兴起，设备与设备连接的主从关系从一对一通信，到一对多通信，甚至多对多的通信情况下，对于生产测试过程变得更为复杂。

目前，对一个设备的多个通信接口进行测试时，每个通信接口都需要配置一个测试电源，例如每个通信接口都配置一个恒流源进行标定电流的测试。因此，当需要对一个设备的多个通信接口进行测试时，需要有多个测试电源。

然而，对一个设备的多个通信接口进行测试需要有多个测试电源，对一个设备的多个通信接口进行测试所需要的成本较高。

实用新型内容

基于此，有必要提供一种可以降低对一个设备的多个通信接口进行测试的成本的测试系统及测试设备。

一种测试系统，包括：

多个测试接口，多个测试接口用于与待测试设备的多个通信接口一一对应连接；

一个测试电源，所述测试电源用于提供测试电信号；

测试导通装置，所述测试导通装置的第一端分别与所述多个测试接口电连接，所述测试导通装置的第二端与所述测试电源电连接，所述测试导通装置用于导通目标测试接口和所述测试电源之间的测试通路，以使所述测试电信号通过导通的测试通路传输至目标测试接口对应连接的通信接口，所述目标测试接口为多个测试接口中的至少一个。

在其中一个实施例中，所述测试导通装置包括：

多个测试导通开关，多个测试导通开关分别与多个测试接口一一对应连接，每个测试导通开关的第一端与对应的测试接口电连接，每个测试导通开关的第二端与测试电源电连接，所述测试导通开关用于导通对应连接的测试接口和所述测试电源之间的测试通路。

在其中一个实施例中，所述测试导通开关包括继电器，所述继电器用于在闭合时导通对应连接的测试接口和所述测试电源之间的测试通路。

在其中一个实施例中，还包括：

采集接口，所述采集接口与所述待测试设备的测试输出接口电连接，所述采集接口用于采集所述测试输出接口输出的输出电信号，所述输出电信号通过所述测试电信号在所述待测试设备内转化得到。

在其中一个实施例中，所述测试电源包括测试恒流源和测试恒压源中的至少一种；

当所述测试电源包括测试恒流源时，所述测试电信号包括测试恒流信号；

当所述测试电源包括测试恒压源时，所述测试电信号包括测试恒压信号。

在其中一个实施例中，还包括：

控制装置，所述控制装置的控制端与所述测试导通装置的第二端电连接，所述控制装置用于控制所述测试导通装置导通目标测试接口和所述测试电源之间的测试通路。

在其中一个实施例中，当所述测试导通装置包括多个测试导通开关时，所述控制端为多个，多个控制端与多个测试导通开关的第二端一一对应连接；

所述控制装置用于控制至少一个所述控制端发送导通信号，接收到所述导通信号的测试导通开关导通对应连接的测试接口和所述测试电源之间的测试通路。

在其中一个实施例中，还包括：

电平转换装置，所述电平转换装置的一端与所述控制端电连接，所述电平转换装置的另一端分别与多个接口测试电连接，所述电平转换装置用于对所述控制端和所述测试接口之间的工作电平进行转换。

在其中一个实施例中，还包括：

晶体振荡器，所述晶体振荡器与所述控制装置电连接，所述晶体振荡器用于稳定所述控制端发送的导通信号。

一种测试设备，包括如上述的测试系统。

上述的测试系统及测试设备，通过测试导通装置导通测试接口和测试电源之间的测试通路，从而利用一个测试电源对多个通信接口进行测试，对于一个设备的多个通信接口进行测试时只需要一个测试电源即可完成，相较于每个通信接口都需要配置一个测试电源，实现了降低对一个设备的多个通信接口进行测试的成本。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或传统技术中的技术方案，下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是一个实施例提供的一种测试系统的结构示意图；

图2是一个实施例提供的另一种测试系统的结构示意图；

图3是一个实施例提供的另一种测试系统的结构示意图；

图4是一个实施例提供的另一种测试系统的结构示意图。

元件标号说明：采集接口：170；测试导通开关：131；测试导通装置：130；测试电源：120；测试接口：110；待测试设备：200；电平转换装置：150；晶体振荡器：160；控制装置：140；通信接口：210；测试输出接口：220。

具体实施方式

为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的实施例。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使本申请的公开内容更加透彻全面。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请。

可以理解，本申请所使用的术语“第一”、“第二”等可在本文中用于描述各种元件，但这些元件不受这些术语限制。这些术语仅用于将第一个元件与另一个元件区分。举例来说，在不脱离本申请的范围的情况下，可以将第一电阻称为第二电阻，且类似地，可将第二电阻称为第一电阻。第一电阻和第二电阻两者都是电阻，但其不是同一电阻。

可以理解，以下实施例中的“连接”，如果被连接的电路、模块、单元等相互之间具有电信号或数据的传递，则应理解为“电连接”、“通信连接”等。

在此使用时，单数形式的“一”、“一个”和“所述/该”也可以包括复数形式，除非上下文清楚指出另外的方式。还应当理解的是，术语“包括/包含”或“具有”等指定所陈述的特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的存在，但是不排除存在或添加一个或更多个其他特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的可能性。同时，在本说明书中使用的术语“和/或”包括相关所列项目的任何及所有组合。

参考图1，图1是一个实施例提供的一种测试系统的结构示意图。在一个实施例中，如图1所示，提供了一种测试系统，包括多个测试接口110、一个测试电源120和测试导通装置130，其中：

多个测试接口110用于与待测试设备200的多个通信接口210一一对应连接。所述测试电源120用于提供测试电信号。所述测试导通装置130的第一端分别与所述多个测试接口110电连接，所述测试导通装置130的第二端与所述测试电源120电连接，所述测试导通装置130用于导通目标测试接口110和所述测试电源120之间的测试通路，以使所述测试电信号通过导通的测试通路传输至目标测试接口110对应连接的通信接口210，所述目标测试接口110为多个测试接口110中的至少一个。

在本实施例中，待测试设备200为具备两个以上通信接口210的设备，例如物联网设备等。待测试设备200的多个通信接口210可以是待测试设备200 的全部或部分接口，可以根据需要设置，此处不作限定。可选的，本实例的通信接口210包括但不限于USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)通信接口210、RS485(Remote Sensing 485，半双工)通信接口210、RS422(Remote Sensing 422，全双工)通信接口210、RS232(RemoteSensing 232，点对点) 通信接口210。

具体的，测试电源120提供测试电信号，当测试导通装置130导通目标测试接口110和测试电源120之间的测试通路时，测试电信号则通过导通的测试通路传递至目标测试接口110，由于测试接口110是与通信接口210一一对应连接，因此测试电信号可以通过通信接口210进入待测试设备200，从而对待测试设备200的标定参数进行测试。当测试电信号进入待测试设备200后，待测试设备200将测试电信号转化成输出电信号，则根据输出电信号可以确定待测试设备200的标定参数。需要说明的是，输出电信号的采集可以在本测试系统完成，也可以在其他系统完成，此处不作限制。

在本实施例中，通过测试导通装置130导通测试接口110和测试电源120 之间的测试通路，从而利用一个测试电源120对多个通信接口210进行测试，对于一个设备的多个通信接口210进行测试时只需要一个测试电源120即可完成，相较于每个通信接口210都需要配置一个测试电源120，降低了对一个设备的多个通信接口210进行测试的成本。

需要说明的是，本实施例的测试接口110与通信接口210相互匹配。相互匹配是指测试接口110与通信接口210在结构上可以插拔，且采用通信协议一致。例如，当通信接口210为USB通信接口210时，USB通信接口210对应连接的测试接口110也是采用USB通信协议。

在一个实施例中，测试电源120包括测试恒流源和测试恒压源中的至少一种。当所述测试电源120包括测试恒流源时，所述测试电信号包括测试恒流信号；当所述测试电源120包括测试恒压源时，所述测试电信号包括测试恒压信号。

其中，测试恒流源的恒定电流大小可以根据需要设置，此处不作限定。同理，测试恒压源的恒定电压大小可以根据需要设置，此处不作限定。

需要说明的是，当测试电压包括测试恒流源和测试恒压源时，在进行测试的过程中，测试恒流源和测试恒压源的其中一个处于工作状态，其中另一个处于休眠状态。当测试恒流信号进入待测试设备200后，待测试设备200输出的输出电信号包括输出电流信号；当测试恒压信号进入待测试设备200后，待测试设备200输出的输出电信号则包括输出电压信号。

参考图2，图2是一个实施例提供的另一种测试系统的结构示意图。在一个实施例中，如图2所示，测试导通装置130包括多个测试导通开关131，其中：

多个测试导通开关131分别与多个测试接口110一一对应连接，每个测试导通开关131的第一端与对应的测试接口110电连接，每个测试导通开关131 的第二端与测试电源120电连接，所述测试导通开关131用于导通对应连接的测试接口110和所述测试电源120之间的测试通路。

具体的，多个测试导通开关131分别与多个测试接口110一一对应连接，则需要对其中一个通信接口210进行测试时，则将需要测试的目标通信接口210 所在的测试通路上的测试导通开关131闭合，从而使测试导通开关131导通目标通信接口210对应连接的测试接口110和测试电源120之间的测试通路。

在本实施例中，通过设置多个测试导通开关131分别与多个测试接口110 一一对应连接，每一个测试通路的导通都是独立，即使其中一个测试导通开关 131损坏，其他测试导通开关131也可以正常使用，即还可以继续测试其他通信接口210，提高了测试系统的测试稳定性。

需要说明的是，本实施例的测试导通开关131可以是单刀单掷开关、继电器等可以实现导通或隔断测试通路功能的器件，本实施例不作限定。

在另一个实施例中，测试导通装置130包括一个多通路导通开关，例如单刀多掷开关等。通过一个多通路导通开关分别导通其中一条测试通路，从而测试待测试设备200的其中一个通信接口210。

可以理解的是，上述测试导通装置130还可以采用其他形式，而不限于上述实施例已经提到的形式，只要其能够达到完成导通目标测试接口110和所述测试电源120之间的测试通路的功能即可。

在一个实施例中，测试导通开关131包括继电器。继电器用于在闭合时导通对应连接的测试接口110和所述测试电源120之间的测试通路。

具体的，继电器是一种电控制器件，是当激励量的变化达到规定要求时，在电气输出电路中使被控量发生预定的阶跃变化的一种电器。需要说明的是，继电器的激励量可以通过其他系统的控制装置140输入，也可以是在本实施例的测试系统上设置一个控制装置140，通过测试系统来控制测试导通装置130导通目标测试接口110和所述测试电源120之间的测试通路，此处不作限制。

继电器包括电磁系统及触点系统，电磁系统由线圈、固定的铁芯和可动的衔铁构成，触点系统由动接点和静接点构成。当继电器电磁系统的线圈的输入量达到阈值时，在电磁作用下铁芯产生磁力，吸引衔铁，衔铁带动接点系统的动接点动作，使触点闭合或断开，改变触点系统所连接电路的通断。根据电磁系统线圈的输入量变化，控制触点的通断，当线圈输入量达到阈值，常开触点则会闭合，常闭触点则会断开，从而改变触点所连接电路的工作状态。

可选的，本实施例的继电器可以包括电压继电器和电流继电器。电压继电器包括电磁线圈及触点系统，电磁线圈的输入端IN及输出端OUT分别用于连接负载电路的两端，与负载电路并联，触点系统包括至少一副触点，触点可以是常开触点或常闭触点。电流继电器包括电磁线圈及触点系统，电磁线圈的输入端IN连接负载电路的输出端，电磁线圈的输入端OUT连接负载电路的输入端，与负载电路串联。触点系统包括至少一副触点，触点可以是常开触点或常闭触点。

参考图3，图3是一个实施例提供的另一种测试系统的结构示意图。在一个实施例中，如图3所示，测试系统还包括控制装置140，其中：

所述控制装置140的控制端与所述测试导通装置130的第二端电连接，所述控制装置140用于控制所述测试导通装置130导通目标测试接口110和所述测试电源120之间的测试通路。

在本实施例中，通过控制装置140的控制端控制测试导通装置130导通目标测试接口110和所述测试电源120之间的测试通路，不需要人工的参与，可以提高测试的便利性和效率。

在一个实施例中，当测试导通装置130包括多个测试导通开关131时，控制端为多个，多个控制端与多个测试导通开关131的第二端一一对应连接。控制装置140用于控制至少一个所述控制端发送导通信号，接收到所述导通信号的测试导通开关131导通对应连接的测试接口110和所述测试电源120之间的测试通路。

具体的，控制装置140通过控制端发送导通信号，由于控制端与测试导通开关131一一对应连接，则接收到导通信号的测试导通开关131导通对应连接的测试接口110和测试电源120之间的测试通路。可选的，控制装置140的多个控制端可以按照预设的时间间隔分别发送导通信号，从而使接收到导通信号的其中一个测试导通开关131导通其中一条测试通路，对其中一个通信接口210 进行测试。

在本实施例中，控制装置140可以包括单片机。单片机(Single-ChipMicrocomputer)是一种集成电路芯片，是采用超大规模集成电路技术把具有数据处理能力的中央处理器CPU、随机存储器RAM、只读存储器ROM、多种I/O口和中断系统、定时器/计数器等功能(可能还包括显示驱动电路、脉宽调制电路、模拟多路转换器、A/D转换器等电路)集成到一块硅片上构成的一个小而完善的微型计算机系统，在工业控制领域广泛应用。当控制装置140包括单片机时，控制端为单片机上的多个控制引脚。

以控制装置140包括单片机，测试导通开关131包括继电器为例，单片机上的多个控制引脚与继电器的输入端电连接，单片机的多个控制引脚按照预设的时间间隔分别发送激励量(导通信号)，则多个继电器依次闭合，从而依次对待测试设备200的多个通信接口210进行测试。

可以理解，上述通过控制装置140控制测试导通装置130导通目标测试接口110和测试电源120之间的测试通路还可以采用其他形式，而不限于上述实施例已经提到的形式，只要其能够达到完成自动导通测试通路的功能即可。

在一个实施例中，测试系统还包括电平转换装置150。电平转换装置150的一端与所述控制端电连接，所述电平转换装置150的另一端分别与多个接口测试电连接，所述电平转换装置150用于对所述控制端和所述测试接口110之间的工作电平进行转换。

在本实施例中，具体的，由于控制装置140的工作电平和测试接口110之间的工作电平可能会存在不匹配的问题，因此需要在控制装置140的控制端和多个测试接口110之间设置电平转换装置150。

需要说明的是，电平转换装置150可以包括一个或多个电平转换电路。当电平转换装置150包括多个电平转换电路时，多个电平转换电路的一端与多个控制端一一对应连接，多个电平转换电路的另一端和多个测试一一对应连接。

在本实施例中，通过在控制装置140的控制端和多个测试接口110之间设置电平转换装置150，对所述控制端和所述测试接口110之间的工作电平进行转换，即使工作电平不匹配也可以正常测试，提高了测试的兼容性。

在一个实施例中，测试系统还包括晶体振荡器160。晶体振荡器160与所述控制装置140电连接，所述晶体振荡器160用于稳定所述控制端发送的导通信号。

在本实施例中，通过设置晶体振荡器160稳定控制端发送的导通信号，可以提高控制装置140控制测试导通装置130导通测试通路的准确性。

参考图4，图4是一个实施例提供的另一种测试系统的结构示意图。在一个实施例中，如图4所示，测试系统还包括采集接口170。其中：

所述采集接口170与所述待测试设备200的测试输出接口220电连接，所述采集接口170用于采集所述测试输出接口220输出的输出电信号，所述输出电信号通过所述测试电信号在所述待测试设备200内转化得到。

具体的，测试电信号进入待测试设备200后，待测试设备200将测试电信号转化成输出电信号，通过采集接口170采集测试输出接口220输出的输出电信号，根据输出电信号可以确定待测试设备200的标定参数。当输出电信号包括输出电流信号时，可以根据输出电流信号确定待测试设备200的标定电压；当输出电信号包括输出电压信号时，可以根据输出电压信号确定待测试设备200 的标定电流。

可选的，当测试系统包括控制装置140时，采集接口170的采集端与所述待测试设备200的测试输出接口220电连接，采集接口170的输出端与控制装置140的输入端电连接，采集接口170用于采集输出电信号，并将输出电信号传输至控制装置140。

需要说明的是，当采集接口170为一个时，测试导通装置130导通多个测试接口110的其中一个和测试电源120之间的测试通路。

本实施例还提供了一种测试设备，本实施例的测试设备包括本实施例的测试系统。测试系统可以参考上述任一实施例的描述，本实施例不作限定。

可以理解的是，由于测试设备包括了本实施例的测试系统，则该测试设备也可以通过一个测试电源120对一个设备的多个通信接口210进行测试，降低了测试设备的测试成本。此外，测试电源120的减少，也简化了测试设备的结构大小。

在本说明书的描述中，参考术语“有些实施例”、“其他实施例”、“理想实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特征包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性描述不一定指的是相同的实施例或示例。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种测试系统，其特征在于，包括：

多个测试接口，多个测试接口用于与待测试设备的多个通信接口一一对应连接；

一个测试电源，所述测试电源用于提供测试电信号；

测试导通装置，所述测试导通装置的第一端分别与所述多个测试接口电连接，所述测试导通装置的第二端与所述测试电源电连接，所述测试导通装置用于导通目标测试接口和所述测试电源之间的测试通路，以使所述测试电信号通过导通的测试通路传输至目标测试接口对应连接的通信接口，所述目标测试接口为多个测试接口中的至少一个。

2.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试导通装置包括：

多个测试导通开关，多个测试导通开关分别与多个测试接口一一对应连接，每个测试导通开关的第一端与对应的测试接口电连接，每个测试导通开关的第二端与测试电源电连接，所述测试导通开关用于导通对应连接的测试接口和所述测试电源之间的测试通路。

3.如权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述测试导通开关包括继电器，所述继电器用于在闭合时导通对应连接的测试接口和所述测试电源之间的测试通路。

4.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，还包括：

采集接口，所述采集接口与所述待测试设备的测试输出接口电连接，所述采集接口用于采集所述测试输出接口输出的输出电信号，所述输出电信号通过所述测试电信号在所述待测试设备内转化得到。

5.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试电源包括测试恒流源和测试恒压源中的至少一种；

当所述测试电源包括测试恒流源时，所述测试电信号包括测试恒流信号；

当所述测试电源包括测试恒压源时，所述测试电信号包括测试恒压信号。

6.如权利要求1-5任一项所述的测试系统，其特征在于，还包括：

控制装置，所述控制装置的控制端与所述测试导通装置的第二端电连接，所述控制装置用于控制所述测试导通装置导通目标测试接口和所述测试电源之间的测试通路。

7.如权利要求6所述的测试系统，其特征在于，当所述测试导通装置包括多个测试导通开关时，所述控制端为多个，多个控制端与多个测试导通开关的第二端一一对应连接；

所述控制装置用于控制至少一个所述控制端发送导通信号，接收到所述导通信号的测试导通开关导通对应连接的测试接口和所述测试电源之间的测试通路。

8.如权利要求6所述的测试系统，其特征在于，还包括：

电平转换装置，所述电平转换装置的一端与所述控制端电连接，所述电平转换装置的另一端分别与多个接口测试电连接，所述电平转换装置用于对所述控制端和所述测试接口之间的工作电平进行转换。

9.如权利要求6所述的测试系统，其特征在于，还包括：

晶体振荡器，所述晶体振荡器与所述控制装置电连接，所述晶体振荡器用于稳定所述控制端发送的导通信号。

10.一种测试设备，其特征在于，包括如权利要求1-9任一项所述的测试系统。

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