CN213957458U - 一种导电件式测试探针 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种导电件式测试探针，包括：一针管；一弹性伸缩件，所述弹性伸缩件设置在所述针管内；一导电件，所述导电件设置在所述弹性伸缩件内；两针轴，两所述针轴的尾部分别从所述针管的两端卡入，并分别与所述弹性伸缩件的两端接触。该导电件式测试探针，解决了现有测试探针存在过大电流时，容易发生损毁的问题。

Description

一种导电件式测试探针

技术领域

本实用新型属于电子元器件技术领域，具体涉及一种导电件式测试探针。

背景技术

测试探针是一种高端精密链接器件，广泛应用于测试PCB线路板、FPC (印刷电路)，其主要作为起连接作用的精密探针使用，目前已广泛应用于手机、汽车、医疗以及航天航空等技术领域。

使用时，测试探针安装于测试治具上，测试探针的一端连接输出端(输出端指电压、频率等)，测试探针的另外一端则连接被测试元件，方可进行测试。测试过程中对测试探针的要求极高，但是现有的探针设计对过电压和频率输出有限，电压增大就会造成测试探针烧坏现象，致使测试探针不能准确地检测被测元件，严重时会损坏被测试元件。故而，设计一种可适应过大电流的测试探针就显得十分必要了。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种导电件式测试探针，以解决现有测试探针存在过大电流时，容易发生损毁的问题。

为解决上述问题，本实用新型公开了一种导电件式测试探针，包括：

一针管；

一弹性伸缩件，所述弹性伸缩件设置在所述针管内；

一导电件，所述导电件设置在所述弹性伸缩件内；

两针轴，两所述针轴的尾部分别从所述针管的两端卡入，并分别与所述弹性伸缩件的两端接触。

本实用新型的技术方案，还具有以下特点：

进一步地，所述针轴上设置有台阶，所述针管的两端分别向内形成收口，所述针轴向外移动时，其台阶抵挡在所述收口处。

进一步地，所述台阶呈锥形过度，所述针管的两端收口也呈锥形布置。

进一步地，所述弹性伸缩件为压缩弹簧。

进一步地，两所述针轴的尾部均设计有锥形面，所述压缩弹簧的两端分别套设在对应的所述锥形面上。

进一步地，所述导电件为柱形体。

进一步地，所述导电件为导电硅胶棒。

进一步地，所述导电硅胶棒内填充有金属粉末。

进一步地，所述针轴的头部为梅花状。

与现有技术相比，本实用新型的一种导电件式测试探针具有以下优点： (1)本实用新型的一种导电件式测试探针，通过增设导电件，可使电流通过针管、弹簧和导电件进行传递，避免了由于电流过大而造成测试探针损毁的问题；(2)本实用新型的一种导电件式测试探针，其整体结构简单，易于制造，制作成本较低，具有较好的市场推广应用前景。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本实用新型的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1是本实用新型的一种导电件式测试探针的结构示意图。

图中：1.锥形面，2.台阶，3.头部，4.收口，5.针轴，6.针管，7.弹性伸缩件，8.导电件。

具体实施方式

以下将配合实施例来详细说明本实用新型的实施方式，借此对本实用新型如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。

如图1所示，本实用新型的一种导电件式测试探针，主要由以下部件构成：

一针管6；

一弹性伸缩件7，弹性伸缩件7设置在针管6内；

一导电件8，导电件8设置在弹性伸缩件7内；

两针轴5，两针轴5的尾部分别从针管6的两端卡入，并分别与弹性伸缩件7的两端接触。

如图1所示，装配时先将导电件8放置在弹性伸缩件7内，再将弹性伸缩件7从针管6的一端装入，使弹性伸缩件7位于位于针管6内的中心处，之后再将针轴5的尾部分别从针管6的两端伸入，确保针轴5分别与弹性伸缩件7和导电件8接触，最后再将针管6的两端封装，即完成测试探针的组装。显然易见，本实用新型的这种导电件式测试探针，其整体结构简单，易于制造，制作成本较低，具有较好的市场推广应用前景。

使用时，一针轴5的头部3连接输出端(输出端指电压、频率等)，另一针轴5的头部3则连接被测试元件，方可进行测试。在测试的过程中，两个针轴5之间的电流可通过针管6、弹性伸缩件7和导电件8进行传递，从而避免了由于电流过大，容易造成测试探针的局部构件发生烧毁，无法使用的问题。

如图1所示，在本实用新型的一种导电件式测试探针中，针轴5上设置有台阶2，针管6的两端分别向内形成收口4，针轴5向外移动时，其台阶2 抵挡在收口4处。

如图1所示，本实用新型的一种导电件式测试探针，在组装过程中的进行最后一道封装工序加工时，可在针轴5上设置一台阶2，待将针轴5的尾部装入针管6后，可将针管6的端口向内压缩，加工一个收口4，通过该收口4与台阶2配合可将针轴5限制在针管6内，从而完成封装。这种设计方式，可以确保针轴5稳定地限制在针管6内，在工作过程中不易发生脱落。

如图1所示，在本实用新型的一种导电件式测试探针中，台阶2呈锥形过度，针管6的两端收口4也呈锥形布置。

如图1所示，台阶2与针管6的收口4之间呈锥形配合，可以使针轴5 与针管6的收口之间形成完全贴合，确保针轴5在使用过程中不会发生倾斜，避免发生接触不良。

如图1所示，在本实用新型的一种导电件式测试探针中，弹性伸缩件7 为压缩弹簧。

如图1所示，两针轴5的尾部分别套设在压缩弹簧的两端，可以确保两针轴5分别与输出端和被测试元件接触时，能够发生一定收缩，确保接触的更加良好。

如图1所示，在本实用新型的一种导电件式测试探针中，两针轴5的尾部均设计有锥形面，压缩弹簧的两端分别套设在对应的锥形面上，可以确保压缩弹簧与针轴5的尾部之间接触稳固，不容易发生脱落，确保接触良好。

如图1所示，在本实用新型的一种导电件式测试探针中，导电件8优选为柱形体。

如图1所示，柱形体的外径略小于压缩弹簧的内径，导电件8放置在压缩弹簧内，两者之间紧密配合，这样设计可避免导电件8与压缩弹簧之间使用时容易发生晃动，造成接触不良。

如图1所示，在本实用新型的一种导电件式测试探针中，导电件8为导电硅胶棒，导电硅胶棒内填充有金属粉末，可以确保导电性能良好。

如图1所示，在本实用新型的一种导电件式测试探针中，针轴5的头部 3为梅花状。

如图1所示，将针轴5的头部3设计成梅花状，一方面可以确保两针轴5分别与输出端、被测试元件之间均能形成良好的接触，另一方面还可以确保针轴5适应与不同形状的输出端和被测试元件接触。

上述说明示出并描述了本实用新型的若干优选实施例，但如前所述，应当理解实用新型并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述实用新型构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离实用新型的精神和范围，则都应在实用新型所附权利要求的保护范围内。

Claims (9)

1.一种导电件式测试探针，其特征在于，包括：

一针管(6)；

一弹性伸缩件(7)，所述弹性伸缩件(7)设置在所述针管(6)内；

一导电件(8)，所述导电件(8)设置在所述弹性伸缩件(7)内；

两针轴(5)，两所述针轴(5)的尾部分别从所述针管(6)的两端卡入，并分别与所述弹性伸缩件(7)的两端接触。

2.根据权利要求1所述的导电件式测试探针，其特征在于，所述针轴(5)上设置有台阶(2)，所述针管(6)的两端分别向内形成收口(4)，所述针轴(5)向外移动时，其台阶(2)抵挡在所述收口(4)处。

3.根据权利要求2所述的导电件式测试探针，其特征在于，所述台阶(2)呈锥形过度，所述针管(6)的两端收口(4)也呈锥形布置。

4.根据权利要求1所述的导电件式测试探针，其特征在于，所述弹性伸缩件(7)为压缩弹簧。

5.根据权利要求4所述的导电件式测试探针，其特征在于，两所述针轴(5)的尾部均设计有锥形面，所述压缩弹簧的两端分别套设在对应的所述锥形面上。

6.根据权利要求1所述的导电件式测试探针，其特征在于，所述导电件(8)为柱形体。

7.根据权利要求6所述的导电件式测试探针，其特征在于，所述导电件(8)为导电硅胶棒。

8.根据权利要求7所述的导电件式测试探针，其特征在于，所述导电硅胶棒内填充有金属粉末。

9.根据权利要求1所述的导电件式测试探针，其特征在于，所述针轴(5)的头部(3)为梅花状。

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