CN213843442U - 器件老化测试用分光系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种器件老化测试用分光系统，包括载板、若干个间隔安装于载板上表面的安装座和若干个连接于安装座上的PCB板，每个所述安装座上均间隔开有若干个上下贯通的第一通孔，所述载板上开有与第一通孔贯通的第二通孔，所述TO器件位于第二通孔的正下方，所述第一通孔与安装孔相交处安装有一半反半透镜，所述第一通孔的上端安装有一连接有光纤的光纤法兰；所述载板上表面的两端分别设置有一压块，此压块的底部安装于载板上，所述压块的上部用于与驱动机构连接，所述压块的中部间隔交错地开设有若干个条形槽。本实用新型可以同时实现对发光器件的多项测试，还可以避免力量过大而损伤器件，进一步保证对器件的测试精度和效率。

Description

器件老化测试用分光系统

技术领域

本实用新型涉及一种器件老化测试用分光系统，属于光通讯测试技术领域。

背景技术

激光器芯片测试老化的夹具设计一直是难点，特别是温度敏感的芯片测试更是难中之难，目前业内TO的测试设备多是各项分别测试，即采用多个探头分别对产品进行测试，导致现有测试技术效率低下，但随着光通讯行业的不断发展，产量越来越大，产品的测试效率有待提高。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种器件老化测试用分光系统，其可以同时实现对发光器件的多项测试，还可以避免力量过大而损伤器件，进一步保证对器件的测试精度和效率。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种器件老化测试用分光系统，包括载板、若干个间隔安装于载板上表面的安装座和若干个连接于安装座上的PCB板，所述载板下方设置有待测试的发光器件；

每个所述安装座上均间隔开有若干个上下贯通的第一通孔，所述载板上开有与第一通孔贯通的第二通孔，所述发光器件位于第二通孔的正下方，所述安装座的侧表面上间隔设置有若干个与第一通孔贯通的安装孔，所述PCB板焊接连接于安装座的侧表面上，一光电转换器件嵌入所述安装孔内、并与PCB板焊接连接；

所述第一通孔与安装孔相交处安装有一半反半透镜，所述第一通孔的上端安装有一连接有光纤的光纤法兰；

所述载板上表面的两端分别设置有一压块，此压块的底部安装于载板上，所述压块的上部用于与驱动机构连接，所述压块的中部间隔交错地开设有若干个条形槽。

上述技术方案中进一步改进的方案如下：

1. 上述方案中，两个所述压块分别位于设置于外侧的两个安装座的外侧。

2. 上述方案中，若干个条形槽之间平行设置。

3. 上述方案中，2~8个所述安装座相互平行设置，并通过螺栓安装于载板上表面。

4. 上述方案中，每个安装座上等间隔开设有4~8个第一通孔。

由于上述技术方案的运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：

本实用新型器件老化测试用分光系统，其可以同时实现对发光器件的多项测试，在满足测试的同时极大的缩短测试时间、提高测试效率，解决了现有测试的单一性问题；另外，载板上表面的两端分别设置有一压块，此压块的底部安装于载板上，所述压块的上部用于与驱动机构连接，所述压块的中部间隔交错地开设有若干个条形槽，通过条形槽的设置，可以对驱动机构带动载板下压的力量进行缓冲、均衡，既可以保证载板底面与器件夹具之间的面接触以避免器件光的泄漏、保证测试的一致性，又可以避免力量过大而损伤器件，进一步保证对器件的测试精度和效率。

附图说明

附图1为本实用新型器件老化测试用分光系统的结构示意图；

附图2为本实用新型器件老化测试用分光系统的局部结构剖视图。

以上附图中：1、载板；2、安装座；3、PCB板；4、第一通孔；5、第二通孔；6、安装孔；7、光电转换器件；8、半反半透镜；9、光纤法兰；11、压块；12、条形槽。

具体实施方式

在本专利的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性；此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利的具体含义。

实施例1：一种器件老化测试用分光系统，包括载板1、若干个间隔安装于载板1上表面的安装座2和若干个连接于安装座2上的PCB板3，所述载板1下方设置有待测试的TO器件；

每个所述安装座2上均间隔开有若干个上下贯通的第一通孔4，所述载板1上开有与第一通孔4贯通的第二通孔5，所述TO器件位于第二通孔5的正下方，所述安装座2的侧表面上间隔设置有若干个与第一通孔4贯通的安装孔6，所述PCB板3焊接连接于安装座2的侧表面上，一光电转换器件7嵌入所述安装孔6内、并与PCB板3焊接连接；

所述第一通孔4与安装孔6相交处安装有一半反半透镜8，所述第一通孔4的上端安装有一连接有光纤的光纤法兰9；

所述载板1上表面的两端分别设置有一压块11，此压块11的底部安装于载板1上，所述压块11的上部用于与驱动机构连接，所述压块11的中部间隔交错地开设有若干个条形槽12。

两个上述压块11分别位于设置于外侧的两个安装座2的外侧；2个上述安装座2相互平行设置，并通过螺栓安装于载板1上表面；每个安装座2上等间隔开设有4个第一通孔4。

实施例2：一种器件老化测试用分光系统，包括载板1、若干个间隔安装于载板1上表面的安装座2和若干个连接于安装座2上的PCB板3，所述载板1下方设置有待测试的TO器件；

每个所述安装座2上均间隔开有若干个上下贯通的第一通孔4，所述载板1上开有与第一通孔4贯通的第二通孔5，所述TO器件位于第二通孔5的正下方，所述安装座2的侧表面上间隔设置有若干个与第一通孔4贯通的安装孔6，所述PCB板3焊接连接于安装座2的侧表面上，一光电转换器件7嵌入所述安装孔6内、并与PCB板3焊接连接；

所述第一通孔4与安装孔6相交处安装有一半反半透镜8，所述第一通孔4的上端安装有一连接有光纤的光纤法兰9，测试时，给待测试的TO器件加电发光，光通过半反半透镜8，其中一半的光进入光电转换器件7，另一半通过连接于光纤法兰9上的光纤进入光谱仪，实现对电流-功率曲线扫描和光谱测试的同时兼容；

所述载板1上表面的两端分别设置有一压块11，此压块11的底部安装于载板1上，所述压块11的上部用于与驱动机构连接，所述压块11的中部间隔交错地开设有若干个条形槽12。

若干个条形槽12之间平行设置；6个上述安装座2相互平行设置，并通过螺栓安装于载板1上表面；每个安装座2上等间隔开设有6个第一通孔4。

采用上述器件老化测试用分光系统时，可以同时实现对发光器件的多项测试，在满足测试的同时极大的缩短测试时间、提高测试效率，解决了现有测试的单一性问题；

另外，通过条形槽的设置，可以对驱动机构带动载板下压的力量进行缓冲、均衡，既可以保证载板底面与器件夹具之间的面接触以避免器件光的泄漏、保证测试的一致性，又可以避免力量过大而损伤器件，进一步保证对器件的测试精度和效率。

上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种器件老化测试用分光系统，其特征在于：包括载板（1）、若干个间隔安装于载板（1）上表面的安装座（2）和若干个连接于安装座（2）上的PCB板（3），所述载板（1）下方设置有待测试的发光器件；

每个所述安装座（2）上均间隔开有若干个上下贯通的第一通孔（4），所述载板（1）上开有与第一通孔（4）贯通的第二通孔（5），所述发光器件位于第二通孔（5）的正下方，所述安装座（2）的侧表面上间隔设置有若干个与第一通孔（4）贯通的安装孔（6），所述PCB板（3）焊接连接于安装座（2）的侧表面上，一光电转换器件（7）嵌入所述安装孔（6）内、并与PCB板（3）焊接连接；

所述第一通孔（4）与安装孔（6）相交处安装有一半反半透镜（8），所述第一通孔（4）的上端安装有一连接有光纤的光纤法兰（9）；

所述载板（1）上表面的两端分别设置有一压块（11），此压块（11）的底部安装于载板（1）上，所述压块（11）的上部用于与驱动机构连接，所述压块（11）的中部间隔交错地开设有若干个条形槽（12）。

2.根据权利要求1所述的器件老化测试用分光系统，其特征在于：两个所述压块（11）分别位于设置于外侧的两个安装座（2）的外侧。

3.根据权利要求1所述的器件老化测试用分光系统，其特征在于：若干个条形槽（12）之间平行设置。

4.根据权利要求1所述的器件老化测试用分光系统，其特征在于：2~8个所述安装座（2）相互平行设置，并通过螺栓安装于载板（1）上表面。

5.根据权利要求1所述的器件老化测试用分光系统，其特征在于：每个安装座（2）上等间隔开设有4~8个第一通孔（4）。

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